JP2003131520A - 感光体ドラム検査方法及びその装置 - Google Patents
感光体ドラム検査方法及びその装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 感光体ドラムの電気性能品質を保証する為の
検査方法及びその検査装置を提供する。 【解決手段】 被検査物に暗所で帯電する帯電器、除電
及び露光を行う光照射光源、除電・帯電・露光後のドラ
ム表面電位を検出するセンサーを少なくとも１つ有し、
各電位検出信号を処理する処理部と良否判定及び全体を
コントロールする制御部を具備し、感光体ドラム全面の
電気性能検出により被検査物の良否判定を行う。
検査方法及びその検査装置を提供する。 【解決手段】 被検査物に暗所で帯電する帯電器、除電
及び露光を行う光照射光源、除電・帯電・露光後のドラ
ム表面電位を検出するセンサーを少なくとも１つ有し、
各電位検出信号を処理する処理部と良否判定及び全体を
コントロールする制御部を具備し、感光体ドラム全面の
電気性能検出により被検査物の良否判定を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、感光体ドラム検査
方法及びその装置に関するものである。
方法及びその装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】被検査物である感光体ドラムの品質を保
証する為に、製品である複写機またはＬＢＰに被検査物
を組み込んで実際にトナーと用紙を用いて画出しを行い
用紙に出力された画を目視検査することで感光体ドラム
の検査を行っていた。
証する為に、製品である複写機またはＬＢＰに被検査物
を組み込んで実際にトナーと用紙を用いて画出しを行い
用紙に出力された画を目視検査することで感光体ドラム
の検査を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
トナー・用紙を用いて画出しを行いその紙に出力された
画を目視検査する事から、トナー・用紙を検査の為に消
耗する。また検査に長い時間を要するのと目視検査と言
う事から検査員の判定バラツキを生じる。さらに検査に
使用した感光体ドラムを廃棄する事もあり全数検査には
不向きである。
トナー・用紙を用いて画出しを行いその紙に出力された
画を目視検査する事から、トナー・用紙を検査の為に消
耗する。また検査に長い時間を要するのと目視検査と言
う事から検査員の判定バラツキを生じる。さらに検査に
使用した感光体ドラムを廃棄する事もあり全数検査には
不向きである。
【０００４】本発明に係わる第１の目的は、被検査物の
感光体ドラムの感光体部検査にトナー及び用紙を不要と
し画出しをせずに、短時間の検査を実現し全数検査を可
能にし目視検査による検査員の判定バラツキをなくす検
査方法及び検査装置を提供すること。
感光体ドラムの感光体部検査にトナー及び用紙を不要と
し画出しをせずに、短時間の検査を実現し全数検査を可
能にし目視検査による検査員の判定バラツキをなくす検
査方法及び検査装置を提供すること。
【０００５】本発明に係わる第２の目的は、被検査物の
感光体ドラムの感光体部検査において感光体機能である
帯電電位及び露光後電位の計測により、感光体の塗布不
良を確実に判定する検査方法及び装置を提供すること。
感光体ドラムの感光体部検査において感光体機能である
帯電電位及び露光後電位の計測により、感光体の塗布不
良を確実に判定する検査方法及び装置を提供すること。
【０００６】本発明に係わる第３の目的は、被検査物の
感光体ドラムの感光体部検査において感光体機能である
帯電電位及び露光後電位の計測を確実に安定した時点の
電位計測を行う検査方法及び装置を提供すること。
感光体ドラムの感光体部検査において感光体機能である
帯電電位及び露光後電位の計測を確実に安定した時点の
電位計測を行う検査方法及び装置を提供すること。
【０００７】本発明に係わる第４の目的は、被検査物の
感光体ドラムの感光体部検査において感光体への光照射
として必要な除電及び露光の光源を共用し、検査機の小
型化を図る検査方法及び装置を提供すること。
感光体ドラムの感光体部検査において感光体への光照射
として必要な除電及び露光の光源を共用し、検査機の小
型化を図る検査方法及び装置を提供すること。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、以下の構成を
備えることにより上記課題を解決できた。
