JP2005114376A - 超音波を用いる物体検査方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 非線形超音波法の物体検査の精度を向上する。
【解決手段】 超音波伝播液21中に超音波トランスジューサ(1,3)および検査対象材10を配置し、超音波トランスジューサ(1,3)から検査対象材10にバースト波を入射しかつ送信周波数を掃引して共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)を計測し、bを2以上の整数(2/3/4/・・・)とするとき、計測した共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)の1つの1/bの周波数Fcの送信超音波を検査対象材10に入射し、これによって超音波伝播液中に生じた、送信超音波Fcの高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc,・・・)を計測する、超音波を用いる物体検査方法。送信超音波の入射から設定遅延時間(c〜d)後の高調波bFcの受信レベルを表示手段6dに表示する。
【選択図】 図2
【解決手段】 超音波伝播液21中に超音波トランスジューサ(1,3)および検査対象材10を配置し、超音波トランスジューサ(1,3)から検査対象材10にバースト波を入射しかつ送信周波数を掃引して共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)を計測し、bを2以上の整数(2/3/4/・・・)とするとき、計測した共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)の1つの1/bの周波数Fcの送信超音波を検査対象材10に入射し、これによって超音波伝播液中に生じた、送信超音波Fcの高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc,・・・)を計測する、超音波を用いる物体検査方法。送信超音波の入射から設定遅延時間(c〜d)後の高調波bFcの受信レベルを表示手段6dに表示する。
【選択図】 図2
Description
本発明は、物体細部の物理的不連続を、超音波を用いて検査する方法およびその実施に用いる装置に関する。本発明は例えば、通常の超音波探傷法,X線などの傷検査方法で検出できない材料内部の極微小開口(10nmオーダー)の欠陥(亀裂),剥離の検出又は推定、具体的には、物体間の不完全拡散接合部,不完全固相接合部,キッシングボンド,複合材の繊維と母材界面剥離,初期疲労亀裂,初期応力腐食割れ,水素脆化,初期クリープボイド,ガス・蒸気タービン遮熱コーティングの劣化(剥離),多層LSIの層間剥離,パワーIC基盤の熱衝撃割れ,各種コーティングの密着性等の検出又は推定、すなわち検査に利用することができる。
上記各種の欠陥(き裂)はほとんど体積を持たないので、欠陥体積に依存するX線吸収,超音波音速,減衰などの従来の非破壊計測法では検出できない。例えば、大振幅バースト超音波を検査対象材に入射し、上記不完全結合面の繰返し打撃・摩擦により発生する高調波振幅を計測してそれに基いて欠陥を推定する検査方法があるが、基本波振幅に対する2次高調波振幅が0.1%以上でないと任意位置での欠陥検出はできない。また、電磁超音波法により非接触で導体中に横波を励起し、特定モード・次数の共鳴により高調波振幅あるいは減衰を測定し、金属中の初期損傷を検出する検査方法がある。原理的にこの方法では電磁超音波トランスジューサを数平方cm以下にすることができないし、横波しか利用できない。また、電磁超音波トランスジューサの周波数帯域の制約により,限定された周波数範囲での測定に限定される。
検査対象材中の微視損傷,劣化部等の非線形特性を利用して、入射超音波の高調波を抽出してそれに基いて形状,欠陥の検出又は表示を行う非線形超音波法は、近年、従来の線形超音波法では評価できない初期劣化,損傷の検出法として注目を集めている。非線形超音波法(高調波)を用いて損傷の画像化を試みると、直接接触法では、測定位置ごとの2次高調波発生の差が、接触状態に起因する測定誤差に埋れてしまう。これを解決するために、接触状態を一定に保つ水浸法を利用すると、水浸法の非線形超音波測定では、非常に強い水の非線形性が問題である。たとえば、平面型探触子で大振幅超音波を入射すると、水の非線形性により2次高調波が基本波振幅を上回るという現象も見られる。その影響を軽減するために入射波振幅を小さくすると、材料中の微視損傷・劣化部における2次高調波の発生が低下する。これを避けるために水中では低振幅で、検査対象材内で大振幅とするフォーカス型探触子の適用が試みられているが、固体中の非線形性が小さいため、その適用には限界がある。
