JPH036505B2 - - Google Patents
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- JPH036505B2 JPH036505B2 JP62104911A JP10491187A JPH036505B2 JP H036505 B2 JPH036505 B2 JP H036505B2 JP 62104911 A JP62104911 A JP 62104911A JP 10491187 A JP10491187 A JP 10491187A JP H036505 B2 JPH036505 B2 JP H036505B2
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Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、アナログ信号をデジタル信号に変換
するA/D変換器を用いて制御を行う複写機等の
像形成装置に関する。
するA/D変換器を用いて制御を行う複写機等の
像形成装置に関する。
近年マイクロコンピユータが安価に大量に生産
され各種の自動制御装置に応用されつつあり、
A/D変換器を用いた装置の提案もなされてい
る。
され各種の自動制御装置に応用されつつあり、
A/D変換器を用いた装置の提案もなされてい
る。
この場合例えば、電子写真装置において感光体
の表面電位を測定し、マイクロコンピユータを使
用して、一次,二次帯電器の出力を可変して電位
安定化する装置では、測定表面電位をA/D変換
した値に異常があれば、正常な画像が再生が望め
ない。
の表面電位を測定し、マイクロコンピユータを使
用して、一次,二次帯電器の出力を可変して電位
安定化する装置では、測定表面電位をA/D変換
した値に異常があれば、正常な画像が再生が望め
ない。
A/D変換器の異常動作は過電圧等による破損
や経時的な劣化による誤動作がある。
や経時的な劣化による誤動作がある。
この異常動作による上記像形成上の不都合や危
険を防止するためには、所望の装置動作開始前に
A/D変換器を構成するICチツプを基板からは
ずしてチエツカで故障を判定する必要が生じる。
険を防止するためには、所望の装置動作開始前に
A/D変換器を構成するICチツプを基板からは
ずしてチエツカで故障を判定する必要が生じる。
しかしこのようなチエツクを動作開始前に行な
うことは手間、暇を要し、しかもICチエツカを
用意しなければならない。
うことは手間、暇を要し、しかもICチエツカを
用意しなければならない。
又電子写真式画像形成装置において、特に感光
体の静電潜像電位に影響があるのは、感光体に帯
電、除電を施こすコロナ帯電である。以下前帯電
の為の一次帯電器、露光同時除電の二次帯電器を
例に説明する。この場合感光体の静電潜像電位を
測定し演算を行ない、一次帯電器、二次帯電器の
出力を変化させ静電潜像電位を適正値に制御する
ことか行なわれている。しかし、こうした制御を
行なう為の回路は複雑であるために、故障が起き
易くしかも故障発見がし難いといつたような問題
がある。このため、装置の保守点検に非常に時間
がかかり、サービス性に悪い。
体の静電潜像電位に影響があるのは、感光体に帯
電、除電を施こすコロナ帯電である。以下前帯電
の為の一次帯電器、露光同時除電の二次帯電器を
例に説明する。この場合感光体の静電潜像電位を
測定し演算を行ない、一次帯電器、二次帯電器の
出力を変化させ静電潜像電位を適正値に制御する
ことか行なわれている。しかし、こうした制御を
行なう為の回路は複雑であるために、故障が起き
易くしかも故障発見がし難いといつたような問題
がある。このため、装置の保守点検に非常に時間
がかかり、サービス性に悪い。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、像形
成装置における異常箇所を正確に判断できる様に
するとともに、異常のチエツクをより簡単な構成
で行なえる様にした像形成装置を提供するもので
ある。
成装置における異常箇所を正確に判断できる様に
するとともに、異常のチエツクをより簡単な構成
で行なえる様にした像形成装置を提供するもので
ある。
すなわち本願発明は、
感光体をコロナ帯電する帯電手段及び前記感光
体を露光する露光手段を含み前記感光体上に画像
を形成する各種プロセス手段(51b,69,7
0,44他)と、 前記感光体上の表面電位を検出する検出手段
(67)と、 前記検出手段からの検出信号をデイジタル信号
に変換するA/D変換手段(CT4)と、 前記A/D変換手段からの出力に対し、所定の
演算を行ない前記感光体上の表面電位を適正化す
るための制御信号をD/A変換手段(CT5)を
介して前記帯電手段に出力する制御手段(CT3)
と、 所定の基準信号を発生する基準信号発生手段
(V1,V2)とを有し、 前記制御手段は、前記所定の基準信号を前記
A/D変換手段に入力せしめるとともに前記A/
D変換手段からのA/D変換信号が許容誤差範囲
内にあるか否かを判断することにより前記A/D
変換手段が正常か否かを判断する第1の判断手段
と、 前記第1の判断手段により前記A/D変換手段
が正常と判断された場合、特定の制御信号を前記
D/A変換手段に出力し前記帯電手段を駆動する
とともに前記帯電手段を駆動するトランス回路
(CT9,CT10)から出力される帯電電流に対
応した出力信号を前記A/D変換手段に入力せし
め、前記A/D変換手段からのA/D変換信号が
許容誤差範囲内にあるか否かを判断することによ
り前記D/A変換手段、前記トランス回路及び前
記トランス回路を駆動するドライバ(CT7,CT
8)が正常か否かを判断する第2の判断手段と、 前記第2の判断手段により前記D/A変換手
段、前記トランス回路及び前記トランス回路を駆
動するドライバが正常と判断された場合、前記帯
電手段及び前記露光手段を作動させ前記感光体上
に形成した明部電位及び暗部電位を前記検出手段
により検出させるとともに前記検出手段の出力を
前記A/D変換手段に入力せしめ、更に前記A/
D変換手段からのA/D変換信号に基づいて前記
感光体上に形成された明部電位及び暗部電位の差
が一定値以上であるか否かを検出することにより
前記検出手段が正常か否かを判断する第3の判断
手段とを有した診断機能を有する像形成装置を提
