JPH0381091B2 - - Google Patents
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- JPH0381091B2 JPH0381091B2 JP56169148A JP16914881A JPH0381091B2 JP H0381091 B2 JPH0381091 B2 JP H0381091B2 JP 56169148 A JP56169148 A JP 56169148A JP 16914881 A JP16914881 A JP 16914881A JP H0381091 B2 JPH0381091 B2 JP H0381091B2
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- Japan
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- switch element
- switch
- capacitor
- terminals
- terminal
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- Expired - Lifetime
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 43
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 13
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
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- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は信号の検出回路に係り、特に電荷蓄積
形ホトセンサの微少信号の検出に最適な検出回路
に関する。さらに詳しくは、センサの微少な等価
静電容量(以下コンデンサという)に蓄積された
微少電荷信号を、出力ラインに付加される大容量
コンデンサの値に無関係に、低雑音で低歪の大き
な出力信号として検出でき、かつ回路構成が極め
て簡単で、検出速度の速い検出回路に関する。
形ホトセンサの微少信号の検出に最適な検出回路
に関する。さらに詳しくは、センサの微少な等価
静電容量(以下コンデンサという)に蓄積された
微少電荷信号を、出力ラインに付加される大容量
コンデンサの値に無関係に、低雑音で低歪の大き
な出力信号として検出でき、かつ回路構成が極め
て簡単で、検出速度の速い検出回路に関する。
従来用いられていた検出回路、特に光検出回路
の一例を第1図に示する。1および2はスイツチ
素子(以下スイツチと言う)、3は前記電荷蓄積
形ホトセンサ(以下ホトセンサ、センサあるいは
ホトダイオードという)、4は該センサ3と該ス
イツチ1を結ぶ配線、5は該スイツチ1と該スイ
ツチ2を結ぶ出力ライン、6は出力端子、7は該
センサ3を充電するための電圧源、50は負荷コ
ンデンサである。第2図、第3図は該センサ3の
等価回路である。図において31は等価ダイオー
ド(以下ダイオードという)、32は等価接合コ
ンデンサ(以下コンデンサという)、33は等価
抵抗素子(以下抵抗という)、34は等価電流源
である。以下、該センサ3を説明する時は第2図
の等価回路を用いる。なお該抵抗33は光強度に
応じ、その抵抗値が変化する。即ち、光強度が強
い場合、抵抗値が小さく、光強度が弱い場合、抵
抗値は大きい。また光照射がない場合、抵抗値は
通常ほぼ無限大と見なせる程度に大きい。第4図
は該センサ3に第2図を用いて示した第1図の等
価回路である。なお、同図において第1図、第2
図と同一番号の素子は第1図、第2図の素子と同
一である。41は該配線4の等価コンデンサであ
る。51は該出力ライン5の等価コンデンサで、
構造上、極めて大きな容量値を持つ場合がしばし
ばある。第5図は該スイツチ1,2の開閉のタイ
ミングと出力信号波形のタイミングである。11
および12はそれぞれ該スイツチ1および2に対
応し、11あるいは12が高レベルで示されてい
る期間および低レベルで示されている期間はスイ
ツチがそれぞれ閉じている期間および開いている
期間に対応している。次に第4図、第5図を用い
て、本検出回路の動作を説明する。なお本検出回
路の動作期間中該センサ3へは常時光照射があ
り、該抵抗33の抵抗値はある有限の値であると
する。今リセツト期間14では該スイツチ2は閉
じているから、該コンデンサ50,51は短絡さ
れ、蓄積されていた電荷は放電する。従つて、端
子6の出力信号は13に示すように接地レベルに
セツトされる。一方、該スイツチ1も閉じている
から、該コンデンサ32は充電され、端子35は
接地レベルに、端子36は該電圧源7の電圧レベ
ルEボルト(ここではE>0と仮定する)にそれ
ぞれセツトされる。次に該スイツチ1,2が共に
開いている蓄積期間15では該コンデンサ32に
充電された電荷は抵抗33を介し放電する。その
結果、前記期間14で接地レベルにセツトされた
端子35の電位は徐々に上昇し、Eに近ずく。今
該蓄積期間15の最終時点で、該端子35と電圧
がVボルトに達したとする(VE)。同時に該
期間15で該コンデンサ41は充電される。次に
検出期間16でスイツチ1のみが閉じるから、該
コンデンサ32,41,50,51の間で電荷の
再分布が生じ、13に示すように、端子6の電位
は接地レベルよりわずかに上昇する。即ち、該上
昇分が本検出回路の出力信号となる。以上該期間
14,15,16が信号検出の一周期で、以後こ
れを繰り返えすことにより順次信号検出が行なわ
れる。
の一例を第1図に示する。1および2はスイツチ
素子(以下スイツチと言う)、3は前記電荷蓄積
形ホトセンサ(以下ホトセンサ、センサあるいは
ホトダイオードという)、4は該センサ3と該ス
イツチ1を結ぶ配線、5は該スイツチ1と該スイ
ツチ2を結ぶ出力ライン、6は出力端子、7は該
センサ3を充電するための電圧源、50は負荷コ
ンデンサである。第2図、第3図は該センサ3の
等価回路である。図において31は等価ダイオー
ド(以下ダイオードという)、32は等価接合コ
ンデンサ(以下コンデンサという)、33は等価
抵抗素子(以下抵抗という)、34は等価電流源
である。以下、該センサ3を説明する時は第2図
の等価回路を用いる。なお該抵抗33は光強度に
応じ、その抵抗値が変化する。即ち、光強度が強
い場合、抵抗値が小さく、光強度が弱い場合、抵
抗値は大きい。また光照射がない場合、抵抗値は
通常ほぼ無限大と見なせる程度に大きい。第4図
は該センサ3に第2図を用いて示した第1図の等
価回路である。なお、同図において第1図、第2
図と同一番号の素子は第1図、第2図の素子と同