備えることにより上記課題を解決できた。
【０００９】（１）被検査物の感光体ドラムに暗所で帯
電する帯電手段、光照射する光源及び照射手段、帯電前
後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手段、及
び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処理
する処理部を備え帯電後と光照射後でそれぞれ良否判定
を行う判定手段と、被検査物を定速回転する駆動部を備
え、これら全体をコントロールする制御部を具備し感光
体ドラム全面の電気性能検出により良否判定を行う感光
体ドラム検査方法。
電する帯電手段、光照射する光源及び照射手段、帯電前
後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手段、及
び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処理
する処理部を備え帯電後と光照射後でそれぞれ良否判定
を行う判定手段と、被検査物を定速回転する駆動部を備
え、これら全体をコントロールする制御部を具備し感光
体ドラム全面の電気性能検出により良否判定を行う感光
体ドラム検査方法。
【００１０】（２）被検査物の検査前に少なくとも一度
は対象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位セ
ンサープローブにて検出し、良品物の各々電位検出デー
ターを基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査方
法。
は対象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位セ
ンサープローブにて検出し、良品物の各々電位検出デー
ターを基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査方
法。
【００１１】（３）初期除電への光照射後、帯電後及び
帯電後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する
或る放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電
位検出することを特徴とする前記（１）記載の感光体ド
ラム検査方法。
帯電後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する
或る放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電
位検出することを特徴とする前記（１）記載の感光体ド
ラム検査方法。
【００１２】（４）初期除電と露光用光源を共用する事
を特徴とする前記（３）記載の感光体ドラム検査方法。
を特徴とする前記（３）記載の感光体ドラム検査方法。
【００１３】（５）被検査物の感光体ドラムに暗所で帯
電する帯電手段、光照射する光源及び照射手段、帯電前
後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手段、及
び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処理
する処理部を備え帯電後と光照射後でそれぞれ良否判定
を行う判定手段と、被検査物を定速回転する駆動部を備
え、これら全体をコントロールする制御部を具備し感光
体ドラム全面の電気性能検出により良否判定を行う感光
体ドラム検査装置。
電する帯電手段、光照射する光源及び照射手段、帯電前
後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手段、及
び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処理
する処理部を備え帯電後と光照射後でそれぞれ良否判定
を行う判定手段と、被検査物を定速回転する駆動部を備
え、これら全体をコントロールする制御部を具備し感光
体ドラム全面の電気性能検出により良否判定を行う感光
体ドラム検査装置。
【００１４】（６）被検査物の検査前に少なくとも一度
は対象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位セ
ンサープローブにて検出し、良品物の各々電位検出デー
ターを基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査装