本発明は、非線形超音波法の物体検査の精度を向上することを目的とする。
(1)超音波伝播液(21)中に超音波トランスジューサ(1,3)および検査対象材(10)を配置し、bを2以上の整数(2/3/4/・・・)とするとき、超音波トランスジューサから検査対象材にその共鳴周波数(2Fc/3Fc/4Fc/・・・)の1/bの周波数(Fc)の送信超音波を入射し、これによって検査対象材中に生じた、送信超音波(Fc)の高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc,・・・)を計測する、超音波を用いる物体検査方法。
なお、理解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述する実施例の対応要素の記号又は対応事項を、例示として参考までに付記した。以下も同様である。
これによれば、検査波となる高調波(2Fc/3Fc/4Fc,・・・)が検査対象材(10)の共鳴周波数となるので、振幅が大きく現れる。欠陥などの、物体内部の物理的不連続がある場合には、そこで発生した高調波が検査対象材(10)の内部で共鳴し増大する効果が大きく、これにより高精度の物体検査が可能である。
(2)前記送信超音波(Fc)の入射に先立って、前記超音波トランスジューサ(1,3)から前記検査対象材(10)にバースト波を入射しかつ送信周波数を掃引して共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)を計測し、計測した共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)の1つを、請求項1に記載の共鳴周波数とする、上記(1)に記載の物体検査方法。
これによれば、検査対象材(10)を検査状態に設定しているときに、その状態で簡単に検査対象材(10)の共鳴周波数(2Fc,3Fc,4Fc,・・・)を計測し、適当な共鳴周波数を選択して、適切な送信超音波の周波数(Fc)を容易に求めることができる。
(3)前記超音波トランスジューサ(1,3)は、送信用の超音波トランスジューサ(1)およびそれとは別体の受信用の超音波トランスジューサ(3)を含み、送信用の超音波トランスジューサ(1)から前記検査対象材(10)にその共鳴周波数(2Fc/3Fc/4Fc/・・・)の1/bの周波数(Fc)の送信超音波を入射し、これによって受信用の超音波トランスジューサ(3)が受信した、送信超音波(Fc)の高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc,・・・)を計測する、上記(1)又は(2)に記載の物体検査方法。
これによれば、送受信トランスジューサが別体であるので、超音波送,受信の設定,制御および信号処理ならびにそのためのハードウエアを簡略にすることができる。
(4)送信超音波(Fc)の入射から設定遅延時間(c〜d)後の高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc/・・・)の受信レベルを表示手段(6d)に表示する、上記(1)乃至(3)の何れか1つに記載の物体検査方法。
欠陥などの、物体内部の物理的不連続がある場合には、高調波が検査対象材(10)の内部で共鳴し増大する効果が大きく、遅延時間後の高調波振幅が大きくなる。本実施の形態では、高調波振幅が大きくなる時間帯(c〜d)で該振幅を抽出することにより、高い検査精度を得ることができる。
(5)送信超音波(Fc)を走査入射して、入射から設定遅延時間後(c〜d)の高調波(bFc=2Fc/3Fc/4Fc/・・・)の受信レベルが設定閾値(Th)以上の走査位置を表示手段(6d)に表示する、請求項1乃至4の何れか1つに記載の物体検査方法。
これによれば、高調波受信レベルが設定閾値(Th)以上の走査位置すなわち欠陥と推定される位置を表示から視認することができる。
(6)検査対象材(10)を配置した超音波伝播液(21)中に超音波を入射し、該超音波伝播液中の超音波を受信する超音波トランスジューサ(1,3);
前記超音波トランスジューサからバースト波を入射しかつその周波数を掃引する機能、および、前記超音波トランスジューサから指定された送信周波数(Fc)の超音波を入射する機能、を有する超音波送信器(2);
前記超音波トランスジューサの受信信号のレベルを周波数対応で検出する超音波受信器(4);
該超音波受信器(4)が検出した信号レベル(図3,図6〜9,設定遅延時間後c〜dの積算値,Th以上の2値)を表示する手段(5,6d);