一である。41は該配線4の等価コンデンサであ
る。51は該出力ライン5の等価コンデンサで、
構造上、極めて大きな容量値を持つ場合がしばし
ばある。第5図は該スイツチ1,2の開閉のタイ
ミングと出力信号波形のタイミングである。11
および12はそれぞれ該スイツチ1および2に対
応し、11あるいは12が高レベルで示されてい
る期間および低レベルで示されている期間はスイ
ツチがそれぞれ閉じている期間および開いている
期間に対応している。次に第4図、第5図を用い
て、本検出回路の動作を説明する。なお本検出回
路の動作期間中該センサ3へは常時光照射があ
り、該抵抗33の抵抗値はある有限の値であると
する。今リセツト期間14では該スイツチ2は閉
じているから、該コンデンサ50,51は短絡さ
れ、蓄積されていた電荷は放電する。従つて、端
子6の出力信号は13に示すように接地レベルに
セツトされる。一方、該スイツチ1も閉じている
から、該コンデンサ32は充電され、端子35は
接地レベルに、端子36は該電圧源7の電圧レベ
ルEボルト(ここではE>0と仮定する)にそれ
ぞれセツトされる。次に該スイツチ1,2が共に
開いている蓄積期間15では該コンデンサ32に
充電された電荷は抵抗33を介し放電する。その
結果、前記期間14で接地レベルにセツトされた
端子35の電位は徐々に上昇し、Eに近ずく。今
該蓄積期間15の最終時点で、該端子35と電圧
がVボルトに達したとする(VE)。同時に該
期間15で該コンデンサ41は充電される。次に
検出期間16でスイツチ1のみが閉じるから、該
コンデンサ32,41,50,51の間で電荷の
再分布が生じ、13に示すように、端子6の電位
は接地レベルよりわずかに上昇する。即ち、該上
昇分が本検出回路の出力信号となる。以上該期間
14,15,16が信号検出の一周期で、以後こ
れを繰り返えすことにより順次信号検出が行なわ
れる。
第4図に示す回路において、該出力ライン5は
通常極めて長いため、その等価コンデンサ51も
500pF〜1000pFといつた極めて大きな値となる場
合が多い。このため負荷コンデンサ50を別途接
続する必要もなく、該コンデンサ51のみで負荷
コンデンサと見なせる。これより、該従来の検出
回路を以下ではコンデンサ形検出回路と呼ぶ。
今、一例として、前記コンデンサ32,41,5
0,51の容量値をそれぞれ0.2pF、4.8pF、
0.2pF、499.8pFとし、蓄積期間15で端子35の
電位Vが1.5ボルトであつたとすれば、出力信号
は約17mVとなり、約1/100に減少する。なお該
コンデンサ51の容量値は前記容量値よりさらに
大きな値となることがしばしばある。この場合、
出力信号はさらに小さくなる。従来のコンデンサ
形検出回路の最大の欠点は、出力ライン5の等価
コンデンサ51が極めて大きいために、出力信号
が前記のように極めて小さくなることである。ま
た前記スイツチ1,2は通常FET等が用いられ
るので、出力信号にフイードスルーが重畳する
上、大きなスイツチング雑音が混入する。このた
めダイナミツクレンジが極めて低下する。さらに
出力信号が極めて小さいから、出力端子6と増幅
回路をバツフア回路を介して接続し、信号の増幅
を行なう必要がある。このため、回路の繁雑化、
高消費電力化、低S/N化等極めて不都合な結果
を生ずる。
通常極めて長いため、その等価コンデンサ51も
500pF〜1000pFといつた極めて大きな値となる場
合が多い。このため負荷コンデンサ50を別途接
続する必要もなく、該コンデンサ51のみで負荷
コンデンサと見なせる。これより、該従来の検出
回路を以下ではコンデンサ形検出回路と呼ぶ。
今、一例として、前記コンデンサ32,41,5
0,51の容量値をそれぞれ0.2pF、4.8pF、
0.2pF、499.8pFとし、蓄積期間15で端子35の
電位Vが1.5ボルトであつたとすれば、出力信号
は約17mVとなり、約1/100に減少する。なお該
コンデンサ51の容量値は前記容量値よりさらに
大きな値となることがしばしばある。この場合、
出力信号はさらに小さくなる。従来のコンデンサ
形検出回路の最大の欠点は、出力ライン5の等価
コンデンサ51が極めて大きいために、出力信号
が前記のように極めて小さくなることである。ま
た前記スイツチ1,2は通常FET等が用いられ
るので、出力信号にフイードスルーが重畳する
上、大きなスイツチング雑音が混入する。このた
めダイナミツクレンジが極めて低下する。さらに
出力信号が極めて小さいから、出力端子6と増幅
回路をバツフア回路を介して接続し、信号の増幅
を行なう必要がある。このため、回路の繁雑化、
高消費電力化、低S/N化等極めて不都合な結果
を生ずる。
従来用いられていた検出回路の他の例を第6図
に示す。この回路は負荷として抵抗素子21を用
いているので、ここでは抵抗形検出回路と呼ぶ。
同図において、各要素が第1図、第2図の各素子
と同一のものは同一番号で示されている。なお該
センサ3の等価回路として第2図を用いるものと
する。第7図の22は第6図のスイツチ1の開閉
を示すタイミングと第6図の端子6より得られる
信号波形の一例を示したものである。なお第5図
と同様、第7図の22が高レベルの期間および低
レベルの期間はそれぞれスイツチ1が閉じている
期間および開いている期間に対応する。次に第6
図、第7図を用いて、従来の抵抗形検出回路の動
作を説明する。なお動作条件は第4図と同一であ
るとする。今期間24の最終状態で端子35が接
地レベルに設定されているものとする。蓄積期間
25で該スイツチ1が開くと、該コンデンサ32
に蓄積された電荷は光照射され抵抗値がある有限
の値を持つた抵抗33を介し放電する。その結
果、前記期間24で接地レベルにあつた端子35
の電圧は徐々に上昇し、Eに近ずいてゆく。今蓄
積期間25の最終時点で該端子35の電位がVボ
ルトに達したとする(VE)。次に検出期間2
6でスイツチ1が閉じると、端子6の電位は、2
3に示すように、まず接地レベルから上昇し、ピ
ーク値に達し、次に減少して、最後には再び接地
レベルに戻る。従つて、該期間中、該コンデンサ
32は再び充電される。以上が信号検出の一周期
で、以後蓄積、検出期間を繰り返えすことによ
り、次々と信号を検出する。今、一例として、該
コンデンサ32,41,51の静電容量値がそれ
ぞれ0.2pF、4.8pF、500pFとして、該Vが1.5ボル
トであつたとする。この時の出力信号23のピー
ク値はたかだか約17mVに過ぎない。これは、前
述した従来のコンデンサ形検出回路と同様、Vが
大きな値となるにもかかわらず、読み出される信
号は極めて小さいという重大な欠点を生ずる。該
スイツチ素子1が例えばFETの場合、期間26
に現われる出力信号は、該スイツチ1を閉じる時
に生ずるスイツチング雑音が重畳される。また該
スイツチを開く時、期間25の最初の部分に見ら
れるように、出力信号23に負方向(同図では下
