JPH0330140B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は異なるタイミングで発生する複数の信
号の処理を行なうコンピユータの制御状態を診断
する診断装置に係わる。 従来、コンピユータが入力された信号に対して
正常な制御動作を行なつているか否か、又、前記
信号がコンピユータに正常に入力されているか否
かを判別する有効な方法がなかつた。 本発明は上記の点に鑑み、コンピユータの不良
及び入力信号線の接続不良等の発見を容易にした
診断装置の提供を目的とするものである。 記録媒体に像形成する手段と、少なくとも上記
記録媒体の暗部表面電位を測定し記憶する処理を
含む第１のサブプログラム（SP１２）及び少な
くとも上記記録媒体の明部表面電位を測定し記憶
する処理を含む第２のサブプログラム（SP９）
とを含むプログラム（第１５図）を格納してあ
り、測定された暗部表面電位及び明部表面電位に
基づいて暗部表面電位及び明部表面電位安定化の
ための上記像形成手段の動作条件を決定するマイ
クロコンピユータ（CT７）と、上記マイクロコ
ンピユータの第１、第２のサブプログラムの実行
状態を識別表示する第１の表示手段（LED３，
LED４）と、上記暗部表面電位及び明部表面電
位を表示する第２の表示手段（LED−DO〜LED
−Ｄ７）とを有し、上記マイクロコンピユータは
暗部表面電位及び明部表面電位測定のためのシー
ケンス上の第１、第２のタイミング信号（V_D
CTP，V_LCTP）を外部より入力する手段と、上
記第１、第２のタイミング信号の中のどのタイミ
ング信号が入力されたかを判別する手段と、その
判別結果に応じて上記第１、第２のサブプログラ
ムの一方を選択して実行する手段（第１５図SP
４）と、上記選択実行手段により選択される上記
サブプログラムにより出力される実行状態表示の
ための駆動信号に応答してどのサブプログラムが
実行されているかを上記第１表示手段により表示
させる手段（（SP９，１２の先頭ステツプ）と、
上記選択実行手段により選択される上記サブプロ
グラムの実行により測定された表面電位を読み出
し上記第２表示手段により表示させる手段（第１
５図SP１５）とを有する像形成装置の診断装置
の提供にある。 これにより、サービスマンは外部から入力され
る表面電位測定のためのタイミング信号に対応し
たサブプログラムをマイクロコンピユータが正確
に実行しているか否かをサブプログラムの実行状
態表示器の表示状態を確認することにより容易に
診断でき、また測定された表面電位を表示させ
て、それが適正か否かを確認することにより像形
成装置が正常か否かを容易に診断することができ
る。従つて装置の異常箇所の発見が容易になる。 以下、本発明を複写装置を例にして詳細に説明
する。 第１図ａは本発明を適用し得る複写装置の断面
図である。 ドラム４７の表面は、CdS光導電体を用いた三
層構成のシームレス感光体より成り、軸上に回動
可能に軸支され、コピーキーのオンにより作動す
るメインモータ７１により矢印の方向に回転を開
始する。 ドラム４７が所定角度回転すると、原稿台ガラ
ス５４上に置かれた原稿は、第１走査ミラー４４
と一体に構成された照明ランプ４６で照射され、
その反射光は、第１走査ミラー４４及び第２走査
ミラー５３で走査される。第１走査ミラー４４と
第２走査ミラー５３は１：１／２の速比で動くこと によりレンズ５２の前方の光路長が常に一定に保
たれたまま原稿の走査が行なわれる。 上記の反射光像はレンズ５２、第３ミラー５５
を経た後、露光部で、ドラム４７上に結像する。 ドラム４７は、前露光ランプ５０と前AC帯電
器５１ａにより同時除電され、その後一次帯電器
５１ｂによりコロナ帯電（例えば＋）される。そ
の後ドラム４７は前記露光部で、照明ランプ４６