前記超音波送信器(2)に、前記バースト波の入射および周波数掃引を指示する手段(6a);および、
前記超音波送信器(2)に前記送信周波数(Fc)を指定し超音波入射を指示する手段(6a);
を備える超音波を用いる物体検査装置。
前記超音波トランスジューサからバースト波を入射しかつその周波数を掃引する機能、および、前記超音波トランスジューサから指定された送信周波数(Fc)の超音波を入射する機能、を有する超音波送信器(2);
前記超音波トランスジューサの受信信号のレベルを周波数対応で検出する超音波受信器(4);
該超音波受信器(4)が検出した信号レベル(図3,図6〜9,設定遅延時間後c〜dの積算値,Th以上の2値)を表示する手段(5,6d);
前記超音波送信器(2)に、前記バースト波の入射および周波数掃引を指示する手段(6a);および、
前記超音波送信器(2)に前記送信周波数(Fc)を指定し超音波入射を指示する手段(6a);
を備える超音波を用いる物体検査装置。
この装置を用いて、上記(1)および(2)に記載の物体検査方法を、容易に実施することができる。
(7)前記超音波トランスジューサ(1,3)は、送信用の超音波トランスジューサ(1)およびそれとは別体の受信用の超音波トランスジューサ(3)を含み;前記超音波送信器(2)は送信用の超音波トランスジューサ(1)から超音波を入射し;前記超音波受信器(4)は受信用の超音波トランスジューサから超音波受信信号を受ける;上記(6)に記載の物体検査装置。
これによれば、送受信トランスジューサが別体であるので、超音波送,受信の設定,制御および信号処理ならびにそのためのハードウエアを簡略にすることができる。
(8)送信用の超音波トランスジューサ(1)は集束超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサ(3)は空間分解能が高い超音波トランスジューサ(ハイドロフォン)である、上記(7)に記載の物体検査装置。
これによれば、高空間分解能の高精度の物体検査を実施することができる。
(9)送信用の超音波トランスジューサ(1)は平面超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサ(3)は超広帯域レーザー超音波検出器である、上記(7)に記載の物体検査装置。
これによれば、送信用の超音波トランスジューサ(1)は固定して、受信用の超音波トランスジューサ(3)を平面走査して2次元走査の物体検査を実施することができる。
また、送信用の超音波トランスジューサ(1)は平面超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサ(3)はハイドロフォンとしても良い。あるいは、送信用の超音波トランスジューサ(1)は集束超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサ(3)はレーザー干渉計としても良い。
(10)前記検査対象材(10)に対する送信超音波(Fc)の入射位置をシフトする走査手段(11〜17);をさらに備え、前記表示手段(5,6d)は、前記超音波受信器(4)が検出した周波数対応の信号レベルを、周波数軸とレベル軸を用いる2次元グラフで表示するグラフ表示手段(5)、および、前記超音波受信器(4)が検出した周波数対応の信号レベルの設定遅延時間後c〜dのもの(積算値,Th以上の2値,最大値)を走査位置対応で表示する手段(6d)、を含む請求項6乃至9の何れか1つに記載の物体検査装置。
これによれば、ユーザは、グラフ表示手段の表示に基いて共鳴周波数を視認して、送信周波数(Fc)を簡単に算出することができる。また、設定遅延時間後c〜dの高調波の信号レベルを走査位置対応で表示手段(6d)に表示して、物理的に不連続な走査位置すなわち欠陥と推定される位置を表示から簡単に視認することができる。
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
図1に、本発明を一態様で実施する装置構成の概要を示す。液槽20内の水21の中には、送信用の超音波トランスジューサ1および受信用の超音波トランスジューサ3が、検査対象材10が水平方向yおよび垂直方向zに移動し得る所定水平距離の間隙を置いて対向して設置されている。
