JPH0375546A - コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法 - Google Patents
コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法Info
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- JPH0375546A JPH0375546A JP21204089A JP21204089A JPH0375546A JP H0375546 A JPH0375546 A JP H0375546A JP 21204089 A JP21204089 A JP 21204089A JP 21204089 A JP21204089 A JP 21204089A JP H0375546 A JPH0375546 A JP H0375546A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はコンパクトディスク、その他の製品の表面を覆
う保護膜の欠陥を容易に検出し得るコンパクトディスク
等の表面保護膜の検査方法に関するものである。
う保護膜の欠陥を容易に検出し得るコンパクトディスク
等の表面保護膜の検査方法に関するものである。
音楽等を記録するコンパクトディスク１は通常、第６図
に示すようにＰＣ（ポリカーボネート）でつくった基材
２の上面にアルミ膜３を蒸着し、更に前記アルミ膜３の
上面に透明なエポキシｔＭＭｒｉ等の有機ｗＡ縁物を塗
布して保護膜４を形成し、前記アルミ膜３を保護してい
る。
に示すようにＰＣ（ポリカーボネート）でつくった基材
２の上面にアルミ膜３を蒸着し、更に前記アルミ膜３の
上面に透明なエポキシｔＭＭｒｉ等の有機ｗＡ縁物を塗
布して保護膜４を形成し、前記アルミ膜３を保護してい
る。
しかし、この保護１１１！４の膜厚は１〜１０ミクロン
程度で非常に薄いため、保護膜４を形成した際、ピンホ
ール５、又はクレータ状の波紋部６（ピンホール発生の
前段階）、更に軽微な凹凸部（図示せず）等が発生する
。
程度で非常に薄いため、保護膜４を形成した際、ピンホ
ール５、又はクレータ状の波紋部６（ピンホール発生の
前段階）、更に軽微な凹凸部（図示せず）等が発生する
。
波紋部６及び軽微な凹凸部は製品の保護上問題ないが、
ピンホール５はアルミ膜３の一部を露出させるので製品
の保護が不完全となる。従ってピンホールが発生した製
品は欠陥品として製造工程の途中で除去する必要があり
、このため、次に述べる検査方法が広く採用されている
。
ピンホール５はアルミ膜３の一部を露出させるので製品
の保護が不完全となる。従ってピンホールが発生した製
品は欠陥品として製造工程の途中で除去する必要があり
、このため、次に述べる検査方法が広く採用されている
。
従来の検査方法は、第４図及び第５図［Ａ）〔Ｂ〕に示
すように可視光７をコンパクトディスクｌに照射し、そ
の反射光をＣＣＤ弐のビデオカメラ８で撮像し、撮像し
た画像を電気的に処理（画像処理）してピンホール５の
有無を検出するようにしている。
すように可視光７をコンパクトディスクｌに照射し、そ
の反射光をＣＣＤ弐のビデオカメラ８で撮像し、撮像し
た画像を電気的に処理（画像処理）してピンホール５の
有無を検出するようにしている。
しかし、前記の検査方法には次に述べるような問題点が
あった。
あった。
（ｉ）ピンホール５及び波紋部６の断面における各傾斜
部分に入射した光は第４図にａ、ｂ、ｃ。
部分に入射した光は第４図にａ、ｂ、ｃ。
ｄで示すように散乱するので、ビデオカメラ８に入射し
ない。従って各傾斜部分の画像は画像処理上、黒レベル
として認識される。一方、保護膜上面の水平部分及び露
出したアルミ膜の部分に入射した可視光はｅ、ｆ、ｇで
示すように上方に反射してビデオカメラ８に入射し、そ
の画像は白レベルとして認識される。前記の結果、ピン
ホールの画像９は第５図〔Ａ〕に示すようにドウナソツ
状に、又波紋部６の画像ＩＯは第５図ＣＢ）に示すよう
に蛇の目状に撮像される。
ない。従って各傾斜部分の画像は画像処理上、黒レベル
として認識される。一方、保護膜上面の水平部分及び露
出したアルミ膜の部分に入射した可視光はｅ、ｆ、ｇで
示すように上方に反射してビデオカメラ８に入射し、そ
の画像は白レベルとして認識される。前記の結果、ピン
ホールの画像９は第５図〔Ａ〕に示すようにドウナソツ
状に、又波紋部６の画像ＩＯは第５図ＣＢ）に示すよう
に蛇の目状に撮像される。