により照射された像がスリツト露光される。 それと同時に、AC又は一次と逆極性（例えば
−）のコロナ除電を除電器６９で行ない、その後
更に全面露光ランプ６８により表面均一露光によ
り、ドラム４７上に高コントラストの静電潜像を
形成する。感光ドラム４７上の静電潜像は、次に
現像器６２の現像ローラ６５により、液体現像さ
れトナー像として可視化され、トナー像は前転写
帯電器６１により転写し易くされる。 上段カセツト１０、もしくは下段カセツト１１
内の転写紙は、給紙ローラ５９により機内に送ら
れ、レジスタローラ６０で正確なタイミングをと
つて、感光ドラム４７方向に送られ、潜像先端と
紙の先端とを転写部で一致させることができる。 次いで、転写帯電器４２とドラム４７の間を転
写紙が通る間に転写紙上にドラム４７上のトナー
像が転写される。 転写終了後、転写紙は分離ローラ４３によりド
ラム４７より分離され、搬送ローラ４１に送ら
れ、熱板３８と押えローラ４０，４１との間に導
かれて、加圧、加熱により定着され、その後排出
ローラ３７により紙検出用ローラ３６を介してト
レー３４へ排出される。 又、転写後のドラム４７は回転続行しクリーニ
ングローラ４８と弾性ブレード４９で構成された
クリーニング装置で、その表面を清掃し、次サイ
クルへ進む。 ここで表面電位を測定する表面電位計６７は全
面露光ランプ６８と現像器６２の間のドラム４７
の表面に近接して取付けられている。 上記コピーサイクルに先立つて実行するサイク
ルとして、電源スイツチ投入後ドラム４７を停止
したままクリーニングブレード４９に現像液を注
ぐステツプがある。以下、これをプリウエツトと
称す。これはクリーニングブレード４９付近に蓄
積しているトナーを流し出すとともに、ブレード
４９とドラム４７の接触面に潤滑を与えるためで
ある。又プリウエツト時間（４秒）後ドラム４７
を回転させ前露光ランプ５０や前AC除電器５１
ａ等によりドラム４７の残留電荷やメモリを消去
し、ドラム表面をクリーニングローラ４８、クリ
ーニングブレード４９によりクリーニングするス
テツプがある。以下これを前回転INTRと称す。
これはドラム４７の感度を適正にするとともにク
リーンな面に像形成するためである。上記プリウ
エツトの時間、前回転の時間（数）は種々の条件
により自動的に変化する（後述）。 又セツトされた数のコピーサイクルが終了した
後のサイクルとして、ドラム４７の数回転させ
AC帯電器６９等によりドラムの残留電荷やメモ
リを除去し、ドラム表面をクリーニングするステ
ツプがある。以下、これを後回転LSTRと称す。
これはドラム４７を静電的、物理的にクリーンに
して放置するためである。 第１図ｂは第１図のブランク露光ランプ７０付
近の平面図である。ブランク露光ランプ７０−１
〜７０−５は、ドラム回転中で露光時以外のとき
点灯させ、ドラム表面電荷を消去して、余分なト
ナーがドラムに付着するのを防止している。ただ
し、ブランク露光ランプ７０−１は表面電位計６
７に対応するドラム面を照射するので、表面電位
計６７で暗部電位を測定するとき一瞬消してい
る。またＢサイズのコピーでは、画像領域がA4
やA3サイズにくらべて小さくなるので非画像領
域に対し、ブランク露光ランプ７０−５を光学系
前進中でも点灯させる。ランプ７０−０はシヤー
プカツトランプと称するもので、分離ガイド板４
３−１に接触しているドラム部分に、光を照射
し、その部分の電荷を完全に消去し、トナーの付
着を防ぎ、分離欠け幅分を汚さぬようにしてい
る。このシヤープカツトランプは、ドラム回転
中、常時点灯している。 この様な電子写真複写装置の複写プロセスの各
処理位置において、原稿の明部（光の反射が多い
部分）と暗部（光の反射が少ない部分）に対応す
る感光ドラムの表面電位がどのように変化するか
