JPH0372670A - 三次元メモリ素子およびその書込み,読出し方法 - Google Patents

三次元メモリ素子およびその書込み,読出し方法

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JPH0372670A
JPH0372670A JP1208816A JP20881689A JPH0372670A JP H0372670 A JPH0372670 A JP H0372670A JP 1208816 A JP1208816 A JP 1208816A JP 20881689 A JP20881689 A JP 20881689A JP H0372670 A JPH0372670 A JP H0372670A
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JP
Japan
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film
tunnel switch
charge
input
tunnel
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JP1208816A
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English (en)
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Hiroshi Nakano
洋 中野
Masaharu Imai
今井 正晴
Masamichi Morimoto
森本 正倫
Masayuki Fujii
雅之 藤井
Junichi Nakamura
淳一 中村
Tsutomu Nakamura
力 中村
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、映像情報分野等において、画像情報等の情報
を記憶するメモリとして使用可能な高密度メモリに係り
、特にメモリセルを積層した三次元メモリ素子およびそ
の書込み、読み出し方法に関する。
〔従来の技術〕
近年、高度情報化社会の発展に伴い、各種の情報機器が
一般的に用いられるようになってきており、情報機器の
主な構成要素の一つであるメモリ素子の高性能化が強く
要望されている。
一方、最近のエレクトロニクス分野におけるLSI技術
は、超微細化の方向にその研究開発が進められてきた。
しかし、超微細化への技術開発が限界に達しつつある今
日、メモリ素子を高密度化、゛多機能化、高速化するこ
とを目的として、三次元化の研究開発が行われている。
このような三次元集積回路を実現するための技術として
は、無機材料を用いた5OI(Sioninsulat
or ) 、  S I M OX (Separat
ion byIIIplanted 0xident 
)等のシリコン系技術、あるいは■族およびV族の物質
を組合わせる■−V系技術、さらには有機LB膜(ラン
グミュアプロジェット法により成膜された超薄膜)を応
用した技術があり、各種の三次元メモリ素子が考えられ
ている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、本発明者等は、有機LB膜を利用した三次元
メモリ素子を開発し、すでに特願昭88−214189
号等として出願済みである。
この三次元メモリ素子は、第8図に示すように、有機L
B膜等からなり導電率が印加電圧によって非線形に変化
するトンネルスイッチ膜2a〜2gと各々が電荷蓄積用
コンデンサC1〜C6に接続された導電層3a〜3fと
を交互に積層してトンネルスイッチ部1を形成し、この
トンネルスイッチ部1の最上層となるトンネルスイッチ
M 2 a上に上部電極4を設け、最下層となるトンネ
ルスイッチ膜2gに下部電極5を設けた構成をしている
第9図は上記三次元メモリ素子1を二次元状に集積した
三次元集積メモリを示す図である。この三次元集積メモ
リ10は、集積したメモリ素子1の各々の上下両端に薄
膜トランジスタlla。
11bが設けられている。書込み側となる各トランジス
タllaには、上部配線12〜14.15〜17が接続
されていて、この上部配線12〜14.15〜17の一
端に設けられたスイッチ18.19によってXYアドレ