以上の説明は、理解を容易にするためピンホール５及び
波紋部６がその中心の周りに点対称に形成されている特
別な場合について述べたが、実際のピンホール等の形状
は前記のように単純なものではなく、ピンホールの画像
と波紋部の画像が類似して判別できない場合があり、又
、蛇の目状の画像を必ずしも波紋部と断定できない場合
もあり、いずれにしてもピンホールのみを検出するのが
困難であった。
波紋部６がその中心の周りに点対称に形成されている特
別な場合について述べたが、実際のピンホール等の形状
は前記のように単純なものではなく、ピンホールの画像
と波紋部の画像が類似して判別できない場合があり、又
、蛇の目状の画像を必ずしも波紋部と断定できない場合
もあり、いずれにしてもピンホールのみを検出するのが
困難であった。
（ｉｉ）ピンホール５、又は波紋部６以外の凹凸部の画
像もなにがしかの黒レベルとして認識されるので、高度
な画像処理を行っても、良品を不良品と判定するおそれ
がある。
像もなにがしかの黒レベルとして認識されるので、高度
な画像処理を行っても、良品を不良品と判定するおそれ
がある。
本発明は前述の問題点に鑑み、簡単な手法を用いてピン
ホールだけを容易に検出し得るコンパクトディスク等の
表面保護膜の検査方法を提供することを課題とする。
ホールだけを容易に検出し得るコンパクトディスク等の
表面保護膜の検査方法を提供することを課題とする。
前記の課題を解決するため、本発明では次の手段をＩｔ
した。
した。
保護膜で被覆した製品に、波長が３６５ｎｍ近傍の紫外
線を照射して前記保護膜から蛍光を発生させ、前記蛍光
をビデオカメラで受光して前記保護膜の蛍光発光像を撮
像することを特徴とするコンパクトディスク等の表面保
護膜の検査方法。
線を照射して前記保護膜から蛍光を発生させ、前記蛍光
をビデオカメラで受光して前記保護膜の蛍光発光像を撮
像することを特徴とするコンパクトディスク等の表面保
護膜の検査方法。
３６５ｎｍ近傍の紫外１ （ＵＶ）を製品に照射した際
、保護膜を例えば有機絶縁物で形成しておけば、前記紫
外線が有機絶縁物を励起して波長が４００〜５００ｒｖ
＋の蛍光を発生させる。そして、この蛍光はビデオカメ
ラに入射して白レベルの画像として認識される。
、保護膜を例えば有機絶縁物で形成しておけば、前記紫
外線が有機絶縁物を励起して波長が４００〜５００ｒｖ
＋の蛍光を発生させる。そして、この蛍光はビデオカメ
ラに入射して白レベルの画像として認識される。
一方、保護膜にピンホールが形成されている場合、この
ピンホールの部分は蛍光を発生しないので、この部分は
ピンホールと同じ形状をした黒レベルの画像として認識
される。従って、ピンホールの有無を簡単な画像処理に
より容易に検出することができる。
ピンホールの部分は蛍光を発生しないので、この部分は
ピンホールと同じ形状をした黒レベルの画像として認識
される。従って、ピンホールの有無を簡単な画像処理に
より容易に検出することができる。
以下、本発明の実施例を第１図ないし第３図を参照して
説明する。尚、図中の符号及び記号については、従来の
技術を説明した際の同一部分に同じ符号及び記号を付し
て示す。
説明する。尚、図中の符号及び記号については、従来の
技術を説明した際の同一部分に同じ符号及び記号を付し
て示す。
第１図は本発明の方法を実施するための装置の一例を示
すもので、図中、２１は波長３６５ｎ−近傍の紫外線（
Ｕ Ｖ）を発生する紫外線照射器、８はビデオカメラ、
２２は前記ビデオカメラ８が撮像した画像を処理して製
品の良否を判定する判定器、２３はビデオカメラ８に正
対するように検査すべきコンパクトディスク１をほぼ水
平に載置する検査台、２４は前記判定器２２によって不
合格を判定されたコンパクトディスク１ａを生産ライン
から除外する振分部、２６は合格と判定されたコンパク
トディスクｌを保護膜乾燥用ＵＶ照射機（図示せず）に
移送するためのコンベア上の検査台である。
すもので、図中、２１は波長３６５ｎ−近傍の紫外線（
Ｕ Ｖ）を発生する紫外線照射器、８はビデオカメラ、
２２は前記ビデオカメラ８が撮像した画像を処理して製
品の良否を判定する判定器、２３はビデオカメラ８に正
対するように検査すべきコンパクトディスク１をほぼ水
平に載置する検査台、２４は前記判定器２２によって不
合格を判定されたコンパクトディスク１ａを生産ライン
から除外する振分部、２６は合格と判定されたコンパク
トディスクｌを保護膜乾燥用ＵＶ照射機（図示せず）に
移送するためのコンベア上の検査台である。
次に、本装置の作動について説明する。表面が保護膜で
