JPH0658917A - 超音波検査方法および装置 - Google Patents

超音波検査方法および装置

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JPH0658917A
JPH0658917A JP4211855A JP21185592A JPH0658917A JP H0658917 A JPH0658917 A JP H0658917A JP 4211855 A JP4211855 A JP 4211855A JP 21185592 A JP21185592 A JP 21185592A JP H0658917 A JPH0658917 A JP H0658917A
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JP
Japan
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ultrasonic
subject
power spectrum
mode signal
integral value
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JP4211855A
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English (en)
Inventor
Norimitsu Sakuma
宣光 佐久間
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 反射波形の形状によらず、被検体の状態を明
確に評価することを可能にする。 【構成】 超音波探触子4と被検体3との間で超音波の
送受信を行ってAモード信号を得た後、このAモード信
号の任意の箇所に設定したゲート内におけるAモード信
号のパワースペクトルS1、S2を算出し、任意の周波
数範囲内におけるパワースペクトルS1、S2の積分値
を算出して被検体3の状態を明確に評価する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体と超音波探触子
との間で超音波の送受信を行うことによりこの被検体を
評価する超音波検査方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】非破壊で被検体の状態を評価する装置、
一例として被検体内における界面の状態や欠陥の有無を
評価する装置として、超音波顕微鏡および超音波探傷装
置が用いられている。
【0003】図7は従来の超音波顕微鏡の一例を示すブ
ロック図である。この図において、1は例えばバースト
波を発信する送信機、2は被検体3からの反射波を受信
する受信機である。4は印加されたバースト波を超音波
に変換する圧電素子と、その超音波を被検体3に収束さ
せる音響レンズとから成る超音波探触子、5はサーキュ
レータである。6は受信信号をデジタル値に変換するA
/Dコンバータ、8はデジタル信号に種々の演算を施し
て映像化処理などを行なうCPUを含む制御回路、9は
制御回路8からの映像信号を可視化する表示装置であ
る。10は被検体3が載置されるXYテーブル、11は
XYテーブル10をX−Y平面内で、および探触子4を
このX−Y平面に直交する垂直軸Z方向に駆動する走査
装置、12は走査装置11の駆動制御回路である。な
お、13は被検体3と超音波探触子4との間に介在され
る媒体、例えば水である。
【0004】このような従来の超音波顕微鏡では次のよ
うにして被検体が評価される。XYステージ10上に載
置された被検体3に媒体13を滴下し、走査装置11に
より超音波探触子4をこの媒体13内に没入させ、探触
子4の焦点が被検体3の所定深さに至るようにZ軸位置
を固定する。送信機1からバースト状の電気信号をサー
キュレータ5を介して探触子4に印加する。探触子4は
電気信号を超音波信号に変換してレンズにより集束し、
媒体13を介して被検体3に照射する。被検体により反
射、散乱を受けた超音波信号は同じレンズで検出されて
圧電素子で電気信号に変換された後、サーキュレータ5
を介して受信機2に送られる。受信機2で受信された電
気信号は適当に増幅された後、A/Dコンバータ6に送
出され、ここでデジタル値に変換される。
【0005】A/Dコンバータ6からの出力は、制御回
路8を介して表示装置9に送出され、この表示装置9に
おいてデジタル値のピーク値が画像上の輝度値に変換さ
れてX−Y平面上の1点を表すデータとして表示され
る。そして、制御回路8により走査装置11を制御して
試料3をX−Y平面上で走査しつつ以上の手順を繰り返
せば、探触子4の焦点が存在する所定のZ軸位置におけ
る超音波顕微鏡画像(Cスキャン像)を得ることができ
る。
【0006】超音波顕微鏡、超音波探傷装置で得られる
情報は、被検体の界面を構成する物質の音響インピーダ
ンス差に基づく音響的反射率を反映したものであり、こ
れにより、界面を構成する物質および界面の状態を知る
ことができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の超音波顕微鏡、超音波探傷装置といった超音波
