JPH0379044A - 半導体素子の樹脂封止方法 - Google Patents

半導体素子の樹脂封止方法

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JPH0379044A
JPH0379044A JP21499889A JP21499889A JPH0379044A JP H0379044 A JPH0379044 A JP H0379044A JP 21499889 A JP21499889 A JP 21499889A JP 21499889 A JP21499889 A JP 21499889A JP H0379044 A JPH0379044 A JP H0379044A
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JP
Japan
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resin
semiconductor element
thickness
circuit board
sealing
Prior art date
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Pending
Application number
JP21499889A
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English (en)
Inventor
Hitoshi Shibuya
仁 渋谷
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野 〕 本発明は、印刷基板に実装された半導体素子を外気等か
ら遮断するために樹脂で封止する方法に関するものであ
る。
[従来の技術 〕 第2図〜第4図はそれぞれ従来における半導体素子3の
樹脂封止方法を示す断面図である。
まず、第2図の方法は、印刷基板1に形成された導体2
a上に半導体素子3を搭載し、ワイヤー5をボンディン
グして半導体素子3上面の各電極4と印刷基板1に形成
された対応する導体2bとを電気的に接続することによ
り、印刷基板1に半導体素子3を実装した後、半導体素
子3及びワイヤ−2全体を覆うように高粘度の樹脂6a
を充填し、この樹脂6aを硬化させることにより前記半
導体素子3を封止するものである。
この方法において充填された樹脂6aの形状は球面状で
あり、導体2bの表面からのワイヤー5の高さHlと、
導体2bの表面からの樹脂6aの厚さL2との関係は、
°“Hl<t、z”に設定している。
次に、第3図の方法は、印刷基板1に凹部7を形成して
おき、この凹部7内に半導体素子3を搭載し、ワイヤー
5をボンディングして半導体素子3上面の各電極4と印
刷基板1に形成された対応する導体2bとを電気的に接
続することにより、印刷基板1に半導体素子3を実装し
た後、半導体素子3及びワイヤ−2全体を覆うように高
粘度の樹脂6aを充填して、この樹脂6aを硬化させる
ことにより前記半導体素子3を封止するものである。
この方法においは、充填された樹脂6aの形状が第1図
の方法よりも緩やかな球面状となり、導体2bの表面か
らのワイヤー5の高さHlと、導体2bの表面からの樹
脂6aの厚さt3との関係は、“Ht<Lx”に設定し
ている。
また、この第3図の方法におけるワイヤー5の高さHl
と前記第2図の方法におけるワイヤー5の高さHlとの
関係は、”Hl<HI”であり、かつ第3図の方法にお
ける樹脂6aの厚さt3と前記第2図の方法における樹
脂6aの厚さt2との関係は、“tz <t、”である
第4図の方法は、まず第2図の方法と同様に印刷基板1
に形成された導体2a上に半導体素子3を搭載し、ワイ
ヤー5をボンディングして半導体素子3の各電極4と印
刷基板1に形成された対応する導体2bとを電気的に接
続することにより、印刷基板1に半導体素子3を実装す
る。
そして、前記ワイヤー5の高さH1以上の高さt4を有
する枠体8を半導体素子3及びワイヤー5を囲むように
印刷基板1上に接着剤9で固定しした後、低粘度の流動
性を持つ樹脂6bを枠体8内に流し込み、この樹脂6b
を硬化させることで前記半導体素子3を封止するもので
ある。
この方法においては、前記樹脂6bが低粘度の流動性の
ものであるため、硬化後の樹脂6bの上面は平らとなり
