JPH0389114A - 光学式変位検出装置 - Google Patents

光学式変位検出装置

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JPH0389114A
JPH0389114A JP22584289A JP22584289A JPH0389114A JP H0389114 A JPH0389114 A JP H0389114A JP 22584289 A JP22584289 A JP 22584289A JP 22584289 A JP22584289 A JP 22584289A JP H0389114 A JPH0389114 A JP H0389114A
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JP
Japan
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displacement
optical path
slit member
light source
interference pattern
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JP22584289A
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Inventor
Masaaki Takagi
正明 高木
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Nidec Copal Corp
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Nidec Copal Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学式変位検出装置に関し、特に点光源回折を
用いたレーザエンコーダに関する。
〔従来の技術〕
近年、自動化技術の発達に伴ない産業用ロボットあるい
は数値制御工作機械の高速高精度の位置決め、さらに高
速から低速までの円滑な速度制御の必要性から、回転角
センサとしてロータリーエンコーダが注目されている。
しかしながら従来より知られている磁気式あるいは光学
式のロータリーエンコーダは、高分解能になるほど振動
衝撃に対して弱く大型化しコストも高くなる為所しいニ
ーズに十分対応できないのが現状である。
この点に鑑み、コヒーレントな点光源からの球面波によ
る回折現象(点光源回折)を利用した別のタイプの光学
式エンコーダが提案されている。
点光源による回折像は、平行光源による回折像とは大き
く異なった性質を持っている。その1つに、物体(例え
ば−次元格子)が移動するとその回折像あるいは干渉パ
タンは、影絵の場合と同じく移動する。又この場合の干
渉パタンは、光源と回折格子、回折格子と光検出器との
距離の比率により拡大する事が可能で、回折格子の微少
な移動量を拡大光学系なしで、非常に簡単に検出できる
。この現象を利用して、半導体レーザと数−ピッチの回
折格子を用いて高性能な光学式エンコーダが得られてい
る。このエンコーダは構造が簡単で高分解能なうえ、光
センサ部とエンコーダ板との距離がとれる為、衝撃や振
動にも強いという特徴を有する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら点光源回折を用いたレーザエンコーダにお
いて、鮮明な干渉パタンを得る為には、光源と回折格子
との距離、回折格子と光検出器との距離、光源から射出
されるコヒーレント光の波長等を精密に制御する必要が
ある。しかしながらこれらのパラメータは可動光学部品
の機械的変動要因や周囲環境温度の変動要因等によりバ
ラツキがあり、個々のレーザエンコーダ毎に複雑な調節
作業を要していた。
〔問題点を解決する為の手段〕
上述したレーザエンコーダの問題点に鑑み、本発明は簡
単な構造及び調節作業により常に鮮明な干渉パタンの得
られる改良されたレーザエンコーダを提供する事を目的
とする。
第1図は改良されたレーザエンコーダの構造を示す模式
的断面図である。レーザエンコーダは所定の光路に沿っ
てコヒーレントな光を射出する点光源1を有する。点光
源1の前方所定の第一の光路長位置には光路を横切る様
に変位する変位スリット部材2が配置されている。変位
スリット部材2はいわゆるエンコーダ板と呼ばれるもの
であり、−次元回折格子3を構成する。回折格子3はコ
ヒーレントな光の照射を受け、回折格子の前方第二の光
路長位置に干渉パタン4を形成する。干渉パタン4は変
位スリット部材2の変位に応じて矢印で示す様に移動し
且つ所定の空間周期を有する。第二の光路長位置には固
