JPH0389132A - 真空密閉容器の検査装置 - Google Patents

真空密閉容器の検査装置

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JPH0389132A
JPH0389132A JP22516989A JP22516989A JPH0389132A JP H0389132 A JPH0389132 A JP H0389132A JP 22516989 A JP22516989 A JP 22516989A JP 22516989 A JP22516989 A JP 22516989A JP H0389132 A JPH0389132 A JP H0389132A
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JP
Japan
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cap
vacuum
sealed container
white noise
noise
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Pending
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JP22516989A
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English (en)
Inventor
Koichi Shimazu
島津 幸一
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] この発明は、非接触で真空密閉容器の良否を判定するに
好適な真空密閉容器の検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、非接触式の真空密閉容器の検査装置には、反射光
量方式、変位量方式及び打音方式なるものが知られる。
反射光量方式は、真空密閉容器のキャップ面にハロゲン
ランプを照射し、咳真空密閉容器内の真空度に基づくキ
ャップ面の凹みに伴って変化する反射光量をイメージセ
ンサで受光し、その受光量から該真空密閉容器の良否を
判定する方式である(例えば、実開昭64−27637
号参照)。
次に、変位量方式は、真空密閉容器内の真空度に基づく
キャップ面の凹み量を変位センサで槓出し、その変位量
から該真空密閉容器の良否を判定する方式である(例え
ば、実開昭6298527号参照)。
最後に、打音方式は、最も一般的であって、真空密閉容
器のキャップ面に電磁マグネット等で衝撃を与え、この
とき、キャップが発する音をマイクロホン等で検出し、
検出音の周波数から該真空密閉容器の良否を判定する方
式である(例えば、特開昭52−71280号参照)。
更に本出願人により提案済みの方式(特願平11349
00号の実施例)を紹介する。この方式は、真空密閉容
器のキャップの共振点が該真空密閉容器内の真空度によ
って変化することを利用したものである。そこで真空密
閉容器のキャップ面に、周波数をスイープさせつつ当て
た音波によって生ずるキャップの共振振動を検出し、こ
の共振振動数を別途予め用意してある基準振動数と比較
することにより、咳真空密閉容器の良否を判定する方式
である(以下、共振点方式とする)。
〔発明が解決しようとする!Iff) しかしながら、上記従来の方式にあっては、次に掲げる
不都合がある0反射光置方式及び変位量方式は、凹みが
生じ得るキャップ材に対しては有効である。しかしなが
ら、例えば塑性加工されたアラミニラム製キャップ等は
凹みが顕著に表れないため、本方式を適用することがで
きない、打音方式は、例えば工場騒音のような晧騒音が
発生する所では、暗騒音に影響され、検出が不能となる
。共振点方式は、音波をスイープさせるため、スイープ
ロスタイムや、多少騒がしいくなる等の欠点がある。
本発明は、上記従来技術の問題点に着目し、キャップ面
の凹み具合や暗騒音等に影響されることなく、かつ、高
速に真空密閉容器の良否を判定するに好適な真空密閉容
器の検査装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を遠戚するため、本発明に係わる真空密閉容器
の検査装置は、第1図を参照して説明すれば、真空密閉
容器10のキャーフプ面11にホワイトノイズP1を当
て、このキャップ面11を加振するホワイトノイズ発生
!20と、同時に前記キャップ面11にレーザ光P2を
照射するレーザ発振!30と、前記キャップ面11から
の反射レーザ光P3を受光する光センサ40と、この光
センサ40からの受光信号Sを入力するシグナルプロセ
ッサ50とを備え、このシグナルプロセッサ50が、前
記受光信号Sによりキャップ面11の固有振動数ωを算
出し、次にこの固有振動数ωを別途予め配置してある基
準振動数ω0と比較して該真空密閉容器IOの良否を判
定する構成とした。更に、上記構成において、ホワイト
ノイズP1がピンクノイズPlであり、かつ、ホワイト
ノイズ発生W20がピンクノイズ発生rs20である構
成でもよい。
〔作 用〕
先ずホワイトノイズ及びピンクノイズを説明する。ホワ
イトノイズは白色雑音と呼ばれ、あらゆる周波数が混在
したノイズを指す、他方ビンクツイスは、前記ホワイト
ノイズに3db/オクターブで広域が減衰するようなウ
ェイトかけたノイズを指す0本発明が適用するノイズは
、上記のように、慣用称呼であるホワイトノイズ又はピ
