JPH0373847A - 液体クロマトグラフィを利用した分析方法 - Google Patents

液体クロマトグラフィを利用した分析方法

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JPH0373847A
JPH0373847A JP6424290A JP6424290A JPH0373847A JP H0373847 A JPH0373847 A JP H0373847A JP 6424290 A JP6424290 A JP 6424290A JP 6424290 A JP6424290 A JP 6424290A JP H0373847 A JPH0373847 A JP H0373847A
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高田 芳矩
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三男 伊藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液体クロマトグラフィを利用した分析方法お
よび分析装置に係り、特に試料中の微量な被検物質を測
定するのに好適な分析方法および分析装置に関する。
〔従来の技術〕
液体クロマトグラフィを利用して試料中の被検物質(被
検成分と称する場合もある)を分離分析する場合に用い
られる溶離液は、不純物を含まない溶液を用いるべきで
あると一般に云われている。
その理由は、不純物の存在が分析結果に悪影響をもたら
すと考えられているからである。
一方、″ベーシック液体クロマトグラフィ、第8.1〜
8.20頁、パリアン・エアグラフ発行(1971) 
”  (Basic Liquid Chromato
graphy。
p p 8.1〜8.20. Varian Aero
graph (1971))は、溶離液中の不純物が測
定の妨害又は誤差にはならない旨を教示している。この
第1の先行技術においては、溶離液が不純物として試料
中の被検物質と同じ物質を含んでいたとしても、連続的
に流される溶離液が分離カラム内の充填剤との間で、−
旦、平衡状態に達すれば一定のバックグラウンドとなる
のであるから、試料中の被検物質はそのバックグラウン
ド上に現われるからであると説明されている。
しかしながら、″分析化学、第38巻、第94〜97頁
(1989)”においては、イオンクロマトグラフィに
よるアルカリ金属イオンやアンモニウムイオンの分析を
行なう場合、被検試料が塩酸抽出液のような強酸性の試
料では、試料中の水素イオンの影響を受けてカラムの保
持力が弱まり分析精度が低下することが報告されている
。この第2の先行技術では、溶離液中の不純物と試料中
のマトリックス成分との関係については何も論じられて
いない。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明者らは、液体クロマトグラフィ分析法の検討にお
いて、試料が注入されると、溶離液と分離カラム内の充
填剤との間で遠戚されていた平衡状態が、−時的に崩れ
て、その分析値に影響を与えることを見出した。このよ
うな分析誤差の原因は、試料内の被検物質と同じ種類の
物質が、溶離液中に含まれることに起因することが考え
られる。
従って、溶離液中の不純物を除くことができれば、その
ような分析誤差を低減できるかも知れない。
しかし、あらゆる場合に、溶離液中の不純物を完全に除
去することは困難である。
本発明の目的は、溶離液中に、試料内の被検物質と同じ
物質からなる不純物が含まれている場合であっても、被
検物質を高い精度で測定することができる液体クロマト
グラフィ利用の分析方法および分析装置を提供すること
にある。
本発明の他の目的は、試料中のマトリックス成分の存在
が被検物質の測定値に悪影響をもたらすことを是正する
ことができる分析方法および分析装置を提供することに
ある。
〔課題を解決するための手段〕
液体クロマトグラフィによる試料中の被検物質の測定値
は、溶離液中にその被検物質と同じ不純物種類のが含ま
れている場合には、誤差がもたらされることが本発明者
らによって確認された。本発明者らが、さらに実験を進
めた結果、このような測定誤差は、液体試料中に含まれ