ス方式で書込みが行なわれる。また、読み出し側となる
各トランジスタllbには、下部配線22〜24.25
〜27が接続され、この下部配線22〜24.25〜2
7の一端に設けられたスイッチ28.29によってXY
アドレス方式で読出しが行なわれる。
このような三次元メモリ素子1および三次元集積メモリ
10は、上部電極4.導電層33間に電圧Viを印加し
て、導電層3aおよびコンデンサC1に電荷を流入させ
た後、導電層3aをフローティングさせることにより、
コンデンサC1に情報を記憶させる。そして、各メモリ
素子1の積層方向に情報を転送する場合は、各導電層3
a〜3fにコンデンサC1〜C6を介して接続した配線
から、互いに位相の異なる転送電圧パルス■A、VB、
VCを印加することにより、コンデンサC1に蓄積され
ていた電荷が、下部電極側に順次転送される。そして、
最下段の導電層3f。
下部電極間に電圧を印加することにより、順次情報が読
出される。
ところで、以上のような三次元メモリ素子および三次元
集積メモリは、各導電層に独立に転送電圧パルスを印加
するために各導電層3a〜3fに配線を行う必要がある
。しかし、このような配線はメモリ素子構造の複雑化に
つながり、メモリ素子を高密度化、高集積化する上で大
きな障害となる。
本発明はこのような実情に鑑みてなされたもので、各導
電層に配線を行わなくても電荷を転送でき、素子の構成
が簡素化され高集積化によるメモリ容量の増大を図り得
る三次元メモリ素子およびその書込み、読出し方法を提
供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記課題を解決するために、導電膜と電荷をト
ンネル伝導させるトンネルスイッチ膜とを交互に積層し
た積層体と、この積層体の積層方向の一端部に設けられ
た入出力電極とを備え、前記各トンネルスイッチ膜の電
荷をトンネル伝導させるための各々のしきい値電圧を、
前記入出力電極側から積層体の積層方向に順次高くする
ようにした。
また、各電圧レベルが前記各トンネルスイッチ膜のしき
い値電圧に合わせて順次低くなる如く設定された書込み
電圧パルス列を前記入出力電極に印加して、前記入出力
電極から最も離れた積層位置にある導電膜から順次情報
を書込むようにした。
また、各電圧レベルが前記各トンネルスイッチ膜のしき
い値電圧に合わせて順次高くなる如く設定された読出し
電圧パルス、列を前記入出力電極に印加して、前記入出
力電極に最も近接した導電膜から順次情報を読出すよう
にした。
〔作用〕
以上のような手段を講じたことにより、各レベルが各ト
ンネルスイッチ膜のしきい値電圧に合わせて順次低くな
る如く設定された書込み電圧パルス列を入出力電極に印
加することにより、入出力電極から最も離れた積層位置
にある導電膜から順次情報が書込まれ、各レベルが各ト
ンネルスイッチ膜のしきい値電圧に合わせて順次高くな
る如く設定された読出し電圧パルス列を入出力電極に印
加することにより、入出力電極に最も近接した導電膜か
ら順次情報が読出される。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例に係る三次元メモリ素子の構
成を示す図である。この三次元メモリ素子は、導電膜3
1a〜31eとトンネルスイッチ膜32a〜32dとを
交互に積層した積層体30と、この積層体30の最上層
となる導電膜(以下、「入出力電極」と呼称する)31
aに設けられた書込み/続出しスイッチSW1と、この
スイッチSW1の一方の側に設けられた書込み回路33
と、スイッチSW1の他方の側に設けられた読出し回路
34と、導電膜31b〜31eに各々接続され一端がア
ースされ各トンネルスイッチ膜32a〜32dの寄生容
量よりも十分大きな容量を有する電荷蓄積用キャパシタ
011〜C14とから構成されている。
各トンネルスイッチ膜32a〜32dは、同じ材料から
なり、入出力電極31aに接しているトンネルスイッチ
膜32aの膜厚が最も薄く、入出力電極31aから離れ
るにしたがってその膜厚が厚くなっている。すなわち、
トンネルスイッチ膜32a〜32dは、入出力電極31
aから離れるにしたがって、電荷をトンネル伝導させる
ためのしきい値電圧が順次高くなるように設定されてい
る。書込み回路33は、電荷入力用端子35が設けられ
ていて、この電荷人力用端子35に後述する書込みパル