検査対象材10を支持する試料ホルダ11は、垂直ねじ棒12に連結された垂直棒の下端に固着されている。垂直ねじ棒12は、y,z駆動機構を内蔵する、上方は開いたギアボックス13を、垂直方向に貫通している。ギアボックス13の内部には、y走行キャリッジがあり、該y走行キャリッジに、ねじ棒12とねじ結合したナットが回転可能にしかも垂直方向zには移動不可に支持され、また、該y走行キャリッジに、ねじ棒12がz方向には上下動可能にしかし回転は不可に支持されている。ねじ棒12とねじ結合したナットには外歯があり、該外歯に噛合う駆動ギアが、減速器を介してz駆動モータ14で回転駆動される。z駆動モータ14が正転すると垂直ねじ棒12およびホルダ11,検査対象材10が上昇し、逆転すると降下する。前記y走行キャリッジには、ギアボックス13の内部のy方向に伸びる水平ねじ棒にねじ結合したナットが回転自在ではあるがy方向には移動不可に支持されている。水平ねじ棒は、減速機を介してy駆動モータ16で回転駆動される。y駆動モータ16が正転すると、y走行キャリッジおよび垂直ねじ棒12,ホルダ11,検査対象材10が、図1紙面の表側から裏側の方向に移動し、逆転すると裏側から表側の方向に移動する。すなわち、z駆動モータ14,y駆動モータ16の正逆転によって、検査対象材10をy,z方向に駆動することができ、検査対象材10の、y,z面に沿う2次元走査駆動が可能である。z駆動モータ14,y駆動モータ16にはX,Yコントローラ17が通電する。上述のz駆動機構およびy駆動機構には、ホルダ11のz,y位置追跡用のリミットスイッチおよびロータリエンコーダが結合されており、これらが発生する信号をX,Yコントローラ17が監視してホルダ11の基準点(ねじ棒12の中心軸と検査対象材固定ねじの中心軸(水平x)とが交わる点)のz,y位置データ(Z,Y)を生成し保持している。
超音波トランスジューサ1のy,z面の中心と受信用の超音波トランスジューサ3の受信端面の中心とを結ぶ水平x線すなわち送受信狙い線のz,y位置データ(Zo,Yo)がコンピュータ6aからX,Yコントローラ17に与えられ、X,Yコントローラ17は、(Z−Zo,Y−Yo)を検査対象材10上の測定位置(走査位置)として算出し、コンピュータ6aの指示に応じて、ホルダ11をz,y駆動して検査対象材10上の指定点を送受信狙い線の位置に定める。あるいは指定された軌跡を描くように検査対象材10をステップ駆動する。
なお、図1の実施態様では、送信用の超音波トランスジューサ1および受信用の超音波トランスジューサ3が、検査対象材10が水平方向yおよび垂直方向zに移動し得る所定水平距離の間隙を置いて対向して設置されているが、送信用の超音波トランスジューサ1と受信用の超音波トランスジューサ3が上下面内では同一面、水平面内では同一面ではない配置態様(例えば液体中縦波伝播−材料中横波伝播−液対中縦波伝播による測定態様)とすることもできる。
図1に示す送信用の超音波トランスジューサ1は、点または線集束のトランスジューサであり、受信用の超音波トランスジューサ3は、直径0.2mm程度の高空間分解能が実現できるハイドロフォン(商標)(東レテクノ H2a−002)である。なお、送信用の超音波トランスジューサ1に、大面積の平面トランスジューサ(例えばPanametrics M1310:商標)を用いることが出来、また、受信用の超音波トランスジューサ3に、超広帯域で検出部直径が0.1mm程度のレーザー超音波検出器を用いることもできる。
超音波送信器2は、送信用の超音波トランスジューサ1を、指定距離に焦点(集束点)を結ぶ集束モードと、平面波を発生する平面モードで励振が出来、一方を選択することができる。いずれのモードでも、送信超音波の周波数Fc(縦波バースト波の中心周波数)を選択(指定,設定)可能であり、1回の励振駆動で発生する波数aを選択(指定,設定)可である。
超音波受信器4は、受信用の超音波トランスジューサ3が発生する電気信号を増幅しノイズを除去してデジタルオシロスコープ(Iwatsu Lecroy LT-342:商標)5に出力するリアルタイム出力機能に加えて、1パルス駆動(指定波数a)の超音波入射によって発生した指定周波数(高調波Fc×b)の受信レベル(サンプリング値Rv)を、指定遅延時間帯(c〜d)の間積算する(積算値ΣRv)機能を有する。
デジタルオシロスコープ5は、超音波受信器4が出力する超音波受信信号のレベルを周波数宛にメモリし、指定されたモードで受信信号をデジタルオシロスコープ5に装備したディスプレイに表示する。1つの表示モードは図3に示すように、各周波数宛の受信レベルをグラフ表示するものであり、他の1つの表示モードは図6に示すように、時間経過(横軸:単位はμs)による周波数(縦軸:単位はMHz)とレベル(カラー:自然光の分光スペクトルでレベルを連続的に表し、赤が高レベル,ダークブルーが低レベル)の変化を一面上に表すものである。
コンピュータ6aには、「共鳴高調波による探傷」プログラムがセットされており、このプログラムを起動することにより、コンピュータ6aの出力装置の1つであるディスプレイ6dに、「共鳴高調波による探傷」の入力画面が表示される。