方向)のスイツチング雑音が生ずる。このよう
に、微少信号出力に対して大きなスイツチング雑
音が存在するから、ダイナミツクレンジ、S/N
が非常に小さくなる。本回路の他の欠点は回路の
時定数が大きいため信号の読み出し速度が遅くな
ることである。従つて信号を検出期間内で完全に
読み出すことが不可能となる(不完全読み出し)。
即ち、検出期間26で端子6の電位が接地レベル
に戻らない状態が生ずる。さらに、出力信号が微
少な上、波形23で示すように出力信号がホール
ドされないため、出力信号のホールドと増幅を必
要とする。このため、バツフア回路、S/N回路
あるいは積分回路、増幅回路を付加する必要が生
じるから、回路の複雑化、消費電力の増大、雑音
の増加など重大な欠点が生じる。
に示す。この回路は負荷として抵抗素子21を用
いているので、ここでは抵抗形検出回路と呼ぶ。
同図において、各要素が第1図、第2図の各素子
と同一のものは同一番号で示されている。なお該
センサ3の等価回路として第2図を用いるものと
する。第7図の22は第6図のスイツチ1の開閉
を示すタイミングと第6図の端子6より得られる
信号波形の一例を示したものである。なお第5図
と同様、第7図の22が高レベルの期間および低
レベルの期間はそれぞれスイツチ1が閉じている
期間および開いている期間に対応する。次に第6
図、第7図を用いて、従来の抵抗形検出回路の動
作を説明する。なお動作条件は第4図と同一であ
るとする。今期間24の最終状態で端子35が接
地レベルに設定されているものとする。蓄積期間
25で該スイツチ1が開くと、該コンデンサ32
に蓄積された電荷は光照射され抵抗値がある有限
の値を持つた抵抗33を介し放電する。その結
果、前記期間24で接地レベルにあつた端子35
の電圧は徐々に上昇し、Eに近ずいてゆく。今蓄
積期間25の最終時点で該端子35の電位がVボ
ルトに達したとする(VE)。次に検出期間2
6でスイツチ1が閉じると、端子6の電位は、2
3に示すように、まず接地レベルから上昇し、ピ
ーク値に達し、次に減少して、最後には再び接地
レベルに戻る。従つて、該期間中、該コンデンサ
32は再び充電される。以上が信号検出の一周期
で、以後蓄積、検出期間を繰り返えすことによ
り、次々と信号を検出する。今、一例として、該
コンデンサ32,41,51の静電容量値がそれ
ぞれ0.2pF、4.8pF、500pFとして、該Vが1.5ボル
トであつたとする。この時の出力信号23のピー
ク値はたかだか約17mVに過ぎない。これは、前
述した従来のコンデンサ形検出回路と同様、Vが
大きな値となるにもかかわらず、読み出される信
号は極めて小さいという重大な欠点を生ずる。該
スイツチ素子1が例えばFETの場合、期間26
に現われる出力信号は、該スイツチ1を閉じる時
に生ずるスイツチング雑音が重畳される。また該
スイツチを開く時、期間25の最初の部分に見ら
れるように、出力信号23に負方向(同図では下
方向)のスイツチング雑音が生ずる。このよう
に、微少信号出力に対して大きなスイツチング雑
音が存在するから、ダイナミツクレンジ、S/N
が非常に小さくなる。本回路の他の欠点は回路の
時定数が大きいため信号の読み出し速度が遅くな
ることである。従つて信号を検出期間内で完全に
読み出すことが不可能となる(不完全読み出し)。
即ち、検出期間26で端子6の電位が接地レベル
に戻らない状態が生ずる。さらに、出力信号が微
少な上、波形23で示すように出力信号がホール
ドされないため、出力信号のホールドと増幅を必
要とする。このため、バツフア回路、S/N回路
あるいは積分回路、増幅回路を付加する必要が生
じるから、回路の複雑化、消費電力の増大、雑音
の増加など重大な欠点が生じる。
本発明の目的は上記従来の問題点を解決し、出
力ラインの極めて大きな等価コンデンサの影響を
全く除去すると共に、大きな出力が得られ、読み
出しスピードが速い上、S/Nおよびダイナミツ
クレンジが大きく、構成が極めて簡単な検出回路
を提供することにある。
力ラインの極めて大きな等価コンデンサの影響を
全く除去すると共に、大きな出力が得られ、読み
出しスピードが速い上、S/Nおよびダイナミツ
クレンジが大きく、構成が極めて簡単な検出回路
を提供することにある。
本発明によればホトダイオードと該ホトダイオ
ードを繰り返し充放電させるスイツチ素子が接続
されたユニツトと、少なくともコンデンサ、この
コンデンサの電荷を放電するスイツチ素子および
演算増幅器を含む積分回路を備え、該ユニツトの
該スイツチ素子側の端子と該積分回路の反転入力
端子が配線静電容量を含む出力ラインを介して接
続され、該ユニツトのホトダイオード側の端子が
電圧源に接続され、該積分回路の非反転入力端子
が基準電圧源に接続され、該積分回路の反転およ
び非反転入力端子がスイツチ素子を介して接続さ
れ、光検出の前にこのスイツチを閉じて反転入力
端子に寄生するコンデンサに充電された電荷を放
電する手段を有することを特徴とする光信号検出
回路が得られる。更に複数個の前記ユニツトと前
記積分回路を備え、該各ユニツトのスイツチ素子
側の端子を互いに接続すると共に、該端子と該積
分回路の反転入力端子を出力ラインを介して接続
し、該ユニツトのホトダイオード側の端子を互い
に接続した上該端子と電圧源を接続し、該積分回
路の非反転入力端子と基準電圧源を接続し、該積
分回路の反転および非反転入力端子がスイツチ素
子を介して接続され、光検出の前にこのスイツチ
を閉じて反転入力端子に寄生するコンデンサに充
電された電荷を放電する手段を有することを特徴
とする光信号検出回路が得られる。またm個(m
=正整数)の前記ユニツトで構成されるブロツク
がn個(n=正整数)と、前記積分回路と、第1
のスイツチ素子、第2のスイツチ素子、……第m
のスイツチ素子の合計m個のスイツチ素子を備
え、該各ブロツクの第1番目のユニツト内のスイ
ツチ素子側の端子を互いに接続した上該端子と該
第1のスイツチ端子の一方の端子を接続し、該各
ブロツクの第2番目のユニツト内のスイツチ素子
側の端子を互いに接続した上該端子と該第2のス
イツチ素子の一方の端を接続し、以下同様に、該
各ブロツクのm番目のユニツト内のスイツチ素子
側の端子を互いに接続した上該端子と該第mのス
イツチ素子の一方の端を接続し、該第1、第2、
……第mのスイツチ素子の他方の端を互いに接続
した上該端と該積分回路の反転入力端子を出力ラ
インを介して接続し、該各ユニツトのホトダイオ
ード側の端子を互いに接続した上該端子と電圧源
を接続し、該積分回路の非反転入力端子と基準電
圧源を接続し、該積分回路の反転および非反転入
力端子がスイツチ素子を介して接続され、光検出
の前にこのスイツチを閉じて反転入力端子に寄生
するコンデンサに充電された電荷を放電する手段
を有することを特徴とする光信号検出回路が得ら
れる。
ードを繰り返し充放電させるスイツチ素子が接続