ンクノイズと特定しているが、称呼はどうであれ、広義
の意味で「周波数が混在したノイズ」を指す0次にシグ
ナルプロセッサ50に予め記憶された基準振動数ω■(
基準周波数f、と置き替えてもよい)について説明する
。真空密閉容器系におけるそのキャップの固有振動数ω
は、廐真空密閉容器内の真空度ΔPとの間に所定の関係
(ω閃ΔP)がある。例えば、真空密閉容器のキャップ
が円形であり、厚さが直径に比較して充分に薄いとき、
キャップの固有振動数ωは、振動定数αと、重力加速度
gと、キャップ材密度ρと、キャップ半径aと、キャッ
プ張力Tとにおいて、 ω=ctr/a>X177丁7丁 の関係を持つ、つまりωoeTの関係となる。他方張力
Tは真空密閉容器の真空度ΔPにより生じ、T−ΔPの
関係となる。これらω閃TとT閃ΔPとの関係により、
ω囚ΔPとなる。つまり、負圧が大きければ大きいほど
、固有振動数、ωは太き(なり、良好な真空度となる。
逆に、不良真空密閉容器のキャップは負圧が小さいため
、固有振動数ωも小さくなる。このため、予め適宜なる
真空度ΔPに対応する固有振動数を基準振動数ω■と定
めておけば、固有振動数ωを検出することにより、咳真
空密閉容器の良否を判定することができる。そこで本発
明は、算出された固有振動数ωとこの基準振動数ω0と
を比較し、該真空密閉容器の良否を判定するようにして
いる。最後に、キャップの固有振動数ωの算出を説明す
る。これは、ホワイトノイズ又はピンクノイズで加振さ
れたキャップの微震動により、光路変化した反射レーザ
光の光量を、光センサで検出し、シグナルプロセッサで
フーリエ変換等によって周波数解析し、算出している。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を第1図〜第4図を参照して説明す
る。実施例は、第1図において、被検体である真空密閉
容器10の上方に、ホワイトノイズ発生器20と、レー
ザ発振器30と、干渉フィルタ42とフォトダイオード
41とからなる光センサ30とを配置し、更に前記光セ
ンサ30の検出信号Sを入力するシグナルプロセッサ5
0とを備えている。1s真空密閉容510の良否判定は
、キャップ面11にホワイトノイズ発生520からのホ
ワイトノイズP1を当て、咳キャップ面11を加振せし
める。これと同時に該キャップ面11にレーザ発@器3
0からのレーザ光P2を照射する。このとき該キャップ
面11は微震動しているため、反射レーザ光の光路もま
た変化する。この光路変化に伴い、フォトダイオード4
1の受光量も変化する。即ち振動により、受光量も変化
する。そこでこの受光信号Sはシグナルプロセッサ50
に入力される。このシグナルプロセッサ50は、この受
光信号Sを基にフーリエ変換により、キャップ11の固
有振動数ωを算出する0次にこの固有振動数ωを、別途
予め記憶している基準振動数ω■と比較し、該真空密閉
容器の良否を判定する構成である。詳しくは、真空密閉
容器10は充填物が飲料水である瓶である。このキャッ
プ11は直径時40mmの塑性加工をしたアルミニウム
箔であり、該真空密閉容器10の口にヒトシールしてあ
る。光センサ30は、フォトダイオード32だけでは受
光波長域が広いため反射ビームP3以外の太陽光や照明
光等の外乱光も受光して検出精度を低下させる恐れがあ
り、この外乱光を除去するため、フォトダイオード32
と干渉フィルタ32とで組み合わせである。
次にホワイトノイズP1について説明する。本実施例に
使用した真空密閉容器10の形態から判断すると、負圧
度が一100mmHg 〜−3QQmmHg程度である
。そこで、キャップ11の固有振動数ωは、予め、数K
Hz以内と考えられた。このため、ホワイトノイズP1
は、第2図に示すような周波数帯域(DC〜20KHz
)とした。本発明の判定は次の通りである。
フーリエ変換により算出されたキャップ面11の固有振
動数ωは、予め記憶してある基準振動数ω■と比較され
、ω〉ω■ならば良品と判断し、逆にω〈ωSならば不
良と判断させた。そこで本実施例では、基準振動数ω■
(以下、周波数「。)は、第3図の周波数スペクトル図
に示す通り、fe ”30kHzである。他方、検出固
有振動数ω(以下、周波数r)は、第4図の振動スペク
トル図に示す通り、f=1kHz〜5kHzに渡って幾
つかの振動モードが見られるが、1次モード(f−1k
Hz)を基準にした結果、  f<fe(つまり、ω〈
ω■)となり、この被検出真空密閉容器を不良品と判断
させた。もっともこの不良品はキャップ11に予め微小
孔を設けておいたものである。上記実施例によれば、こ
のように、検出結果と、実際とが良く合致する。本実施
例では、光センサにMNフォトダイオードを使用したが
、シリコンフォトダイオード、アバランシェフォトダイ
オード、光電管等でもよい。他の実施例としては、例え
ばキャップの振幅が大きい場合は、フォトダイオードに
よる光量入力に替え、ポジションセンサ(CCDライン
センサ、PSD等)による光路入力としてもよい。尚、
出力形態は、上記実施例のような単純良否判定だけでな
く、第3図及び第4図に示すような周波数スペクトルを
CR7表示するのもよいし、該真空容器内の真空度を直
接ディジタル表示し、微妙端判定をオペレータに委ねる
等してその応用範囲を広げることも可能である。更に、
他の実施例は、「作用」の欄で説明したように、加振前
は周波数が混在したノイズであればよいため、上記ホワ
イトノイズ発生器20をピンクノイズ発生器20とした
構成のものでもよい、上記実施例では、振動を検出する
ため、従来の技術のように、キャップの凹み具合や暗騒