を第２図に示す。最終的な静電潜像として必要な
のは図中点に於ける表面電位であるが、そこで
の暗部と明部の表面電位○イ，○ロは感光ドラム４７
の周囲温度が上昇した場合、第３図○イ′，○ロは′の
如く変化し、又感光ドラム４７の経年変化に対し
ても第４図○イ′，○ロは′の如く変化し、暗部と明部
のコントラストが得られなくなる。 斯かる温度変化或は経年変化に伴う表面電位の
変化を補償する方法を以下に詳述する。 まず表面電位を検出する検出手段としての表面
電位計について説明する。 第５図は表面電位計の側断面図、第６図は第５
図のＸ−X′線で切断した断面図、第７図は第５
図のＹ−Y′線で切断した断面図、第８図は後述
の断続遮断手段としてのチヨツパの斜視図であ
る。 第５，６，７，８図に於いて、８１は黄銅で形
成された外筒で外筒は表面電荷検出窓８８を有し
ている。８２はチヨツパ８３を回転せしめる駆動
手段としてのモータ、８３は円筒形のチヨツパで
発光ダイオード光通過窓９０と電位測定窓８９を
有している。８４は発光ダイオード、８５は表面
電荷測定電極、８６は前記電極５５の出力を検出
する検出回路を形成したプリアンププリント板、
８７はフオトトランジスタである。 表面電位計６７は被測定面であるドラム表面か
ら２mm離れた位置に前記表面電荷検出窓８８がド
ラム表面に対向するように取付けられており、表
面電位計内には前記電極８５で検出した電圧を増
幅するプリアンププリント板８６が内蔵され一体
に形成されている。 不図示の制御回路よりセンサモータドライブ信
号SMDが出力されるとセンサモータ８２が駆動
し、円筒形チヨツパ８３が回転し、ドラム表面上
の電荷が電位測定窓８９を介して前記電極８５に
誘起される。 前記電位測定窓８９はチヨツパ８３上に等間隔
に４箇所設けられており、又発光ダイオード光通
過窓９０は各々の電位測定窓８９の丁度中間に等
間隔に４箇所設けられている。前記電極８５で誘
起されるのはチヨツパ８３が回転し等間隔でドラ
ム表面と電極８５をさえぎる為に交流電圧とな
る。発光ダイオード８４からの光がフオトトラン
ジスタ８７に受光されるのは前記チヨツパ８３が
ドラム表面と電極８５をさえぎつた時であり、フ
オトトランジスタ８７の出力同期信号として用い
られる。９１は前記フオトトランジスタ８７に外
部からの光の入光を防ぐ為の遮蔽部材で、粉塵あ
るいはトナー等が表面電位計内部にはいり、測定
に悪影響を与えるのを防いでいる。 プリント板８６上に取り付けられた増幅器の増
幅率を変更することにより表面電位検出出力のゲ
インを調節する変抵抗器９２は開口部９３よりド
ライバー等で調節能である。 表面電位計６７はドラム４７よりも若干長くな
つており、ドラム等を支持する側板９６，９７に
位置出し用円垂形先端部９４と後端部９５により
取付けられている。前記側板９７は取りはしず可
能となつている。 次に表面電位制御方式について概要を説明す
る。 本実施例に於いては明部及び暗部のドラム表面
電位を検出する為に第１図の原稿照明用ランプ６
４を用いないでブランク露光ランプ７０を用いて
いる。前記ブランク露光ランプ７０の光を照射し
たドラム表面の部分の表面電位を明部表面電位と
して測定し、前記ブランク露光ランプの光を照射
しないドラム表面の部分の表面電位を暗部表面電
位として測定する。 まず適正な画像コントラストを得ることができ
る明部電位と暗部電位の値を目標値として設定す
る。本実施例に於いては目標明部電位V_LOを−
100V、目標暗部電位V_DOを＋475Vに設定した。
本実施例では一次帯電器及びAC帯電器に流す電
流を制御して表面電位を制御しているので、明部
電位及び暗部電位が各々前記目標電位V_LO，V_DO
となるようにプラス帯電器基準電流I_P1，AC帯電