スが印加される。また、読出し回路34は、スイッチS
W2を介してアースされていて、後述する読出しパルス
が印加される読出しパルス印加端子36.読み出された
電荷が蓄積される続出し用コンデンサCd、電荷読出し
用端子37から構成されている。
次に、このように構成された三次元メモリ素子の書込み
、読出し動作について第2図を参照して説明する。第2
図は書込みパルスおよび読出しパルスの波形を示す図で
ある。書込みパルス(1)の1番目のパルスは、そのレ
ベルが入出力電極31aに印加することによりすべての
トンネルスイッチ膜32a〜B2dをオン状態にできる
値に設定されている。2番目のパルスは、そのレベルが
最上部のトンネルスイッチ膜32a〜最下部から一段上
のトンネルスイッチ膜32cまでをオン状態にできる値
に設定されている。同様に、3番目のパルスはトンネル
スイッチ膜32a、32bをオン状態にできる値に設定
され、4番目のパルスは最上部のトンネルスイッチ膜3
2aのみをオン状態にできる値に設定されている。
このような書込みパルス(1)を電荷入力用端子35に
印加し、スイッチSW1を書込み回路33側に倒すと、
1番目のパルスによってすべてのトンネルスイッチ膜3
2a〜B2dがオン状態となり、電荷蓄積用キャパシタ
C14に情報電荷が蓄積され、情報「1」が記憶される
。次に、2番目のパルスによってトンネルスイッチH3
2a。
〜32cがオン状態となり、最下段のトンネルスイッチ
膜32dはオン状態とはならない。その結果、電荷蓄積
用キャパシタC13に情報電荷が蓄積され、情報「1」
が記憶される。同様にして、3番目のパルス、4番目の
パルスにより電荷蓄積用キャパシタC12,C13と順
次情報「1」が記憶される。
また、書込みパルス(2)のように、2番目と4番目の
パルスレベルを0とすることにより(1,0,1,0)
の情報が電荷蓄積用キャパシタC14〜C11に順次記
憶される。なお、同図0 には入力信号(1,1,1,1)と同じタイミングでr
OJ情報を示しているが、「0」情報の部分は時間的に
短縮することができる。
読出しを行う場合は、スイッチSW1を読出し回路34
側に倒し、読出し用パルス印加端子36に読出しパルス
(3)を印加する。読出しパルス(3)は、書込みパル
ス(1)の各パルスを順次高くなるように配列したもの
である。
すなわち、1番目、2番目、3番目、4番目のパルスが
それぞれ一段目のトンネルスイッチ膜32a、−段目〜
二段目のトンネルスイッチ膜32a〜32b、−段目〜
三段目のトンネルスイッチ膜32a〜32C1全てのト
ンネルスイッチ膜32a〜32dをオン状態とできる値
にそれぞれ設定されている。したがって、1番目のパル
スによって入出力電極31aに接したトンネルスイッチ
膜32aのみがオン状態となり、電荷蓄積用キャパシタ
C11に蓄積されていた電荷がコンデンサCdに蓄積さ
れ、電荷読出し用端子37から読み出される。そして、
スイッチSW2をオンさ1 せてコンデンサCdを放電させた後、2番目のパルスを
印加する。この2番目のパルスによって入出力電極31
aから2段目までのトンネルスイッチ膜32a、32b
がオン状態となり、電荷蓄積用キャパシタC12に蓄積
されている電狗が電荷読出し用端子37から読み出され
る。同様にして、3番目のパルス、4番目のパルスによ
って電荷蓄積用キャパシタC13,C14に蓄積されて
いる電荷が順次上段から読み出されていく。
また、第3図に示すように、書込みパルス(4)にクリ
アパルスを含ませるようにしてもよい。次に、書込みパ
ルス(4)、読出し用パルス(5)による書込み、読出
し動作について説明する。
書込ミパルス(4)のパルスV1は、1段目〜4段目ま
でのトンネルスイッチ膜32a〜32dをオンさせる値
に設定され、V2.V3.V4はそれぞれ32a 〜3
2c、32a 〜32b。
32aのトンネルスイッチ膜をオンさせる値に設定され
ている。また、読出し用パルス(5)は、パルスVa、
Vb、Vc、Vdがそれぞれ一段目2 のトンネルスイッチH32g 、−段目〜二段目のトン
ネルスイッチ膜32a〜32b、−段目〜三段目のトン
ネルスイッチ膜32a〜32c、全てのトンネルスイッ
チ膜32a〜32dをオン状態にできる値に設定されて
いる。
上記書込みパルス(4)を4ビツト(1,1゜1.1)
の入力信号として電荷人力用端子35に入力する。そう