されたユニツトと、少なくともコンデンサ、この
コンデンサの電荷を放電するスイツチ素子および
演算増幅器を含む積分回路を備え、該ユニツトの
該スイツチ素子側の端子と該積分回路の反転入力
端子が配線静電容量を含む出力ラインを介して接
続され、該ユニツトのホトダイオード側の端子が
電圧源に接続され、該積分回路の非反転入力端子
が基準電圧源に接続され、該積分回路の反転およ
び非反転入力端子がスイツチ素子を介して接続さ
れ、光検出の前にこのスイツチを閉じて反転入力
端子に寄生するコンデンサに充電された電荷を放
電する手段を有することを特徴とする光信号検出
回路が得られる。更に複数個の前記ユニツトと前
記積分回路を備え、該各ユニツトのスイツチ素子
側の端子を互いに接続すると共に、該端子と該積
分回路の反転入力端子を出力ラインを介して接続
し、該ユニツトのホトダイオード側の端子を互い
に接続した上該端子と電圧源を接続し、該積分回
路の非反転入力端子と基準電圧源を接続し、該積
分回路の反転および非反転入力端子がスイツチ素
子を介して接続され、光検出の前にこのスイツチ
を閉じて反転入力端子に寄生するコンデンサに充
電された電荷を放電する手段を有することを特徴
とする光信号検出回路が得られる。またm個(m
=正整数)の前記ユニツトで構成されるブロツク
がn個(n=正整数)と、前記積分回路と、第1
のスイツチ素子、第2のスイツチ素子、……第m
のスイツチ素子の合計m個のスイツチ素子を備
え、該各ブロツクの第1番目のユニツト内のスイ
ツチ素子側の端子を互いに接続した上該端子と該
第1のスイツチ端子の一方の端子を接続し、該各
ブロツクの第2番目のユニツト内のスイツチ素子
側の端子を互いに接続した上該端子と該第2のス
イツチ素子の一方の端を接続し、以下同様に、該
各ブロツクのm番目のユニツト内のスイツチ素子
側の端子を互いに接続した上該端子と該第mのス
イツチ素子の一方の端を接続し、該第1、第2、
……第mのスイツチ素子の他方の端を互いに接続
した上該端と該積分回路の反転入力端子を出力ラ
インを介して接続し、該各ユニツトのホトダイオ
ード側の端子を互いに接続した上該端子と電圧源
を接続し、該積分回路の非反転入力端子と基準電
圧源を接続し、該積分回路の反転および非反転入
力端子がスイツチ素子を介して接続され、光検出
の前にこのスイツチを閉じて反転入力端子に寄生
するコンデンサに充電された電荷を放電する手段
を有することを特徴とする光信号検出回路が得ら
れる。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第8図に本発明の第1実施例を示す。1,2は
スイツチ素子、3は電荷蓄積形ホトセンサ(以下
センサ、ホトセンサあるいはホトダイオードとい
う)、4は該センサ3と該スイツチ4を接続する
配線、5は出力ライン、6は出力端子、7は電圧
値Eボルトの電圧源(ここではE>0とする)で
ある。31,32,33はそれぞれ該センサ3の
等価ダイオード、等価コンデンサ、等価抵抗素子
で第2図に対応する。41は配線4の等価コンデ
ンサ、51は出力ライン5の等価コンデンサ、6
0は演算増幅器(以下OP Ampという)61、
コンデンサ62、スイツチ素子63を含む積分回
路、64は電圧値ERボルトの基準電圧源(以下
の説明では、ERは接地レベルとする)、35,3
6,37,52,53は端子、54および55は
それぞれ該積分回路60の反転および非反転入力
端子である。なお該センサ3、スイツチ1を含む
回路をここでは便宜上ユニツト30と呼ぶ。第9
図に該スイツチ素子1,63の開閉のタイミング
と端子35および6の電位変化の一例を示す。7
1は該スイツチ1に、72は該スイツチ63に対
応し、71あるいは72が高レベルおよび低レベ
ルで示されている期間はそれぞれ各スイツチが閉
あるいは開の状態を示している。73および74
はそれぞれ端子35の電位変化および端子6の電
位変化(即ち、出力信号)である。なお75につ
いては後述する。
スイツチ素子、3は電荷蓄積形ホトセンサ(以下
センサ、ホトセンサあるいはホトダイオードとい
う)、4は該センサ3と該スイツチ4を接続する
配線、5は出力ライン、6は出力端子、7は電圧
値Eボルトの電圧源(ここではE>0とする)で
ある。31,32,33はそれぞれ該センサ3の
等価ダイオード、等価コンデンサ、等価抵抗素子
で第2図に対応する。41は配線4の等価コンデ
ンサ、51は出力ライン5の等価コンデンサ、6
0は演算増幅器(以下OP Ampという)61、
コンデンサ62、スイツチ素子63を含む積分回
路、64は電圧値ERボルトの基準電圧源(以下
の説明では、ERは接地レベルとする)、35,3
6,37,52,53は端子、54および55は
それぞれ該積分回路60の反転および非反転入力
端子である。なお該センサ3、スイツチ1を含む
回路をここでは便宜上ユニツト30と呼ぶ。第9
図に該スイツチ素子1,63の開閉のタイミング
と端子35および6の電位変化の一例を示す。7
1は該スイツチ1に、72は該スイツチ63に対
応し、71あるいは72が高レベルおよび低レベ
ルで示されている期間はそれぞれ各スイツチが閉
あるいは開の状態を示している。73および74
はそれぞれ端子35の電位変化および端子6の電
位変化(即ち、出力信号)である。なお75につ
いては後述する。
以下では該スイツチ2がない場合の動作を説明
する。なお従来の検出回路の説明と同様、該セン
サ3には常時光が照射されており、該抵抗素子3
3はある有限の抵抗値を有しているものとする。
また該電圧源7の電位Eはある正の値(例えば10
ボルト)、該基準電圧源64の電位ERは接地レベ
ルとする。リセツト期間81で該スイツチ63が
閉じると該コンデンサ62が放電すると共に、端
子54の電位は該OP Amp61のイマジナリシ
ヨートを介し接地レベルとなつているから、端子
6の電位も74に示すように接地レベルへ戻る。
同様に端子52,53も接地レベルとなるから、
該コンデンサ51は放電する。次の期間82では
いずれのスイツチ素子も開の状態にある。従つ
て、該コンデンサ32に蓄積されている電荷は該
抵抗素子33を介し、遂次放電されているから、
端子35,37の電位は、73に示すように、次
の期間83で該スイツチ1が閉じる時刻まで、遂
次変化(この場合、上昇)する。従つて該コンデ
ンサ32と41に蓄積された電荷の変動分は端子
35,37の電位の変動分に両コンデンサの静電
容量の和を乗算した結果に等しい。次の検出期間
83で、該スイツチ1が閉じると、各コンデンサ
32,41,51,62に電荷の再分布が生じ、
端子54(同様に35,37,52,53)の電
位が変動する。一方OP Amp61は該端子54
の電位をイマジナリシヨートを介し基準電圧レベ
ル(接地レベル)へ戻そうと働く。以上の動作を
繰り返えすことにより、最終的には端子53の電