供するものである。
体を露光する露光手段を含み前記感光体上に画像
を形成する各種プロセス手段(51b,69,7
0,44他)と、 前記感光体上の表面電位を検出する検出手段
(67)と、 前記検出手段からの検出信号をデイジタル信号
に変換するA/D変換手段(CT4)と、 前記A/D変換手段からの出力に対し、所定の
演算を行ない前記感光体上の表面電位を適正化す
るための制御信号をD/A変換手段(CT5)を
介して前記帯電手段に出力する制御手段(CT3)
と、 所定の基準信号を発生する基準信号発生手段
(V1,V2)とを有し、 前記制御手段は、前記所定の基準信号を前記
A/D変換手段に入力せしめるとともに前記A/
D変換手段からのA/D変換信号が許容誤差範囲
内にあるか否かを判断することにより前記A/D
変換手段が正常か否かを判断する第1の判断手段
と、 前記第1の判断手段により前記A/D変換手段
が正常と判断された場合、特定の制御信号を前記
D/A変換手段に出力し前記帯電手段を駆動する
とともに前記帯電手段を駆動するトランス回路
(CT9,CT10)から出力される帯電電流に対
応した出力信号を前記A/D変換手段に入力せし
め、前記A/D変換手段からのA/D変換信号が
許容誤差範囲内にあるか否かを判断することによ
り前記D/A変換手段、前記トランス回路及び前
記トランス回路を駆動するドライバ(CT7,CT
8)が正常か否かを判断する第2の判断手段と、 前記第2の判断手段により前記D/A変換手
段、前記トランス回路及び前記トランス回路を駆
動するドライバが正常と判断された場合、前記帯
電手段及び前記露光手段を作動させ前記感光体上
に形成した明部電位及び暗部電位を前記検出手段
により検出させるとともに前記検出手段の出力を
前記A/D変換手段に入力せしめ、更に前記A/
D変換手段からのA/D変換信号に基づいて前記
感光体上に形成された明部電位及び暗部電位の差
が一定値以上であるか否かを検出することにより
前記検出手段が正常か否かを判断する第3の判断
手段とを有した診断機能を有する像形成装置を提
供するものである。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第1図aは本発明を適用し得る複写装置の断面
図である。
図である。
ドラム47の表面は、cds光導電体を用いた三
層構成のシームレス感光体より成り、軸上に回動
可能に軸支され、コピーキーのオンにより作動す
るメインモータ71により矢印の方向に回転を開
始する。
層構成のシームレス感光体より成り、軸上に回動
可能に軸支され、コピーキーのオンにより作動す
るメインモータ71により矢印の方向に回転を開
始する。
ドラム47が所定角度回転すると、原稿台ガラ
ス54上に置かれた原稿は、第1走査ミラー44
と一体に構成された照明ランプ46で照射され、
その反射光は、第1走査ミラー44及び第2走査
ミラー53で走査される。第1走査ミラー44と
第2走査ミラー53は1:1/2の速比で動くこと
によりレンズ52の前方の光路長が常に一定に保
たれたまま原稿の走査が行なわれる。
ス54上に置かれた原稿は、第1走査ミラー44
と一体に構成された照明ランプ46で照射され、
その反射光は、第1走査ミラー44及び第2走査
ミラー53で走査される。第1走査ミラー44と
第2走査ミラー53は1:1/2の速比で動くこと
によりレンズ52の前方の光路長が常に一定に保
たれたまま原稿の走査が行なわれる。
上記の反射光像はレンズ52、第3ミラー55
を経た後、露光部で、ドラム47上に結像する。
を経た後、露光部で、ドラム47上に結像する。
ドラム47は、前露光ランプ50と前AC帯電
器51aにより同時除電され、その後一次帯電器
51bによりコロナ帯電(例えば+)される。そ
の後ドラム47は前記露光部で、照明ランプ46
により照射された像がスリツト露光される。
器51aにより同時除電され、その後一次帯電器
51bによりコロナ帯電(例えば+)される。そ
の後ドラム47は前記露光部で、照明ランプ46
により照射された像がスリツト露光される。
それと同時に、AC又は一次と逆極性(例えば
−)のコロナ帯電を2次帯電器69で行ない、そ
の後更に全面露光ランプ68による表面均一露光
により、ドラム47上に高コントラストの静電潜
像を形成する。感光ドラム47上の静電潜像は、
次に現像器62の現像ローラ65により、液体現
像されトナー像として可視化され、トナー像は前
転写帯電器61により転写し易くされる。
−)のコロナ帯電を2次帯電器69で行ない、そ
の後更に全面露光ランプ68による表面均一露光
により、ドラム47上に高コントラストの静電潜
像を形成する。感光ドラム47上の静電潜像は、
次に現像器62の現像ローラ65により、液体現
像されトナー像として可視化され、トナー像は前
転写帯電器61により転写し易くされる。
上段カセツト10、もしくは下段カセツト11
内の転写紙は、給紙ローラ59により機内に送ら
れ、レジスタローラ60で正確なタイミングをと
つて、感光ドラム47方向に送られ、潜像先端と
紙の先端とを転写部で一致させることができる。
内の転写紙は、給紙ローラ59により機内に送ら
れ、レジスタローラ60で正確なタイミングをと
つて、感光ドラム47方向に送られ、潜像先端と
紙の先端とを転写部で一致させることができる。
次いで、転写帯電器42とドラム47の間を転
写紙が通る間に転写紙上にドラム47上のトナー
像が転写される。
写紙が通る間に転写紙上にドラム47上のトナー
像が転写される。
転写終了後、転写紙は分離ローラ43によりド
ラム47より分離され、搬送ローラ41に送ら
れ、熱板38と押えローラ40,41との間に導
かれて、加圧、加熱により定着され、その後排出
ローラ37により紙検出用ローラ36を介してト
レー34へ排出される。
ラム47より分離され、搬送ローラ41に送ら
れ、熱板38と押えローラ40,41との間に導
かれて、加圧、加熱により定着され、その後排出
ローラ37により紙検出用ローラ36を介してト
レー34へ排出される。
又、転写後のドラム47は回転続行しクリーニ
ングローラ48と弾性ブレード49で構成された
クリーニング装置で、その表面を清掃し、次サイ
クルへ進む。
ングローラ48と弾性ブレード49で構成された
クリーニング装置で、その表面を清掃し、次サイ
クルへ進む。