定スリット部材5が配置されている。固定スリット部材
5は空間フィルタを構成する。空間フィルタは干渉パタ
ン4の移動方向に沿って配列されており干渉パタン4の
周期に対応した周期を有する。固定スリット部材5の前
方近接位置には、光検出器6が配置されており、空間フ
ィルタを通過した光を受光し、光強度の時間的変化に応
じた交流検出信号を出力する。
検出信号の周波数により変位スリット部材2の変位速度
が分かり、検出信号の波の数により変位スリット部材2
の変位量が分かる。
さらに干渉パタン4の鮮明度を維持する為に、点光源1
と固定スリット部材5の間の光路に、調節部材7が挿入
されている。干渉パタン4の鮮明度は、点光源1と変位
スリット部材2の間の第一の光路長及び変位スリット部
材2と固定スリット部材5の間の第二の光路長との相対
的関係に依存しており、調節部材7は第一及び第二の光
路長を相対的に調節する機能を有する。調節部材7は好
ましくは点光源1と変位スリット部材2の間に挿入され
第一の光路長を調節する。調節部材7は、例えば異なっ
た屈折率及び/又は異なった厚みを有する複数の透明平
行平面板から選択される。あるいは調節部材7は1枚の
透明平行平面板から構成され、平面板の法線と光軸との
なす角が調節可能に配置されている。
〔作  用〕
本発明にかかる点光源回折を用いたレーザエンコーダに
おいては、点光源1から射出したコヒーレントな光を移
動する変位スリット部材2に照射し、その回折光を固定
スリット部材5を通して光検出器6で受光検出する様に
動作する。この時、回折光により鮮明な干渉パタン4を
形成する為には、いわゆるフレネル回折理論に従って、
以下の関係式(1)を満たす必要がある。
MLλ        H ここで、Lは第一の光路長、Mは第二の光路長、λは点
光R1から射出されるコヒーレントな光の波長、Tは一
次元回折格子3のピッチ、G及びHは整数である。この
関係式(1〉を満たす場合に鮮明な干渉パタンか得られ
且つ干渉パタンは変位スリット部材2の変位に応答して
移動する。
又回折格子3のピッチTと干渉パタン4の周期P即ち干
渉縞のピッチには以下に示す関係がある。
G 即ち干渉パタンの周期Pは回折格子のピッチTの光路長
りに対して第二の光路長Mを大きくとる事により、拡大
率が大きくなり高性能で高分解能なレーザエンコーダを
得る事ができる。
ところで関係式(1〉に用いられた各パラメータL、M
、  λ及びTは個々のレーザエンコーダ毎にバラツキ
、関係式(1)を満足する為にパラメータを調節する必
要がある。この点に鑑み、本発明においては点光源1と
固定スリット部材5の間の光路に調節部材7を挿入し、
第一の光路り及び第二の光路Mの一方又は両方を調節す
る事により関係式(1)を満たす様にし、最適な鮮明度
を有する干渉パタンを得る様にしている。
例えば点光源1と変位スリット部材2の間に、調節部材
として板厚d、屈折率nの透明平行平面板を配置する事
により、第一の光路りは見掛上L′の様に変化する。
関係式(3)で示す様に、かかる平行平面板を挿入する
事により、第一の光路長りを見掛上る事ができる。従っ
て異なった板厚や屈折率を有する平行平面板を複数用意
して、個々のレーザエンコーダのパラメータのバラツキ
に応じて適宜差し替え調節を行なう事により、最適の鮮
明度を有する干渉パタンを得る事ができる。
また板厚d及び屈折率nを有する平行平面板を第一の光
路に介在させ、平面板の法線と光軸のなす角δを変える
事により、第一の光路長りは見掛上次式で示す様にL′
とする事ができる。
関係式(4〉に基いて計算される様に、例えば平面板の
法線と光軸のなす角δを20″から25°に変化させる
と、板厚dが1.3%だけ厚くなったのと同じ効果があ
り、従って平行平面板を傾ける事によっても最適な鮮明
度を有する干渉パタンを得る事ができる。勿論変位スリ
ット部材と固定スリット部材の間の第二の光路に平行平
面板を配置しても同様の調節を行なう事ができるが、第
一の光路に挿入した場合に比べて調節効果は小さい。
〔実 施 例〕
第2図は本発明にかかる点光源回折を用いた光学式変位
検出器をロータリーエンコーダに適用した実施例を示す
斜視図である。本ロータリーエンコーダは点光源1とし
て半導体レーザを用いる。
半導体レーザは発振波長λ−830nmのコヒーレント
な光を光路に沿って射出する。発振波長λは基準値に対
し約±15na+のバラツキを有する。点光源1の前方
第一の光路長L−7,3mmのところに、回転円板から
なる変位スリット部材2が配置されている。回転円板は
第一の光路を横切る様に双方向に回転し、エンコーダ板
として機能する。回転円板の周辺部には半径方向に放射
状に配列された一次元回折格子3が形成されている。−