置。
は対象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位セ
ンサープローブにて検出し、良品物の各々電位検出デー
ターを基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査装
置。
【００１５】（７）初期除電への光照射後、帯電後及び
帯電後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する
或る放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電
位検出することを特徴とする前記（５）記載の感光体ド
ラム検査装置。
帯電後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する
或る放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電
位検出することを特徴とする前記（５）記載の感光体ド
ラム検査装置。
【００１６】（８）初期除電と露光用光源を共用する事
を特徴とする前記（７）記載の感光体ドラム検査装置。
を特徴とする前記（７）記載の感光体ドラム検査装置。
【００１７】以上の構成を備えることにより、以下の作
用、効果を呈する。
用、効果を呈する。
【００１８】（１）被検査物は定速回転し、帯電及び光
照射長さは対象被検査物長さと同等以上を有し、電位検
出センサーは少なくとも１つ以上を有し、その電位セン
サーが被検査物の長て方向に移動する事で、除電・帯電
・露光後の表面電位を検出し、良品物の表面電位を基に
判定処理され、被検査物の電気性能良否判定を行う事が
可能であり、又、帯電・光照射長さを被検査物長さと同
等以上にする事と、電位検出センサーの数を増す事で検
出所要時間が短縮出来る。
照射長さは対象被検査物長さと同等以上を有し、電位検
出センサーは少なくとも１つ以上を有し、その電位セン
サーが被検査物の長て方向に移動する事で、除電・帯電
・露光後の表面電位を検出し、良品物の表面電位を基に
判定処理され、被検査物の電気性能良否判定を行う事が
可能であり、又、帯電・光照射長さを被検査物長さと同
等以上にする事と、電位検出センサーの数を増す事で検
出所要時間が短縮出来る。
【００１９】（２）被検査物の検査前に少なくとも一度
は対象被検査物の良品物の電位データーを検出し、その
電位データーを検査判定の基にする事で確実な判定結果
が得られる。又、被検査物の対象機種変更に対しても対
象とする良品物の電位データーを同様に検出する事で、
短時間に同様に確実な判定結果が得られる。
は対象被検査物の良品物の電位データーを検出し、その
電位データーを検査判定の基にする事で確実な判定結果
が得られる。又、被検査物の対象機種変更に対しても対
象とする良品物の電位データーを同様に検出する事で、
短時間に同様に確実な判定結果が得られる。
【００２０】（３）感光体への光照射及び帯電動作を行
うと感光体特性としての応答時間があり、本放置時間の
設定は前記応答時間と同等又は以上の時間に設定する事
で、感光体特性が持つ不安定要因を除いた電位検出が可
能となり、確実な電位検出及び合否判定を行う事が可能
となる。
うと感光体特性としての応答時間があり、本放置時間の
設定は前記応答時間と同等又は以上の時間に設定する事
で、感光体特性が持つ不安定要因を除いた電位検出が可
能となり、確実な電位検出及び合否判定を行う事が可能
となる。
【００２１】（４）被検査物の感光体ドラムの感光体部
検査において感光体への光照射として要る除電及び露光
の光源を、除電と露光光源を共用する事で、検査機の小
型化を図る事が可能となる。
検査において感光体への光照射として要る除電及び露光
の光源を、除電と露光光源を共用する事で、検査機の小
型化を図る事が可能となる。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１は本発明の特徴を最もよく表
す図面であり、同図において１は被検査物である感光体
ドラム、２は被検査物への光照射で被検査物長さ以上の
照射長を有する白色光源、３は被検査物表面への電荷帯
電器で被検査物長さと同等の帯電長さを有する帯電器、
４は帯電器３に供給する高圧電源、５は被検査物表面の
電位を計測する表面電位計、５Ｐ１、５Ｐ２は電位検出
センサープローブで表面電位計５にそれぞれ５ａ１、５
