JPH0382972A - マイクロ波伝送線路変換装置 - Google Patents

マイクロ波伝送線路変換装置

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JPH0382972A
JPH0382972A JP1195135A JP19513589A JPH0382972A JP H0382972 A JPH0382972 A JP H0382972A JP 1195135 A JP1195135 A JP 1195135A JP 19513589 A JP19513589 A JP 19513589A JP H0382972 A JPH0382972 A JP H0382972A
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JP
Japan
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transmission line
outer conductor
conductor
line
microwave
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Application number
JP1195135A
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English (en)
Inventor
Masaharu Murata
雅治 村田
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Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、マイクロ波トランジスタやマイクロ波集積回
路のようなマイクロ波回路のストリップ線路を測定装置
等で用いられている同軸線路に変換するマイクロ波伝送
線路変換装置に関する。
[従来の技術] マイクロ波トランジスタやマイクロ波集積回路のような
小型のマイクロ波回路は、航空、船舶通信装置、衛星通
信の衛星搭載機器及び地上局装置、各種レーダ装置など
の性能向上、小型軽量化、高信頼性化の要求から生まれ
たものである6マイクロ波回路のマイクロ波伝送線路は
、接地導体とストリップ導体で構成される平面@造のス
トリップ線路であるため、従来の導波管を用いる立体回
路に比べて、きわめて小型で自由に回路が構成でき、信
号電力損失も少なく周波数特性も広帯域にとれる。この
ため、近年急速にその応用分野が広かっている。
このようなマイクロ波回路の高周波特性等を測定する場
合、通常の測定装置のマイクロ波伝送線路は同軸線路で
あるため、ストリップ線路と同軸線路の間で伝送線路を
変換するマイクロ波伝送線路変換装置を用いる必要があ
る。
従来のマイクロ波伝送線路変換装置を第5図乃至第7図
を用いて説明する。
マイクロ波トランジスタやMM I C(Honoli
thic Microwave Integrated
 C1rcuit)のようなマイクロ波素子を測定する
ためのチップキャリア20を第5図に示す。このチップ
キャリア20においては、接地用の金属基板2Oa上に
中央で分離された誘電体基板20bが設けられ、誘電体
基板201)表面にはストリップ導体20cが形成され
ている。測定すべきマイクロ波素子22を、露出された
金属基板20aの固定部20dにハンダ等を用いて固定
して、チップキャリア20に搭載して、測定用治具とす
る。
M I C(Microwave Hybrid In
tegrated C1rcuit)を測定するために
は、第6図に示すように、接地用の金R基板24上に測
定すべきMIC26を固定して、測定用治具とする。
このように形成された測定用治具を、テストフィクスチ
ャと呼ばれる第7図に示すマイクロ波伝送線路変換装置
に取付けて測定を行う。このマイクロ波伝送線路変換装
置は、測定用治具を載置する載置台28と、ランチャと
呼ばれる同軸線路部材30から構成される6同軸線路部
材30は、外導体としての外導体用基体30a内に内導
体30bが埋め込まれて同軸線路を構成し、外導体用基
体30aの一面には同軸コネクタ30cが形成され、他
面からは内導体の接続ビン30dが突出している。
測定装置(図示せず)からの測定用同軸ケーブルを同軸
コネクタ30cに接続して、マイクロ波回路の特性を測
定する。
例えば第5図に示すチップキャリア20の場合、チップ
キャリア20にマイクロ波素子22を搭載して測定用治
具32を形成する。第7図に示すように、この測定用治
具32を載置台28上に載置し、続いて左右の同軸線路
部材30で載置台28を挟んで、マイクロ波伝送線路変
換装置を構成する。マイクロ波素子22の接地導体は、
チップキャリア20の金属基板20a、載置台28を介