により被検体の状態を評価する装置は、被検体からの反
射波の振幅、強度あるいはこれらのピーク値によって被
検体の状態を評価する構成であったので、反射波の波形
形状が変化するとその振幅、強度が界面の音響的反射率
を忠実に反映しないことがあった。
【0008】図4(a)はICのチップとモールド樹脂部
との間に剥離が生じた部分からの反射波形、図4(b)は
図4(a)のパワースペクトルを示す図である。反射波形
のピークは+(プラス)側に位置し、反射波の周波数の
ピークは30MHz付近に位置する。図5(a)はICのチッ
プとモールド樹脂部との接着面からの反射波形、図5
(b)は図5(a)のパワースペクトルを示す図である。反
射波形のピークは−(マイナス)側に位置し、反射波の
周波数のピークは平坦化されている。ピークの反転(す
なわち反射波形の位相反転)は、界面における音響イン
ピーダンスの大小関係が図4の場合と図5の場合とで逆
転していることにより生じる。したがって、これら反射
波形を−側のピーク値のみで観察すると、図4(a)の波
形と図5(b)の波形を明確に弁別することが困難であ
る。
【0009】波形形状の変化の影響を避けるために、所
定周波数における反射波のパワースペクトルの値を輝度
値に変換して画像化した装置も提案、実現されている。
しかしながら、この装置では、反射波が干渉を起こして
パワースペクトルに周期的な凹凸が現れている場合、こ
の干渉の影響によりパワースペクトルの値が上下してし
まうため、明確な評価が困難であった。
【0010】本発明の目的は、反射波形の形状によら
ず、被検体の状態を明確に評価することの可能な超音波
検査方法および装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】一実施例を示す図1、図
6に対応付けて説明すると、請求項1の発明は、被検体
3と超音波探触子4との間で超音波の送受信を行うこと
によりこの被検体3を評価する超音波検査方法に適用さ
れ、そして、上述の目的は、超音波探触子4を励振して
被検体3に向けて超音波を送信し、この超音波探触子4
に戻ってきた被検体からの反射波を受信し、前記受信さ
れた反射波から得られたAモード信号の任意の箇所に設
定したゲート内におけるAモード信号のパワースペクト
ルS1、S2を算出し、任意の周波数範囲内における前
記パワースペクトルS1、S2の積分値を算出し、この
積分値に基づいて前記被検体3を評価することにより達
成される。この後、前記パワースペクトルS1、S2の
積分値に基づいて前記被検体3の良品、不良品を判定し
てもよい。また、請求項3の発明は、被検体3と超音波
探触子4との間で超音波の送受信を行うことによりこの
被検体3を評価する超音波検査装置に適用され、そし
て、上述の目的は、超音波探触子4と、被検体3から所
定距離離間した試料平面上で前記超音波探触子4を走査
する走査手段11と、前記走査手段11により前記試料
平面上の複数の測定点へ前記超音波探触子4を順次位置
決めしつつ、この超音波探触子4と前記被検体3との間
で超音波の送受信を行うことにより前記各測定点におけ
るAモード信号を得る超音波送受信制御手段と、前記超
音波送受信制御手段で得られた前記各測定点におけるA
モード信号の所定箇所に設定したゲート内における各A
モード信号のパワースペクトルS1、S2を算出するス
ペクトル算出手段20と、所定の周波数範囲内における
前記各パワースペクトルS1、S2の積分値を算出する
積分値算出手段20と、前記各積分値を前記試料平面上
で画像化する画像表示手段22とを備えることにより達
成される。
【0012】
【作用】反射波のエネルギーは被検体3の反射面の音響
的反射率を正確に反映し、被検体3から得られる反射波
の波形に依存しない量である。この反射波のエネルギー
は反射波のパワースペクトルS1、S2の周波数軸上で
の積分値、すなわちパワースペクトルS1、S2の面積
に比例するため、積分値算出手段20により算出された
反射波のパワースペクトルS1、S2の積分値に基づい
て被検体3の評価を行えば、反射波形の波形に依存せず
に被検体3の音響的反射率分布を正確に求めることがで
きる。
【0013】なお、本発明の構成を説明する上記課題を
解決するための手段と作用の項では、本発明を分かり易
くするために実施例の図を用いたが、これにより本発明
が実施例に限定されるものではない。
【0014】
【実施例】図1は、本発明による超音波検査装置の一実
施例を示すブロック図である。本実施例の超音波検査装
置は、上述した従来の超音波顕微鏡とその構成が略同一
であり、したがって、以下の説明において、上述の従来
例と同様の構成要素については同一の符号を付してその
説明を簡略化する。
【0015】本実施例の超音波検査装置は、さらにスペ
クトル演算回路20、スペクトル記憶装置21およびス
ペクトル画像表示装置22を備えている。スペクトル演
算回路20は制御回路8に入力されたデジタル信号のパ
ワースペクトルを演算するとともに、このパワースペク
トルを周波数軸について積分する。これらパワースペク
トルおよびその積分値の結果はスペクトル記憶装置21
内に格納される。スペクトル画像表示装置22は、パワ