器基準電流I_AC1を仮定している。本実施例では、 I_P1＝350μA I_AC1＝160μAとしている。制御手順
を説明する。 まず第１回目に検出した表面電位を各々明部電
位V_L1及び暗部電位V_D1としそれぞれ目標明部電
位V_LO、目標暗部電位V_DOとの差がどれだけある
か判断する。差電圧をそれぞれ△V_L1，△V_D1と
すると、 △V_L1＝V_LO−V_L1 (1) △V_D1＝V_DO−V_D1 (2) 明部電位の差の補正はAC帯電器で、暗部電位
の差の補正は１次帯電器で行なわれるが、実際に
はAC帯電器を制御すると明部電位のみならず暗
部電位も影響を受ける。同様に１次帯電器を制御
すると暗部電位のみならず明部電位も影響を受け
るのでAC帯電器及び１次帯電器の両方の考慮し
た修正方式を採用した。 １次帯電器の補正電流値△I_P1は、 △I_P1＝α₁・△V_D1＋α₂・△V_L1 (3) となる。 ここで設定係数α₁及びα₂は表面電位V_D，V_Lを
それぞれ変化させた場合の１次帯電器の電流値の
変化であり次のように表わせる。 α₁＝△I_P（１次帯電器電流の変化）／△V_D（暗部電
位の変化）(4) α₂＝△I_P（１次帯電器電流の変化）／V_L（明部電位
の変化）(5) 一方、AC帯電器の補正電流他△I_AC1は、 △I_AC1＝β₁・△V_D1＋β₂・△V_L1 (6) ここで設定係数β₁及びβ₂は次のように表わせ
る。 β₁＝△I_AC（AC帯電器電流の変化）／△V_D（暗部電位
の変化）(7) β₂＝△I_AC（AC帯電器電流の変化）／△V_L（明部電位
の変化）(8) 従つて第１回の補正後のプラス帯電器電流I_P2
及びAC帯電器電流I_AC2は以下の如く表わされる。 (4)(5)(1)式より、 同様に I_P2＝α・△V_D1＋α₂・△V_L1＋I_P1 (9) I_AC2＝β₁・△V_D1＋β₂・△V_L1＋I_AC1 (10) ここで設定係数α₁，α₂，β₁，β₂は所定の帯電条
件、例えば雰囲気の温度、湿度、コロナ帯電器の
状態等で決定されたものであるので雰囲気の変
化、帯電器の劣化等により表面電位が一回の制御
により目標値に達するかどうかわからないので装
置が所定状態の時、複数回表面電位を測定してコ
ロナ放電装置の出力の制御も測定と同数回行なつ
ている。第２回目以降の修正も前述した第１回目
の修正と同様の方法を用いているので第ｎ回目の
修正後のプラス帯電器とAC帯電器の電流値
I_Po+1，I_ACo+1は以下の様に表わせる。 I_Po+1＝α₁・△V_Do＋α₂・△V_Lo＋I_Po I_ACo+1＝β₁・△V_Do＋β₂・△V_Lo＋I_ACo 第９図ａ，ｂに１次帯電器制御電流I_Pを３回修
正した場合の暗部電位の変化を示している。第９
図ａは設定の較正係数が実際の係数よりも小さか
つた場合、第９図ｂは設定の較正係数が実際の係
数よりも大きかつた場合を示している。 本実施例に於いては修正回数を下表のように設
定した。

【表】 この様に設定することにより感光体上の表面電
位をより安定化させると同時にコピースピードの
低下を最小限におさえることが可能となる。 又状態１では一次帯電器とAC帯電器の前回の
制御出力電流値を記憶しておいてその値により一
次帯電器とAC帯電器を制御しており、状態２で
は前回の制御出力電流を感光体に流して表面電位
を検出して制御している。状態３は、同様に前回
の制御出力電流を感光体に流して、表面電位を検
出し、前回制御からの時間経過を考慮して、２回
制御している。 状態４では、前回制御から時間がかなり経過し
ているので、第１回目の修正の際に、前記基準電
流I_P1，I_AC1を流して、４回制御を行なう。 本実施例に於いては更に現像バイアス電圧の制
御を行つている。第１０図に説明の為の略断面図
を示す。 これは以下の方法で行う。原稿露光の直前に原