ここで表面電位を測定する表面電位計67は全
面露光ランプ68と現像器62の間のドラム47
の表面に近接して取付けられている。
面露光ランプ68と現像器62の間のドラム47
の表面に近接して取付けられている。
上記コピーサイクルに先立つて実行するサイク
ルとして、電源スイツチ投入後ドラム47を停止
したままクリーニングブレード49に現像液を注
ぐステツプがある。以下これをプリウエツトと称
す。これはクリーニングブレード49付近に蓄積
しているトナーを流し出すとともに、ブレード4
9とドラム47の接触面に潤滑を与えるためであ
る。又プリウエツト時間(4秒)後ドラム47を
回転させ前露光ランプ50や前AC除電器51a
等によりドラム47の残留電荷やメモリを消去
し、ドラム表面をクリーニングローラ48、クリ
ーニングブレード49によりクリーニングするス
テツプがある。以下、これを前回転INTRと称
す。これはドラム47の感度を適正にするととも
にクリーンな面に像形成するためである。
ルとして、電源スイツチ投入後ドラム47を停止
したままクリーニングブレード49に現像液を注
ぐステツプがある。以下これをプリウエツトと称
す。これはクリーニングブレード49付近に蓄積
しているトナーを流し出すとともに、ブレード4
9とドラム47の接触面に潤滑を与えるためであ
る。又プリウエツト時間(4秒)後ドラム47を
回転させ前露光ランプ50や前AC除電器51a
等によりドラム47の残留電荷やメモリを消去
し、ドラム表面をクリーニングローラ48、クリ
ーニングブレード49によりクリーニングするス
テツプがある。以下、これを前回転INTRと称
す。これはドラム47の感度を適正にするととも
にクリーンな面に像形成するためである。
又セツトされた数のコピーサイクルが終了した
後のサイクルとして、ドラム47を数回転させ2
次帯電器69等によりドラムの残留電荷やメモリ
を除去し、ドラム表面をクリーニングするステツ
プがある。以下、これを後回転LSTRと称す。こ
れはドラム47を静電的、物理的にクリーンにし
て放置するためである。
後のサイクルとして、ドラム47を数回転させ2
次帯電器69等によりドラムの残留電荷やメモリ
を除去し、ドラム表面をクリーニングするステツ
プがある。以下、これを後回転LSTRと称す。こ
れはドラム47を静電的、物理的にクリーンにし
て放置するためである。
第1図bは第1図のブランク露光ランプ70付
近の平面図である。ブランク露光ランプ70−1
〜70−5は、ドラム回転中で露光時以外のとき
点灯させ、ドラム表面電荷を消去して、余分なト
ナーがドラムに付着するのを防止している。ただ
し、ブランク露光ランプ70−1は表面電位計6
7に対応するドラム面を照射するので、表面電位
計67で暗部電位を測定するとき一瞬消してい
る。またBサイズのコピーでは、画像領域がA4
やA3サイズにくらべ小さくなるので非画像領域
に対し、ブランク露光ランプ70−5を光学系前
進中でも点灯させる。ランプ70−0はシヤープ
カツトランプと称するもので、分離ガイド板43
−1と接触しているドラム部分に、光を照射し、
その部分の電荷を完全に消去して、トナーの付着
を防ぎ、分離欠け幅分を汚さぬようにしている。
このシヤープカツトランプは、ドラム回転中、常
時点灯している。
近の平面図である。ブランク露光ランプ70−1
〜70−5は、ドラム回転中で露光時以外のとき
点灯させ、ドラム表面電荷を消去して、余分なト
ナーがドラムに付着するのを防止している。ただ
し、ブランク露光ランプ70−1は表面電位計6
7に対応するドラム面を照射するので、表面電位
計67で暗部電位を測定するとき一瞬消してい
る。またBサイズのコピーでは、画像領域がA4
やA3サイズにくらべ小さくなるので非画像領域
に対し、ブランク露光ランプ70−5を光学系前
進中でも点灯させる。ランプ70−0はシヤープ
カツトランプと称するもので、分離ガイド板43
−1と接触しているドラム部分に、光を照射し、
その部分の電荷を完全に消去して、トナーの付着
を防ぎ、分離欠け幅分を汚さぬようにしている。
このシヤープカツトランプは、ドラム回転中、常
時点灯している。
この様な電子写真複写装置の複写プロセスの各
処理位置において、原稿の明部(光の反射が多い
部分)と暗部(光の反射が少ない部分)に対応す
る感光ドラムの表面電位がどのように変化するか
を第2図に示す。最終的な静電潜像として必要な
のは図中点に於ける表面電位であるが、そこで
の暗部と明部の表面電位○イ○ロは感光ドラム47の
周囲温度が上昇した場合、第3図○イ′○ロ′の如く変
化し、又感光ドラム47の経年変化に対しても第
4図○イ′○ロ′の如く変化し、暗部と明部のコントラ
ストが得られなくなる。
処理位置において、原稿の明部(光の反射が多い
部分)と暗部(光の反射が少ない部分)に対応す
る感光ドラムの表面電位がどのように変化するか
を第2図に示す。最終的な静電潜像として必要な
のは図中点に於ける表面電位であるが、そこで
の暗部と明部の表面電位○イ○ロは感光ドラム47の
周囲温度が上昇した場合、第3図○イ′○ロ′の如く変
化し、又感光ドラム47の経年変化に対しても第
4図○イ′○ロ′の如く変化し、暗部と明部のコントラ
ストが得られなくなる。
次に、斯かる温度変化又は、経年変化に伴う表
面電位の変化を補償する表面電位制御方式につい
て概要を説明する。
面電位の変化を補償する表面電位制御方式につい
て概要を説明する。
本実施例に於いては明部及び暗部のドラム表面
電位を検出する為に第1図の原稿照明用ランプ4
6を用いないでブランク露光ランプ70を用いて
いる。前記ブランク露光ランプ70の光を照射し
たドラム表面の部分の表面電位を明部表面電位と
して測定し、前記ブランク露光ランプの光を照射
しないドラム表面の部分の表面電位を暗部表面電
位として測定する。
電位を検出する為に第1図の原稿照明用ランプ4
6を用いないでブランク露光ランプ70を用いて
いる。前記ブランク露光ランプ70の光を照射し
たドラム表面の部分の表面電位を明部表面電位と
して測定し、前記ブランク露光ランプの光を照射
しないドラム表面の部分の表面電位を暗部表面電
位として測定する。
まず適正な画像コントラストを得ることができ
る明部電位と暗部電位の値を目標値として設定す
る。本実施例に於いては目標明部電位VL*を−
102V、目標暗部電位VD*を+474Vに設定した。