音等に影響されることがない、従って、キャップ材料の
選定範囲を従来よりも広くすることができる。更に、従
来技術のような音源の周波数をスイープさせる構成では
なく、ホワイトノイズによりキャップを加振する構成で
あるため、スイープロスをなくすことができ、かつ、そ
の分の騒音発生をなくすことができる。その他、キャッ
プ形状に左右されずに判定することができ、更に、真空
容器内の充填物に影響を与えないで判定することができ
る等の利点を備えているため、産業的利用価値は極めて
高い。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係わる真空密閉容器の検
査装置は、ホワイトノイズ又はピンクノイズを用いてキ
ャップ面を加振する構成であるため、スイープロスやそ
の分の騒音の発生をなくすことができる。従って、高速
判定を静寂なる雰囲気ですることができるようになる。
更に、真空密閉容器の固有振動数と真空度との比例関係
を利用した構成であるため、キャップの凹み具合や暗騒
音等に影響されない、従って、キャップ材料の選定範囲
を従来よりも広くするこができるようになる。その他、
キャップ形状に左右されない、更に、真空容器内の充填
物に影響を与えない等の利点を備えている。
【図面の簡単な説明】
第1図・・・本発明に係わる真空密閉容器の検査装置の
構成概念図 第2図・・・ホワイトノイズの周波数スペクトル図 第3図・・・真空度が良好な真空密閉容器のキャップの
周波数スペクトル図 第4図・・・真空度が不良な真空密閉容器のキャップの
周波数スペクトル図 10・・・真空密閉容器 11・・・キャップ面 20・・・ホワイトノイズ発生器又はピンクノイズ発生
器 30・・・レーザ発振器 40・・・光センサ 50・・・シグナルプロセッサ PI・・・ホワイトノイズ又はピンクノイズP2・・・
レーザ光 ・反射レーザ光 ・受光信号 固有振動数 基準振動数

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空密閉容器10のキャップ面11にホワイトノ
    イズP1を当て、このキャップ面11を加振するホワイ
    トノイズ発生器20と、同時に前記キャップ面11にレ
    ーザ光P2を照射するレーザ発振器30と、前記キャッ
    プ面11からの反射レーザ光P3を受光する光センサ4
    0と、この光センサ40からの受光信号Sを入力するシ
    グナルプロセッサ50とを備え、このシグナルプロセッ
    サ50が、前記受光信号Sによりキャップ面11の固有
    振動数ωを算出し、次にこの固有振動数ωを別途予め記
    憶してある基準振動数ω_■と比較して該真空密閉容器
    10の良否を判定する構成を特徴とする真空密閉容器の
    検査装置。
  2. (2)ホワイトノイズP1がピンクノイズP1であり、
    かつ、ホワイトノイズ発生器20がピンクノイズ発生器
    20である請求項1記載の真空密閉容器の検査装置。
JP22516989A 1989-08-31 1989-08-31 真空密閉容器の検査装置 Pending JPH0389132A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6338272B1 (en) 1996-11-12 2002-01-15 Heuft Systemtechnik Gmbh Method for determining parameters, for example level, pressure, gas composition in closed containers
WO2013004210A1 (de) * 2011-07-04 2013-01-10 Hesse & Knipps Gmbh Verfahren zur durchführung einer vakuumprüfung
JP2017106729A (ja) * 2015-12-07 2017-06-15 大和製罐株式会社 密封容器の内圧検査装置
JP2018169289A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 大和製罐株式会社 密封容器の内圧検査装置
JP2019007920A (ja) * 2017-06-28 2019-01-17 学校法人桐蔭学園 非接触検査システム

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6338272B1 (en) 1996-11-12 2002-01-15 Heuft Systemtechnik Gmbh Method for determining parameters, for example level, pressure, gas composition in closed containers
WO2013004210A1 (de) * 2011-07-04 2013-01-10 Hesse & Knipps Gmbh Verfahren zur durchführung einer vakuumprüfung
JP2017106729A (ja) * 2015-12-07 2017-06-15 大和製罐株式会社 密封容器の内圧検査装置
JP2018169289A (ja) * 2017-03-30 2018-11-01 大和製罐株式会社 密封容器の内圧検査装置
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