位は接地レベルに復帰する。従つて、一時的に、
該コンデンサ51は電荷の充放電を行なうが、最
終的には(定常状態では)該コンデンサ51には
電荷は蓄積されることはない。
する。なお従来の検出回路の説明と同様、該セン
サ3には常時光が照射されており、該抵抗素子3
3はある有限の抵抗値を有しているものとする。
また該電圧源7の電位Eはある正の値(例えば10
ボルト)、該基準電圧源64の電位ERは接地レベ
ルとする。リセツト期間81で該スイツチ63が
閉じると該コンデンサ62が放電すると共に、端
子54の電位は該OP Amp61のイマジナリシ
ヨートを介し接地レベルとなつているから、端子
6の電位も74に示すように接地レベルへ戻る。
同様に端子52,53も接地レベルとなるから、
該コンデンサ51は放電する。次の期間82では
いずれのスイツチ素子も開の状態にある。従つ
て、該コンデンサ32に蓄積されている電荷は該
抵抗素子33を介し、遂次放電されているから、
端子35,37の電位は、73に示すように、次
の期間83で該スイツチ1が閉じる時刻まで、遂
次変化(この場合、上昇)する。従つて該コンデ
ンサ32と41に蓄積された電荷の変動分は端子
35,37の電位の変動分に両コンデンサの静電
容量の和を乗算した結果に等しい。次の検出期間
83で、該スイツチ1が閉じると、各コンデンサ
32,41,51,62に電荷の再分布が生じ、
端子54(同様に35,37,52,53)の電
位が変動する。一方OP Amp61は該端子54
の電位をイマジナリシヨートを介し基準電圧レベ
ル(接地レベル)へ戻そうと働く。以上の動作を
繰り返えすことにより、最終的には端子53の電
位は接地レベルに復帰する。従つて、一時的に、
該コンデンサ51は電荷の充放電を行なうが、最
終的には(定常状態では)該コンデンサ51には
電荷は蓄積されることはない。
一方、端子35,37の電位も接地レベルとな
るから、該コンデンサ32は元の状態に充電さ
れ、該コンデンサ41は放電する。従つて、前述
したように、該期間83が開始する直前までに変
動した両コンデンサ32と41の電荷変動分はこ
の時点でリセツトされ、該変動電荷分に相当する
電荷量が該コンデンサ62に積分されたことにな
る。従つて、74に示すように、端子6の電位は
接地レベルより下がり、出力信号成分となる。次
のホールド期間84で、該スイツチ1が開いて
も、端子6の出力信号は74に示すように、検出
期間83の値をホールドする。と同時に該コンデ
ンサ32は該抵抗素子33を介し、放電を開始す
る(73参照)。以上該4個の期間81,82,
83,84を一周期とし、これを繰り返えすこと
により、順次信号の検出が行なわれる。
るから、該コンデンサ32は元の状態に充電さ
れ、該コンデンサ41は放電する。従つて、前述
したように、該期間83が開始する直前までに変
動した両コンデンサ32と41の電荷変動分はこ
の時点でリセツトされ、該変動電荷分に相当する
電荷量が該コンデンサ62に積分されたことにな
る。従つて、74に示すように、端子6の電位は
接地レベルより下がり、出力信号成分となる。次
のホールド期間84で、該スイツチ1が開いて
も、端子6の出力信号は74に示すように、検出
期間83の値をホールドする。と同時に該コンデ
ンサ32は該抵抗素子33を介し、放電を開始す
る(73参照)。以上該4個の期間81,82,
83,84を一周期とし、これを繰り返えすこと
により、順次信号の検出が行なわれる。
今該コンデンサ32,41,62の静電容量を
それぞれ0.2pF、4.8pF、5.0pFとし、該スイツチ
1が閉じる直前に端子35の電位が約1ボルト上
昇したとすれば、通常500〜1000pFという大きな
値のコンデンサ51の静電容量値に無関係に、端
子6の出力信号は約−1ボルトとなる。この値は
従来の検出回路に比べ、極めて大きな値である。
また、該スイツチ素子1がFET等で構成される
場合、該スイツチの開閉時に互いに反対方向への
スイツチング雑音を生じる。しかし本発明によれ
ば該スイツチング雑音はコンデンサ62で互いに
キヤンセルされる方向で積分されるから、期間8
4で得られる信号はきわめて雑音の少ない出力信
号となる。
それぞれ0.2pF、4.8pF、5.0pFとし、該スイツチ
1が閉じる直前に端子35の電位が約1ボルト上
昇したとすれば、通常500〜1000pFという大きな
値のコンデンサ51の静電容量値に無関係に、端
子6の出力信号は約−1ボルトとなる。この値は
従来の検出回路に比べ、極めて大きな値である。
また、該スイツチ素子1がFET等で構成される
場合、該スイツチの開閉時に互いに反対方向への
スイツチング雑音を生じる。しかし本発明によれ
ば該スイツチング雑音はコンデンサ62で互いに
キヤンセルされる方向で積分されるから、期間8
4で得られる信号はきわめて雑音の少ない出力信
号となる。
以上、該スイツチ2が付加されていない場合に
ついて説明した。次に該スイツチ2が付加された
場合を説明する。今該スイツチ2の開閉状態が、
該スイツチ63の開閉のタイミングと同一で、第
9図72で示されるものとする。今何らかの原因
で、例えば外乱による雑音で、端子52,53の
電位が接地レベルと異なる場合、該コンデンサ5
1に蓄積された雑音による電荷を強制的に放電さ
せることが出来る。また該スイツチ1の開閉タイ
ミングが75で、スイツチ2と63のタイミング
が72で示される場合、該リセツト期間81中に
該コンデンサ32,41,51が強制的かつ急速
にリセツトすることができる。即ち、配線4、出
力ライン5に雑音が重畳された場合、あるいは駆
動モードが極めて高速な場合等に該スイツチ1,
2によるリセツトが極めて有効である。
ついて説明した。次に該スイツチ2が付加された
場合を説明する。今該スイツチ2の開閉状態が、
該スイツチ63の開閉のタイミングと同一で、第
9図72で示されるものとする。今何らかの原因
で、例えば外乱による雑音で、端子52,53の
電位が接地レベルと異なる場合、該コンデンサ5
1に蓄積された雑音による電荷を強制的に放電さ
せることが出来る。また該スイツチ1の開閉タイ
ミングが75で、スイツチ2と63のタイミング
が72で示される場合、該リセツト期間81中に
該コンデンサ32,41,51が強制的かつ急速
にリセツトすることができる。即ち、配線4、出
力ライン5に雑音が重畳された場合、あるいは駆
動モードが極めて高速な場合等に該スイツチ1,
2によるリセツトが極めて有効である。
第10図に本発明の第2の実施例を示す。本実
施例は第8図に示したユニツト30を複数個に拡
張し、アレイ化している。第10において81,
82,83は第8図の該ユニツト30に対応し、
合計l個(l=正整数)備えている。なお同図の
各構成要素は第8図の同一番号の構成要素と同一
である。第11図は第10図の各スイツチの開閉
状態と出力信号波形の一例を示したものである。