本実施例では一次帯電器及び二次帯電器に流す電
流を制御して表面電位を制御しているので、明部
電位及び暗部電位が、各々前記目標電位VL*、
VD*となるような、一次帯電器の初期電流値
DCo、二次帯電器の初期電流値ACoを設定して
いる。本実施例では、DCo=350μA,ACo=
160μAとすると、n回制御後の一次帯電器電流値
DCn、二次帯電器電流値ACnは、次式で与えら
れる。
る明部電位と暗部電位の値を目標値として設定す
る。本実施例に於いては目標明部電位VL*を−
102V、目標暗部電位VD*を+474Vに設定した。
本実施例では一次帯電器及び二次帯電器に流す電
流を制御して表面電位を制御しているので、明部
電位及び暗部電位が、各々前記目標電位VL*、
VD*となるような、一次帯電器の初期電流値
DCo、二次帯電器の初期電流値ACoを設定して
いる。本実施例では、DCo=350μA,ACo=
160μAとすると、n回制御後の一次帯電器電流値
DCn、二次帯電器電流値ACnは、次式で与えら
れる。
DCn=α1・(VDn−VD*)+α2・(VLn
−VL*)+DCo-1 (1)
ACn=β・(VDn−VD*)+β2・(VLn
−VL*)+ACo-1 (2)
ただし、n=1,2,3、…
α1=△DC(1次帯電器電流の変化)/△VD(暗部電位
の変化)(=定数)(3) α2=△DC(1次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(4) β2=△AC(2次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(5) β2=△AC(2次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(6) 上記の表面電位制御方式における自己診断装置
を実現するための回路構成を第5図に示す。
の変化)(=定数)(3) α2=△DC(1次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(4) β2=△AC(2次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(5) β2=△AC(2次帯電器電流の変化)/△VL(暗部電位
の変化)(=定数)(6) 上記の表面電位制御方式における自己診断装置
を実現するための回路構成を第5図に示す。
CT1は、第1図複写機の各部のシーケンス制御
の為のコントローラCT30からプロセス制御及
び診断の為のコンピユータCT3への制御信号を
受ける入力バツフア回路、CT2は、マイクロコ
ンピユータCT3からの複写中断又は再開阻止等
の出力信号をシーケンスコントローラへ送るため
の出力バツフア回路、CT3は1次チヤージヤ、
2次チヤージヤへの出力を所望制御する診断コン
ピユータである。シーケンスコントローラは、ブ
ランタ露光ランプ70−1、メインモータ71、
各種ランプ、クラツチ等のタイミング動作、不動
作の制御を行ない、マイクロコンピユータCT3
へのサンプルタイミング等の制御信号を送る。ま
た、逆に、マイクロコンピユータCT3より、本
体の停止のための信号、異常状態の表示のための
信号を発生する。CT3は式(1),(2)により高圧出
力を得るための又後述診断のためのマイクロプロ
グラムを格納したROM(メモリ)、そのROMを
読出してデータRAMや入力ポートのデータを演
算処理するCPUを有するA/DコンバータCT4
は、表面電位計67の測定電位が入力されるポー
トCH1等の各ポートCH1〜CH5からのアナロ
グ信号をデジタル量に変換する。マルチプレクサ
CT11は各ポートからの入力信号を、CT3から
の制御信号によりA/Dコンバータに切換選択入
力する。D/AコンバータCT5は、CT3で測定
電位に応じて演算した所望の一次電流、二次電流
の為の制御出力をデジタル量からアナログ量に変
換する。一次ドライバCT7、二次ドライバCT8
は、D/AコンバータCT5からのアナログ制御
信号を受け、一次トランスCT9、二次トランス
CT10を駆動する。一次トランスCT9の出力
は、一次帯電器51bのワイアに付与される。ま
た、一次トランスCT9の出力は、一部サンプル
されてマルチプレクサCT11のCH4へ入力さ
れる。
の為のコントローラCT30からプロセス制御及
び診断の為のコンピユータCT3への制御信号を
受ける入力バツフア回路、CT2は、マイクロコ
ンピユータCT3からの複写中断又は再開阻止等
の出力信号をシーケンスコントローラへ送るため
の出力バツフア回路、CT3は1次チヤージヤ、
2次チヤージヤへの出力を所望制御する診断コン
ピユータである。シーケンスコントローラは、ブ
ランタ露光ランプ70−1、メインモータ71、
各種ランプ、クラツチ等のタイミング動作、不動
作の制御を行ない、マイクロコンピユータCT3
へのサンプルタイミング等の制御信号を送る。ま
た、逆に、マイクロコンピユータCT3より、本
体の停止のための信号、異常状態の表示のための
信号を発生する。CT3は式(1),(2)により高圧出
力を得るための又後述診断のためのマイクロプロ
グラムを格納したROM(メモリ)、そのROMを
読出してデータRAMや入力ポートのデータを演
算処理するCPUを有するA/DコンバータCT4
は、表面電位計67の測定電位が入力されるポー
トCH1等の各ポートCH1〜CH5からのアナロ
グ信号をデジタル量に変換する。マルチプレクサ
CT11は各ポートからの入力信号を、CT3から
の制御信号によりA/Dコンバータに切換選択入
力する。D/AコンバータCT5は、CT3で測定
電位に応じて演算した所望の一次電流、二次電流
の為の制御出力をデジタル量からアナログ量に変
換する。一次ドライバCT7、二次ドライバCT8
は、D/AコンバータCT5からのアナログ制御
信号を受け、一次トランスCT9、二次トランス
CT10を駆動する。一次トランスCT9の出力
は、一次帯電器51bのワイアに付与される。ま
た、一次トランスCT9の出力は、一部サンプル
されてマルチプレクサCT11のCH4へ入力さ
れる。
一次トランスCT9の出力部の例を第6図に示
す。インバータトランスHVT1には、ダイオー
ドD1、抵抗R1、平滑用コンデンサC1,C2
が接続される。一次帯電器51bに電流が流れる