ースペクトルの積分値を2次元的に表示した画像をその
画面上に表示する。
【0016】次に、図2のフローチャートおよび図3〜
図6を参照して、本発明による超音波検査方法の一実施
例を説明する。本実施例でその状態が評価される被検体
3は、図3(a)に示すように、ICチップ30が樹脂3
1によりモールドされたICであり、チップ30と樹脂
31との界面32には、図3(b)に示すようにその一部
に剥離が生じており、空気層33が介在している。以
下、空気層33が介在する部分を剥離部34と称し、I
Cチップ30と樹脂31との接着が良好な部分35を接
着部と称する。
【0017】図2のフローチャートに示すプログラム
は、被検体3がXYステージ10上に載置され、超音波
探触子4の焦点が被検体3の界面32に至るようにこの
超音波探触子4のZ軸位置が調整された段階で開始す
る。ステップS1では、上述の従来例と同様に、走査装
置11により被検体3をX−Y平面の所定の測定位置に
位置決めした後、探触子4と被検体3との間で超音波の
送受信を行って測定点におけるAモード信号を得る。A
モード信号は、表示装置9により画面上に表示される。
ステップS2では、ステップS1で得られたAモード信
号に対して被検体3の界面32に対応する時間軸上に時
間ゲートを設定し、この時間ゲート内のAモード信号を
抽出する。時間ゲート設定方法は任意であり、一例とし
て、画面上に表示されたAモード信号を見ながら操作者
が時間ゲート始点、終点を指示するような方法が挙げら
れる。
【0018】ステップS3では、ステップS2の時間ゲ
ートで抽出されたAモード信号のパワースペクトルが、
スペクトル演算回路20により算出される。パワースペ
クトル演算は、一例としてAモード信号に対して高速フ
ーリエ演算(FFT)を施し、このフーリエ演算値を二
乗することにより行われる。
【0019】図4(a)は被検体3の剥離部34で反射さ
れて受信された反射波(図3にR1で示す)の波形、図
4(b)は図4(a)の波形のパワースペクトルを示す図で
ある。また、図5(a)は被検体3の接着部35で反射さ
れて受信された反射波(図3にR2で示す)の波形、図
5(b)は図5(a)の波形のパワースペクトルを示す図で
ある。図4、図5に示すように、約50MHzより高周波の
周波数成分、すなわち超音波探触子4の受信帯域外の周
波数成分がランダムに振動しているのは、この周波数成
分を有する信号が反射波形においてノイズレベル以下の
振幅しか持たないからである。したがって、このランダ
ム成分が後述の画像評価に影響を及ぼさないように、帯
域外の周波数成分を除去する必要がある。
【0020】ステップS4では、上述のごとく帯域外の
パワースペクトル成分を除去する目的で、周波数軸上に
おいて周波数ゲートが設定され、この周波数ゲート内の
パワースペクトル成分のみが抽出される。周波数ゲート
は、後述の画像表示において被検体3の状態を明確に判
定できるように、すなわち本実施例においては被検体3
の剥離部34と接着部35とが明確に弁別できるように
その位置および幅が調整される。一例として、超音波探
触子4の受信帯域は予め定まっているので探触子4の受
信周波数帯域に周波数ゲートを予め設定しておく。図
4、図5に示す例では、たとえば0〜50MHzの周波数帯
域に周波数ゲートを設定すればよい(図4(b)、図5
(b)にGでその範囲を示す)。
【0021】ステップS5では、ステップS5の周波数
ゲートにより抽出されたパワースペクトルが周波数軸上
において積分され、その積分値が算出される。パワース
ペクトルの積分値は、周波数ゲートにより抽出されたパ
ワースペクトルと周波数軸とで挾まれる領域(図4
(b)、図5(b)に領域D1、D2で示す)の面積に相当
する値である。パワースペクトルの積分値は、パワース
ペクトルデータおよびXYステージ10の座標値ととも
にスペクトル記憶装置21に記憶される。ステップS6
では、ステップS5において算出された積分値が輝度値
に変換され、被検体3のX−Y平面上の位置に対応する
スペクトル画像表示装置22の画面上の位置に表示され
る。
【0022】ステップS7では、全ての測定点において
ステップS1〜ステップS6の動作が行われたか否かが
判定され、判定が肯定されるとプログラムが終了し、判
定が否定されるとステップS1に戻って、走査装置11
により探触子4を次の測定点へ位置決めしてから上述の
動作を繰り返す。このようにして、被検体3の界面32
で反射された反射波についてのパワースペクトル積分値
画像が得られる。
【0023】したがって、本実施例では、反射面の音響
的反射率を正確に反映し、反射波の波形に依存しないパ
ワースペクトルの面積値を用いて被検体3の評価を行っ
ているので、従来とは異なり、波形の位相反転等の反射
波の形状が変化しても被検体3の剥離部34と接着部3
5とを明確に弁別することが可能である。図6は、剥離
部34からの反射波のS1(図4(b))と接着部35か
らの反射波のパワースペクトルS2(図5(b))とを同
一平面上で表示した図である。図6にみるように、双方
のパワースペクトルS1、S2の囲む面積には有意な差
が見られ、したがって、本実施例によれば被検体3の剥
