JPH0372326A - マトリクス型液晶表示パネル - Google Patents

マトリクス型液晶表示パネル

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Publication number
JPH0372326A
JPH0372326A JP1209768A JP20976889A JPH0372326A JP H0372326 A JPH0372326 A JP H0372326A JP 1209768 A JP1209768 A JP 1209768A JP 20976889 A JP20976889 A JP 20976889A JP H0372326 A JPH0372326 A JP H0372326A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
source
electrode
liquid crystal
display panel
Prior art date
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Pending
Application number
JP1209768A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiko Hirobe
広部 俊彦
Takayoshi Nagayasu
孝好 永安
Hiroi Oketani
大亥 桶谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Publication of JPH0372326A publication Critical patent/JPH0372326A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、マトリクス型液晶パネルに関し、特に、薄膜
積層数の少ない小型化された薄膜トランジスタを備えた
マトリクス型液晶表示パネルに関する。
(従来の技術) 従来のマl−IJクス型液晶表示パネルの部分断面図を
第5図に示す。絶縁性基板1の上に基板保護膜2が形成
されており、その上にアドレス素子となる薄膜トランジ
スタ(TPT)が形成されている。TPTは、第1のゲ
ート絶縁膜4に覆われたゲート電極3.第2のゲート絶
縁膜5.チャネル部半導体膜6.チャネル部保護膜7及
びコンタクト層8が、絶縁性基板1からこの順番に積層
され。
通常の方法でパターニングされることによって形成され
ている。コンタクト層8は導電率が10−’〜l O−
2S /c+nのn+型アモルファス5t(a−31)
から成り、チャネル部半導体膜6のソース及びドレイン
の各々の上に形成されている。ソース電極9とドレイン
電極10は各々このコンタクト層8に接触している。ま
た絵素電極11として透明導電膜が保護膜5上に形成さ
れている。この絵素電極11の一部はTPTのドレイン
電極10と接触している。TPT及び絵素電極ll上に
は保護膜12が形成されている。第6図に上記のTPT
及び絵素電極が多数、マトリクス状に配置されたパネル
の平面図を示す。ゲート電極3と交差するようにソース
パスライン9aが設けられており。
このソースパスライン9aからTFTを介して。
各絵素電極11に画像信号電流が送られる。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述の従来技術には以下に述べる問題が
あった。
TPTのチャネル部薄膜半導体6とソース・ドレイン電
極との間のコンタクト層8がn+型a−8I膜で形成さ
れていたために、ソース・ドレイン電極とチャネル部薄
膜半導体6との間の直列抵抗が高いという欠点があった
。これは、コンタクト層8のn4型a−8t膜中では、
電子と正孔の移動度端で挟まれた戻動ギャップ中にキャ
リアの高濃度な局在状態密度が存在し1例えば、リン(
P)を1%以上ドープした場合でも、バンド端近くに於
いてフェルミ準位がくぎづけされていたために。
その導電率が10−2〜10−’S 7cmと低く、又
活性化エネルギーもQ、2eV程度で飽和してしまって
いたからである。従って、ソース・ドレイン電極とコン
タクト層8の間で良好なオーミックコンタクトが形成で
きず、抵抗低下のためには。
コンタク−ト面積を増加しなければならなかった。
しかし、コンタクト面積はゲート電極の線幅に制約され
、高精細化のためには、ゲート電極の線幅を増加させる
ことはできなかった。このため高いコンタクト抵抗によ
って、TPTのオン−オフ特性が劣化し、各絵素電極に
充分な画像信号電流が充電されず、液晶駆動に支障をき
たし2表示パネルの画質が低下した。また、従来のコン
タクト層であるn9型a−Si膜と、絵素電極11とし
て使用される透明導電膜との間のコンタクト抵抗は極め
て高かったので、絵素電極11は透明導電膜以外の材料
を用いたドレイン電極10を介してコンタクト層8と接
続されなければならなかった。このため、絵素電極11
とソース・ドレイン電極とをいずれも、透明導電膜を用
いて、同時に形成することができず、ソース・ドレイン
電極形成のための膜形成とパターニング工程、及び絵素
電極形成のための膜形成とパターニング工程の両方が必
要であった。従って、従来の技術では、電極形成のため
の膜形成及びパターニング工程の数が多く。
各電極、フンタクト層、その他の層との間での合わせズ
レを防ぐためには、大きな寸法マージンが必要であった
。このため、TPTを小型化・高密度化することが非常
に困難であった。
本発明は、上記問題を解決するためになされたものであ