すると、厚さの異なるトンネルスイッチ膜32a〜32
dの寄生容量比に応じてパルスv1が電圧分配され、そ
れぞれに分配された電圧により各トンネルスイッチ膜3
2g、32dがオン状態となり、情報電荷が最下段の電
荷蓄積用キャパシタC14に蓄積される。そして、パル
スv1に対して逆電圧となるクリアパルスv5によって
電荷蓄積用キャパシタC11〜C13の誤差信号がクリ
アされる。
次に、印加されるパルスv2がトンネルスイッチ膜32
a〜32dの寄生容量比に応じて各トンネルスイッチ部
に電圧分配され、トンネルスイッチ膜32a〜32cが
オン状態となり、最下段の3 トンネルスイッチ膜32dは分配された電圧がしきい値
電圧を越えないためオン状態とならない。
したがって、電荷蓄積用キャパシタC13に情報電荷が
蓄積され、クリアパルスV6によって電荷蓄積用キャパ
シタC1l、C12の誤差信号がクリアされる。このと
き、電荷蓄積用キャパシタC13はトンネルスイッチ膜
の寄生容量に対して十分大きな容量であるため、電位は
トンネルスイッチのスレッシュホールド値に比べて十分
中さなものである。
次に、パルスv3が印加され、上記同様にして電荷蓄積
用キャパシタC12に情報電荷が蓄積され、クリアパル
スv7によって電荷蓄積用キャパシタC1lの誤差信号
がクリアされる。
そして、パルスv4を印加することにより電荷蓄積用キ
ャパシタC11に情報電荷が蓄積される。
以上のようにして、4ビツトの情報が記憶されたことに
なる。なお、入力信号が「1」のときは随時クリアパル
スV5〜V7を印加しているが、入力信号が「0」のと
きにはクリアパルスを印加 4 する必要はない。
このようにして記憶した情報を読み出す場合は、読出し
用パルス(5)を端子36に印加することにより、上記
読出し用パルス(3)を印加したとき同様に、入出力電
極31aよりの導電膜に接続されている電荷蓄積用キャ
パシタC11〜C14から順次読み出される。
このような本実施例によれば、導電膜31a〜31eと
トンネルスイッチ膜32a〜32dとを交互に積層し、
この積層体30の一端部となる入出力電極31aに接し
たトンネルスイッチ膜32aの膜厚を最も薄くし、入出
力電極31aから離れるに従い順次厚くなるように構成
し、入出力電極31aから第2図および第3図に示す書
込みパルス(1)、(2)、(4)を印加して書込みを
行ない、読出し用パルス(3)、(5)を印加して読出
しを行なうようにしたので、従来のように各導電膜31
b〜31eに転送電圧パルス印加用の配線を設けなくて
も書込みおよび読出しを行なうことができ、よってメモ
リ素子の構成を簡5 素化することができ、高集積化を図ることができる。そ
の結果、メモリ容量を増大させることができる。
また、書込みパルスv1〜V4を印加した後にクリアパ
ルスv5〜v7を印加するようにしたので、電荷蓄積用
キャパシタC11〜C13に蓄積される誤差信号を除去
することができ、正確な情報を記憶できるのでメモリ素
子としての信頼性を向上させることができる。
なお、上記実施例では、積層されたトンネルスイッチ膜
のしきい値電圧を順次具なる値とするためにトンネルス
イッチ膜32a〜B2dの膜厚を異ならせているが、誘
電率の異なる膜により同様の機能を持たせるようにして
も良い。
また、第1図に示す三次元メモリ素子の導電膜31a〜
31eとして、ポリピロール、ポリチオフェン等の有機
分子を用いることができる。なお、電荷蓄積用キャパシ
タがない場合であっても、入力信号やトンネルスイッチ
膜の厚さ等を調整することにより、第1実施例と同様の
作用効果を得る1に とができる。
第4図は導電膜に有機分子を用いて上記Til実施例と
同様の機能を持たせた三次元メモリ素子の具体的な分子
構造を示す図である。この三次元メモリ素子は、側鎖の
長さの異なる物質(上記有機分子)を順次重合し、この
重合部を電荷蓄積部(導電膜に相当する部分)41a〜
41dとし、側鎖部をトンネルスイッチ膜42a〜42
eとしている。側鎖の長さの異なる物質とは、第5図に
示す、 CI H2,+1  (CH= 0H)n  CmH2
mCOOHのような物質であり、この分子のρとmの数
を下段になるしたがって大きくすることにより、トンネ
ルスイッチ膜の膜厚を順次厚くすることができる。すな
わち、同種類の分子の派生体を順次積層して構成する。
例えば、1層目Ill 1−ml−7゜2層目R2−m