図2に、「共鳴高調波による探傷」プログラムにしたがってコンピュータ6aが実行する探傷制御の概要を示す。ディスプレイ6dに表示された入力画面の「共鳴周波数探索」を、ユーザがキーボード6b又はマウス6cを用いて指定し、「実行」(Enter)を指示すると、コンピュータ6aは、「共鳴周波数探索」を行う(ステップS1,S2)。なお、以下においては、カッコ内にはステップという語を省略して、ステップ記号のみを記す。
「共鳴周波数探索」(S2)においてコンピュータ6aは、検査対象材10のz高さの入力催告を表示画面を表示し、その入力があって実行の入力があると、Y,Zコントローラ17に、送信用の超音波トランスジューサ1のy,z面の中心と受信用の超音波トランスジューサ3の受信端面の中心とを結ぶ水平x線すなわち送受信狙い線の位置データ(Zo,Yo)と、検査対象材10のz高さ中央値(入力値の1/2)を与えて位置合せを指示する。これに応答してY,Zコントローラ17が、モータ16,14を駆動して、垂直ねじ棒12の中心線をYoに合せ、しかも、検査対象材10のz高さ中央点をZoに合せる。これにより、ホルダ11に、そのy中央点(ねじ棒12の中心線のy位置)にy幅の中央を合わせて固定した検査対象材10のy,z面の中心が送受信狙い線に位置する。
Y,Zコントローラ17がこの位置合せを完了したことを表わすレディを報知してくると、コンピュータ6aは、周波数掃引モードの超音波送受信を超音波送信器2および超音波受信器4に指示する。これに応答して超音波送信器2が、トランスジューサ1からバースト波を発射しその周波数を掃引する。超音波受信器4はデジタルオシロスコープ5にトランスジューサ3の受信信号を出力する。デジタルオシロスコープ5はそのディスプレイに、図3に示すように、受信信号のレベルを周波数を横軸にしてグラフ表示する。ユーザはこの表示を見て、送信周波数の2次高調波が検査対象材10と共鳴するように、図3に示す共鳴スペクトルでは、例えば周波数3.54MHzを送信周波数(の中心Fc)として選択する。その2次高調波は7.08MHzであり、図3上の共鳴周波数である。
このように送信周波数を決定すると、ユーザは、ディスプレイ6dに表示された入力画面の「パラメータ設定」を、ユーザがキーボード6b又はマウス6cを用いて指定し、「実行」(Enter)を指示する。すると、コンピュータ6aは、パラメータ入力画面をディスプレイ6dにポップアップ表示する(S4)。ユーザはパラメータ入力画面に、パラメータを入力する。パラメータの主要なものを次に示す。
送信周波数Fc:検査対象材10の共鳴周波数の1/bの周波数、例えば上記3.54MHz。bは2以上の整数,
1回の励振駆動の波数a:コンピュータ6aが与える1回の超音波発射指示(1パルス励振の指示)に応答して超音波送信器2がトランスジューサ1を励振駆動する期間を送信周波数Fcの波数で表し、aは例えば100〜200,
検出対象高調波の次数b:Fc×bが検出対象高調波の周波数となる。Fc=3.54MHz,b=2であると、検出対象高調波の周波数は7.08MHzである。
1回の励振駆動の波数a:コンピュータ6aが与える1回の超音波発射指示(1パルス励振の指示)に応答して超音波送信器2がトランスジューサ1を励振駆動する期間を送信周波数Fcの波数で表し、aは例えば100〜200,
検出対象高調波の次数b:Fc×bが検出対象高調波の周波数となる。Fc=3.54MHz,b=2であると、検出対象高調波の周波数は7.08MHzである。
検出対象の遅延時間の領域の下境界値c,上境界値d:たとえばFc=3.54MHzで波数a=100で超音波を発射すると、たとえば図6に示す時系列の受信信号をデジタルオシロスコープ5が記憶しそのディスプレイにカラー表示する。横軸は時間、縦軸は周波数、カラーは受信レベル(強度)を表す。図6の表示は、20μs〜50μs(Fc=3.54MHzの1波(周期)は0.28μsで、100波は28μsであるので、正確に表現すると20μs〜(20+28)μs)の間、中心周波数が3.54MHzの送信波を受信ししかも23μsあたりから40μsあたりまで、中心周波数が7.08MHzの2次高調波を受信していることが分る。図6のデータを得た検査対象材10の場合、欠陥があって測定点が欠陥に近づくほど、2次高調波が検査対象材内で共鳴,増幅する蓄積効果が強く現れ、100波励振の後端部で受信信号に現れる2次高調波のレベル(強度)が、図7,図8および図9の40μs〜50μsの領域に現れているように、順次に高くなっていく。下境界値c,上境界値dは、このような後半領域を2次高調波抽出領域に定めるものであり、下境界値cは該抽出領域の下境界指定値たとえば40μs、上境界値dは下境界指定値たとえば50μsである。