り、その目的とするところは、コンタクト領域の抵抗が
低く、かつ、小型化・高密度化に適したTPTを備え、
薄膜積層数が少ない高画質マトリクス型液晶表示パネル
を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明は、マトリクス型液晶表示パネルであって、′;
4膜トランジスタをアドレス素子として用いるマトリク
ス型液晶表示パネルにおいて、該薄膜トランジスタのチ
ャネル部半導体膜上に高導電率微結晶半導体膜が設けら
れており、透明導電膜から成るソース・ドレイン電極が
、高導電率微結晶半導体膜上に設けられ、そのことによ
り上記目的が達成される。
(作用) アモルファス半導体膜に比べ、活性化エネルギが低く、
導電率の高い微結晶半導体膜を薄膜トランジスタ(T 
P T)のチャネル半導体膜上に設けることによって、
微結晶半導体膜とソース・ドレイン電極との間のコンタ
クト特性は良好なオーミック性を示す。
また、透明導電膜と該微結晶半導体膜とを、他の材料を
介在させずに直接接続しても、TPTのコンタクト領域
の直列抵抗は低下し、透明導電膜からなる絵素電極が高
導電率微結晶半導体膜に直接接続されても該抵抗は充分
低く抑えられる。
このため、絵素電極形成工程とは別に、ソース・ドレイ
ン電極を絵素電極と異なる材料を用いて形成する工程が
必要な(なり、絵素電極、ソース・ドレイン電極、ソー
スパスラインをすべて透明導電膜を用いて同時に形成す
ることが可能となる。
(実施例) 以下に本発明を実施例について説明する。第1図は、実
施例のマトリクス型液晶パネルを説明するための断面図
である。ガラス製の絶縁性基板l上には基板保護M(膜
厚5000A)が形成されており、基板保護膜2上には
、第1のゲート絶縁膜4で覆われたゲー)?I電極が形
成されている。
これらの全てを覆うようにして形成された第2のゲート
絶縁膜(膜厚4000大)5上においてゲート電極3上
方に対応する領域の所定領域には。
チャネル部半導体膜(I型a−Sl膜)6とチャネル部
保護絶縁膜7が基板側からこの順番に形成されている。
チャネル部薄膜半導体6はこのチャネル部保護絶縁膜に
よってソース側とドレイン側に分けられている。
チャネル部薄膜半導体膜6の上、ソース側にはコンタク
ト層8として微結晶半導体層が形成されており、ソース
電極9がこれに接続されている。
一方、チャネル部薄膜半導体膜6の上、 ドレイン側に
は、コンタクト層8として導電率がIs/cm程度以上
の高導電率微結晶半導体層が形成されており、 ドレイ
ン電極を兼ねる絵素電極11がこれに接続されている。
ここでソース電極9.絵素電極11及びソースパスライ
ン9a(第2図)はいずれも透明導電膜から戊っている
。これらの電極及び第2のゲート絶縁膜5等を覆うよう
に保護膜絶縁膜12が形成される。
第2図に上記のTPT及び絵素電極が多数マトリクス状
に配置されたパネルの平面図を示す。
絵素電極11.  ソース電極9及びソースパスライン
9aのいずれもが透明導電膜によって形成されている。
アドレス素子であるTPTのスイッチング動作はゲート
電極3の電位によって制御され。
各ソースパスライン9aからオン状態のTPTを介して
各絵素電極11に画像信号電流が送られる。
このような構造を有する本実施例のマトリクス型液晶パ
ネルに於いては、導電率が従来のn1型a−St膜の値
に比較して2桁以上高いI S / cm程度以上の微
結晶n3型SI膜をコンタクト層8に用いているために
、ソース電極9.及びドレイン電極を兼ねた絵素電極1
1との間に良好な低抵抗オーミック性コンタクトが形成
されている。
第4図は、コンタクト層にn+型a−St膜を用いたT
PTと実施例の微結晶n9型Si膜を用いたTPTにつ
いて、ゲート・ドレイン間電圧V(III(Volt)
に対するドレイン電流I+  (相対値)の関係(IV
凸曲線を、示したグラフである。曲線Aは本実施例のT
PTについて1曲線Bは比較例について得られたもので
ある。なお、いずれも透明導電膜で形成されたソース・
ドレイン電極を用いて評価した。第4図かられかるよう
に、オン状態(VGD≧10v)において2本実施例の
TPTのドレイン電流値は従来のものよりも高い。この
ことはTPTのオン−オフ特性の向上を意味し。
このTPTを用いた高精細マトリクス型液晶表示パネル
の画質を格段に向上させることができる。
また、ソース・ドレイン電極、ソースパスライン及び絵
素電極11がともに透明導電膜によって形成されている
ために、後述するように、1回の工程で上記電極・配線
を形成することができる。
従ってパターニングのためのマスク合わせに必要な寸法
マージンが少くて済み、TPTを小型化することができ
る。
次に9本実施例の作製方法について説明する。
まず、ガラス製の絶縁性基板1上にスパッタリングで五
酸化タンタルからなる基板保護膜(膜厚5000Å)2
を形成する。次に、この上にスパッタリングでタンタル
(膜厚4000Å)を積層し。
フォトエツチングによってゲート電極3を形成する。
次に陽極酸化によってこのゲート電極3の表面を酸化さ
せて五酸化タンタル(膜厚3000Å)を形成して第1
のゲート絶縁膜4とする。次に。
プラズマCVD法によって窒化膜(膜厚4000A)を
形成して第2のゲート絶縁膜5とし、続いてI型a−3
i膜(膜厚300Å)及び窒化膜(膜厚2000A)を
堆積した後、これら二層をフォトエツチングによってパ
ターニングして、チャネル部薄膜半導体膜6及びチャネ
ル部保護膜7を形成する。
圧力をITorr以下、モノシランに対するホスヒンガ
ス濃度を1%以上、かつ水素希釈量をモノシランガス対
して30倍以上にしたプラズマCVD法チャンバー内で