稿台ガラス５４のわきに取り付けた標準白色板８
０を原稿露光用のハロゲンランプ４６で照射し、
その散乱反射光をミラー４４，５３，５５及びレ
ンズ５２等を介してドラム４７に照射する。この
照射光量は標準光量とし、その後ランプ８１が移
動して実際に原稿を露光する際の露光量はオペレ
ータが任意に設定した露光量に変更される。表面
電位計６７は、ドラム４７の前記散乱反射光が照
射された部分の表面電位V_Lを測定し、前記測定
値V_Lにプラス100V加えた電圧を現像バイアス電
圧V_Hとする。 現像バイアス電圧V_Hによりトナーの電位は前
記バイアス電圧とほぼ同じになり例えば標準明部
電位すなわち前記測定値V_Lが−100Vのときトナ
ーの電位はOVとなりトナーはドラムに付着しな
い為原稿バツクグラウンド部分のカブリを防ぎ常
に安定した現像を行なうことができ、その結果安
定した画像を得ることができる。 又本実施例では一般の原稿の白色部に相当する
標準白色板８０に標準光量を照射し、実際に原稿
を露光する際にはオペレータが任意に設定した露
光量に変更される為原稿バツクグラウンドが白で
なく色つきのもの等においても露光量によりドラ
ムの明部表面電位を変化させ安定な画像を得るこ
とができる。 以上の様に実際に露光に用いる原稿露光ランプ
で標準白色板８０に光を当てることにより現像バ
イアス電圧V_Hを決めている為に現像バイアス電
圧の制御の精度が上がり、かつ原稿露光直前に行
つている為にコピースピードの低下をきたすこと
もない。更に原稿露孔光際にはオペレータが任意
に設定した露光量に変更される為に原稿バツクグ
ラウンドが白でなく色つきのもの等においてもカ
ブリを生ずることなく安定な画像を得ることがで
きる。 以上説明した画像形成及び表面電位制御を行な
う為のタイムチヤートを第１１図に示す。 第１１図に於いてINTRはドラム上の残留電荷
を消去しドラムの感度を適正にする為の前回転
で、コピー動作前には必らず実行される。 CONTR−Ｎはドラムを放置時間に応じて定常
状態に持つていく為のドラム回転であつて同時
に、表面電位計でドラム１回転ごとに暗部電位
V_Lと暗部電位V_Dを交互に測定し後述の表面電位
制御回路の働らきで、ドラム表面の電位を目標値
に近づけている。表面電位V_D，V_Lの検出は１回
転に１回ずつ行つているが複数回行うことも勿論
可能である。 CR１はドラム0.6回転で明部電位V_Lと暗部電位
V_Dを検出しコロナ帯電器の制御を行うドラム回
転である。 CR２はコピー開始直前のドラム回転であつて
原稿照明ランプからの標準光量で明部電位を測定
し現像ローラへのバイアス値を決定する為のもの
である。コピー開始の際は必ず実行される。
SCFWは光学系前進中を示す。つまり実際のコピ
ー動作回転を示す。 以上説明した表面電位制御を実現する為の回路
を以下に説明する。 第１２図は、感光ドラム４７の表面電位を検出
して処理する表面電位検出処理回路で、第１３図
は第１２図からの制御信号により１次帯電器、
AC除電器を制御する帯電器制御回路、第１４図
は第１２図からの制御信号により現像バイアス電
圧を制御するバイアス電圧制御回路である。 第１３図、第１４図については例えば本出願人
や先に出願した特願昭53−103037号に詳細に説明
がなされているのでここでは省略する。 第１２図において、CT１は前記センサモータ
ドライブ信号SMDを受けてモータ８２の回転を
制御するモータ制御回路、CT２は発光ダイオー
ド８４、フオトトランジスタ８７の組み合わせで
同期信号を発生する同期信号発生回路、CT３は
プリアンプ回路PAからの交流検出信号を回路CT
２からの同期信号でクランプする同期クランプ回
路、CT４，CT５は各々回路CT２，CT３からの
信号を直流平滑する平滑回路、CT６は複写装置