ａ２で接続されている。６は上記表面電位計５出力信号
５ｂ１、５ｂ２を入力し信号処理を行う処理部、７は被
検査物である感光体ドラムを一方向に或る定速で回転さ
せる駆動モーター、８は電位検出センサー５Ｐ１、５Ｐ
２、を被検査物の軸と平行方向に定速移動する不図示の
走査駆動機構、９は白色光源２、帯電器３、回転駆動モ
ーター７、走査駆動機構８のコントロールと表面電位計
５、出力信号の処理装置６への取り込みタイミング及び
処理装置６からの出力信号６ａを受けて合否判定を行う
制御部である。
す図面であり、同図において１は被検査物である感光体
ドラム、２は被検査物への光照射で被検査物長さ以上の
照射長を有する白色光源、３は被検査物表面への電荷帯
電器で被検査物長さと同等の帯電長さを有する帯電器、
４は帯電器３に供給する高圧電源、５は被検査物表面の
電位を計測する表面電位計、５Ｐ１、５Ｐ２は電位検出
センサープローブで表面電位計５にそれぞれ５ａ１、５
ａ２で接続されている。６は上記表面電位計５出力信号
５ｂ１、５ｂ２を入力し信号処理を行う処理部、７は被
検査物である感光体ドラムを一方向に或る定速で回転さ
せる駆動モーター、８は電位検出センサー５Ｐ１、５Ｐ
２、を被検査物の軸と平行方向に定速移動する不図示の
走査駆動機構、９は白色光源２、帯電器３、回転駆動モ
ーター７、走査駆動機構８のコントロールと表面電位計
５、出力信号の処理装置６への取り込みタイミング及び
処理装置６からの出力信号６ａを受けて合否判定を行う
制御部である。
【００２３】尚、上記検査機構において被検査物１、白
色光源２、帯電器３、電位センサープローブ５Ｐ１、５
Ｐ２は、外光を遮断する不図示の遮光板にてカバーされ
暗所に配置されている。
色光源２、帯電器３、電位センサープローブ５Ｐ１、５
Ｐ２は、外光を遮断する不図示の遮光板にてカバーされ
暗所に配置されている。
【００２４】まず、検査機構部に対象被検査物の良品物
である感光体ドラムを検査機構部に置き、その感光体ド
ラムは回転駆動モーター７により制御部９の指令で或る
定速で回転を開始する。定速回転動作により駆動モータ
ー７からは一回転毎に回転信号（θｎ）が出力され制御
部９に入力される。上記回転開始から或る回転の期間中
のみ光照射白色光源２を制御部９の指令で感光体ドラム
１全表面の表面電位を除電する光量にて光照射を行う。
である感光体ドラムを検査機構部に置き、その感光体ド
ラムは回転駆動モーター７により制御部９の指令で或る
定速で回転を開始する。定速回転動作により駆動モータ
ー７からは一回転毎に回転信号（θｎ）が出力され制御
部９に入力される。上記回転開始から或る回転の期間中
のみ光照射白色光源２を制御部９の指令で感光体ドラム
１全表面の表面電位を除電する光量にて光照射を行う。
【００２５】上記或る回転期間の光照射後一回転信号
（θｎ）に同期して、電位センサープローブ５Ｐ１、５
Ｐ２を被検査物１の軸と平行方向に定速移動する走査駆
動機構８に、制御部９の指令で定速走査送り動作が行な
われる。
（θｎ）に同期して、電位センサープローブ５Ｐ１、５
Ｐ２を被検査物１の軸と平行方向に定速移動する走査駆
動機構８に、制御部９の指令で定速走査送り動作が行な
われる。
【００２６】定速走査送り動作の速度は、１回転時間当
たりの移動量は電位センサープローブ（５Ｐ１、５Ｐ
２）の検出最小面積径（φＳ）以下として、感光体ドラ
ム表面の電位検出ヌケが無い様な定速走査送り速度に設
定される。
たりの移動量は電位センサープローブ（５Ｐ１、５Ｐ
２）の検出最小面積径（φＳ）以下として、感光体ドラ
ム表面の電位検出ヌケが無い様な定速走査送り速度に設
定される。
【００２７】又、走査移動量は感光体ドラム長さと電位
センサープローブ（５Ｐ１、５Ｐ２）の数（Ｐｎ）によ
り定まり、ドラム表面の有効感光体長さ（Ｌｘ）を電位
センサープローブ数で割った値（Ｌｘ／Ｐｎ＝ＸＰ）
に、少なくとも上記センサーの検出最小面積径以上（φ
ＳＡ）を加えた値（ＸＰ＋φＳＡ）を走査移動量とし、
複数センサーでの重複検出範囲を設け検出ヌケが無い様
な走査移動量としている。
センサープローブ（５Ｐ１、５Ｐ２）の数（Ｐｎ）によ
り定まり、ドラム表面の有効感光体長さ（Ｌｘ）を電位
センサープローブ数で割った値（Ｌｘ／Ｐｎ＝ＸＰ）
に、少なくとも上記センサーの検出最小面積径以上（φ
ＳＡ）を加えた値（ＸＰ＋φＳＡ）を走査移動量とし、
複数センサーでの重複検出範囲を設け検出ヌケが無い様
な走査移動量としている。
【００２８】尚、電位センサープローブの配置間隔は感