、導体2bの表面からの樹脂6bの厚さt、と枠体8の
高さt4とワイヤー5の高さHlとの関係も!は、”H
l< t s < t 4”に設定している。
〔発明が解決しようとする課題 〕
しかしながら、上述した従来の半導体素子の樹脂封止方
法は、それぞれ以下の問題がある。
まず、半導体素子及びワイヤに単に高粘度樹脂。
を充填して封止する第2図の方法では、封止樹脂の厚さ
を薄く均一に形成することができず、近年要求されてい
る半導体装の薄形化が非常に困難である。
また、印刷基板に凹部を設けて、この凹部内に半導体素
子を載せる第3図の方法では、封止樹脂が凹部内に入り
込むため導体表面からの樹脂の厚さは薄(なるが、凹部
を設けるための加工により印刷基板の製造コストが上昇
し、しかも凹部により基板強度の低下を招くことになる
更に、半導体素子及びワイヤを囲む枠体を接着剤により
印刷基板に固定する第4図の方法では、基板強度を低下
させることなく樹脂の厚さを薄くできるが、同一基板上
で樹脂封止する半導体素子の数が多い場合、枠体を固定
するための作業工程が増加すると共に、枠体と接着剤の
価格が追加されるため、全体の製造コストが上昇するこ
とになる。
本発明はこれらの問題を解決するためになされたもので
、封止樹脂の厚さを薄くかつ均一にすることができると
共に、基板強度を低下させることがなく、かつ封止樹脂
の作業能率が良く、しかも製造コストの上昇を最小限に
抑えることができる半導体素子の樹脂封止方法を実現す
ることを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段及び作用 〕この目的を達
成するため、本発明は印刷基板に形成された導体と、半
導体素子の上面の電極とをワイヤーボンディングにより
接続して印刷基板に半導体素子を実装した後、この印刷
基板を治具に収納して、前記半導体素子及びワイヤー全
体を覆うように高粘度の樹脂を充填し、この樹脂上に押
さえ板を載せ、前記ワイヤーが露出しない程度に樹脂の
厚さを規制するように予め治具に形成された所定の高さ
のストッパ部に突き当たるまで前記を押さえ板を押し下
げることにより、樹脂の上面を平坦に形成した後、該樹
脂を硬化させるものである。
また、前記の方法において、高粘度の樹脂に対する剥離
性に優れたフッソ樹脂等により形成した押さえ板を用い
るものである。
従って、これによれば封止樹脂の厚さを薄くかつ均一に
形成することができ、半導体装の薄形化が可能になると
共に、基板強度を低下させることもない。
また、同一基板上で樹脂封止する半導体素子の数が多い
場合でも、前記治具と押さえ板を用いて一度に封止樹脂
の厚さを規制できるため、枠体を使用する場合に比べて
作業工程の増加を抑えることができると共に、治具と押
さえ板は繰り返し使用できるので、全体の製造コストは
最小限に抑えることができる。
更に、高粘度の樹脂に対する剥離性に優れたフッソ樹脂
等により形成した押さえ板を用いることで、樹脂硬化後
の押さえ板の取り外しが容易となり、作業能率がより向
上する。
〔実施例〕
以下図面を参照して実施例を説明する。
第1図は本発明による半導体素子の樹脂封止方法の一実
施例を示す断面図で、同図(a)〜(d)は印刷基板l
への半導体素子3の実装から樹脂封止終了までの工程を
段階的に示すものである。
まず、第1図(a)に示すように、印刷基板1に形成さ
れた導体2a上に半導体素子3を搭載し、ワイヤー5を
ボンディングして半導体素子3上面の各電極4と印刷基
板1に形成された対応する導体2bとを電気的に接続す
ることにより、印刷基板lに半導体素子3を実装する。
このときの導体2bの表面からのワイヤー5の高さはH
lである。
次に、第1図(b)に示すように、半導体素子3を実装
した印刷基板1を段差状のストッパ部1oを形成した治
具12内に収納し、半導体素子3及びワイヤ−2全体を
覆うように高粘度の樹脂6aを充填する。
このときの充填された樹脂6aの形状は球面状であって
、導体2bの表面からの樹脂6aの厚さt2と前記ワイ
ヤー5の高さはH,との関係は、”t2>Hl ”とす
る。
また、前記治具12内に収納した印刷基板1の導体2b
の表面からストッパ部10までの高さTは、“t2>T
>H,″となるように予め設定されている。
このように樹脂6aを充填した後、第1図(C)に示す
ように、樹脂6aに対して剥離性の優れたフッ素樹脂等
による押さえ板12を該樹脂6a上に載せ、この押さえ