基板温度を300℃以下に保ち、RFパワー密度0.0
5W/am2以上の放電を行うことによって、チャネル
部半導体膜6およびチャネル部保護絶縁膜7上に導電率
Is/cn+以上の微結晶n h型Si膜(膜厚400
大〉を形成する。この後、該微結晶n9型Si膜はフォ
トエツチングによってパターニングされ、コンタクト層
8となる。
次に、スパッタリング法または電子ビーム蒸着法によっ
て、酸化インジウムを主成分とする透明導電膜(膜厚2
000Å)を形成し、これをフォトエツチングによって
バターニングしてソース電極9. ドレイン電極を兼ね
る表示用絵素電極11゜およびソースパスライン9aを
同時に形成する。
この後、プラズマCVD法によってこれらの各層の全表
面に保護絶縁膜12として窒化膜(膜厚3000 A)
を堆積する。
第3図に他の実施例を説明するための部分断面図を示す
。この実施例と前記実施例との差異は。
ソースパスラインの補助配線13がゲート電極3形成と
同時にタンタルによって形成されていることである。こ
のソースパスラインの補助配線13は、第2のゲート絶
縁膜5に開孔されたコンタクトホールを介してソースパ
スラインと電気的に接続されている。
透明導電膜よりも抵抗の低いゲート電極材料を用いて、
ソースパスラインがゲート電極と交差する領域以外の領
域のソースパスラインに補助配線13を設けることによ
って、ソースパスラインの抵抗が低減される。
(発明の効果) このように1本発明によれば、薄膜トランジスタのソー
ス・ドレイン電極、ソースパスラインを絵素電極と同じ
材料である透明導電膜によって。
絵素電極と同時に形成することができ、 ドレイン電極
と絵素電極を一体化することが可能となるので、薄膜積
層数が低減され、薄膜パターンの重ね合わせ回数が減り
6重ね合わせのための寸法マージンが縮小される。
従って、薄膜トランジスタは小型化され、また。
液晶表示パネルの製造歩留りの向上及びコストの低減が
実現される。また、薄膜トランジスタのコンタクト領域
での直列抵抗が著しく減少するので。
薄膜トランジスタ及びコンタクト面積を縮小してもオン
−オフ特性が向上し、液晶表示パネルの画質が向上する
4、    の   な号 H 第1図は本発明実施例を示す断面図、第2図は実施例を
説明するための平面図、第3図は他の実施例のTPTを
示す断面図、第4図は実施例のTPT特性(I−V曲I
I)を示すグラフ2 第5図は従来例のTPTを示す断
面図、第6図は従来例を説明するための平面図である。
1・・・絶縁性基板、2・・・基板保護膜、3・・・ゲ
ート電極、4・・・第1のゲート絶縁膜、5・・・第2
のゲート絶縁膜、6・・・チャネル部薄膜半導体、7・
・・チャネル部保護膜、8・・・コンタクト層、9・・
・ソース電極、9a・・・ソースパスライン、 10・
・・ドレイン電極、11・・・絵素電極、12・・・保
護絶縁膜、13・・・補助配線。
第2図 第3図 第4図 VGDF(Volt) 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、薄膜トランジスタをアドレス素子として用いるマト
    リクス型液晶表示パネルにおいて、該薄膜トランジスタ
    のチャネル部半導体膜上に高導電率微結晶半導体膜が設
    けられており、透明導電膜から成るソース・ドレイン電
    極が、該高導電率微結晶半導体膜上に設けられているマ
    トリクス型液晶表示パネル。
JP1209768A 1989-08-14 1989-08-14 マトリクス型液晶表示パネル Pending JPH0372326A (ja)

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JP1209768A JPH0372326A (ja) 1989-08-14 1989-08-14 マトリクス型液晶表示パネル

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JP1209768A JPH0372326A (ja) 1989-08-14 1989-08-14 マトリクス型液晶表示パネル

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ID=16578296

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JP1209768A Pending JPH0372326A (ja) 1989-08-14 1989-08-14 マトリクス型液晶表示パネル

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JP (1) JPH0372326A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5247194A (en) * 1991-05-24 1993-09-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Thin film transistor with an increased switching rate
US5751381A (en) * 1993-12-21 1998-05-12 Hitachi, Ltd. Active matrix LCD device with image signal lines having a multilayered structure

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