光体ドラム内の感光体部長さ（Ｌｘ）を電位センサープ
ローブ数（Ｐｎ）で割った値（Ｌｘ／Ｐｎ＝ＸＰ）に配
置する。
光体ドラム内の感光体部長さ（Ｌｘ）を電位センサープ
ローブ数（Ｐｎ）で割った値（Ｌｘ／Ｐｎ＝ＸＰ）に配
置する。
【００２９】又、感光体ドラム表面と電位センサープロ
ーブの間隔はセンサーの検出最小面積になる間隔位置に
配置される。
ーブの間隔はセンサーの検出最小面積になる間隔位置に
配置される。
【００３０】又、上記駆動モーター７による定速回転数
は、電位センサープローブの電位検出応答速度に合わせ
た回転速度に設定されている。
は、電位センサープローブの電位検出応答速度に合わせ
た回転速度に設定されている。
【００３１】上記の様に、光照射後、ドラムの定速回転
動作による一回転毎の回転信号（θｎ）に同期して制御
部９からの指令で表面電位が安定する或る設定放置時間
（タイマー１）後に電位センサープローブの走査動作が
行われると同時に各電位センサープローブ（５Ｐ１、５
Ｐ２）で検出された信号が５ａ１、５ａ２を介し電位計
５に各々入力され各電位値として出力される。
動作による一回転毎の回転信号（θｎ）に同期して制御
部９からの指令で表面電位が安定する或る設定放置時間
（タイマー１）後に電位センサープローブの走査動作が
行われると同時に各電位センサープローブ（５Ｐ１、５
Ｐ２）で検出された信号が５ａ１、５ａ２を介し電位計
５に各々入力され各電位値として出力される。
【００３２】上記、電位計５からの各電位センサーに対
応する各電位値は５ｂ１、５ｂ２を介し、それぞれ処理
部６に入力されると共にドラム一回転毎の回転信号（θ
ｎ）が処理部６に入力される。
応する各電位値は５ｂ１、５ｂ２を介し、それぞれ処理
部６に入力されると共にドラム一回転毎の回転信号（θ
ｎ）が処理部６に入力される。
【００３３】この様に処理部６に上記信号が入力される
と、電位計５出力の各電位出力信号に対して処理部６に
於いてローパスフィルターを介して高周波ノイズが除去
された各電位出力信号はドラム回転信号（θｎ）に同期
され、一回転毎の座標メモリーＡに記憶される。
と、電位計５出力の各電位出力信号に対して処理部６に
於いてローパスフィルターを介して高周波ノイズが除去
された各電位出力信号はドラム回転信号（θｎ）に同期
され、一回転毎の座標メモリーＡに記憶される。
【００３４】尚、座標メモリーＡは電位センサープロー
ブ数に対応したメモリー数Ａｎを有し光照射後のドラム
表面電位は各電位センサーで検出された電位計出力信号
を前記ローパスフィルターを介して電位センサープロー
ブ５Ｐ１は座標メモリーＡＰ１へ、電位センサープロー
ブ５Ｐ２は座標メモリーＡＰ２ヘ、ドラム回転信号（θ
ｎ）に同期して前記各除電電位座標メモリーＡＰ１、Ｂ
Ｐ２に記憶される。
ブ数に対応したメモリー数Ａｎを有し光照射後のドラム
表面電位は各電位センサーで検出された電位計出力信号
を前記ローパスフィルターを介して電位センサープロー
ブ５Ｐ１は座標メモリーＡＰ１へ、電位センサープロー
ブ５Ｐ２は座標メモリーＡＰ２ヘ、ドラム回転信号（θ
ｎ）に同期して前記各除電電位座標メモリーＡＰ１、Ｂ
Ｐ２に記憶される。
【００３５】電位センサープローブの定速走査動作が前
記定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に達すると、各電
位センサーで検出された電位計出力信号の除電座標メモ
リーヘの記憶を停止し、電位センサープローブは高速移
動動作にて初期の所定位置に戻る。
記定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に達すると、各電
位センサーで検出された電位計出力信号の除電座標メモ
リーヘの記憶を停止し、電位センサープローブは高速移
動動作にて初期の所定位置に戻る。
【００３６】（帯電）次に、ドラム回転信号（θｎ）に
同期して制御部９からの指令で帯電器３を或る回転期間
動作させ感光体ドラム表面に電荷を帯電させる。
同期して制御部９からの指令で帯電器３を或る回転期間
動作させ感光体ドラム表面に電荷を帯電させる。
【００３７】定まった回転期間の達成後帯電器３は制御
部９からの指令で帯電動作を停止し、前記光照射後と同
様に表面電位が安定する或る設定放置時間（タイマー
２）後にドラム全表面の電位量を検出する動作を行う。
部９からの指令で帯電動作を停止し、前記光照射後と同
様に表面電位が安定する或る設定放置時間（タイマー
