JPH0383225A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH0383225A JPH0383225A JP21928389A JP21928389A JPH0383225A JP H0383225 A JPH0383225 A JP H0383225A JP 21928389 A JP21928389 A JP 21928389A JP 21928389 A JP21928389 A JP 21928389A JP H0383225 A JPH0383225 A JP H0383225A
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Landscapes
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高密度磁気記録に適する強磁性金属膜を磁気
記録層とし、特に固定磁気ディスク装置用の磁気ディス
クとして好適な磁気記録媒体の製造方法に関する。
記録層とし、特に固定磁気ディスク装置用の磁気ディス
クとして好適な磁気記録媒体の製造方法に関する。
近年、コンピュータの処理能力の増大に伴い、外部メモ
リ装置の記憶容量を増大させることが要求されてきてい
る。この要求を満足させるためには、外部メモリ装置に
用いられる磁気ディスクもさらに記録密度を増加させる
必要があり、このためには記録層を形成する磁性薄膜の
磁気特性の向上と記録層のより一層の薄膜化を促進しな
ければならない、そこで、磁性層としてスパッタリング
法によりコバルト合金を成膜したものが提案され、一部
実用化が始まっている0合金組成としては、Co−旧+
Co−Cr、 Go−Nl−Cr、 Co−Cr−T
ar Co −Pt、 Co−Cr−Pt、 Co−N
1−Pt等が特に有用である。
リ装置の記憶容量を増大させることが要求されてきてい
る。この要求を満足させるためには、外部メモリ装置に
用いられる磁気ディスクもさらに記録密度を増加させる
必要があり、このためには記録層を形成する磁性薄膜の
磁気特性の向上と記録層のより一層の薄膜化を促進しな
ければならない、そこで、磁性層としてスパッタリング
法によりコバルト合金を成膜したものが提案され、一部
実用化が始まっている0合金組成としては、Co−旧+
Co−Cr、 Go−Nl−Cr、 Co−Cr−T
ar Co −Pt、 Co−Cr−Pt、 Co−N
1−Pt等が特に有用である。
さらに、より磁気特性を向上させるために、これらのC
o合金層の形成に先行して設けるその下地層の材料とし
て、Cr、 CrV、 W等が有用であることも知られ
ている。また−船釣に、これら記録層の上には、磁気ヘ
ッドによる衝撃・摺動から保護することと、放置・使用
環境下での腐蝕を防止することとを目的として、硬質の
保m層を設けることが有効であることも知られている。
o合金層の形成に先行して設けるその下地層の材料とし
て、Cr、 CrV、 W等が有用であることも知られ
ている。また−船釣に、これら記録層の上には、磁気ヘ
ッドによる衝撃・摺動から保護することと、放置・使用
環境下での腐蝕を防止することとを目的として、硬質の
保m層を設けることが有効であることも知られている。
この材料として特に3101を例とする酸化物や硬質な
炭素が有用であり、しかも磁性層と同様スパッタリング
法により形成可能である。
炭素が有用であり、しかも磁性層と同様スパッタリング
法により形成可能である。
以上磁気ディスク作成の際には、各Ia能をもった薄膜
の積層が要件であり、これら各層の機能を十分達成でき
る様なスパッタリング条件を見出すことが、製造上の重
要な点の一つである。従来の典型的なスパッタリング法
によれば、スパッタリング用の真空槽は10−’Tor
r台の十分高真空に排気した後、100%Arガスを導
入し、10−’Torr台から10−”Torr台の圧
力でスパッタリングを行う、現在までの知見によれば、
Arガスはできるだけ純度の高いものを使用すべきであ
り、たとえば0富やN1などの不純物ガスが混入した場
合、形威された磁性層の磁気特性を著しく劣化させる。
の積層が要件であり、これら各層の機能を十分達成でき
る様なスパッタリング条件を見出すことが、製造上の重
要な点の一つである。従来の典型的なスパッタリング法
によれば、スパッタリング用の真空槽は10−’Tor
r台の十分高真空に排気した後、100%Arガスを導
入し、10−’Torr台から10−”Torr台の圧
力でスパッタリングを行う、現在までの知見によれば、
Arガスはできるだけ純度の高いものを使用すべきであ
り、たとえば0富やN1などの不純物ガスが混入した場
合、形威された磁性層の磁気特性を著しく劣化させる。
また、これらの不純物ガスを十分抑えるように管理した
状態でも、適正な磁気特性を実現するためには、スパッ
タリング条件、例えばガス圧や基板温度は、ある限定さ
れた狭い範囲でしか適用できないものであった。
状態でも、適正な磁気特性を実現するためには、スパッ
タリング条件、例えばガス圧や基板温度は、ある限定さ
れた狭い範囲でしか適用できないものであった。
本発明の目的は、上記の欠点を除き、スパッタリングの
原ガス圧や基板温度を狭い範囲にjil!Jmする必要
のない磁気記録媒体の製造方法を提供することにある。
原ガス圧や基板温度を狭い範囲にjil!Jmする必要
のない磁気記録媒体の製造方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明は、非磁性基体上