るマトリックス成分の濃度に関係があるという現象を、
本発明者らは見い出した。本発明は、このような知見の
検討の結果なされたものである。
この場合のマトリックス成分とは、液体試料において、
被検物質と溶媒を除外した他の成分の総称である。
本発明の特徴は次のようである。まず、分析されるべき
原試料に由来しており、含有されるマトリツクス成分の
濃度が異なる複数の試料溶液を準備する。このような試
料溶液は例えば原試料を希釈することによって得られる
が、濃縮などの他の方法であってもよい。準備される試
料溶液としては、複数の希釈された試料に限られるわけ
ではなく、試料溶液の1つに原試料自体を準備してもよ
い。溶離液によって平衡化されている分離カラム内に、
1つの試料溶液を導入し、被検物質に基づく第1の測定
値を得る。次いで、他の試料溶液を分離カラム内に導入
し、同じ種類の被検物質に基づく第2の測定値を得る。
そして、第1の測定値と第2の測定値に希釈倍率又は濃
縮倍率を考慮して変換し、それらの変換された値を関係
づけることによって、マトリックス成分による影響が実
質的に無い修正された値を得る。
〔作用〕
不純物の含まれている溶離液が分離カラム内の充填剤と
の平衡状態に達したあと、マトリックス成分を含む液体
試料を分離カラム内に導入すると、次のように挙動する
と考えられる。
マトリックス成分が高濃度に含まれる液体試料が分離カ
ラム内に導入されると、分離カラム内の平衡状態が一時
的に変化する。液体試料を導入する前には、溶離液中の
不純物も分離カラム内の充填剤に吸着された状態で平衡
状態を保っていたのであるが、液体試料の導入によって
、吸着されていた不純物は大きな比率をもって離脱され
、溶離液の流れに乗って短時間内に分離カラムの外へ流
出してしまう。不純物が試料中の被検物質と同じ物質の
場合を想定すると、充填剤への吸着量が極端に少なくな
る。次いで、液体試料中の被検物質が充填剤に吸着され
るが、その被検物質は不純物の吸着不足分をも補わなけ
ればならない。液体試料のバンドが分離カラム内を通過
すれば、分離カラム内は元の平衡状態に戻り、被検物質
は分離カラム内で移動されるのであるが、分離カラムか
ら溶出される被検物質の量は、試料として導入された量
よりもはるかに少なくなる。つまり、被検物質の測定値
は負の誤差をもたらされる。この誤差の大きさは、吸着
不足を補う量に相当する。
一方、マトリックス成分が低濃度に含まれる液体試料が
分離カラム内に導入された場合には、高濃度の場合に比
べて影響の程度が小さくなるけれども、同様の理由で被
検物質の測定値は、負の誤差をもたらされる。
本発明者らは、試料中のマトリックス成分の濃度と被検
物質の測定値が受ける負の誤差との間には、実質的な比
例関係があることを見い出した。
この測定値としては被検物質に基づくピーク面積を採用
するのが好適であるが、場合によってはピーク高さを用
いてもよい。もし、液体試料中にマトリックス成分が存
在しなければ、被検物質の測定値は誤差を持たなくなる
。従って1本発明では、マトリックス成分の含有量が異
なる複数の試料溶液を測定した値を用いて、試料の溶媒
中に被検物質だけが含まれている状態を予測することに
よって、被検物質量の正確な分析結果を得るようにした
同じ原試料に由来して準備されるマトリックス成分濃度
の違う試料溶液は、2つに限られない。
むしろ、3つ以上で数の多い方が分析結果の信頼性も高
める。
〔実施例〕
本発明に基づ〈実施例を説明するのに先立ち、第4図〜
第6図を参照して、予備実験で得られた結果を説明する
第1および第2の予備実験においては、分離カラムとし
ては陽イオン交換樹脂を充填したカラムを用い、検出器
としては電導塵モニタを用い、溶離液としては0.5m
Mの酒石酸と0.5mM のエチレンジアミンを含む水
溶液を用いた。
第4図および第5図を参照して第1の予備実験を説明す
る。市販されている酒石酸とエチレンジアミンを純水に
溶解して溶離液を調製した。一方、試料溶液は5種類準
備した。試料溶液にはマトリックス成分として酒石酸お
よびエチレンジアミンを加えた。ただし、マトリックス
成分濃度は、第1の試料が0.5mMであり、第2の試
料が1.0mMであり、第3の試料が2.0mMであり
、第4の試料が5.0mMであり、第5の試料が20.