本体を制御する不図示のDCコントローラからの
信号を受けるためのバツフア回路、バツフア回路
CT６の出力はＡ／Ｄコンバータ内蔵の８ビツト
のデジタル・マイクロコンピユータCT７へ入力
される。 CT８はＤ／Ａコンバータでマイクロコンピユ
ータCT７からの出力信号をアナログ量に変換す
る。Ｄ／ＡコンバータCT８の出力信号はレベル
変換回路CT９でレベル変換される。回路CT９の
出力信号DCCは１次帯電器制御信号として、又
信号ACCはAC除電器制御信号として第１３図の
回路に入力される。又信号RBCは現像ローラバ
イアス制御信号として第１４図の回路に入力され
る。CT１０は、コンピユータCT７からの信号に
より発光ダイオードLED１〜LED６，LED−DO
〜LED−Ｄ７を点灯する表示回路である。又、
SW１，SW２はコンピユータCT７へ制御情報を
入力する為のスイツチである。 マイクロコンピユータCT７は前述した表面電
位制御方式を実施する為のプログラムを内蔵して
おり、そのプログラムフローチヤートを第１５図
Ａ，Ｂ，Ｃに示す。 第１５図Ａ，Ｂ，Ｃにおいて、DCは１次帯電
器を制御するための８ビツトのデイジタルル値、
同様にAC，RBは各々AC除電器現像バイアスの
制御デジタル値である。又、DCSA，ACSA，
RBSAは前記デジタル値DC，AC，RBをセーブ
するマイクロコンピユータCT７内のRAMの記
憶エリアを示す。 ステツプSP１は電源オン時の帯電器出力及び
現像バイアスの初期値設定を行うステツプであ
る。コピーボタンが押されメインモータドライブ
信号DRMDが１になるとステツプSP３に進む
（ステツプSP２）。ステツプSP３では第１１図の
タイムチヤートでも明らかな如く、信号DR−
MDが１になると同時に信号HVT１も１となる
ので信号DRMDが１であることを示す発光ダイ
オードLED１と、信号HVT１が１であることを
示す発光ダイオードLED２を点灯させると共に
記憶エリアACSA，DCSAの内容を出力する。 ステツプSP４では前記各タイミング信号
DRMD，HVT１，V_LCTP，V_DCTP，V_LCTP，
RBTPの入力を見ており、入力により各信号が
入力されるとそれに対する処理を行なうステツプ
に進ませる。DRMDが０になるとこのときは
HVT１も０なので発光ダイオードLED１，２を
ステツプSP７で消灯させる。又DRMD＝１で
HVT１＝０のときは後回転（LSTR）中なので
発光ダイオードLED２をステツプSP５で消灯さ
せ、ステツプＳ−Ｐ６で信号HVT１，DRMDを
見ておりDRMDが０になる前にHVT１が１にな
るとに戻る。DRMDが０になるとステツプSP
７でLED１，LED２を消灯している。 又、ステツプSP４でV_LCTPが１のときにはス
テツプSP９で処理を行ない、処理中発光ダイオ
ードLED３を点灯させている。同様に各信号V_D
CTP，V_LCTP，RBTPが１のときはそれぞれ
れ、ステツプSP１２，SP１３，SP１０で処理が
行われ、LED４，LED５，LED６がその処理中
それぞれ点灯している。発光ダイオードLED１
〜LED６と各プログラムステツプの関係は下表
のとおりである。

【表】 つまり発光ダイオードLED１〜LED６のうち
どの発光ダイオードが点灯しているかを確認する
ことによりコンピユータCT７内のプログラムの
どの部分が実行されているかを知ることができ
る。また発光ダイオードLED１〜LED６はコン
ピユータCT７が各信号の入力をソフトウエアで
確認した後点灯しているのでコンピユータ内に実
際に信号が入力されていること、及びコンピユー
ターが動作していることを確認できる。更にコン
ピユータへの入力端子以前で信号の発生を確認す
る為の表示器を設けた場合には各信号に対応する
表示器同志を比較することにより、コンピユータ