して同軸線路部材30の外導体用基体30aに接触し、
マイクロ波素子22のストリップ導体は、チップキャリ
ア20のストリップ導体20cを介して同軸線路部材3
0の接続ピン30dに接触している。
スト9・yブ線路と同軸線路との間でマイクロ波伝送線
路を変換するマイクロ波伝送flAli!変換装置にお
いては、変換により誤差を生じさせないようにする必要
がある。このためには、伝送線路の特性インピーダンス
を例えば50Ωに維持することが重要である。ストリッ
プ線路を同軸線路に変換しても特性インピーダンスを一
定値に維持するためには、第8図に示すマイクロ波伝送
線路変換装置34のように、所定のギャップを設けるこ
とが有効である。すなわち、シャーシ34a内に内導体
34bが設けられて同軸線路が形成され、シャーシ34
a上に設けられた誘電体基板34c表面にストロ・ツブ
導体34dを形成してストリップ線路が形成され、同軸
線路の内導体の接続ピン34eにストリップ導体34d
が接触している。この状態で、同軸線路の外導体として
のシャーシ34aの面とストリップ導体34d下の誘電
体基板34cの側面との間に所定幅のギャップGを設け
ることにより、特性インピーダンスを50Ωに維持でき
る。
[発明が解決しようとする課題] 従来のテストフィクスチャでは、同軸線路とマフ イクロ波線路の接続部分において、■特にキャップを設
けない、■チ・ツブキャリア20の金属基板20aを誘
電体基板201つより広くしてギヤ・ツブを設ける。■
チップキャリア20が載置される載置台28の幅を広く
することによりギャップを設ける、等の方法がとられて
いた。
しかしながら、ギヤ・・lプを投Gつない方法■では特
性インピーダンスが一定に維持されず、広い周波数帯域
で良好な測定結果を得ることができないという問題があ
った。
一方、方法■や方法■では所定幅のギヤ・ツブを形成す
ることにより、特性インピーダンスを一定に維持するこ
とができる。しかし、方法■はチップキャリア20の加
工に手間がかかると共に、測定毎にギャップ幅を同じ値
に再現することが困難であり、良好な測定結果を得るこ
とができないという問題があった。また、方法■は載置
台28の決まった位置に正確にチップキャリア20を載
置する必要があり、組立ての作業性に問題があると共に
、ギャップ幅の再現性がよくないという問題があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、同軸線路
とストロ・ツブ線路との間において、伝送線路の特性イ
ンピーダンスを再現性よく所定値に維持して変換するこ
とができるマイクロ波伝送線路変換装置を提供すること
を目的とする。
[課題を解決するための手段] 」二記目的は、マイクロ波回路のストロ・ツブ線路を同
軸線路に変換するマイクロ波伝送線路変換装置において
、前記マイクロ波回路のストリップ線路の接地導体に接
続される金属基板と、前記同軸線路の外導体用基体およ
び前記外導体用基体内に形成された内導体を有する同軸
線路部材と、前記同軸線路部材の外導体用基体と前記接
地導体が接続された金属基板とを電気的に接続し、前記
同軸線路部材の内導体と前記ストリップ線路のストリッ
プ導体とが接触した状態で、前記ストリップ導体が形成
された誘電体基板の側面と前記外導体用基体の伝送方向
に垂直な側面との間に所定幅のギャップを形成するギャ
ップ形成手段とを備え、伝送線路の特性インピータンス
を所定値に維持しながらマイクロ波伝送線路を変換する
ことを特徴とするマイクロ波伝送線路変換装置によって
達成される。
なお、前記ストリップ線路の前記誘電体基板の側面と前
記接地導体に接続される金属基体の1創面が伝送方向に
垂直な同一平面を形成することが望ましい。
[作用] 本発明によれば、外導体用基体内に形成された内導体を
有する同軸線、路部材と、同軸線路部材の外導体用基体
と接地導体が接続された金属基板とが接触し、同軸線路
部材の内導体とストリップ線路のストリップ導体とが接
触した状態で、ストリップ導体が形成された誘電体基板
の側面と外導体用基体の側面との間に所定幅のギャップ
を形成するようにしたので、伝送線路の特性インピーダ
ンスを所定値に維持しながらマイクロ波伝送線路を 0 変換することができる2 [実施例] 本発明の第1の実施例によるマイクロ波伝送線路変換装
置を第1図を用いて説明する。
本実施例のマイクロ波伝送線路変換装置は、測定用治具
を載置する載置台10と2つの同軸線路部材12から構
成されている。
載置台10の幅は測定されるマイクロ波索子22が搭載
された測定用治具32の幅よりも小さく形成されている
。同軸線路部材12は、外導体としての外導体用基体1
.2 a内に内導体12bが埋め込まれて同軸線路を構
成し、外導体用基体12aの一面には同軸コネクタ12
cが形成され、相対する面からは内導体の接続ピン1.