被覆されたコンパクトディスク１が図示しないコンベア
によって検査台２３上の所定位置に移送されると（矢印
り参照）、紫外線照射器２１が３６５ｎｍ近傍の波長を
有する紫外線（ＵＶ）２５をコンパクトディスク１に向
って照射する。
被覆されたコンパクトディスク１が図示しないコンベア
によって検査台２３上の所定位置に移送されると（矢印
り参照）、紫外線照射器２１が３６５ｎｍ近傍の波長を
有する紫外線（ＵＶ）２５をコンパクトディスク１に向
って照射する。
このＵＶ２５は第２図に示すように保護膜４を形成する
有機絶縁物を励起し、その結果、保護膜４は波長が４０
０〜５００ｎｍの蛍光２６を発生する。そして、この蛍
光２６はビデオカメラ８に入射し、ビデオカメラ８が撮
像した映像信号は前記判定器２２に送られて画像処理さ
れる。
有機絶縁物を励起し、その結果、保護膜４は波長が４０
０〜５００ｎｍの蛍光２６を発生する。そして、この蛍
光２６はビデオカメラ８に入射し、ビデオカメラ８が撮
像した映像信号は前記判定器２２に送られて画像処理さ
れる。
この際、保護膜４にピンホール５が存在すると、このピ
ンホール５の部分ではアルミＷ１．３が露出しているの
で蛍光が発生しない。従って判定器２２はピンホール５
を同じ形状をした黒レベルの画像２７として認識する（
第３図参照）。又、ピンホールを発生していない保護膜
の部分は波紋部６を含めてすべて白レベルの画面として
認識される。
ンホール５の部分ではアルミＷ１．３が露出しているの
で蛍光が発生しない。従って判定器２２はピンホール５
を同じ形状をした黒レベルの画像２７として認識する（
第３図参照）。又、ピンホールを発生していない保護膜
の部分は波紋部６を含めてすべて白レベルの画面として
認識される。
従来の検査方法において、可視光を使用した場合に見ら
れるドウナツツ状、又は蛇の目状等の判別困難な黒レベ
ルの画像を生じないので、ピンホール５だけを容易に検
出することができる。
れるドウナツツ状、又は蛇の目状等の判別困難な黒レベ
ルの画像を生じないので、ピンホール５だけを容易に検
出することができる。
尚、本発明は前述の実施例にのみ限定されるものではな
く、例えば保護膜を有機絶縁物で形成する代りに、それ
以外の紫外線照射によって発光する材料で形成してもよ
いこと、又、本発明の方法をコンパクトディスクに適用
する以外に、保護膜を塗布した印刷物、又は一般の産業
用部品に適用してもよいこと、更にビデオカメラはＣＣ
Ｄ式等、その方式にこだわらない等、その他本発明の要
旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を加え得ることは勿
論である。
く、例えば保護膜を有機絶縁物で形成する代りに、それ
以外の紫外線照射によって発光する材料で形成してもよ
いこと、又、本発明の方法をコンパクトディスクに適用
する以外に、保護膜を塗布した印刷物、又は一般の産業
用部品に適用してもよいこと、更にビデオカメラはＣＣ
Ｄ式等、その方式にこだわらない等、その他本発明の要
旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を加え得ることは勿
論である。
以上に述べたように本発明は次の優れた効果を発揮する
。
。
い〕波長３６５ｎｍ近傍の紫外線を保護膜で被覆した製
品に照射し、保護膜から蛍光を発生させるので、ピンホ
ールを発生した部分は蛍光を発生しない。従ってピンホ
ールの有無を容易に且つ明確に検出することができる。
品に照射し、保護膜から蛍光を発生させるので、ピンホ
ールを発生した部分は蛍光を発生しない。従ってピンホ
ールの有無を容易に且つ明確に検出することができる。
〔１１〕 ピンホールは、同じ形状の画像にそのまま撮
像されるので、画像処理が容易であり、検査業務の品質
向上及び作業能率の向上を図ることができる。
像されるので、画像処理が容易であり、検査業務の品質
向上及び作業能率の向上を図ることができる。
第１図は本発明の方法を実施するための装置の一例を示
す側面図、第２図は紫外線で照射されたコンパクトディ
スクの作用を説明するための断面図、第３図はピンホー
ルの画像の説明図、第４図は従来の検査方法を説明する
ためのコンパクトディスクの断面図、第５図（Ａ） （
Ｂ）は従来の検査方法で撮像した際のピンホールの画像
及び波紋部の画像の説明図、第６図は一般的なコンパク
トディスクの断面図である。 １・・・コンパクトディスク ４・・・保護膜 ８・・・ビデオカメラ２１
・・・紫外線照射器 ２２・・・判定器２７・・・ピ