の不良か、入力制御信号が狂つているのかを判断
することができる。 また、ステツプSP１２に示す様に、発光ダイ
オードLED−Ｄ１は一次帯電器制御デジタル値
DCが制御可能な値を超えた時に点灯する。又、
発光ダイオードLED−Ｄ２はデジタル値DCが制
御可能な値以下になつた時点灯する。同様にAC
除電器制御デジタル値ACが制御可能な値以上の
ときLED−Ｄ３が、値以下のときLED−Ｄ４が
各々点灯する。 発光ダイオードLED−Ｄ５は、ステツプSP１
５で示すように電位計６７からの同期信号がない
時点灯し、センサモータが回転していないことを
表示する。 発光ダイオードLED−Ｄ６，LED−Ｄ７はス
テツプSP１４に示すように、コントラスト
CONT（明部電位V_Lと暗部電位V_Dとの差電圧）
がそれぞれ498V，396V以下になつた時に点灯す
る。尚、LED−Ｄ０は予備の表示用発光ダイオ
ードである。このように本実施例では発光ダイオ
ードを用いて異常状態の表示及び制御状態の表示
を行つている。 第１２図のSW１−Ａ，SW１−Ｂは最後に測
定したV_L，V_D，V_Lの値をマイクロコンピユータ
CT７内の各セーブエリアから発光ダイオード
LED−Ｄ０〜LED−Ｄ７に８ビツトで表示する
ための切り換えスイツテである。スイツチSW１
−Ａ，SW１−Ｂ共にオフの時は上述した状態表
示を発光ダイオードLED−Ｄ１〜LED−Ｄ７を
用いて行なう。 又、スイツチSW１−ＡがオフでSW１−Ｂが
オンのとき、ステツプSP１５に示すように明部
電位V_LのコンピユータCT７内のセープエリアに
格納されているデジタル値を読み出して、発光ダ
イオードLED−Ｄ０〜LED−Ｄ７に８ビツトで
表示する。同様にスイツチSW１−Ａがオンで、
SW１−Ｂがオフのときは暗部電位V_Dを表示し、
スイツチSW１−Ａ，SW１−Ｂ共にオンのとき
は標明部電位V_Lを表示する。 この表示は第１５図のサブルーチンEDSPで行
つており、サブルーチンEDSPはステツプSP４，
SP６，SP８，SP１０に設けられており、信号の
持ち時間を利用して表示している。 以上のように本実施例では電位計の出力をデジ
タルコンピユータCT７内に内蔵のＡ／Ｄ変換器
でデジタル値に変換し、異なるタイミミングにお
ける前記Ａ／Ｄ変換器の出力値をデジタルコンピ
ユータ内に各々記憶し、切換えスイツチにより前
記各出力値を指定し、指定に基づいて出力値を発
光ダイオードでデジタル表示している。このよう
に構成することにより電圧計等の外部測定装置を
用いることなく、指定手段としてのスイツチの切
り換えのみで容易に測定電位を調べることがで
き、また異なるタイミングで発生する電位を容易
に調べることができるので電位検出装置を備えた
装置の故障診断を行うことも可能となる。 例えば、一次帯電器が不良で出力が充分に出
ず、他の回路が正常のときは、V_L，V_P，V_Lとも
にOVに近い電圧になるので、V_L，V_D，V_L、と
もにOVの付近の検出値ならば一次帯電器不良と
判断できる。又、AC除電器、全面露光ランプ、
原稿露光ランプ或はブランク露光ランプ等が不良
の時には各々の場合別にV_L，V_D，V_Lが特有な値
を示すので故障箇所を容易に発見することができ
る。 又、スイツチSW２−Ａは一次帯電器及びAC
除電器の出力を検出表面電位で制御するか或は検
出電位に抱わらず所定値で制御するかの切り換え
スイツチで、オフの時電位制御、オンのとき所定
制御している。同様にスイツチSW２−Ｂはオフ
のとき現像バイアス電圧を検出電位で制御し、オ
ンのとき所定値制御としている。 ただし、SW２−Ａ，SW２−Ｂ共にオンの時
はステツプSP１５に示すように電位測定表示モ
ードとして表面電位計からの測定値をＡ／Ｄ変換
した値をそのまま発光ダイオードLED−Ｄ０〜