2 dか突出している。更に、接続ピン12d下の外導
体用基体1、2 aの面には、ギヤ・ソゲ形成手段とし
ての凸部12eが形成されている。この凸部12eかあ
るために、測定用治具32と載置台10と2つの同軸線
路部材12を組立てたときに、常に凸部121 eの高さに相当するギャップを、外導体用基体12aの
面とチ・ツブキャリア20の誘電体基板20bの側面の
間に形成することができる。
なお、本実施例では載置台10、外導体用基体12aを
真ちゅうで作り、チップキャリア20の金属基板20a
をコバールで作り、誘電体基板20bをアルミナで作り
、このアルミナ上に金を蒸着することによりストリッグ
導体20Cを形成している。
次に、第2図を用いて本実施例のマイクロ波伝送線路変
換装置の組立方法を説明する。
まず、測定用治具32を載置台】O上に載置する(第2
図(a))、このとき、測定用治具32の両側面が載置
台10の側面より外側に出るように載置する。測定用治
具32の両側面が載置台10の側面より少しでも外側に
出ればよい。載置台10は測定用治具32の幅より小さ
く形成されているので、このように測定用治具32を載
置することは極めて簡単である。
次に、一方の同軸線路部材12を載置台10に近付けて
、同軸線路部材12の凸部12eを金属基板20aに接
触させる(第2図(b))。すると、外導体用基体12
aの側面と誘電体基板20. bの側面との間に、常に
、凸部12eの高さだけのギャップG1が形成される。
なお、載置台10は測定用治具32の幅より小さいこと
は必要でなく、凸部12eによりギャップG1が形成さ
れるように載置台10と測定用治具32の幅を設定すれ
ばよい。
同様にして、残りの同軸線路部材12を載置台10に近
付けて、同軸線路部材12の凸部12eを金属基板20
aに接触させる(第2図(C))。すると、外導体用基
体12aの1則面と誘電体基板201)の側面との間に
、同様に凸部12eの高さだけのギヤ・ツブG2が形成
される。
このように、測定用治具32におけるチ・・Iプキャリ
ア20の金属基板2’Oaの側面と誘電体基板20hの
側面を同一面に加工すれは、ギャップG1、G2の幅は
常に凸部12eの高さに再現される。
したがって、本実施例によれば、測定用治具32に上述
のような簡単な加工をするだけで再現性よく所定のギャ
ップ幅を形成することかできる。
また、伝送線路の特性インピーダンスを例えば50Ωに
維持するギャップ幅となるような高さに凸部を形成すれ
ば、低反射損失でマイク1フ波の伝送線路の変換ができ
る。
なお、凸部12eの高さを実験的に定めることにより、
30GHzまでで〜17dB、40 G H2までで一
14dBの反射特性を得ることができた6また、複数の
チ・ツブキャリアを用い2チツプキヤリアの内聞のオー
プンスタブの寄生容量を測定してチップキャリア間の再
現性を測定したところ、40 G Hzまでで−4,0
d B程度、加工精度の悪いチップキャリアでも一30
dB程度の反射測定の再現性を実現することができた。
本発明の第2の実施例によるマイクロ波伝送線路変換装
置を第3図を用いて説明する。第1図に示す実施例と同
一の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
 4 本実施例のマイクロ波伝送線路変換装置では第3図(a
)に示すように、同軸線路部材12の外導体用基体12
aの接続ピン12dを中心として、ギャップ形成手段と
しての凹部12fか形成されている点に特徴がある。凹
部12fの大きさを、組立て時にその外縁がチップキャ
リア20の金属基板20aに接触するようなものにする
8凹部12fがあるために、測定用治具32と載置台1
0と2つの同軸線路部材12を組立てたときに、常に凹
部12fの深さに相当するギャップを、外導体用基体1
.2 aの凹部1.2 fの底面とチップキャリア20
の誘電体基板20bの1則面の間に形成することができ
る。
本実施例のマイクロ波伝送線Ii!8変換装置の朝立状
態を第3図(b)に示す。載置台10の両開にある同軸
線路部材12の外導体用基体12aの側面を金属基板2
0aに接触させることにより、凹部1、2 fの深さだ
けのギャップG 1 、、 G 2が形成される。
本発明の第3の実施例によるマイクロ波伝送線5 路変換装置を第4図を用いて説明する9第1図に示す実
施例と同一の構成要素には同一の符号を付して説明を省
略する。
本実施例のマイクロ波伝送線路変換装置では、同軸線路
部材12の外導体用基体12aの側面を平面とじ2凸部
や凹部を形成する代わりに2ギヤ・ツブ形成手段として
、外導体用基体12aの1則面に張付けるためのスペー
サ14を用意している5このスペーサ14はチップキャ
リア20の金属基板20aと同じ高さ位置に張付けられ
る。スペーサ14の高さが、朝立で時に形成されるギヤ
・ソフ。
G1.、G2の幅となる。