と、これに比例した電圧降下がR1の両端に得ら
れる。この電圧を、一次電流出力として、マルチ
プレクサCT11のCH4に入力する。
す。インバータトランスHVT1には、ダイオー
ドD1、抵抗R1、平滑用コンデンサC1,C2
が接続される。一次帯電器51bに電流が流れる
と、これに比例した電圧降下がR1の両端に得ら
れる。この電圧を、一次電流出力として、マルチ
プレクサCT11のCH4に入力する。
同様に、二次トランスCT10の出力部の例を
第7図に示す。二次電流出力として、抵抗R2の
両端の電圧をマルチプレクサCT11のCH5に
入力する。入力ポートCH4、に入力された電圧
は、コンピユータCT3からのCH4をA/Dコ
ンバータCT4に出力せしめる制御信号αにより、
マルチプレクサCT11が制御されてA/Dコン
バータCT4を介して、マイクロコンピユータCT
3に読み込まれる。又同様にコンピユータCT3
からの、CH5をA/Dコンバータに出力せしめ
る制御信号αによりCH5の電圧がA/Dコンバ
ータを介してコンピユータに入力される。従つ
て、マイクロコンピユータCT3は一次電流出力
値、二次電流出力値、に対応したデータを入力す
ることができる。
第7図に示す。二次電流出力として、抵抗R2の
両端の電圧をマルチプレクサCT11のCH5に
入力する。入力ポートCH4、に入力された電圧
は、コンピユータCT3からのCH4をA/Dコ
ンバータCT4に出力せしめる制御信号αにより、
マルチプレクサCT11が制御されてA/Dコン
バータCT4を介して、マイクロコンピユータCT
3に読み込まれる。又同様にコンピユータCT3
からの、CH5をA/Dコンバータに出力せしめ
る制御信号αによりCH5の電圧がA/Dコンバ
ータを介してコンピユータに入力される。従つ
て、マイクロコンピユータCT3は一次電流出力
値、二次電流出力値、に対応したデータを入力す
ることができる。
表示回路CT6は、表示素子LED1,LED2,
LDE3の駆動回路である。LDE1は、シーケン
スコントローラからの制御信号とコンピユータに
読込んだデジタルデータにより、明部電位VL暗
部電位VD等の電位表示を行なう。7セグメント
の4桁表示器である。これは後述の不良判定に応
じて不良箇所の表示に切換え表示する。
LDE3の駆動回路である。LDE1は、シーケン
スコントローラからの制御信号とコンピユータに
読込んだデジタルデータにより、明部電位VL暗
部電位VD等の電位表示を行なう。7セグメント
の4桁表示器である。これは後述の不良判定に応
じて不良箇所の表示に切換え表示する。
LDE2は、表面電位制御のアリ、ナシ(異常
を判定し基準電流を出力する)の表示を行なう。
を判定し基準電流を出力する)の表示を行なう。
LDE3は、マイクロコンピユータCT3自身の
動作確認を行なう。コンピユータ正常時はLED
3が点滅するようCT3のROMにそのためのプ
ログラムを格納することにより、LED3が点滅
していればマイクロコンピユータCT3が正常に
動作していると判断することができる。尚、CT
30は各種キー入力を判定してドラムモータM等
のシーケンス制御を実行するマイクロコンピユー
タである。
動作確認を行なう。コンピユータ正常時はLED
3が点滅するようCT3のROMにそのためのプ
ログラムを格納することにより、LED3が点滅
していればマイクロコンピユータCT3が正常に
動作していると判断することができる。尚、CT
30は各種キー入力を判定してドラムモータM等
のシーケンス制御を実行するマイクロコンピユー
タである。
第5図の回路において、通常シーケンスコント
ローラCT30の制御信号を受けたコンピユータ
CT3は入力ポートCH1の入力信号をA/Dコ
ンバータCT4に出力せしめるαをマルチプレク
サに出力する。それによつて、測定器67からの
電位信号をA/Dコンバータに入力し明部電位
VL、暗部電位VDの測定を行なう。
ローラCT30の制御信号を受けたコンピユータ
CT3は入力ポートCH1の入力信号をA/Dコ
ンバータCT4に出力せしめるαをマルチプレク
サに出力する。それによつて、測定器67からの
電位信号をA/Dコンバータに入力し明部電位
VL、暗部電位VDの測定を行なう。
マイクロコンピユータCT3はA/Dコンバー
タにより変換された2値信号をシーケンスコント
ローラからの明,暗部タイミング信号に応じ入力
し、表面電位制御を実行する。それをn回くり返
す。
タにより変換された2値信号をシーケンスコント
ローラからの明,暗部タイミング信号に応じ入力
し、表面電位制御を実行する。それをn回くり返
す。
しかしながら、表面電位計67からの測定値を
もとに、一次帯電器電流、二次帯電器電流を変化
させているので、表面電位計67の不良又は、マ
ルチプレクサCT11、A/DコンバータCT4が
不良の時には、式(1),式(2)からわかるように、正
常な制御を行なうことができない。従つて、制御
に先立つて、表面電位計67、マルチプレクサ
CT11、A/D変換手段CT4の不良の判断をさ
せる。不良であることが分つた場合には、式(1),
式(2)による出力制御を禁止し、CT3のROMに
おいてセツトされた標準値を一次帯電器51b、
二次帯電器69に出力する。こうすることによ
り、不適切な画像のコピー作製を禁止する。又不
良度が激しい等のときは、バツフアCT2を介し
コピー開始禁止信号をシーケンスコントローラに
出力させる。
もとに、一次帯電器電流、二次帯電器電流を変化
させているので、表面電位計67の不良又は、マ
ルチプレクサCT11、A/DコンバータCT4が
不良の時には、式(1),式(2)からわかるように、正
常な制御を行なうことができない。従つて、制御
に先立つて、表面電位計67、マルチプレクサ
CT11、A/D変換手段CT4の不良の判断をさ
せる。不良であることが分つた場合には、式(1),
式(2)による出力制御を禁止し、CT3のROMに
おいてセツトされた標準値を一次帯電器51b、
二次帯電器69に出力する。こうすることによ
り、不適切な画像のコピー作製を禁止する。又不
良度が激しい等のときは、バツフアCT2を介し
コピー開始禁止信号をシーケンスコントローラに
出力させる。
まず、マルチプレクサCT11、A/Dコンバ
ータCT4の不良発見の方法を説明する。
ータCT4の不良発見の方法を説明する。