繰返し回数e:データ処理を容易にしかも信頼性を高くするために、複数回の超音波発受信(1回は波数aの発受信)の各回の受信信号を累算し平均値を求める。eは累算回数値である,
欠陥切出しの閾値Th:下境界値c〜上境界値dの間の受信2次高調波の積算値、の平均値(e回の累算値/e)に基いて、この値を得た測定点に欠陥がある否か判定する閾値。コンピュータ6aがこの閾値Thを用いて、該平均値を2値化する(平均値が閾値以上=「1」=欠陥あり/平均値が閾値未満=「0」=欠陥なし)。
欠陥切出しの閾値Th:下境界値c〜上境界値dの間の受信2次高調波の積算値、の平均値(e回の累算値/e)に基いて、この値を得た測定点に欠陥がある否か判定する閾値。コンピュータ6aがこの閾値Thを用いて、該平均値を2値化する(平均値が閾値以上=「1」=欠陥あり/平均値が閾値未満=「0」=欠陥なし)。
走査モード:直線走査,曲線走査,円走査,楕円走査などの線走査、ならびに、水平方向y又は垂直方向zの直線走査を垂直方向z又は水平方向の指定ピッチで繰返す2次元ラスター走査、を選択指定する,
探傷開始始点f(y,z),終点g(y,z):検査対象材10の走査領域の始点と終点を指定する位置情報,
走査ピッチPy,Pz:指定走査モードで検査対象材10を走査するときの、測定点を次に切換える走査のy駆動量,z駆動量。
探傷開始始点f(y,z),終点g(y,z):検査対象材10の走査領域の始点と終点を指定する位置情報,
走査ピッチPy,Pz:指定走査モードで検査対象材10を走査するときの、測定点を次に切換える走査のy駆動量,z駆動量。
これらの入力を終了しまた他の調整または設定をして、ユーザが「実行」を入力すると、コンピュータ6aは、入力値および調整値または設定値を計測ファイル(コンピュータ内データメモリの1領域)に保持し、ディスプレイ6dの表示を入力画面に戻す。
ユーザが入力画面上の「スタート」を指定すると、コンピュータ6aは、Y,Zコントローラ17を介して、検査対象材10の探傷開始始点f(y,z)を送受信超音波トランスジューサ1,3間の送受信狙い線に位置決めする(S5,S6)。そして「パラメータ転送」(S7)によって、超音波送信器2には送信周波数Fcおよび1回の励振駆動の波数aを転送し、超音波受信器4には検出対象高調波の周波数Fc×b,検出対象の遅延時間の領域の下境界値cおよび上境界値dならびに繰返し回数eを転送し、Y,Zコントローラ17には、走査モード,探傷終点gおよび走査ピッチPy,Pzを転送する。これらを受信し準備完了(レディ)を超音波送信器2,超音波受信器4およびY,Zコントローラ17が報知してくると、コンピュータ6aは、「一点の共鳴高調波探傷」(S8)を実行する。
「一点の共鳴高調波探傷」(S8)においてコンピュータ6aは、トリガパルス(探傷指示信号)を超音波送受信器2,4に与える。これに応答して超音波送信器2がトランスシューサ1から、中心周波数がFcのバースト波を、周波数Fcの波数a分発射する。これによってトランスジューサ3が発生した受信信号が超音波受信器4からデジタルオシロスコープ5に与えられ、デジタルオシロスコープ5がそのディスプレイに、例えば図6に示すように受信信号を時系列で表示する。このとき超音波受信器4は、受信信号の中の、周波数Fc×bを中心とする狭帯域の高調波をフィルタ処理によって抽出して、指定遅延時間c〜dの間積算(積分)し、遅延時間dが経過すると積算値データ(ΣRv)をコンピュータ6aに転送する。コンピュータ6aは受信した積算値データをデータメモリの1領域に定めた累算レジスタに累算記憶する。すなわち、累算レジスタのデータに今回受信した積算値データを加算して、和データを累算レジスタに更新書込みする。累算レジスタのデータの初期値は0である。そしてコンピュータ6aは、このトリガパルス出力回数をカウントアップし、カウント値がeに達しないと、またトリガパルス(探傷指示信号)を超音波送受信器2,4に与え、上述の処理を行う(S8)。
カウント値がeに達したときには、コンピュータ6aは、累算レジスタのデータ(ΣΣRv)の1/eのデータ(平均値)を、データメモリの1領域に割当てた平均値ファイルに、測定点(y,z)宛に書き込み、ディスプレイ6dの1つの分割表示面に、y,z座標軸上の測定点(y,z)対応位置に平均値をカラー表示する。なおこの表示は、立体斜視図表示形式の棒グラフ表示にしてもよい。さらにコンピュータ6aは、平均値を閾値Thで2値化して、2値データ(「1」:欠陥あり/「0」:欠陥なし)を、データメモリの1領域に割当てた欠陥検出ファイルに、測定点(y,z)宛に書き込み、ディスプレイ6dのもう1つの分割表示面に、y,z座標軸上の測定点(y,z)対応位置に2値データ=「1」をドット表示する(S9)。