次元回折格子3のピッチは光軸を横切る円周部分に沿っ
て30血である。このピッチは光軸のブレによって変動
する。回転円板の前方第二の光路長M−58,25m+
sのところに、固定スリット部材5が配置されている。
固定スリット部材5は空間フィルタを構成し、その周期
は干渉パタンの周期に対応し、空間フィルタの配列方向
は干渉パタンの移動方向即ち回転円板の円周方向に一致
している。本実施例においては、空間フィルタは複数の
スリットで構成されているが単一のスリットであっても
良い。この様な構成により、空間フィルタは回折光を選
択的に透過し、受光効率を上昇する事ができる。固定ス
リット部材5の前方近接位置には光検出器6が配置され
ており、空間フィルタを通過した回折光を受光し、その
光強度の時間的変化に応じた交流検出信号を出力する。
光検出器6は例えばフォトダイオードから構成される。
点光R1と変位スリット部材2の間には、調節部材7が
挿入されている。調節部材7は板厚d−4mm、屈折率
n −1,5を有する透明な平行平面板から構成されて
いる。平行平面板は傾斜可能な様に配置されており、平
行平面板の法線と光軸のなす角δを調節できる様になっ
ている。
点光源1の前面にはマスク8が配置されている。
点光源1を構成する半導体レーザの射出角はかなり固体
差があり、干渉パタンの鮮明度はその射出角に依存する
ので、射出角を規定する為にマスク8が挿入されている
のである。
変位スリット部材2と固定スリット部材5の間には円筒
レンズ9が挿入されている。円筒レンズ9の円筒軸は回
転円板の接線方向と平行になる様に配置されている。光
検出器6を構成するフォトダイオードの寸法は高々1m
mなのでL=7.3mm。
M■56.25mmに設定すると、回転円板の半径方向
における回折光の発光ダイオードに対する有効入射角は
約±0.5°であり、光の受光効率が低い。
そこで回転円板の円周方向に円筒軸を持つ円筒レンズ9
により、干渉パタンの周期を乱さない程度に半径方向光
束を集光する様にしている。例えば回転円板が光軸を横
切る点における半径が30關であるとすると、回折光の
有効入射角は上2゜3゜となり約4.5倍の効率上昇と
なる。
次に第3図ないし第6図のグラフを参照して、第2図に
示すレーザエンコーダの動作を説明する。
回転する変位スリット部材2に点光源1から射出される
コヒーレントな球面波を照射すると、周定スリット部材
5上に干渉パタンか形成される。第3図はこの様にして
形成された干渉パタンを示す線図であり、干渉パタンは
明暗の縞模様からなる。
第3図において縦軸は干渉パタンを構成する回折光の光
強度を相対値で示したものであり、横軸は干渉パタンの
縞の相対位置を示したものである。
レーザエンコーダのパラメータについては、L−7,3
ms、 M−56,25m+*、  λ−830nm、
 T−30−であり、点光源1と変位スリット部材2の
間に板厚d=4mm、屈折率n”1.5の平行平面板を
光軸に対して直交する様に挿入して、第3図に示す様な
最適な鮮明度を有する干渉パタンを得る事ができる。
舎外的な変動要因により、第一の光路長りが7.3+a
+sから7.4yamに変化したとすると、第4図に示
す様に干渉パタンの鮮明度は低下する。第4図は干渉パ
タンか形成される限界状態に近く、これ以上第一の光路
長りが変動すると、干渉パタンは消滅してしまい、ロー
タリーエンコーダは正常に動作する事ができない。
次に第一の光路長りの変動に起因して生じた干渉パタン
の鮮明度の低下を補う為に、平行平面板を光軸に対して
徐々に傾ける。実際の干渉パタンをモニタしながら、平
行平面板の傾きを調節していき、最適な干渉パタンの鮮
明度が復元された状態で平行板の傾きを固定する。第5
図はこの様にして回復された干渉パタンを示し、平行平
面板はその法線が光軸に対して29″の位置で固定され
ている。
あるいは平行平面板を回転させる調節に代えて、異なっ
た板厚あるいは異なった屈折率を有する平行平面板を第
一の光路に挿入してもよい。例えば、板厚d = 4 
mmの平面板に代えて板厚d−4,2mmの平面板を用
いる事により、第5図に示す様に干渉パタンの鮮明度を
最適に復元する事ができる。
第6図は、上述した様にして最適に設定された鮮明度を
有する干渉パタンを固定スリット部材5を介して光検出
部材6に投影した場合に得られる検出信号の波形を示す
。縦軸は検出信号の振幅を示し、横軸はロータリーエン
コーダのエンコーダ板の回転角を示す。図示する様に、
固定スリット部材を通過して光検出器に受光された回折
光の周期的な強度変化に応じて、正弦波形を有する検出
信号が出力される。検出信号の周波数はエンコーダ板の
回転速度を表わし、検出信号の波の数はエンコーダ板の
回転量を表わす。この様にして、干渉パタンの鮮明度を