91は該ユニツト81のスイツチ1、92は該ユ
ニツト82のスイツチ1、93は該ユニツト83
のスイツチ1、94は該スイツチ2および6にそ
れぞれ対応し、各波形の高レベルおよび低レベル
の期間がそれぞれ各スイツチが閉じている期間お
よび開いている期間に相当する。95は端子6よ
り得られる出力信号波形である。なお本実施例の
動作は第1実施例(第8図)と基本的には同様で
ある。ただし該各ユニツト81,82,83のス
イツチ1は、第11図に示したように、一定の周
期でかつ規則正しく順次開閉し、各ユニツト8
1,82,83の該センサ3を順次読み出す走査
方式となつている。従つて、複数個の該センサ3
から同時に信号を読み出すことはない。
施例は第8図に示したユニツト30を複数個に拡
張し、アレイ化している。第10において81,
82,83は第8図の該ユニツト30に対応し、
合計l個(l=正整数)備えている。なお同図の
各構成要素は第8図の同一番号の構成要素と同一
である。第11図は第10図の各スイツチの開閉
状態と出力信号波形の一例を示したものである。
91は該ユニツト81のスイツチ1、92は該ユ
ニツト82のスイツチ1、93は該ユニツト83
のスイツチ1、94は該スイツチ2および6にそ
れぞれ対応し、各波形の高レベルおよび低レベル
の期間がそれぞれ各スイツチが閉じている期間お
よび開いている期間に相当する。95は端子6よ
り得られる出力信号波形である。なお本実施例の
動作は第1実施例(第8図)と基本的には同様で
ある。ただし該各ユニツト81,82,83のス
イツチ1は、第11図に示したように、一定の周
期でかつ規則正しく順次開閉し、各ユニツト8
1,82,83の該センサ3を順次読み出す走査
方式となつている。従つて、複数個の該センサ3
から同時に信号を読み出すことはない。
第12図に本発明の第3の実施例を示す。本実
施例は第10図に示した実施例をさらに拡大した
ものである。即ち、m個(m=正整数)の前記ユ
ニツトを1ブロツクとしてさらに該ブロツクをn
個(n=正整数)設けた構成である。101,1
03,111,113,121,123は第8図
のユニツト30に対応している。101,103
は第1番目のブロツクを構成し、それぞれ該ブロ
ツク内の1番目およびm番目のユニツトである。
なお該1番目のブロツク内の第2番目から第(m
−1)番目のユニツトは第12図では省略されて
描かれている。以下同様に111,113はそれ
ぞれ第2番目のブロツク内の第1番目、第m番目
のユニツト、121,123は第n番目のブロツ
ク内の第1番目、第m番目のユニツト、である。
但し第12図では第3番目から第(n−1)番目
のブロツクは省略されて描かれている。201,
202,203はスイツチ素子でそれぞれ各ブロ
ツク内の1番目のユニツト(101,111,1
21)、第2番目のユニツト(省略されている)、
第m番目のユニツト(103,113,123)
に対応している。なお同図の他の構成要素は第8
図の同一番号の構成要素と同一である。
施例は第10図に示した実施例をさらに拡大した
ものである。即ち、m個(m=正整数)の前記ユ
ニツトを1ブロツクとしてさらに該ブロツクをn
個(n=正整数)設けた構成である。101,1
03,111,113,121,123は第8図
のユニツト30に対応している。101,103
は第1番目のブロツクを構成し、それぞれ該ブロ
ツク内の1番目およびm番目のユニツトである。
なお該1番目のブロツク内の第2番目から第(m
−1)番目のユニツトは第12図では省略されて
描かれている。以下同様に111,113はそれ
ぞれ第2番目のブロツク内の第1番目、第m番目
のユニツト、121,123は第n番目のブロツ
ク内の第1番目、第m番目のユニツト、である。
但し第12図では第3番目から第(n−1)番目
のブロツクは省略されて描かれている。201,
202,203はスイツチ素子でそれぞれ各ブロ
ツク内の1番目のユニツト(101,111,1
21)、第2番目のユニツト(省略されている)、
第m番目のユニツト(103,113,123)
に対応している。なお同図の他の構成要素は第8
図の同一番号の構成要素と同一である。
第13図は第12図の各スイツチ素子の開閉状
態と出力波形の一例を示したものである。300
は第1番目のブロツクに属するユニツト101,
103のスイツチ素子1に対応する。同様に31
0は第2番目のブロツクに属するユニツト11
1,113のスイツチ素子1に、320は第n番
目のブロツクに属するユニツト121,123の
スイツチ素子1にそれぞれ対応する。401,4
02,403はそれぞれスイツチ素子201,2
02,203に対応する。500はスイツチ素子
2,63に対応する。なお各波形の高レベルおよ
び低レベルの期間がそれぞれ各スイツチ素子が閉
じている期間および開いている期間に相当する。
600は端子6より得られる出力波形の一例で、
高レベルがほぼ基準電圧レベルに、低レベルが信
号成分に対応する。
態と出力波形の一例を示したものである。300
は第1番目のブロツクに属するユニツト101,
103のスイツチ素子1に対応する。同様に31
0は第2番目のブロツクに属するユニツト11
1,113のスイツチ素子1に、320は第n番
目のブロツクに属するユニツト121,123の
スイツチ素子1にそれぞれ対応する。401,4
02,403はそれぞれスイツチ素子201,2
02,203に対応する。500はスイツチ素子
2,63に対応する。なお各波形の高レベルおよ
び低レベルの期間がそれぞれ各スイツチ素子が閉
じている期間および開いている期間に相当する。
600は端子6より得られる出力波形の一例で、
高レベルがほぼ基準電圧レベルに、低レベルが信
号成分に対応する。
本実施例の基本動作は第1および第2実施例と
全く同様であるから、ここでは各スイツチ素子の
開閉状態と各ユニツトからの信号読出し順序につ
いて簡単に説明する。今期間601で、第1番目
のブロツクのユニツト101,103のスイツチ
素子1のみが閉じており、他のブロツクのユニツ
トのスイツチ素子1は全部開いている。該期間6
01でスイツチ素子201,202,203がそ
れぞれ401,402,403で示すように順次
開閉する。各スイツチ素子201,202,20
3が順次閉じて次に開いた後、スイツチ素子2,
62により第12図の回路は毎回リセツトされ
る。従つて、第1番目のブロツクにあるユニツト
101,103の信号は600で示すように順次
端子6より読み出される。該第1番目のブロツク
のm番目のユニツト103の信号が読み出された
後、次の期間602では該第1番目のブロツクの
スイツチ素子1が開いて、第2番目のブロツクの
ユニツト111,113のスイツチ素子1が閉じ
る。一方、スイツチ素子201,202,203
は前記同様順次閉じた後開くから第12図の回路