に少なくとも非磁性金属下地層およびコバルト合金磁性
層をスパッタリングで積層する際に、スパッタリングの
雰囲気をアルゴンに1%ないし10%の水素を混入した
ガスとするものとする。
に少なくとも非磁性金属下地層およびコバルト合金磁性
層をスパッタリングで積層する際に、スパッタリングの
雰囲気をアルゴンに1%ないし10%の水素を混入した
ガスとするものとする。
従来100%Arを用いたスパッタ時の雰囲気にH8を
混入させることにより、より広いスパッタ時のガス圧と
基板温度の範囲で均一な磁気特性を達成することができ
る。また、ガス圧あるいは基板温度の低いときには10
0%Ar雰囲気でのスパッタ時より良好な磁気特性が得
られる。理由は必ずしも明白ではないが、H8を混入す
ることによりスパッタリング中に還元的作用が加わり、
不純物として形威され得る酸化物あるいは窒化物を十分
低く抑えることによるものと思われる。その結果、不純
物の形威に影響するガス圧や基板の加熱温度にあまり依
存しない広い範囲でのスバフタ条件を可能にする。hの
混入比は1%以下では効果がなく、10%を超えれば成
膜速度自体が小さくなり、製造上好ましくない、なお、
特開昭63−311626号明細書により、Ar−旧雰
囲気中でCrν下地層、Co−Cr−pc磁性層の上に
水素化炭素保護層をスパッタリングした磁気記録ディス
クが公知であるが、磁気特性はH8の混入により変化し
ないと記載されているのみで、磁気特性の向上について
の記載はない。
混入させることにより、より広いスパッタ時のガス圧と
基板温度の範囲で均一な磁気特性を達成することができ
る。また、ガス圧あるいは基板温度の低いときには10
0%Ar雰囲気でのスパッタ時より良好な磁気特性が得
られる。理由は必ずしも明白ではないが、H8を混入す
ることによりスパッタリング中に還元的作用が加わり、
不純物として形威され得る酸化物あるいは窒化物を十分
低く抑えることによるものと思われる。その結果、不純
物の形威に影響するガス圧や基板の加熱温度にあまり依
存しない広い範囲でのスバフタ条件を可能にする。hの
混入比は1%以下では効果がなく、10%を超えれば成
膜速度自体が小さくなり、製造上好ましくない、なお、
特開昭63−311626号明細書により、Ar−旧雰
囲気中でCrν下地層、Co−Cr−pc磁性層の上に
水素化炭素保護層をスパッタリングした磁気記録ディス
クが公知であるが、磁気特性はH8の混入により変化し
ないと記載されているのみで、磁気特性の向上について
の記載はない。
以下、図を引用して本発明の実施例について説明する。
第1図は磁気記録媒体の一例の断面構造を示す、基板1
として陶を4%含むM合金からなる外径95鵡、内径2
5fi、厚さ1.27mの穴明き円板を用い、その表面
に図示しないMl−P層を無電解めっき法によりL3n
の厚さに形威し、その表面を2μ程度研摩して平坦にし
た0次に、インライン式連続スパッタリングが可能な装
置を用い基板1を予備加熱したのち、1500人の厚さ
のCr下地1112゜500 人の厚さの30%のNi
と7.5%のCrを含むCo合金よりなる磁性層3およ
び400人の厚さの炭素保護層4を連続酸膜した。この
ときのスパッタリング条件は下記の各種である。
として陶を4%含むM合金からなる外径95鵡、内径2
5fi、厚さ1.27mの穴明き円板を用い、その表面
に図示しないMl−P層を無電解めっき法によりL3n
の厚さに形威し、その表面を2μ程度研摩して平坦にし
た0次に、インライン式連続スパッタリングが可能な装
置を用い基板1を予備加熱したのち、1500人の厚さ
のCr下地1112゜500 人の厚さの30%のNi
と7.5%のCrを含むCo合金よりなる磁性層3およ
び400人の厚さの炭素保護層4を連続酸膜した。この
ときのスパッタリング条件は下記の各種である。
スパッタ雰囲気ガス:100%Ar (比較例)。
Ar+4%’Bt (実施例)
スパッタガス圧: 5 mTorr+10 mTorr
+50 mTorr基板温度:80℃、180℃、25
0℃以上の組合わせの下に実施例および比較例の磁気デ
ィスクを作威し、振動磁気測定機(VSM)によりそれ
らの磁気特性を測定した。第2図はガス圧に対する依存
性を示し、ガス圧を高くしていったとき、点線で示した
比較例のディスクでは保磁力が徐々に上昇するのに対し
て実線で示した実施例のディスクでは一定であり、ガス
圧5 mTorr。
+50 mTorr基板温度:80℃、180℃、25
0℃以上の組合わせの下に実施例および比較例の磁気デ
ィスクを作威し、振動磁気測定機(VSM)によりそれ
らの磁気特性を測定した。第2図はガス圧に対する依存
性を示し、ガス圧を高くしていったとき、点線で示した
比較例のディスクでは保磁力が徐々に上昇するのに対し
て実線で示した実施例のディスクでは一定であり、ガス
圧5 mTorr。
lQmTorrでは実施例の方が保磁力が高い、第3図
は基板温度に対する依存性を示し、点線で示した比較例
では保磁力が直線的に上昇するのに対し、実線で示した
実施例ではほぼ一定である。
は基板温度に対する依存性を示し、点線で示した比較例
では保磁力が直線的に上昇するのに対し、実線で示した
実施例ではほぼ一定である。
次に基板1上にCr下地層2.Co合金磁性層3までを
上述の実施例と同様にしてtc膜した。ただし、その次
に炭素保護層4を形成するに先立ち、スパッタ装置の雰
囲気を混合ガスAr+4%−から100%Arに置換し
、100%Ar中で炭素保護層を形成した。その結果は