最適に維持すれば、振幅変化の明瞭な検出信号を得る事
ができる。
第7図は本発明にかかる点光源回折を用いた光学式変位
検出装置をリニアエンコーダに適用した実施例を示す斜
視図である。リニアエンコーダは点光源1と、矢印で示
す様に直線的に変位する変位スリット部材2と、固定ス
リット部材5と、光検出器6とから構成されている。変
位スリット部材2にはその変位方向に沿って一次元回折
格子3が形成されており、その回折光により形成される
干渉パタンは固定スリット部材上に形成される。
固定スリット部材5は干渉パタンの周期に対応した空間
周期を有する空間フィルタを構成する。空間フィルタを
通過した回折光は光検出器6により受光され検出信号に
変換される。点光源1と変位スリット部材2の間には、
調節部材7が挿入されており、点光源1と変位スリット
部材2の間の見掛上の光路を調節する事により、常に鮮
明な回折パタンか得られる様にしている。
〔発明の効果〕
上述した様に、本発明によれば、点光源回折を用いたレ
ーザエンコーダにおいて、点光源1と一次元回折格子を
構成するエンコーダ板との間に調節部材を挿入する事に
より、見掛上の光路を調節し、簡単な作業及び単純な構
造で効果的に干渉パタンの鮮明度を維持する事ができる
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は点光源回折を用いた光学式変位検出装置の模式
的構造を示す断面図、第2図は点光源回折を用いた光学
式変位検出装置の一実施例であるロータリーエンコーダ
を示す斜視図、第3図ないし第5図はロータリーエンコ
ーダに用いられる干渉パタンを示す線図、第6図はロー
タリーエンコーダの検出信号を示す線図、及び第7図は
点光源回折を用いた光学式変位検出装置の他の実施例で
あるリニアエンコーダを示す斜視図である。 1・・・点光源      2・・・変位スリット部材
3・・・回折格子     4・・・干渉パタン5・・
・固定スリット部材 6・・・光検出器7・・・調節部
材 光強度(相対値) 第3図 光強度(相対値) 第4図 光強度(相対値)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、所定の光路に沿ってコヒーレントな光を射出する点
    光源と、 所定の第一の光路長位置において光路を横切る様に変位
    する部材であって、該変位に応じて移動し且つ所定の空
    間周期を有する干渉パタンを所定の第二の光路長位置に
    形成する回折格子を構成する変位スリット部材と、 該干渉パタンの移動方向に沿って配列され且つ干渉パタ
    ンの周期に対応した周期を有する空間フィルタを構成す
    る固定スリット部材と、 該空間フィルタを通過した光を受光し、光強度変化に応
    じた検出信号を出力する検出器と、該干渉パタンの鮮明
    度を維持する為に、点光源と固定スリット部材の間の光
    路に挿入され、第一及び第二の光路長を相対的に調節す
    る為の調節部材とからなる変位検出装置。 2、該調節部材は、点光源と変位スリット部材の間に挿
    入され第一の光路長を調節する請求項1に記載の変位検
    出装置。 3、該調節部材は、異なった屈折率及び/又は異なった
    厚みを有する複数の透明平行平面板から選択される請求
    項1に記載の変位検出装置。 4、該調節部材は、透明平行平面板からなり、該平面板
    の法線と光軸とのなす角が調節可能に配置されている請
    求項1に記載の変位検出装置。 5、該変位スリット部材は双方向に回転変位可能な円板
    からなり、該円板の半径方向に放射状に形成された回折
    格子を有する請求項1に記載の変位検出装置。 6、該変位スリット部材は双方向に直線的に変位可能な
    部材からなる請求項1に記載の変位検出装置。 7、変位スリット部材と固定スリット部材の間に配置さ
    れる円筒レンズ部材を有し、干渉パタンの空間周期を保
    存しながら光を検出器に効率的に収束させる請求項1に
    記載の変位検出装置。
JP22584289A 1989-08-31 1989-08-31 光学式変位検出装置 Pending JPH0389114A (ja)

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Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014109577A (ja) * 2012-12-03 2014-06-12 Dr Johannes Heidenhain Gmbh 位置測定装置

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