0mMである。各試料溶液の溶媒は純水である。すべて
の試料溶液は、Mg++、Ca++およびSr++がt
 ppmずつ含まれるように調製された。分離カラムへ
の試料溶液の注入容量は、すべて同じにした。ここでは
、試料溶液の導入容量が20uQである。
分離カラムを平衡化したあと、第1〜第5の試料溶液を
1つずつ分離カラムに導入し、それぞれに対応するクロ
マトグラムを記録計のチャート紙上に出力した。このよ
うにして得た測定結果を第4図に示す。
第4図において、(1)〜(5)のクロマトグラムは第
1〜第5の試料溶液に基づくものである。各クロマトグ
ラムのCa+十のピークに注目すると、マトリックス成
分濃度が5 、0 m M (クロマトグラム(4))
および20.0mM(クロマトグラム(5))である場
合には、Ca++は負のピークを示している。この原因
は、溶離液中にCa+十が不純物として含有されている
ことによる。ちなみに、この溶離液を原子吸光法により
測定した結果、針子PPbのCa+十が検出された。
次に、第4図における被検物質であるCa++yMg+
+、Sr+十のピーク面積と、第1〜第5の試料溶液の
マトリックス成分濃度との関係を第5図に示す。
第5図において、Ca+十のピーク面積値は、マトリッ
クス濃度に反比例して変化している。マトリックス濃度
3mMのところで面積ゼロとなっているが、これは用い
た溶離液中の不純物であるCa+十の吸着量がバランス
したものと考えられる。
同様に、Mg++もマトリックス濃度の増大とともにピ
ーク面積が低下する傾向を示しているが、溶離液中に不
純物としてのM g +十の含有量がCa+十に比べて
極微量であることが分かる。Sr++は、マトリックス
濃度が喬わっても、ピーク面積が変わらないことから、
溶離液中にはSr++は不純物としては含まれていない
と推定される。
次に、第6図を参照して第2の予備実験を説明する。溶
離液の組成物である酒石酸およびエチレンジアミンは、
不純物を含まないように充分精製された。そして、不純
物の代りに、溶離液中にはM g++、 Ca++、 
S r++t B、a+十をそれぞれlppm含有させ
た。
一方、試料溶液は5種類準備した。これらの試料溶液は
、溶媒が純水であり、マトリックス成分が酒石酸および
エチレンジアミンであり、被検物質がM g++、 C
a++、 S r++、 B a+十である。酒石酸と
エチレンジアミンは同じモル濃度に調製した。マトリッ
クス成分濃度は、第1の試料溶液がゼロmMであり、第
2の試料溶液が0.5mMであり、第3の試料溶液が1
.0mMであり、第4の試料溶液が2.0mMであり、
第5の試料溶液が5.0mMである。つまり、第2と試
料溶液のマトリックス濃度は、溶離液と同じであり、第
3〜第5の試料溶液のマトリックス濃度は、溶離液より
も高い。第1〜第5のすべての試料溶液中には、M g
++、 Ca+十、 S r++、 B a+十をそれ
ぞれ1 ppmずつ加えた。これらの濃度は、溶離液中
の同種類の物質の濃度と同じである。各試料溶液の導入
容量は、すべて20μ息である。
これらの試料溶液を第1の予備実験と同様に測定した。
得られた分析結果を第6図に示す。第6図に示すように
、第工〜第5の試料溶液について得られた測定値(ピー
ク面積)は、各試料溶液中のマトリックス濃度と密接な
関係がある。第2の試料のようにマトリックス濃度およ
び被検物質濃度が溶離液と一致する場合は、被検物質の
ピークが得られない。第3〜第5の試料溶液に基づくよ
うに、試料中の被検物質濃度と溶離液中の同じ種類の不
純物濃度が同じであっても、マトリックス濃度が高くな
るほど被検物質に関する負の誤差が大きくなる。
ここで、重要な知見は、第1の試料溶液に基づいて得ら
れたマトリックス濃度がゼロのときの各被検物質のピー
ク面積値が、第2〜第5の試料溶液に基づいて得られた
各ピーク面積値を直線で結ぶことによってマトリックス
濃度がゼロの点に外挿して得られた値に、完全に一致す
るという点である。
このことは、仮に、実際的な分析作業においてマトリッ
クス成分の濃度をゼロにすることができないとしても、
そのような無限希釈時の状態における被検物質の量を、
同じ原試料に由来して調製したマトリックス濃度の異な
る複数の試料溶液の測定値から推定することができる可
能性を教示している。
第6図の結果で得られた各被検物質の正しい量は、第2
〜第5の試料溶液のマトリックス濃度をパラメータとし
て各被検物質の面積値をプロットし、これらの面積の値
を直線で結ぶことによってマトリックス濃度がゼロの点
に外挿するという手法を用いることにより得られるので
、原試料の希釈方法やデータ処理の方法を工夫すれば、
実際の試料の分析測定のためにこのような手法を適用す
ることができる。
次に、第1図〜第3図Bを参照して本発明の一実施例を
説明する。
第1図の分析装置において、溶離液槽l内の溶離液は、
送液ポンプ2によって試料希釈装置3を介して分離カラ