はそのたびにリセツトされる。従つて、該期間6
02では第2番目のブロツクのユニツト111,
113から順次信号が読み出される。以下、同様
に第n番目のブロツクのユニツトからも順次読み
出される。次に第1番目のブロツクのユニツトか
らの信号読み出しへ再び戻る。以後これを繰り返
えすことにより光信号の順次読み出しを行ない複
数個の該ユニツトのセンサから同時に信号を読み
出すことはない。
全く同様であるから、ここでは各スイツチ素子の
開閉状態と各ユニツトからの信号読出し順序につ
いて簡単に説明する。今期間601で、第1番目
のブロツクのユニツト101,103のスイツチ
素子1のみが閉じており、他のブロツクのユニツ
トのスイツチ素子1は全部開いている。該期間6
01でスイツチ素子201,202,203がそ
れぞれ401,402,403で示すように順次
開閉する。各スイツチ素子201,202,20
3が順次閉じて次に開いた後、スイツチ素子2,
62により第12図の回路は毎回リセツトされ
る。従つて、第1番目のブロツクにあるユニツト
101,103の信号は600で示すように順次
端子6より読み出される。該第1番目のブロツク
のm番目のユニツト103の信号が読み出された
後、次の期間602では該第1番目のブロツクの
スイツチ素子1が開いて、第2番目のブロツクの
ユニツト111,113のスイツチ素子1が閉じ
る。一方、スイツチ素子201,202,203
は前記同様順次閉じた後開くから第12図の回路
はそのたびにリセツトされる。従つて、該期間6
02では第2番目のブロツクのユニツト111,
113から順次信号が読み出される。以下、同様
に第n番目のブロツクのユニツトからも順次読み
出される。次に第1番目のブロツクのユニツトか
らの信号読み出しへ再び戻る。以後これを繰り返
えすことにより光信号の順次読み出しを行ない複
数個の該ユニツトのセンサから同時に信号を読み
出すことはない。
以上説明した通り、本発明によれば、出力ライ
ン5の極めて大きなコンデンサに信号電荷は全く
蓄積されることはない。従つて、本発明は従来の
検出回路の出力信号が極めて微少であつたとか、
読み出し速度が極めて遅かつたという出力ライン
のコンデンサの容量値が極めて大きいことに起因
した欠点を完全に除去でき、さらに極めて大きな
出力信号を得ることができるという優れた効果を
有する。さらに出力信号が大きいから、バツフア
回路や増幅回路な複雑など信号処理回路を必要と
しない。このため回路が簡単になり、消費電力や
雑音の増加を阻止できる。またフイードスルーや
スイツチング雑音の影響を極めて小さくできるの
でダイナミツクレンジは大幅に拡大される。さら
に信号読み出しの速度が早いから、信号の完全読
み出しと高速動作ができるといつた優れた効果が
生じる。
ン5の極めて大きなコンデンサに信号電荷は全く
蓄積されることはない。従つて、本発明は従来の
検出回路の出力信号が極めて微少であつたとか、
読み出し速度が極めて遅かつたという出力ライン
のコンデンサの容量値が極めて大きいことに起因
した欠点を完全に除去でき、さらに極めて大きな
出力信号を得ることができるという優れた効果を
有する。さらに出力信号が大きいから、バツフア
回路や増幅回路な複雑など信号処理回路を必要と
しない。このため回路が簡単になり、消費電力や
雑音の増加を阻止できる。またフイードスルーや
スイツチング雑音の影響を極めて小さくできるの
でダイナミツクレンジは大幅に拡大される。さら
に信号読み出しの速度が早いから、信号の完全読
み出しと高速動作ができるといつた優れた効果が
生じる。
以上、具体的な実施例をあげて本発明を説明し
た。上記では動作の方法やスイツチの開閉のタイ
ミングは一例を示したものであつて、本発明の機
能が満足されれば、上記の一例に限定されること
はない。ホトセンサ(ホトダイオード)の説明に
用いた等価ダイオードの向き(極性)あるいは電
圧源、基準電圧源の大きさおよびその極性も一例
であつて、これに限定されない。実施例に用いた
スイツチ素子はスイツチング機能があればどのよ
うなスイツチでも良い、例えば、トランジスタ、
FET等がある。また本発明の検出回路はスイツ
チを順次開閉走査する走査回路と同一の半導体基
板上に形成されてもかまわない。
た。上記では動作の方法やスイツチの開閉のタイ
ミングは一例を示したものであつて、本発明の機
能が満足されれば、上記の一例に限定されること
はない。ホトセンサ(ホトダイオード)の説明に
用いた等価ダイオードの向き(極性)あるいは電
圧源、基準電圧源の大きさおよびその極性も一例
であつて、これに限定されない。実施例に用いた
スイツチ素子はスイツチング機能があればどのよ
うなスイツチでも良い、例えば、トランジスタ、
FET等がある。また本発明の検出回路はスイツ
チを順次開閉走査する走査回路と同一の半導体基
板上に形成されてもかまわない。
第1図は従来の検出回路、第2図、第3図はセ
ンサ等の等価回路、第4図は第1図の等価回路、
第5図は第4図のスイツチの開閉と信号のタイミ
ング、第6図は他の従来の検出回路、第7図は第
6図のスイツチの開閉と信号のタイミング、第8
図は本発明に係る第1実施例を示す検出回路、第
9図は第8図の検出回路を駆動するスイツチ開閉
のタイミングと信号波形の一例を示す図、第10
図は同じく、本発明に係る第2実施例を示す検出
回路、第11図は第10図の検出回路を駆動する
スイツチの開閉のタイミングと信号波形の一例を
示す図、第12図は同じく本発明に係る第3実施
例を示す検出回路、第13図は第12図の検出回
路を駆動するスイツチの開閉のタイミングと信号
波形の一例を示す図である。 1,2,63,201,202,203はスイ
ツチ素子、3はセンサ、4は配線、5は出力ライ
ン、6は出力端子、7は電圧源、31はダイオー
ド、32,41,50,51,62はコンデン
サ、33は抵抗素子、34は電流源、60は積分
回路、61はOP Amp、64は基準電圧源、8
1,82,83,101,103,111,11
3,121,123はユニツトである。
ンサ等の等価回路、第4図は第1図の等価回路、
第5図は第4図のスイツチの開閉と信号のタイミ
ング、第6図は他の従来の検出回路、第7図は第
6図のスイツチの開閉と信号のタイミング、第8
図は本発明に係る第1実施例を示す検出回路、第
9図は第8図の検出回路を駆動するスイツチ開閉
のタイミングと信号波形の一例を示す図、第10
図は同じく、本発明に係る第2実施例を示す検出
回路、第11図は第10図の検出回路を駆動する
スイツチの開閉のタイミングと信号波形の一例を
示す図、第12図は同じく本発明に係る第3実施
例を示す検出回路、第13図は第12図の検出回
路を駆動するスイツチの開閉のタイミングと信号
波形の一例を示す図である。 1,2,63,201,202,203はスイ
ツチ素子、3はセンサ、4は配線、5は出力ライ
ン、6は出力端子、7は電圧源、31はダイオー