LED−Ｄ７に表示している。 この電位測定表示モードは例えば表面電位計６
７の出力のゲインを調整する際に用いる。ゲイン
の調整は感光ドラムのかわりに所定電圧にバイア
スした擬似ドラムを複写機に取り付け、前記所定
電圧と発光ダイオードLED−Ｄ０〜LED−Ｄ７
の表示値とが一致する様に前記可変抵抗９２を調
節することにより行なう。このとき信号Ｄ−
RMDは０なのでフローチヤート上ではステツプ
SP２，SP８の処理を繰り返し続けるので常に電
位測定表示モードとなる。 このように外部測定器を使用することなく、測
定電位を容易に調べることができるので電位計の
調整がより簡便となる。更に状態表示用の表示器
と測定電位の表示器とを兼用して特定状態の時だ
け測定電位の表示を行つているのでコストアツプ
を最小におさえることができる。 本実施例においては、測定した表面電位に基づ
く一次帯電器、AC除電器の制御値の演算を暗部
表面電位を測定するステツプ１２で行つている
が、この演算は暗部表面電位を測定するステツプ
９で行つても良い。

【図面の簡単な説明】

第１図ａは本発明を適用しうる複写装置の断面
図、第１図ｂはブランク露光ランプ７０付近の平
面図、第２図は感光ドラムの各部における表面電
位を示す特性図、第３図、第４図は表面電位の変
化を示す特性図、第５図は表面電位計の側断面
図、第６図は第５図のＸ−X′線に沿う断面図、
第７図は第５図のＹ−Y′線に沿う断面図、第８
図は円筒型チヨツパの斜視図、第９図ａ，ｂは暗
部表面電位の変化を示す図、第１０図ａは現像バ
イアス制御に関する複写装置の略断面図、第１０
図ｂは原稿露光ランプの点灯調光回路図、第１１
図は画像形成及び表面電位制御のタイムチヤート
を示す図、第１２図は表面電位検出処理回路図、
第１３図は帯電器制御回路図、第１４図はバイア
ス電圧制御回路図、第１５図Ａ〜第１５図Ｃはコ
ンピユータCT７の制御フローチヤートを示す図
である。 図において、４７は感光ドラム、６７は表面電
位計、LED１〜LED６、LED−Ｄ０〜LED−Ｄ
７は発光ダイオードを各々示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 記録媒体に像形成する手段と、 少なくとも上記記録媒体の暗部表面電位を測定
   し記憶する処理を含む第１のサブプログラム及び
   少なくとも上記記録媒体の明部表面電位を測定し
   記憶する処理を含む第２のサブプログラムとを含
   むプログラムを格納してあり、測定された暗部表
   面電位及び明部表面電位に基づいて暗部表面電位
   及び明部表面電位安定化のための上記像形成手段
   の動作条件を決定するマイクロコンピユータと、 上記マイクロコンピユータの第１、第２のサブ
   プログラムの実行状態を識別表示する第１の表示
   手段と、 上記暗部表面電位及び明部表面電位を表示する
   第２の表示手段とを有し、 上記マイクロコンピユータは暗部表面電位及び
   明部表面電位測定のためのシーケンス上の第１、
   第２のタイミング信号を外部より入力する手段
   と、 上記第１、第２のタイミング信号の中のどのタ
   イミング信号が入力されたかを判別する手段と、 その判別結果に応じて上記第１、第２のサブプ
   ログラムの一方を選択して実行する手段と、 上記選択実行手段により選択される上記サブプ
   ログラムにより出力される実行状態表示のための
   駆動信号に応答してどのサブプログラムが実行さ
   れているかを上記第１表示手段により表示させる
   手段と、 上記選択実行手段により選択される上記サブプ
   ログラムの実行により測定された表面電位を読み
   出し上記第２表示手段により表示させる手段とを
   有することを特徴とする像形成装置の診断装置。