ム7に供給され、さらにフローセル8を経て排出口15
から流出される。送液ポンプ2は、送液流量をμQ/分
のオーダまで制御可能なポンプであり、二連ピストンを
備えた往復動タイプのポンプである。この種のポンプは
、例えば米国特許第4,810,168号に示されてい
る。第工図の装置では、送液ポンプ2の流量を1 m 
Q 7分に設定して溶離液を送液した。
分離カラム7およびフローセル8は、カラムオーブン6
内に収納されており、40℃の温度に維持される。分離
カラム7は、内径が4m、長さが50mmのステンレス
鋼製円筒を有し、この咽部内に低交換容量の陽イオン交
換樹脂が密に充填されてる。この種の分離カラムは、例
えば、日立具バツクドカラム#2710ICとして市販
されている。フローセル8内には、電導度モニタIOに
付随した検出用電極が配置されている。電導度モニタ1
0は、演算・制御装置として機能するマイクロコンピュ
ータ5の指示によって検出信号の増幅率を変更すること
ができる増幅器を内蔵している。
フローセル8および電導度モニタ10を含む検出器によ
って得られたアナログ信号は、アナログ・ディジタル変
換器11を介して、ディジタル信号として演算・制御装
置5に取り込まれ、必要なデータ処理がなされる。一方
、検出器からのアナログ信号は、記録計14のチャート
紙上に、クロマトグラムとして記録される。
第工図の分析装置においては、検出器として日立製L−
3700型電導度モニタおよびフローセルを採用した。
検出器としては、分析すべき試料の種類に応じて、分光
光度計、蛍光光度計、電気化学的検出器などを採用する
ことができる。
自動希釈装置3は、流路内で原試料を複数の希釈率の試
料溶液を調製するように希釈する機能を有するものでも
よく、あるいは、流路の外に配置された容器内で原試料
を希釈した後、その希釈された試料溶液を流路内へ自動
的に導入するものであってもよい。ここでは、流路内で
希釈する例を第2図A〜第3図Bに示した。この希釈装
置の動作については後述する。
測定すべき原試料に対し、希釈倍率の異なる試料溶液を
いくつ用いるのかということを決めたあと、オペレータ
は操作パネル4にそれらの希釈倍率のデータを打ち込む
。操作パネル4から入力されたデータは演算・制御装置
5内に取り込まれ、内蔵されている記憶部に記憶される
。このデータに基づいて、演算・制御装置5は、自動希
釈装置3を動作させ、あらかじめ定められているタイミ
ングで、分離カラム7内へ試料溶液を1つずつ導入せし
める。指示された数の試料溶液のすべてが分離カラム7
内に導入されたときに、自動希釈装置3は1つの原試料
に関するサンプリング動作を終了する。他の原試料につ
いても測定したい場合には、その情報をあらかじめ操作
パネル4から入力しておく。
分離カラムが平衡化されている状態で希釈装置3から、
所定の希釈倍率に希釈された第1番目の試料溶液が分離
カラム7内に一定量導入されると、その試料は分離カラ
ム7内で成分分離され分離カラム7から溶出される。こ
れに伴って、検出器において分離された各成分のピーク
が検出され、被検物質のピーク面積値がマイクロ・コン
ピュータ5の記憶部に記憶される。
その間に、希釈装置3は、原試料と純溶媒を混合し、入
力されている第2番目の希釈倍率に適合する希釈倍率を
有する第2番目の試料溶液を調製する。第1番目の試料
溶液の測定動作が終了したあと、分離カラム7が平衡化
されている状態で、希釈装置3は、第1番目の試料溶液
の導入容量と同じ容量の第2番目の試料溶液を分離カラ
ム7へ導入する。第2番目の試料溶液の希釈倍率は、第
1番目の試料溶液の希釈倍率とは異なるので、これらの
試料溶液内のマトリックス濃度は違っている。この第2
番目の試料溶液に関しても、第1番目の場合と同じ種類
の被検物質のピーク面積値が測定され、それらの値は記
憶部に記憶される。
分析精度を高めるためには、3つ以上の試料溶液を測定
するのが望ましいが、ここでは説明の煩雑さを避けるた
め、2つの試料溶液の測定値から被検物質の修正された
量を求める例を説明する。
演算・制御装置5は、予定されたすべての希釈された試
料の測定が終了したとき、原試料に関して得られたそれ
ぞれの試料溶液に基づく測定値(ピーク面積値又はピー
ク高さ値)を、操作パネル4からの指示入力に基づいて
、プリンタ12および/又はCRT13に出力せしめる
ことができる。
同じ原試料に由来する複数の試料溶液の測定が終了した
あと、演算・制御装置5は、各試料溶液に関して得られ
たピーク面積値又はピーク高さ値に、それぞれ対応する
入力済の希釈倍率を乗じることによって、各実測値に関
する変換された値をそれぞれ得る。これらの変換された
値は、原試料が分離カラム7内に導入されたと仮定した
ときの被検物質の量に対応することになる。
次いで、演算・制御装置5は、すべての変換された値を
用いて、原試料中にマトリックス成分が含まれないと仮