2−11.3層目13−m3m15.4層目it4−m
4−19というように、順次側鎖を長くした派生体を積
層して構成する。
第6図は他の実施例の構成を示す図である。こ 7 の実施例は、第1図に示す三次元メモリ素子を基板上に
集積して三次元集積メモリとした例である。
この集積メモリは、第9図に示す集積メモリと同様に、
集積された三次元メモリ素子50の各々の入出力電極に
書込み、読み出しスイッチとして薄膜トランジスタ11
が設けられている。各トランジスタ11は上部配線51
〜53および上部配線54〜56によってXYアドレス
方式でアクセスされ、書込みおよび読出しが行われる。
また、第7図に示すように、複数個設置した三次元メモ
リ素子60a〜60eの各々の入出力電極61を転送回
路62に接続する構成とする。なお、三次元メモリ素子
60は、第1図に示す三次元メモリ素子と同じ構成であ
り、導電膜を4層としている。
このようなメモリ回路によれば、メモリ索子60aに記
憶されている4ビツトのデータを順次隣接するメモリ素
子60b、60C・・・に転送することができる。
 8 〔発明の効果〕 以上詳記したように本発明によれば、積層されたトンネ
ルスイッチ膜の各々のしきい値電圧を積層方向に順次異
なる値とし、各トンネルスイッチ膜のしきい値電圧に合
わせて調節した書込み電圧パルスおよび読出し電圧パル
スを印加するようにしたので、各導電膜に配線を接続し
この配線を介して転送電圧パルスを印加しなくても、積
層体の任意の深さ方向にアクセスでき、よって上記配線
を削除できることから素子の構成を簡素化でき、高集積
化を図り得、メモリ容量を増大させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る三次元メモリ素子の構
成図、第2図および第3図は書込みパルスおよび読出し
パルスの波形図、第4図は有機分子を用いた三次元メモ
リ素子の分子構造を示す図、第5図は有機分子の分子式
を示す図、第6図は他の実施例の斜視図、第7図は転送
回路を備えたメモリ回路の構成図、第8図は三次元メモ
リ素子の9 構成図、第9図は先行技術となる三次元集積メモリの構
成図である。 30・・・積層体、31a〜31e・・・導電膜、32
a〜32d・・・トンネルスイッチ膜、33・・・書込
み回路、34・・・読出し回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)導電膜と電荷をトンネル伝導させるトンネルスイ
    ッチ膜とを交互に積層した積層体と、この積層体の積層
    方向の一端部に設けられた入出力電極とを備え、前記各
    トンネルスイッチ膜の電荷をトンネル伝導させるための
    各々のしきい値電圧を、前記入出力電極側から積層体の
    積層方向に順次高くしたことを特徴とする三次元メモリ
    素子。
  2. (2)前記各トンネルスイッチ膜のしきい値電圧に合わ
    せて電圧レベルが順次低くなる如く設定された書込み電
    圧パルス列を前記入出力電極に印加して、前記入出力電
    極から最も離れた積層位置にある導電膜から順に各導電
    膜に情報を書込むことを特徴とする書込み方法。
  3. (3)前記各トンネルスイッチ膜のしきい値電圧に合わ
    せて電圧レベルが順次高くなる如く設定された読出し電
    圧パルス列を前記入出力電極に印加して、前記入出力電
    極に最も近接した導電膜から順に情報を読出すことを特
    徴とする読出し方法。
JP1208816A 1989-08-11 1989-08-11 三次元メモリ素子およびその書込み,読出し方法 Pending JPH0372670A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004507020A (ja) * 2000-08-14 2004-03-04 マトリックス セミコンダクター インコーポレイテッド モジュラーメモリデバイス
JP2004304180A (ja) * 2003-03-19 2004-10-28 Dainippon Printing Co Ltd 有機双安定性素子、これを用いた有機双安定性メモリ装置、およびそれらの駆動方法

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