本実施例ではギャップ形成手段が張付は可能なスペーサ
であるので、薄いスペーサ14を用意しておき、スペー
サ14を1枚用いれば第4図(a)に示すように幅の狭
いギャップG1.、G2か形成され、スペーサ14を2
枚用いれば第4図(b)に示すように幅の広いギャップ
G1.、G2か形成される。したがって、スペーサの枚
数を変えるだけで簡単にギャップ幅を変えることができ
、最適な 6 ギヤ・ツブ幅を試行錯誤で定める場合に適している6本
発明は上記実施例に限らず種々の変形か可能である。
例えば、上記実施例では凸部や凹部を形成したり、スペ
ーサを設けることにより、所定幅のギヤ・ツブを形成す
るようにしたが、他の方法によりギャップを形成するよ
うにしてもよい。
[発明の効果] 以上の通り、本発明によれば、伝送線路の特性インピー
ダンスを所定値に維持しながらマイクロ波回路のストリ
ップ線路を同軸線路に変換することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例によるマイクロ波伝送線
路変換装置を示す図、 第2図は同マイクロ波伝送線路変換装置の組立方法の説
明図、 第3図は本発明の第2の実施例によるマイクロ7 波伝送線路変換装置を示す図。 第4図は本発明の第3の実施例によるマイクロ波伝送線
路変換装置を示す図、 第5図はマイクロ波素子を測定する測定用治具を示す図
、 第6図はMICを測定する測定用治具を示す図、第7図
は従来のマイクロ波伝送線路変換装置を示す図、 第8図は伝送線路の特性インピーダンスが一定値に維持
されるマイクロ波伝送線路変換装置を示す図である。 図において、 10・・・載置台 12・・・同軸線路部材 12a・・・外導体用基体 12b・・・内導体 12c・・・同軸コネクタ 12d・・・接続ピン 12e・・・凸部 12f・・・凹部 14・・・スベーザ 20・・・チップキャリア 20a・・・金属基板 20b・・・誘電体基板 20c・・・ストリップ導体 20d・・・固定部 22・・・マイクロ波素子 24・・・金属基板 26・・・MIC 28・・・載置台 30・・・同軸線路部材 30a・・・外導体用基体 30b・・・内導体 30c・・・同軸コネクタ 30d・・・接続ビン 32・・・測定用治具 34・・・マイクロ波伝送線路変換装置34a・・・シ
ャーシ 341〕・・・内導体 9 4c ・・誘電体基板 4d ・・ストリップ導体 34e・・・接続ピン

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.マイクロ波回路のストリップ線路を同軸線路に変換
    するマイクロ波伝送線路変換装置において、 前記マイクロ波回路のストリップ線路の接地導体に接続
    される金属基板と、 前記同軸線路の外導体用基体および前記外導体用基体内
    に形成された内導体を有する同軸線路部材と、 前記同軸線路部材の外導体用基体と前記接地導体が接続
    された金属基板とを電気的に接続し、前記同軸線路部材
    の内導体と前記ストリップ線路のストリップ導体とが接
    触した状態で、前記ストリップ導体が形成された誘電体
    基板の側面と前記外導体用基体の伝送方向に垂直な側面
    との間に所定幅のギャップを形成するギャップ形成手段
    とを備え、 伝送線路の特性インピーダンスを所定値に維持しながら
    マイクロ波伝送線路を変換することを特徴とするマイク
    ロ波伝送線路変換装置。
  2. 2.請求項1記載の装置において、 前記ギャップ形成手段は、前記外導体用基体の側面に形
    成され、所定高さを有する凸部であり、前記凸部が前記
    金属基板の側面に接触した状態で、前記所定幅のギャッ
    プが形成されることを特徴とするマイクロ波伝送線路変
    換装置。
  3. 3.請求項1記載の装置において、 前記ギャップ形成手段は、前記外導体用基体の側面に形
    成され、所定深さを有する内部導体を含む凹部であり、
    前記外導体基体の側面が前記金属基板の側面に接触した
    状態で、前記所定幅のギャップが形成されることを特徴
    とするマイクロ波伝送線路変換装置。
  4. 4.請求項1記載の装置において、 前記ギャップ形成手段は、前記外導体用基体の側面に張
    付け可能な所定厚さのスペーサ部材であり、前記外導体
    基体の側面に前記スペーサ部材を張付けることにより、
    前記スペーサ部材の表面が前記金属基板の側面に接触し
    た状態で、前記所定幅のギャップが形成されることを特
    徴とするマイクロ波伝送線路変換装置。
JP1195135A 1989-08-27 1989-07-27 マイクロ波伝送線路変換装置 Pending JPH0382972A (ja)

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