板12を端部が治具11のストッパ部10に突き当たる
まで押し下げて樹脂6aの上面を平坦に潰した後、その
まま押さえ板12をストッパ部10上に固定して樹脂6
aを硬化させる。
そして、樹脂6aの硬化後、押さえ板12をストッパ部
10から取り外し、更に治具12内がら印刷基板1を取
り出すことにより半導体素子3の封止作業が完了する。
封止の樹脂6aは、第1図(d)に示すように断面形状
が略台形になり、導体2bの表面からの樹脂6aの厚さ
t、は前記ストッパ部10の高さTと等しいので、“H
l<tl”を満足し、つまりワイヤー5が外部に露出し
ない程度の樹脂6aの厚厚さが得られ、良好な封止性を
確保することができる。
〔発明の効果 〕
以上説明したように、本発明はストッパ部を形成した治
具と押さえ板とを用いて封止樹脂の厚さを規制すること
により、封止樹脂の厚さを薄くかつ均一に形成すること
ができるようにしているため、半導体装の薄形化が可能
になると共に、基板強度を低下させることもないという
効果が得られる。
また、同一基板上で樹脂封止する半導体素子の数が多い
場合でも、前記治具と押さえ板を用いて一度に封止樹脂
の厚さを規制できるため、枠体を使用する場合に比べて
作業工程の増加を抑えることができると共に、治具と押
さえ板は繰り返し使用できるので、全体の製造コストは
最小限に抑えることができるという効果も得られる。
更に、高粘度の樹脂に対する剥離性に優れたフッソ樹脂
等により形成した押さえ板を用いることで、樹脂硬化後
の押さえ板の取り外しが容易となり、作業能率がより向
上するという利点もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による半導体素子の樹脂封止方法の一実
施例を示す断面図、第2図、第3図、及び第4図はそれ
ぞれ従来における半導体素子の樹脂封止方法を示す断面
図である。 1:印刷基板 2a、2b:導体 3:半導体素子 4:電極 5:ワイヤ 6a:高粘度の樹脂 6b:低粘度の樹脂 10:ストッパ部 1に治具 12:押さえ仮

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)印刷基板に形成された導体と、半導体素子の上面
    の電極とをワイヤーボンディングにより接続して印刷基
    板に半導体素子を実装した後、 この印刷基板を治具に収納して、前記半導体素子及びワ
    イヤー全体を覆うように高粘度の樹脂を充填し、 この樹脂上に押さえ板を載せ、前記ワイヤーが露出しな
    い程度に樹脂の厚さを規制するように予め治具に形成さ
    れた所定の高さのストッパ部に突き当たるまで前記を押
    さえ板を押し下げることにより、樹脂の上面を平坦に形
    成した後、該樹脂を硬化させることを特徴とする半導体
    素子の樹脂封止方法。
  2. (2)高粘度の樹脂に対する剥離性に優れたフッソ樹脂
    等により形成した押さえ板を用いることを特徴とする請
    求項(1)記載の半導体素子の樹脂封止方法。
JP21499889A 1989-08-23 1989-08-23 半導体素子の樹脂封止方法 Pending JPH0379044A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0584479A (ja) * 1991-12-26 1993-04-06 Hitachi Ltd 浄水器
EP1028459A2 (en) 1999-02-09 2000-08-16 SANYO ELECTRIC Co., Ltd. Method of fabricating semiconductor device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0584479A (ja) * 1991-12-26 1993-04-06 Hitachi Ltd 浄水器
JPH06102190B2 (ja) * 1991-12-26 1994-12-14 株式会社日立製作所 浄水器
EP1028459A2 (en) 1999-02-09 2000-08-16 SANYO ELECTRIC Co., Ltd. Method of fabricating semiconductor device

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