コンピュータ6aは次に、測定点(y,z)が終点であるかをチェックして(S10)、終点ではないとY,Zコントローラ17に測定点シフト指示を与え、これに応答してコントローラ17が、指定走査ピッチPy,Pz分検査対象材10を駆動し、これを終了するとそれ(レディ)をコンピュータ6aに報知する(S11)。これに応答してコンピュータ6aは、また上述の「一点の共鳴高調波探傷」(S8)に進む。
測定点(y,z)が終点であると、コンピュータ6aはユーザ入力を待つ(S0)。なお、上述の計測ファイル,平均値ファイルおよび欠陥検出ファイルは、コンピュータ6a内の固定ディスクに蓄積することが出来、外部メモリ(FD,CD,MO)に複写することが出来、外部機器に転送することもできる。また、計測ファイルのデータを、その後の計測にそのまま設定することが出来、また、変更することもできる。
なお、上記の実施態様では送受信用の超音波トランスジューサ1,3を固定し、検査対象材10を走査駆動するが、検査対象材10を固定して、送受信用の超音波トランスジューサ1,3を走査駆動することもできる。また、検査対象材10と送信用の超音波トランスジューサ1を固定して、送信用の超音波トランスジューサ1により平面波を発生し、受信用の超音波トランスジューサ3のみを走査駆動することができる。この場合、送信用の超音波トランスジューサ1を大口径の平面超音波トランスジューサとすることもできる。さらには、超音波トランスジューサ3のみを走査駆動し、超音波トランスジューサ3が受信するに適した方向に超音波を発射する超音波トランスジューサ1上の素子あるいはさらにその周囲の素子から超音波を発射するようにすることもできる。
次に、実験例を説明する。図5の(a)に示す形状で、各1.7mm厚のTi上,下層の間に、SiCファイバをベース(Ti−6Al−4V)に埋めたファイバ層の6層を1mm厚に重ね集成した繊維強化層、を挟んだ3層構造の繊維強化複合材料(第1試料10ev)、ならびに、該第1試料を引張疲労試験し破断させた図5の(b)に示す形状の半体(第2試料10eb)を検査対象材10とした。超音波発生器2に装備する強力バースト波発生装置(RITEC SNAPRAM5000:商標)をコンピュータ6aで制御し、共鳴スペクトル(図3)から選択した入射周波数で、励起電圧112V、波数100のバースト波を送信側超音波トランスジューサ1に入力した。送信側超音波トランスジューサ1には、公称周波数5MHz、直径6.35mmの平面探触子(Panametrics
M1310)を用い、受信側超音波トランスジューサ3には、1〜10MHzでフラットな受信特性をもつ直径3mmのハイドロフォン(東レテクノ H2A-002)を用いて、水浸法で測定を行った。透過波形は、デジタルオシロスコープ(Iwatsu
Lecroy LT-342)で、サンプリング周波数500MHz、加算平均50回の後、デジタル収録した。
M1310)を用い、受信側超音波トランスジューサ3には、1〜10MHzでフラットな受信特性をもつ直径3mmのハイドロフォン(東レテクノ H2A-002)を用いて、水浸法で測定を行った。透過波形は、デジタルオシロスコープ(Iwatsu
Lecroy LT-342)で、サンプリング周波数500MHz、加算平均50回の後、デジタル収録した。
第2試料10ebに超音波を入射して測定した第2試料10ebの共鳴スペクトルを図3に示す。入射周波数は、基本波および2次高調波の周波数がともに共鳴するように、3.54MHzを選択した。受信波(受信した2次高調波)の波形を図4に示す。第1試料10evの測定波形をウェーブレット変換した結果を図6に示し、第2試料の測定波形をウェーブレット変換した結果を図7,図8および図9に示す。なお、ウエーブレット変換は、受信波振幅を表す受信信号(時間−振幅)を、周波数情報(時間−周波数:例えば図6)に変換するものである。
図7は第2試料の図5の(b)上で、破断部(欠陥部)より遠いAで示す基部位置の測定波形、図8は破断部(欠陥部)にやや近いBでの測定波形、図9は破断部(欠陥部)直近の測定波形である。図6の健全な第1試料10evの測定波形では、2次高調波7.08MHzの蓄積は見られない。すなわち、受信基本波3.54MHzの第66波あたりから第100波あたりに相当する略遅延時間40μs〜50μsの領域での2次高調波7.08MHzのレベルは低い。一方第2試料10ebでは、破断部に近づくに従い(図7,図8,図9の順で)、2次高調波7.08MHzの蓄積が顕著になった。これは破断部が近づくに伴い、第2試料10ebの繊維層(中間層)−母材(上,下層)間,中間層内の繊維層間の微細剥離および母材中の微細亀裂が増加し、それらの部位での非線形応答により2次高調波7.08MHzの発生が顕著になったためと考えられる。