定される状態における。すなわち、純溶媒中に被検物質
だけが含まれていると仮定される状態における各被検物
質のピーク面積値又はピーク高さ値を演算する。このよ
うな修正された値は、被検物質の数と同数だけ得られる
。この修正された値も、必要に応じてプリンタ12およ
び/又はCRT13に出力させることができる。このよ
うな演算は、希釈倍率の異なる変換された値を用いマト
リックス濃度をパラメータとした関係直線の傾きを求め
、その関係直線を希釈倍率が無限大である場合に外挿す
ることによって、達成される。
さらに、演算・制御装置5は、あらかじめ記憶されてい
る検量線と外挿によって得られた修正された値とを対応
づけることによって、各被検物質の濃度を演算し、その
結果をプリンタ12および又はCRT13に出力する。
次に、第1図の分析装置において用いた希釈装置3の一
例を、第2図A〜第3図Bを参照して説明する。第2図
Aおよび第2図Bは原試料に対する希釈倍率が高い場合
の動作を示しており、第3図Aおよび第3図Bは原試料
に対する希釈倍率が低い場合の動作を示している。どの
ような希釈倍率であっても、同じ原試料に由来する複数
の試料溶液が分離カラムに導入される容量は同じである
また、同じ原試料に由来する複数の試料溶液を分析動作
する間は、分離カラムには同じ溶離液が供給される。
原試料から希釈倍率の高い試料溶液を得る場合には、制
御・演算装置5の指示によってサンプリングバルブ21
および六方バルブ26が、まず第2図Aのような状態に
設定され、希釈装置3内には純溶媒からなる希釈液が流
されている。この状態で、分離カラム7内には送液ポン
プ2によって送られる溶離液が流通され1分離カラム7
内は溶離液と充填剤との間の平衡化が達成されている。
第2図Aの流路内には、試料注入器27からの所定容量
の原試料および希釈液槽30内からの希釈液(純溶媒)
が導入される。希釈液は送液ポンプ29によって所定流
量で送液される。試料注入部28に試料注入器27から
一定量の原試料が注入されると、試料は希釈液に挾まれ
て移送される。
原試料のバンドは、大容量コイル25および希釈コイル
23を流れる間に希釈液内に拡がる。これらのコイルが
長いほど希釈倍率が大きくなる。拡散された試料バンド
の中心が、サンプリングバルブ21のサンプリングコイ
ル22に到達したときに、演算・制御装置5の指令によ
りサンプリングバルブ21が切り換えられる。
サンプリングバルブ21が切り換わると、第2図Bの流
路となる。所定容量のサンプリングコイル22によって
切り取られた所定倍率の試料溶液は、ポンプ2から送ら
れる溶離液の流れにより分離カラム7に導入される。
先の試料溶液の測定が終了したあと、先に導入したもの
と同じ原試料を導入するための制御がなされる。第3図
Aに示すように、希釈倍率の低い試料溶液を調製するた
めに、六方切換バルブ26は小容量コイル24が試料注
入部28および希釈コイル23と連通されるように切換
えられる。試料注入器27から一定量の原試料が注入さ
れると、試料のバンドは希釈液によって拡散されながら
小容量コイル24および希釈コイル23を経てサンプリ
ングコイル22に導かれる。サンプリングコイル22を
満たす試料溶液の希釈の程度は、先の試料溶液の希釈倍
率よりも低い。これは、小容量コイル24の長さが大容
量コイル25の長さよりも短くされているからである。
試料のバンドの拡がりの中心がサンプリングコイル22
に到達したときに、第3図Bに示すようにバルブ21を
切り換え、サンプリングコイル22によって一定容量に
切り取った試料溶液を溶離液によって分離カラムに導き
分離分析する。コイル23,24,25の長さおよびポ
ンプ29による希釈液の送液流量は、サンプリングコイ
ル22において所望の希釈倍率が得えられるように、あ
らかじめ条件設定しておく。試料注入器による試料注入
タイミングとサンプリングバルブ21の切換タイミング
の関係も、あらかじめ演算・制御装置5に入力して条件
設定しておく。
次に、第1図の分析装置を用いた測定例について説明す
る。
測定例1 溶離液は、充分に精製した酒石酸およびエチレンジアミ
ンを純水に溶かし、それぞれが0.5mM含まるように
調製された。この溶離液中には、不純物の代りに、M 
g++、 Ca++、 S r++、 B a++がそ
れぞれ1 ppm添加された。希釈装置3に供給される
原試料として、Mg++、Ca++、Sr++。
Ba+十をそれぞれ25ppm含む液を準備した。この
原試料の溶媒は純水であり、マトリックス成分は2mM
酒石酸および2mMエチレンジアミンである。原試料を
希釈するための希釈液は、純水である。
1つの原試料に由来するマトリックス濃度の違う試料溶
液を4種類調製した。第1の試料溶液は希釈倍率が1倍
であり、原試料自体を分離カラム7に注入せしめた。こ
の第1の試料溶液のマトリックス濃度比は1.0 であ
る。第2の試料溶液は、希釈倍率が2倍であり、原試料