ンホールの画像
す側面図、第２図は紫外線で照射されたコンパクトディ
スクの作用を説明するための断面図、第３図はピンホー
ルの画像の説明図、第４図は従来の検査方法を説明する
ためのコンパクトディスクの断面図、第５図（Ａ） （
Ｂ）は従来の検査方法で撮像した際のピンホールの画像
及び波紋部の画像の説明図、第６図は一般的なコンパク
トディスクの断面図である。 １・・・コンパクトディスク ４・・・保護膜 ８・・・ビデオカメラ２１
・・・紫外線照射器 ２２・・・判定器２７・・・ピ
ンホールの画像
Claims (1)
- 保護膜で被覆した製品に、波長が３６５ｎｍ近傍の紫外
線を照射して前記保護膜から蛍光を発生させ、前記蛍光
をビデオカメラで受光して前記保護膜の蛍光発光像を撮
像することを特徴とするコンパクトディスク等の表面保
護膜の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21204089A JPH0375546A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21204089A JPH0375546A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0375546A true JPH0375546A (ja) | 1991-03-29 |
Family
ID=16615875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21204089A Pending JPH0375546A (ja) | 1989-08-17 | 1989-08-17 | コンパクトディスク等の表面保護膜の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0375546A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6719605B2 (en) | 2001-12-28 | 2004-04-13 | Tomy Company, Ltd. | Driving device and action toy |
| JP2004325346A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ピンホール検出方法及びメンブレインエレクトロードアッセンブリの生産方法 |
| DE10344384A1 (de) * | 2003-09-23 | 2005-05-12 | Bundesdruckerei Gmbh | Datenträger mit photolumineszierenden Partikeln als Authentifizierungsmerkmal |
| WO2006078435A1 (en) * | 2005-01-21 | 2006-07-27 | Innovative Productivity, Inc. | Fluorescent coating void detection system and method |
| GB2452963A (en) * | 2007-09-21 | 2009-03-25 | Rolls Royce Plc | Measuring surface roughness and assessing degradation of a protective coating and oxide forming layer on a component |
| WO2020010925A1 (zh) * | 2018-07-12 | 2020-01-16 | 同方威视技术股份有限公司 | 输送装置及具有该输送装置的成像检测设备 |
Citations (3)
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| JPS6342333A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Toshiba Corp | 鉄心の焼鈍方法 |
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-
1989
- 1989-08-17 JP JP21204089A patent/JPH0375546A/ja active Pending
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