第5図において、V1,V2は、固定の直流定
電圧電源で、V1≠V2でそれぞれ、マルチプレク
サCT11の入力ポートCH2,CH3に接続され
ている。V1,V2の値は、A/Dコンバータ
CT4の入力変換範囲が±10Vとすれば、V1=−
5V,V2=5Vのように設定する。A/Dコンバー
タCT4の変換精度を8ビツトとすれば、V1の
変換値は3F(16進)、V2の変換値はBF(16進)
として規定される。従つて、CT11,CT4の不
良を発見するために、V1,V2を順次A/D変
換し、予じめCT3のROM又はRAMに設定した
値3F(16進)、BF(16進)に対し、ある許容誤差
以内で等しいことを、マイクロコンピユータCT
3で判断させる。この許容誤差は、A/Dコンバ
ータCT4の変換誤差、V1,V2の設定電圧の
誤差等により決定する。V1,V2のA/D変換
値が、いずれとも設定値に一致している時のみ、
CT11,CT4が正常であると判断する。
電圧電源で、V1≠V2でそれぞれ、マルチプレク
サCT11の入力ポートCH2,CH3に接続され
ている。V1,V2の値は、A/Dコンバータ
CT4の入力変換範囲が±10Vとすれば、V1=−
5V,V2=5Vのように設定する。A/Dコンバー
タCT4の変換精度を8ビツトとすれば、V1の
変換値は3F(16進)、V2の変換値はBF(16進)
として規定される。従つて、CT11,CT4の不
良を発見するために、V1,V2を順次A/D変
換し、予じめCT3のROM又はRAMに設定した
値3F(16進)、BF(16進)に対し、ある許容誤差
以内で等しいことを、マイクロコンピユータCT
3で判断させる。この許容誤差は、A/Dコンバ
ータCT4の変換誤差、V1,V2の設定電圧の
誤差等により決定する。V1,V2のA/D変換
値が、いずれとも設定値に一致している時のみ、
CT11,CT4が正常であると判断する。
また、測定する電圧モードが多ければ多いほど
正確となる。つまり複数個の電圧を測定すること
は、CT11,CT4のいずれかに不良があるにも
かかわらず、偶然A/D変換値が設定値に一致
し、チエゾツクにもれてしまうのを防ぐことがで
きる。表面電位計67の測定電位の信号経路であ
るCT11,CT4の不良をマイクロコンピユータ
CT3を使い、自動的に発見することが可能であ
る。また、特殊な測定器を一切使用せずに不良発
見を行なうことができる。
正確となる。つまり複数個の電圧を測定すること
は、CT11,CT4のいずれかに不良があるにも
かかわらず、偶然A/D変換値が設定値に一致
し、チエゾツクにもれてしまうのを防ぐことがで
きる。表面電位計67の測定電位の信号経路であ
るCT11,CT4の不良をマイクロコンピユータ
CT3を使い、自動的に発見することが可能であ
る。また、特殊な測定器を一切使用せずに不良発
見を行なうことができる。
次に、第5図に示す回路の自己診断及びその結
果に基づき、上記表面電位制御の実行、非実行を
自動的に行なう方法について第8図の制御フロー
チヤートにより説明する。このフローはCT3の
ROMに予じめ命令語のコードで格納されてお
り、1ステツプμsecオーダの速度で読取られて死
処理される 第8図に於いて、ステツプSP−Aは上述のCT
11,CT4の不良判断、ステツプSP−Bは、
CT5,CT7,CT9,51b,CT8,CT10,
67の不良判断、ステツプSP−Cは、67,6
8,70−1等の不良判断を行なう。以下、ステ
ツプSP−Aより順次説明を行なう。
果に基づき、上記表面電位制御の実行、非実行を
自動的に行なう方法について第8図の制御フロー
チヤートにより説明する。このフローはCT3の
ROMに予じめ命令語のコードで格納されてお
り、1ステツプμsecオーダの速度で読取られて死
処理される 第8図に於いて、ステツプSP−Aは上述のCT
11,CT4の不良判断、ステツプSP−Bは、
CT5,CT7,CT9,51b,CT8,CT10,
67の不良判断、ステツプSP−Cは、67,6
8,70−1等の不良判断を行なう。以下、ステ
ツプSP−Aより順次説明を行なう。
CT3にパワーオン又は診断キー(不図示)を
オンすると先ず、C=1(CT3のメモリRAMに
セツトされる制御フラグC)、LED1,2の表示
をクリアし、初期化を行なう(ステツプ1)。C
=1で、表面電位制御アリ、C=0で表面電位制
御ナシである。次に、マルチプレクサに制御信号
αを出力し、基準電源のV1,V2を順次A/D
変換器に送り、A/D変換値が設定値に対して許
容誤差以内にあることを順次判定する(ステツプ
2,3)。もし否であれば、マルチプレクサCT1
1、A/DコンバータCT4のいずれかが不良で
あるので、C=0とし、LED1にEOを表示する
(ステツプ4)。斯かるステツプにより、事前に
CT11,CT4の不良を発見し、表面電位制御ナ
シとすることにより、一次帯電器51b、二次帯
電器69に異常値が出力されるのを防止すること
ができる。ステツプSP−Aで、不良が発見され
た時には、以下のステツプSP−B、ステツプSP
−Cを省略する。これは、ステツプSP−B、ス
テツプSP−Cで、CT11,CT4を使用する為
である。
オンすると先ず、C=1(CT3のメモリRAMに
セツトされる制御フラグC)、LED1,2の表示
をクリアし、初期化を行なう(ステツプ1)。C
=1で、表面電位制御アリ、C=0で表面電位制
御ナシである。次に、マルチプレクサに制御信号
αを出力し、基準電源のV1,V2を順次A/D
変換器に送り、A/D変換値が設定値に対して許
容誤差以内にあることを順次判定する(ステツプ
2,3)。もし否であれば、マルチプレクサCT1
1、A/DコンバータCT4のいずれかが不良で
あるので、C=0とし、LED1にEOを表示する
(ステツプ4)。斯かるステツプにより、事前に
CT11,CT4の不良を発見し、表面電位制御ナ
シとすることにより、一次帯電器51b、二次帯
電器69に異常値が出力されるのを防止すること
ができる。ステツプSP−Aで、不良が発見され
た時には、以下のステツプSP−B、ステツプSP
−Cを省略する。これは、ステツプSP−B、ス
テツプSP−Cで、CT11,CT4を使用する為
である。
尚、この場合、C=1にし、基準電流(ROM
に固定の)を1次,2次に出力させることもでき
る。
に固定の)を1次,2次に出力させることもでき