が純水で2倍に希釈されるように調製された。この第2
の試料溶液のマトリックス濃度比は0.5 である。第
3の試料溶液は、希釈倍率が4倍であり、原試料が純水
で4倍に希釈されるように調製された。この第3の試料
溶液のマトリックス濃度比は0.25である。第4の試
料溶液の希釈倍率は10倍であり、原試料が純水で10
倍に希釈された。この第4の試料溶液のマトリックス濃
度比は0.10である。
第1〜第4の試料溶液に関し、順次20μBずつ分離カ
ラム7に導入され、被検物質であるM g++、 Ca
++、 S r++、 B a+十が検出された。
それぞれの被検物質毎に、演算・制御装置5によってピ
ーク面積値と希釈倍率の積を演算せしめ、プリンタ12
にその結果を出力させた。
この積の値とマトリックス濃度の関係を第7図に示すe
 M g++、 Cfi++、 S r++、 B a
+十のそれぞれについて第1〜第4の試料溶液に基づく
積の種から直線の傾きを求め、マトリックス濃度比がゼ
ロの点における値を求める。マトリックス成分による影
響が無いこの修正された値から原試料中の被検物質の濃
度を求めたところ、調製された原試料の添加量と一致し
た。
測定例2 溶離液は、市販の濃硝酸を純水と混合して1.6mMの
硝酸水溶液として調製された。ポンプ2による溶離液の
流量は0 、7 m Q /分である。この測定例は、
溶離液中の不純物濃度を調べるために行われた。試料溶
液は4種類準備した。溶離液中のNa中とN H4+の
含有量を知るために、すべての試料溶液中に、Na中お
よびN H4+をそれぞれ2 ppm含有させた。各試
料溶液の共通のマトリックス成分として純度の高い硝酸
を加えた。マトリックス成分の含有量は、第1の試料溶
液が2mM、第2の試料溶液が3mM、第3の試料溶液
が6.5mM、第4の試料溶液が8mMである。各試料
溶液の溶媒は純水である。
これらの試料溶液を、分離カラム7に20μαずつ順次
導入し、それぞれの試料溶液に関する成分ピーク高さを
測定した。結果を第8図に示す。
Na中と試料中のマトリックス成分の濃度が高くなるに
従って測定値が低くなり、グラフの勾配からマトリック
ス濃度がゼロの点に外挿した値は、Na十濃度が2 p
pmに対応した。これらの結果から、溶離液中には約3
0ppbのNa中が不純物として含有されることが推定
された。一方、NH4+はマトリックス成分の濃度が変
化しても測定値に変化がなかったので、溶離液中にはN
 H4+が不純物として含まれていないことがわかった
第1図の分析装置においては、操作パネル4から入力さ
れた希釈倍率の情報に基づいて、制御演算装置5からの
指令によりそれらの希釈倍率に対応するように検出器1
0の出力感度を高めることもできる。この場合、測定値
と希釈倍率の積を演算する必要がなくなり、第7図と同
様のデータが検出器10において得られるので、それら
をレコーダ14および/又はプリンタ12に出力させる
次に本発明の他の実施例について説明する。この分析装
置の全体構成は、大部分が第1図のものと同様であるが
、希釈装置3の構成が第2図Aのものとは相違する。す
なわち、例えば日立製AS−4000型として市販され
ているような希釈機能を有するオートサンプラを用いる
。このオートサンプラでは、プレート上にサンプルおよ
び希釈液を配置しておくことにより、ピペッティングノ
ズルがプレート上をX方向、Y方向および上下方向に移
動し、容器内へ試料および希釈液を加える。
所定倍率に希釈された試料溶液は、ピペッティングノズ
ルにより液体クロマトグラフィの試料注入口へ所定容量
注入される。
次に、試料中のマトリックス成分を除去する例について
説明する。試料を流路内に導入するときにマトリックス
成分を除去することができれば、被検物質の測定値を低
い誤差で得ることができる。
この場合、マトリックス成分を除去し得るカラムを分離
カラムと試料注入部の間に配置するのが好適な構成とな
る。
試料溶液が、マトリックス成分として水酸化ナトリウム
を含み、CQ’″およびSO4″″−の被検物質を測定
する場合には、マトリックス成分除去カラムとしてH形
の陽イオン交換樹脂を充填したカラムを用いることがで
きる。マトリックス成分除去カラムとして、内径が6m
++、長さがLoneの円筒管に日立カスタムイオン交
換樹脂#2613を充填したカラムを用いた。試料とし
て0.2 規定のN a OHを含む水溶液を用いた。
この試料を除去カラムに2mQ通して処理し、処理済試
料を液体クロマトグラフィ分離してCQ−および5O4
−を測定した。これにより陰イオンからなる被検物質を
高感度に測定できた。
また、塩酸酸性溶液中の微量金属イオンを分析する際に
は、OH形の強塩基性陰イオン交換樹脂を充填したカラ
ムを用いるのがよい。これによって、試料中の陰イオン
を除去することができるので、被検成分である金属イオ
ンを高精度で分析することができる。
試料中のマトリックス成分が除去されているか否かのチ