離部34と接着部35とを明確に弁別できることが理解
できる。
【0024】加えて、パワースペクトルの積分値は被検
体3の反射面が有する音響的反射率を正確に反映した値
であるので、本実施例によればこれら反射面の音響的反
射率を忠実に再現した画像を得ることができ、定量的な
評価も可能となる。
【0025】さらに、従来のように所定周波数における
パワースペクトルの値により被検体を評価する場合と異
なり、反射波形に干渉の影響があっても積分によりパワ
ースペクトルの上下動をならすことができ、被検体評価
時における干渉の影響を抑えることができる。
【0026】以上の実施例と請求の範囲との対応におい
て、送信機1、受信機2、A/Dコンバータ6、制御回
路8および駆動制御回路12が一体となって超音波送受
信制御装置を、走査装置11が走査手段を、スペクトル
演算回路20がスペクトル算出手段および積分値算出手
段を、スペクトル画像表示装置22が画像表示手段をそ
れぞれ構成している。
【0027】なお、本発明の超音波検査方法および装置
は、その細部が上述の一実施例に限定されず、種々の変
形が可能である。一例として、上述の一実施例では画像
により被検体の状態を評価していたが、パワースペクト
ルの積分値が閾値に達しているか否かにより、積分値を
画像化することなく一律に被検体の状態を評価し、良品
・不良品の判別をすることもできる。また、一実施例で
はゲートによりパワースペクトルを抽出していたが、ハ
ミング、ハニングウィンドー等の周知のウィンドーによ
り抽出してもよい。
【0028】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、反射面の音響的反射率を正確に反映し、反射波の
波形に依存しないパワースペクトルの面積値を用いて被
検体の状態の評価を行っているので、反射波の形状変化
や反射波の干渉の影響を受けることなく被検体の状態を
明確に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である超音波検査装置を示す
ブロック図である。
【図2】本発明の一実施例である超音波検査方法を説明
するためのフローチャートである。
【図3】一実施例により検査される被検体を示す図であ
って、(a)は断面図、(b)は同図(a)のIII 部分を拡大
して示した断面図である。
【図4】剥離部からの反射波を示す図であって、(a)は
反射波形を示す図、(b)は同図(a)に示す波形のパワー
スペクトルを示す図である。
【図5】接着部からの反射波を示す図であって、(a)は
反射波形を示す図、(b)は同図(a)に示す波形のパワー
スペクトルを示す図である。
【図6】一実施例の効果を説明するための図である。
【図7】従来の超音波顕微鏡の一例を示すブロック図で
ある。
【符号の説明】
1 送信機 2 受信機 3 被検体 4 超音波探触子 6 A/Dコンバータ 8 制御回路 11 走査装置 20 スペクトル演算回路 21 スペクトル記憶装置 22 スペクトル画像表示装置 30 ICチップ 31 樹脂 32 界面 34 剥離部 35 接着部 S1、S2 パワースペクトル

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波探触子を励振して被検体に向けて
    超音波を送信し、この超音波探触子に戻ってきた被検体
    からの反射波を受信し、 前記受信された反射波から得られたAモード信号の任意
    の箇所に設定したゲート内におけるAモード信号のパワ
    ースペクトルを算出し、 任意の周波数範囲内における前記パワースペクトルの積
    分値を算出し、この積分値に基づいて前記被検体を評価
    することを特徴とする超音波検査方法。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の超音波検査方法におい
    て、 前記パワースペクトルの積分値に基づいて前記被検体の
    良品、不良品を判定することを特徴とする超音波検査方
    法。
  3. 【請求項3】 超音波探触子と、 被検体から所定距離離間した試料平面上で前記超音波探
    触子を走査する走査手段と、 前記走査手段により前記試料平面上の複数の測定点へ前
    記超音波探触子を順次位置決めしつつ、この超音波探触
    子と前記被検体との間で超音波の送受信を行うことによ
    り前記各測定点におけるAモード信号を得る超音波送受
    信制御手段と、 前記超音波送受信制御手段で得られた前記各測定点にお
    けるAモード信号の所定箇所に設定したゲート内におけ
    る各Aモード信号のパワースペクトルを算出するスペク
    トル算出手段と、 所定の周波数範囲内における前記各パワースペクトルの
    積分値を算出する積分値算出手段と、 前記各積分値を前記試料平面上で画像化する画像表示手
    段とを備えたことを特徴とする超音波検査装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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