、磁気特性は先の実施例と全く同様に第2図、第3図に
示すようになり、磁性層の磁気特性に対する本発明の効
果が確認された。
上述の実施例と同様にしてtc膜した。ただし、その次
に炭素保護層4を形成するに先立ち、スパッタ装置の雰
囲気を混合ガスAr+4%−から100%Arに置換し
、100%Ar中で炭素保護層を形成した。その結果は
、磁気特性は先の実施例と全く同様に第2図、第3図に
示すようになり、磁性層の磁気特性に対する本発明の効
果が確認された。
なお、実用上は第1図の構造の上に別途潤滑剤層を付加
することが望ましい。
することが望ましい。
本発明によれば、磁気記録媒体の基板上の下地層、コバ
ルト合金磁性層を^r+Hgガス雰囲気中のスパッタリ
ングにより底膜することによって、ガス圧あるいは基板
温度の広い範囲が許容できるようになり、所定の特性を
もつ磁気記録媒体を安定して製造することができるよう
になった。しかも、低いガス圧および基板温度において
は100%Ar中でのスパッタリングよりも高い磁気特
性が得られるので、高特性の磁気記録媒体の高歩留まり
の製造も可能になった。
ルト合金磁性層を^r+Hgガス雰囲気中のスパッタリ
ングにより底膜することによって、ガス圧あるいは基板
温度の広い範囲が許容できるようになり、所定の特性を
もつ磁気記録媒体を安定して製造することができるよう
になった。しかも、低いガス圧および基板温度において
は100%Ar中でのスパッタリングよりも高い磁気特
性が得られるので、高特性の磁気記録媒体の高歩留まり
の製造も可能になった。
第1図は本発明の実施例の磁気ディスクの断面図、第2
図は本発明の実施例および比較例の磁気ディスクの保磁
力のガス圧依存性を示す線図、第3図は本発明の実施例
および比較例の磁気ディスクの保磁力の基板温度依存性
を示す線図である。
図は本発明の実施例および比較例の磁気ディスクの保磁
力のガス圧依存性を示す線図、第3図は本発明の実施例
および比較例の磁気ディスクの保磁力の基板温度依存性
を示す線図である。
Claims (1)
- 1)非磁性基体上に少なくとも非磁性金属下地層および
コバルト合金磁性層をスパッタリングで積層する際に、
スパッタリングの雰囲気をアルゴンに1%ないし10%
の水素を混入したガスとすることを特徴とする磁気記録
媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1219283A JP2623849B2 (ja) | 1989-08-25 | 1989-08-25 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1219283A JP2623849B2 (ja) | 1989-08-25 | 1989-08-25 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0383225A true JPH0383225A (ja) | 1991-04-09 |
JP2623849B2 JP2623849B2 (ja) | 1997-06-25 |
Family
ID=16733085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1219283A Expired - Lifetime JP2623849B2 (ja) | 1989-08-25 | 1989-08-25 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2623849B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62114124A (ja) * | 1985-11-13 | 1987-05-25 | Sony Corp | 磁気デイスクの製造方法 |
JPS63311626A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-20 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 磁気記録ディスクの製造方法 |
JPH01260621A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-17 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
-
1989
- 1989-08-25 JP JP1219283A patent/JP2623849B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62114124A (ja) * | 1985-11-13 | 1987-05-25 | Sony Corp | 磁気デイスクの製造方法 |
JPS63311626A (ja) * | 1987-06-02 | 1988-12-20 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 磁気記録ディスクの製造方法 |
JPH01260621A (ja) * | 1988-04-11 | 1989-10-17 | Hitachi Ltd | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2623849B2 (ja) | 1997-06-25 |
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