エツクには、同一試料を希釈液(純溶媒)により希釈し
て希釈倍率の異なる試料を少なくとも2種調製し、前記
と同様にして分析を行なった時のピーク面積値と希釈倍
率との積を比較することで、容易に判定することができ
る。もし、両者の値に差が認められるときは、さらに、
マトリックスの除去を行なって用いる。
溶離液中の不純物を除去したい場合には、第1図のポン
プ3と希釈装置3の間に、溶離液中の不純物を除去する
カラムを設けてもよい。
溶離液中に、被検物質と同じ物質が不純物として含まれ
ていなければ、試料マトリックスの影響を受けず分析で
きることは、前記実施例の結果から明らかである。この
ような溶離液中の不純物を除去するために、不純物除去
カラムとして、日立カスタムイオン交換樹脂32650
Lを酸洗浄しH形にしたものを、内径4画×長さ40n
mのカラムに充填して用いた。これは、アルカリ金属、
アンモニウム、アルカリ土類金属1重金属などの不純物
を除去することができ、マトリックス濃度の影響を受け
ることなく分析を行なうことができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、試料中に被検物質以外のマトリックス
成分が含まれていても、被検物質測定値に対するマトリ
ックス成分による影響を排除することができるので、正
確な分析結果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明を適用した分析装置の一実施例の全体
構成を示す概略図、第2図Aおよび第2図Bは、第1図
の実施例における希釈装置の動作を説明するための図、
第3図Aおよび第3図Bは、同じ希釈装置における低い
希釈倍率のときの動作を説明するための図、第4図は、
予備実験において得られたクロマトグラムの例を示す図
、第5図は、第4図の結果をグラフに表わした図、第6
図は、もう工つの実験結果を示す図、第7図は、第1図
の分析装置で得られた測定結果を説明するための図、第
8図は、第工図の分析装置で得られた他の測定結果を説
明するための図である。 1・・・溶離液槽、3・・・希釈装置、4・・・操作パ
ネル。 5・・・演算・制御装置、7・・・分離カラム、10・
・・電導度モニタ、12・・・プリンタ、14・・・記
録計、21・・・サンプリングバルブ、24・・・小容
量コイル、25・・・大容量コイル、27・・・試料注
入器、29・・・第2図A 第1図 第2図B 第 3 図 第 図 2    3    4 マトリックス1度(mM) 第 図 第 図 2    3    4 マトリックス1度(mM) 図 (1) (2) (3) (4) (5) 0 0 0 ○ 0 ○ 0 時 間(分)−一一 第 7 図 ○ 2 Q4     06      Q8 マトリックス1度比 0 第 図 試料中の硝酸の1度(mM)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、溶離液が流通される分離カラムに試料を導入してこ
    の試料中に含まれる成分を分離し、上記試料中の被検物
    質を検出器によつて検出する液体クロマトグラフィ利用
    の分析方法において、上記分離カラム内を上記溶離液に
    よつて平衡化すること、同じ原試料に由来しており含有
    されるマトリックス成分の濃度が異なる複数の試料溶液
    を1つずつ異なるタイミングで上記分離カラムに導入す
    ること、一方の試料溶液のクロマトグラフィ分離に伴つ
    て上記分離カラムから溶出された被検物質に基づく第1
    の測定値を得ること、他方の試料溶液のクロマトグラフ
    ィ分離に伴つて上記分離カラムから溶出された上記被検
    物質と同じ種類の被検物質に基づく第2の測定値を得る
    こと、上記第1の測定値と上記第2の測定値を用いて上
    記マトリックス成分による影響を補正すること、を含む
    ことを特徴とする液体クロマトグラフィ利用の分析方法
    。 2、請求項第1項記載の分析方法において、上記複数の
    試料溶液の内の少なくとも1つは純溶媒によつて所定の
    希釈倍率となるように希釈されたものであることを特徴
    とする分析方法。 3、請求項第1項記載の分析方法において、上記第1お
    よび第2の測定値を出力装置によつて出力することを特
    徴とする分析方法。 4、請求項第1項記載の分析方法において、上記第1お
    よび第2の測定値は被検物質のピーク面積又はピーク高
    さであることを特徴とする分析方法。 5、請求項第4項記載の分析方法において、上記影響の
    補正は、上記複数の試料溶液に含まれる上記マトリック
    ス成分の濃度が極小であると仮定されたときの上記被検
    物質のピーク面積又はピーク高さを得る工程を含むこと
    を特徴とする分析方法。 6、溶離液が流通される分離カラムに試料を導入してこ