る。
ステツプSP−Bでは、CT5−CT7−CT9−
51bの一次帯電系、CT5−CT8−CT10−
69の二次帯電系の不良発見を行なう。マイクロ
コンピユータCT3は、例えば、標準値=350μA
が一次帯電器51bに出力されるよう、D/Aコ
ンバータCT5に制御信号を出力する。この時、
一次出力電流CT11のCH4をA/D変換し、
一次出力電流が許容誤差内で正常に出力されてい
るかを判定する(ステツプ5)。もし、否であれ
ば、一次帯電系に不良があると判断してフラグC
をリセツトする(ステツプ6)。一次帯電系不良
により、不良画像の出る恐れがあるので、シーケ
ンスコントローラへ本体停止信号を出力し、コピ
ーを中止し、かつ表示を行ない、複写装置のユー
ザに対し修理を促す(ステツプ9)。二次帯電系
についても、同様な判定処理を行なう(ステツプ
7)。
51bの一次帯電系、CT5−CT8−CT10−
69の二次帯電系の不良発見を行なう。マイクロ
コンピユータCT3は、例えば、標準値=350μA
が一次帯電器51bに出力されるよう、D/Aコ
ンバータCT5に制御信号を出力する。この時、
一次出力電流CT11のCH4をA/D変換し、
一次出力電流が許容誤差内で正常に出力されてい
るかを判定する(ステツプ5)。もし、否であれ
ば、一次帯電系に不良があると判断してフラグC
をリセツトする(ステツプ6)。一次帯電系不良
により、不良画像の出る恐れがあるので、シーケ
ンスコントローラへ本体停止信号を出力し、コピ
ーを中止し、かつ表示を行ない、複写装置のユー
ザに対し修理を促す(ステツプ9)。二次帯電系
についても、同様な判定処理を行なう(ステツプ
7)。
ステツプSP−Bでは、第8図を見ても分かる
様に、一次帯電系のみ不良の時には、LED1に
E1、二次帯電系のみ不良の時には、LED1に
E2、一次、二次帯電系共に不良の時には、
LDED1にE3が表示される為に、不良箇所の発
見が容易になつている。
様に、一次帯電系のみ不良の時には、LED1に
E1、二次帯電系のみ不良の時には、LED1に
E2、一次、二次帯電系共に不良の時には、
LDED1にE3が表示される為に、不良箇所の発
見が容易になつている。
ステツプSP−Cでは、表面電位制御による、
明部電位VL、暗部電位VDを使い、表面電位計
67、全面露光ランプ68、ブランク露光ランプ
70−1の不良判定をする。表面電位計67に関
しての不良は、測定電位出力が一定値になる、又
は、ほとんど変化しないといつたものが大部分で
ある。従つて、VDとVLの電位差を見ることに
より、表面電位計67の不良を発見することがで
きる。また、ブランク露光ランプ70−1、全面
露光ランプ68が切れた場合にも、VDとVLの
電位差を見ることにより不良発見ができる。マイ
クロコンピユータCT3は、VDとVLの電位差を
計算し、この差が一定値τ未満の時には、不良ア
リをと判定する。この時、表面電位制御ナシC=
0とし、前述のROMで規定された標準値を一次
回路、二次回路に出力する。また、LED1にE
4を表示する。
明部電位VL、暗部電位VDを使い、表面電位計
67、全面露光ランプ68、ブランク露光ランプ
70−1の不良判定をする。表面電位計67に関
しての不良は、測定電位出力が一定値になる、又
は、ほとんど変化しないといつたものが大部分で
ある。従つて、VDとVLの電位差を見ることに
より、表面電位計67の不良を発見することがで
きる。また、ブランク露光ランプ70−1、全面
露光ランプ68が切れた場合にも、VDとVLの
電位差を見ることにより不良発見ができる。マイ
クロコンピユータCT3は、VDとVLの電位差を
計算し、この差が一定値τ未満の時には、不良ア
リをと判定する。この時、表面電位制御ナシC=
0とし、前述のROMで規定された標準値を一次
回路、二次回路に出力する。また、LED1にE
4を表示する。
尚正常な画像の出る可能性のある時には、制御
動作のナシを判定しても標準値(本実施例では、
一次電流350μA、二次電流160μA)を出力し、回
路不良に拘らず緊急のコピーを著しく不調を生じ
ない程度可能とする。
動作のナシを判定しても標準値(本実施例では、
一次電流350μA、二次電流160μA)を出力し、回
路不良に拘らず緊急のコピーを著しく不調を生じ
ない程度可能とする。
以上の処理が終ると、シーケンスコントロール
からのシーケンススタート信号がCT1に入力さ
れたか否かを判断する(ステツプ12)。否の間
は前述診断ルーチンをくり返し、コピー開始指令
前常時診断を実行させる。尚、所望コピー数をキ
ヤンセルルするクリアキー(第5図の100)によ
りこのルーチンを止めて、待期ルーチンに移行で
きる(ステツプ13)。コピーボタンによる手動
スタート信号が入力されると、CT3はそれを判
定して、前述の如くドラムをn回回転させ、測定
着37による検出と前述(1),(2)式の演算出力制御
とをn回くり返して、最適電流を出力せしめる。
n回の測定制御が終ると、再度診断キーが入力さ
れる迄ステツプ1に戻つて待機する。尚上記プロ
セス制御による出力でコピー動作をm回くり返し
た後、自動的に連続マルチコピーの完了前にシー
ケンスを中断してステツプ1に戻り、かつ前述の
診断を実行させることができる。この場合異常を
検出すると、更に音声で警告を発し注意を促すこ
とができる。
からのシーケンススタート信号がCT1に入力さ
れたか否かを判断する(ステツプ12)。否の間
は前述診断ルーチンをくり返し、コピー開始指令
前常時診断を実行させる。尚、所望コピー数をキ
ヤンセルルするクリアキー(第5図の100)によ
りこのルーチンを止めて、待期ルーチンに移行で
きる(ステツプ13)。コピーボタンによる手動
スタート信号が入力されると、CT3はそれを判
定して、前述の如くドラムをn回回転させ、測定
着37による検出と前述(1),(2)式の演算出力制御
とをn回くり返して、最適電流を出力せしめる。
n回の測定制御が終ると、再度診断キーが入力さ
れる迄ステツプ1に戻つて待機する。尚上記プロ
セス制御による出力でコピー動作をm回くり返し
た後、自動的に連続マルチコピーの完了前にシー
ケンスを中断してステツプ1に戻り、かつ前述の
診断を実行させることができる。この場合異常を
検出すると、更に音声で警告を発し注意を促すこ
とができる。
以上説明した様に本発明によれば装置の異常が