ド、32,41,50,51,62はコンデン
サ、33は抵抗素子、34は電流源、60は積分
回路、61はOP Amp、64は基準電圧源、8
1,82,83,101,103,111,11
3,121,123はユニツトである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 ホトダイオードと該ホトダイオードを繰り返
し充放電させるスイツチ素子が接続されたユニツ
トと、少なくともコンデンサ、このコンデンサの
電荷を放電するスイツチ素子および演算増幅器を
含む積分回路を備え、該ユニツトの該スイツチ素
子側の端子と該積分回路の反転入力端子が配線静
電容量を含む出力ラインを介して接続され、該ユ
ニツトのホトダイオード側の端子が電圧源に接続
され、該積分回路の非反転入力端子が基準電圧源
に接続され、該積分回路の反転および非反転入力
端子がスイツチ素子を介して接続され、光検出の
前にこのスイツチを閉じて、反転入力端子に寄生
するコンデンサに充電された電荷を放電する手段
を有することを特徴とする光信号検出回路。 2 ホトダイオードと該ホトダイオードを繰り返
し充放電させるスイツチ素子が接続されたユニツ
トを複数個備え、少なくともコンデンサ、このコ
ンデンサの電荷を放電するスイツチ素子および演
算増幅器を含む積分回路を備え、各ユニツトのス
イツチ素子側の端子を互いに接続すると共に、該
端子と積分回路の反転入力端子を出力ラインを介
して接続し、該ユニツトのホトダイオード側の端
子を互いに接続した上該端子と電圧源を接続し、
該積分回路の非反転入力端子と基準電圧源を接続
し、該積分回路の反転および非反転入力端子がス
イツチ素子を介して接続され、光検出の前にこの
スイツチを閉じて、反転入力端子に寄生するコン
デンサに充電された電荷を放電する手段を有する
ことを特徴とする光信号検出回路。 3 ホトダイオードと該ホトダイオードを繰り返
し充放電させるスイツチ素子が接続されたユニツ
トをm個(m=正整数)備えて構成されるブロツ
クがn個(n=正整数)と、少なくともコンデン
サ、このコンデンサの電荷を放電するスイツチ素
子および演算増幅器を含む積分回路と、第1のス
イツチ素子、第2のスイツチ素子、……第mのス
イツチ素子の合計m個のスイツチ素子を備え、該
各ブロツクの第1番目のユニツト内のスイツチ素
子側の端子を互いに接続した上該端子と該第1の
スイツチ端子の一方の端子を接続し、該各ブロツ
クの第2番目のユニツト内のスイツチ素子側の端
子を互いに接続した上該端子と該第2のスイツチ
素子の一方の端を接続し、以下同様に、該各ブロ
ツクのm番目のユニツト内のスイツチ素子側の端
子を互いに接続した上該端子と該第mのスイツチ
素子の一方の端を接続し、該1、該2、……第m
のスイツチ素子の他方の端を互いに接続した上該
端と該積分回路の反転入力端子を出力ラインを介
して接続し、該ユニツトのホトダイオード側の端
子を互いに接続した上該端子と電圧源を接続し、
該積分回路の非反転入力端子と基準電圧源を接続
し、該積分回路の反転および非反転入力端子がス
イツチ素子を介して接続され、光検出の前にこの
スイツチを閉じて、反転入力端子に寄生するコン
デンサに充電された電荷を放電する手段を有する
ことを特徴とする光信号検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56169148A JPS5870133A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 光信号検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56169148A JPS5870133A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 光信号検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5870133A JPS5870133A (ja) | 1983-04-26 |
JPH0381091B2 true JPH0381091B2 (ja) | 1991-12-27 |
Family
ID=15881169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56169148A Granted JPS5870133A (ja) | 1981-10-22 | 1981-10-22 | 光信号検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5870133A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05133801A (ja) * | 1991-11-12 | 1993-05-28 | Hamamatsu Photonics Kk | ホトダイオードアレイ型光検出装置および光検出方法 |
JP4628586B2 (ja) * | 2001-05-14 | 2011-02-09 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出装置 |
JP4987584B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2012-07-25 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路およびそれを用いたicカード |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55116226A (en) * | 1979-03-03 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Discharging current integration-type photodetector |
-
1981
- 1981-10-22 JP JP56169148A patent/JPS5870133A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55116226A (en) * | 1979-03-03 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Discharging current integration-type photodetector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5870133A (ja) | 1983-04-26 |
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