    の試料中に含まれる成分を分離し、上記試料中の被検物
    質を検出器によつて検出する液体クロマトグラフィ利用
    の分析方法において、上記分離カラム内を上記溶離液に
    よつて平衡化すること、同じ原試料に由来しており希釈
    倍率の異なる第1の試料溶液および第2の試料溶液に関
    する希釈倍率の情報を演算・制御装置へ入力すること、
    上記第1の試料溶液を上記分離カラムに導入し、上記分
    離カラムから溶出された特定の被検物質に基づく第1の
    測定値を得ること、上記第2の試料溶液を上記分離カラ
    ムに導入し、上記分離カラムから溶出された上記特定の
    被検物質と同じ種類の被検物質に基づく第2の測定値を
    得ること、上記第1および第2の測定値が希釈倍率が1
    倍のときの大きさに相当するように、上記第1および/
    又は第2の測定値を上記演算・制御装置によつて変換す
    ること、上記変換の結果得られた第1および第2の測定
    値に基づいて、上記第1および第2の試料溶液中に共通
    に含まれるマトリックス成分による影響が実質的に無い
    修正された値を上記演算・制御装置によつて演算するこ
    と、を含むことを特徴とする液体クロマトグラフィ利用
    の分析方法。 7、請求項第6項記載の分析方法において、上記修正さ
    れた値は、上記被検物質の濃度として出力装置によつて
    出力されることを特徴とする分析方法。 8、請求項第6項記載の分析方法において、上記変換さ
    れた測定値は、上記第1および/又は第2の測定値に希
    釈倍率を乗じた値であることを特徴とする分析方法。 9、請求項第8項記載の分析方法において、上記第1お
    よび第2の試料溶液の内の一方が原試料自体であること
    を特徴とする分析方法。 10、請求項第6項記載の分析方法において、上記同じ
    原試料に由来する試料溶液を3つ以上用いることを特徴
    とする分析方法。 11、試料中に含有する成分を分離し得る分離カラムと
    、この分離カラムへ溶離液を供給する手段と、上記分離
    カラムから溶出された成分を検出する検出手段と、を備
    えた液体クロマトグラフィ装置において、同じ原試料に
    由来しており希釈倍率の異なる複数の試料溶液の各希釈
    倍率に関する情報を演算・制御手段へ入力し得る入力手
    段と、上記希釈倍率に適合するように希釈されている各
    試料溶液に関して得られた複数の実測値と入力されてい
    る希釈倍率との積の値を演算すると共に、得られた複数
    の積の値を関連づけることによつて試料溶液中の共通の
    マトリックス成分の影響が実質的に無い状態での被検物
    質に関する修正された値を演算する上記演算・制御手段
    と、上記演算・制御手段による演算の結果を出力する出
    力手段とを備えたことを特徴とする液体クロマトグラフ
    ィ装置。 12、請求項第11項記載の液体クロマトグラフィ装置
    において、上記演算・制御手段に入力された希釈倍率に
    関する情報に基づいて上記原試料を純溶媒によつて希釈
    する希釈手段を設けたことを特徴とする液体クロマトグ
    ラフィ装置。 13、請求項第12項記載の液体クロマトグラフィ装置
    において、上記希釈手段は上記原試料と上記純溶媒が導
    入される流路を設け、この流路と上記分離カラムを連通
    し得る切換バルブを設けたことを特徴とする液体クロマ
    トグラフィ装置。 14、請求項第11項記載の液体クロマトグラフィ装置
    において、上記演算の結果は上記被検物質の濃度で表わ
    されることを特徴とする液体クロマトグラフィ装置。 15、試料中に含有する成分を分離し得る分離カラムと
    、この分離カラムへ溶離液を供給する手段と、上記分離
    カラムから溶出された成分を検出する検出手段と、を備
    えた液体クロマトグラフィ装置において、同じ原試料に
    由来しており希釈倍率の異なる複数の試料溶液の各希釈
    倍率に関する情報を制御装置へ入力し得る入力手段と、
    上記制御装置に入力された希釈倍率に関する情報に基づ
    いて検出感度が調節される検出器を備えたことを特徴と
    する液体クロマトグラフィ装置。 16、溶離液が供給される分離カラムと、この分離カラ
    ムから溶出された試料成分を検出する検出装置を備えた
    液体クロマトグラフィ装置において、原試料を純溶媒に
    よつて所定の希釈倍率に希釈する希釈装置と、試料注入
    口と上記分離カラムの間に配置されており、試料中のマ
    トリックス成分を除去する除去装置を設けたことを特徴
    とする液体クロマトグラフィ装置。
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