A/D変換手段にあるのか帯電手段を駆動する
D/A変換手段、トランス回路、ドライバの出力
系にあるのかあるいは感光体の表面電位を検出す
る検出手段にあるのかを正確に見極めることがで
き、保守点検に要する時間を大幅に短縮すること
ができる。更に異常チエツクの際に使用するA/
D変換手段を感光体の表面電位を適正化するため
のA/D変換手段と兼用する構成としたので装置
構成をより簡素化することができる。
A/D変換手段にあるのか帯電手段を駆動する
D/A変換手段、トランス回路、ドライバの出力
系にあるのかあるいは感光体の表面電位を検出す
る検出手段にあるのかを正確に見極めることがで
き、保守点検に要する時間を大幅に短縮すること
ができる。更に異常チエツクの際に使用するA/
D変換手段を感光体の表面電位を適正化するため
のA/D変換手段と兼用する構成としたので装置
構成をより簡素化することができる。
第1−a図は本発明が適用できる複写機の断面
図、第1−b図は第1−a図のドラム付近の平面
図、第2図、第3図、第4図は表面電位特性図、
第5図、第6図、第7図は本発明における診断制
御回路図、第8図は第5図におけるCT3による
制御フローチヤート図であり、図中CT3はマイ
クロコンピユータ、CT4はA/Dコンバータ、
CT5はD/Aコンバータ、CT11はマルチプレ
クサ、67は電位測定器である。
図、第1−b図は第1−a図のドラム付近の平面
図、第2図、第3図、第4図は表面電位特性図、
第5図、第6図、第7図は本発明における診断制
御回路図、第8図は第5図におけるCT3による
制御フローチヤート図であり、図中CT3はマイ
クロコンピユータ、CT4はA/Dコンバータ、
CT5はD/Aコンバータ、CT11はマルチプレ
クサ、67は電位測定器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 感光体をコロナ帯電する帯電手段及び前記感
光体を露光する露光手段を含み前記感光体上に画
像を形成する各種プロセス手段と、 前記感光体上の表面電位を検出する検出手段
と、 前記検出手段からの検出信号をデイジタル信号
に変換するA/D変換手段と、 前記A/D変換手段からの出力に対し、所定の
演算を行ない前記感光体上の表面電位を適正化す
るための制御信号をD/A変換手段を介して前記
帯電手段に出力する制御手段と、 所定の基準信号を発生する基準信号発生手段と
を有し、 前記制御手段は、前記所定の基準信号を前記
A/D変換手段に入力せしめるとともに前記A/
D変換手段からのA/D変換信号が許容誤差範囲
内にあるか否かを判断することにより前記A/D
変換手段が正常か否かを判断する第1の判断手段
と、 前記第1の判断手段により前記A/D変換手段
が正常と判断された場合、特定の制御信号を前記
D/A変換手段に出力し前記帯電手段を駆動する
とともに前記帯電手段を駆動するトランス回路か
ら出力される帯電電流に対応した出力信号を前記
A/D変換手段に入力せしめ、前記A/D変換手
段からのA/D変換信号が許容誤差範囲内にある
か否かを判断することにより前記D/A変換手
段、前記トランス回路及び前記トランス回路を駆
動するドライバが正常か否かを判断する第2の判
断手段と、 前記第2の判断手段により前記D/A変換手
段、前記トランス回路及び前記トランス回路を駆
動するドライバが正常と判断された場合、前記帯
電手段及び前記露光手段を作動させ前記感光体上
に形成した明部電位及び暗部電位を前記検出手段
により検出させるとともに前記検出手段の出力を
前記A/D変換手段に入力せしめ、更に前記A/
D変換手段からのA/D変換信号に基づいて前記
感光体上に形成された明部電位及び暗部電位の差
が一定値以上であるか否かを検出することにより
前記検出手段が正常か否かを判断する第3の判断
手段とを有したことを特徴とする診断機能を有す
る像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62104911A JPS6333668A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 診断機能を有する像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62104911A JPS6333668A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 診断機能を有する像形成装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5607880A Division JPS56151947A (en) | 1980-04-26 | 1980-04-26 | Image former having diagnosis function |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6333668A JPS6333668A (ja) | 1988-02-13 |
JPH036505B2 true JPH036505B2 (ja) | 1991-01-30 |
Family
ID=14393297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62104911A Granted JPS6333668A (ja) | 1987-04-27 | 1987-04-27 | 診断機能を有する像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6333668A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2973004B2 (ja) * | 1988-06-17 | 1999-11-08 | キヤノン株式会社 | 制御装置 |
-
1987
- 1987-04-27 JP JP62104911A patent/JPS6333668A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6333668A (ja) | 1988-02-13 |
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