1:送信用の超音波トランスジューサ
2:超音波送信器
3:受信用の超音波トランスジューサ
4:超音波受信器
5:デジタルオシロスコープ
6a:コンピュータ
6b:キーボード
6c:マウス
6d:ディスプレイ
10:検査対象材
10ev:第1試料
10eb:第2試料
11:ホルダ
12:ねじ棒
13:ギアボックス
14:z駆動モータ
15:支持枠
16:y駆動モータ
17:Y,Zコントローラ
20:液槽
21:水
2:超音波送信器
3:受信用の超音波トランスジューサ
4:超音波受信器
5:デジタルオシロスコープ
6a:コンピュータ
6b:キーボード
6c:マウス
6d:ディスプレイ
10:検査対象材
10ev:第1試料
10eb:第2試料
11:ホルダ
12:ねじ棒
13:ギアボックス
14:z駆動モータ
15:支持枠
16:y駆動モータ
17:Y,Zコントローラ
20:液槽
21:水
Claims (10)
- 超音波伝播液中に超音波トランスジューサおよび検査対象材を配置し、bを2以上の整数とするとき、超音波トランスジューサから検査対象材にその共鳴周波数の1/bの周波数の送信超音波を入射し、これによって検査対象材中に生じた、送信超音波の高調波を計測する、超音波を用いる物体検査方法。
- 前記送信超音波の入射に先立って、前記超音波トランスジューサから前記検査対象材にバースト波を入射しかつ送信周波数を掃引して共鳴周波数を計測し、計測した共鳴周波数の1つを、請求項1に記載の共鳴周波数とする、請求項1に記載の物体検査方法。
- 前記超音波トランスジューサは、送信用の超音波トランスジューサおよびそれとは別体の受信用の超音波トランスジューサを含み、送信用の超音波トランスジューサから前記検査対象材にその共鳴周波数の1/bの周波数の送信超音波を入射し、これによって受信用の超音波トランスジューサが受信した、送信超音波の高調波を計測する、請求項1又は2に記載の物体検査方法。
- 送信超音波の入射から設定遅延時間後の高調波の受信レベルを表示手段に表示する、請求項1乃至3の何れか1つに記載の物体検査方法。
- 送信超音波を走査入射して、入射から設定遅延時間後の高調波の受信レベルが設定閾値以上の走査位置を表示手段に表示する、請求項1乃至4の何れか1つに記載の物体検査方法。
- 検査対象材を配置した超音波伝播液中に超音波を入射し、該超音波伝播液中の超音波を受信する超音波トランスジューサ;
前記超音波トランスジューサからバースト波を入射しかつその周波数を掃引する機能、および、前記超音波トランスジューサから指定された送信周波数の超音波を入射する機能、を有する超音波送信器;
前記超音波トランスジューサの受信信号のレベルを周波数対応で検出する超音波受信器;
該超音波受信器が検出した信号レベルを表示する手段;
前記超音波送信器に、前記バースト波の入射および周波数掃引を指示する手段;および、
前記超音波送信器に前記送信周波数を指定し超音波入射を指示する手段;
を備える、超音波を用いる物体検査装置。 - 前記超音波トランスジューサは、送信用の超音波トランスジューサおよびそれとは別体の受信用の超音波トランスジューサを含み;前記超音波送信器は送信用の超音波トランスジューサから超音波を入射し;前記超音波受信器は受信用の超音波トランスジューサから超音波受信信号を受ける;請求項6に記載の物体検査装置。
- 送信用の超音波トランスジューサは集束超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサは空間分解能が高い超音波トランスジューサである、請求項7に記載の物体検査装置。
- 送信用の超音波トランスジューサは平面超音波トランスジューサ、受信用の超音波トランスジューサは超広帯域レーザー超音波検出器である、請求項7に記載の物体検査装置。
- 前記検査対象材に対する送信超音波の入射位置をシフトする走査手段;をさらに備え、前記表示手段は、前記超音波受信器が検出した周波数対応の信号レベルを、周波数軸とレベル軸を用いる2次元グラフで表示するグラフ表示手段、および、前記超音波受信器が検出した周波数対応の信号レベルの設定遅延時間後c〜dのものを走査位置対応で表示する手段、を含む請求項6乃至9の何れか1つに記載の物体検査装置。
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JP2003345078A JP2005114376A (ja) | 2003-10-02 | 2003-10-02 | 超音波を用いる物体検査方法および装置 |
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