２）後にドラム全表面の電位量を検出する動作を行う。
【００３８】前記光照射後のドラム表面の電位検出同様
にドラムの定速回転動作による一回転毎の回転信号に同
期して、制御部９からの指令で電位センサープローブの
定速走査動作が行われると同時に、各電位センサープロ
ーブ５Ｐ１、５Ｐ２で検出された信号が電位計５を介し
て処理部６のセンサーに対応した帯電電位座標メモリー
ＢＰ１、ＢＰ２にそれぞれ回転信号（θｎ）に同期して
記憶される。
にドラムの定速回転動作による一回転毎の回転信号に同
期して、制御部９からの指令で電位センサープローブの
定速走査動作が行われると同時に、各電位センサープロ
ーブ５Ｐ１、５Ｐ２で検出された信号が電位計５を介し
て処理部６のセンサーに対応した帯電電位座標メモリー
ＢＰ１、ＢＰ２にそれぞれ回転信号（θｎ）に同期して
記憶される。
【００３９】又、前記同様に電位センサープローブの定
速走査動作が前記定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に
達すると、各電位センサーで検出された電位計出力信号
の帯電座標メモリーヘの記憶を停止し、電位センサープ
ローブは高速移動動作にて初期の所定位置に戻る。
速走査動作が前記定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に
達すると、各電位センサーで検出された電位計出力信号
の帯電座標メモリーヘの記憶を停止し、電位センサープ
ローブは高速移動動作にて初期の所定位置に戻る。
【００４０】（露光）次に、ドラム回転信号（θｎ）に
同期して制御部９からの指令で白色光源２を定められた
光量及び波長域に設定し、或る回転期間光照射の動作さ
せ感光体ドラム全表面の露光動作を行う。
同期して制御部９からの指令で白色光源２を定められた
光量及び波長域に設定し、或る回転期間光照射の動作さ
せ感光体ドラム全表面の露光動作を行う。
【００４１】定まった回転期間の達成後白色光源２によ
る光照射を制御部９からの指令で停止し、前記帯電動作
後と同様に、表面電位が安定する或る設定放置時間（タ
イマー３）後にドラム全表面の電位量を検出する動作を
行う。
る光照射を制御部９からの指令で停止し、前記帯電動作
後と同様に、表面電位が安定する或る設定放置時間（タ
イマー３）後にドラム全表面の電位量を検出する動作を
行う。
【００４２】前記除電光照射後のドラム表面の電位検出
同様にドラムの定速回転動作による一回転毎の回転信号
に同期して、制御部９からの指令で電位センサープロー
ブの定速走査動作が行われると同時に、各電位センサー
プローブ５Ｐ１、５Ｐ２で検出された信号が電位計５を
介して処理部６にセンサーに対応した露光電位座標メモ
リーＣＰ１、ＣＰ２にそれぞれ回転信号（θｎ）に同期
して記憶される。
同様にドラムの定速回転動作による一回転毎の回転信号
に同期して、制御部９からの指令で電位センサープロー
ブの定速走査動作が行われると同時に、各電位センサー
プローブ５Ｐ１、５Ｐ２で検出された信号が電位計５を
介して処理部６にセンサーに対応した露光電位座標メモ
リーＣＰ１、ＣＰ２にそれぞれ回転信号（θｎ）に同期
して記憶される。
【００４３】又、前記同様に、電位センサープローブの
定速走査動作が定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に達
すると、各電位センサーで検出された電位計出力信号の
帯電座標メモリーヘの記憶を停止し、電位センサープロ
ーブは高速移動動作にて初期の所定位置に戻る。
定速走査動作が定まった移動距離（ＸＰ＋φＳＡ）に達
すると、各電位センサーで検出された電位計出力信号の
帯電座標メモリーヘの記憶を停止し、電位センサープロ
ーブは高速移動動作にて初期の所定位置に戻る。
【００４４】上記の様に処理部６に記憶された電位セン
サープローブに対応した電位データー、除電電位座標メ
モリーＡＰ１、ＡＰ２及び帯電電位座標メモリーＢＰ
１、ＢＰ２と露光電位座標メモリーＣＰ１、ＣＰ２は処
理部６において除電電位座標メモリーデーター（ＡＰ
１、ＡＰ２）と帯電電位座標メモリーデーター（ＢＰ
１、ＢＰ２）の各センサーデーターに対応する差を求
め、 （ＢＰ１）−（ＡＰ１）＝（ＲｅｆＢＰ１）、 （ＢＰ２）−（ＡＰ２）＝（ＲｅｆＢＰ２）、 （ＣＰ１）−（ＡＰ１）＝（ＲｅｆＣＰ１）、 （ＣＰ２）−（ＡＰ２）＝（ＲｅｆＣＰ２）とし、上記
差計算結果であるＲｅｆＢＰ１、ＲｅｆＢＰ２を基準帯
電電位座標メモリーに記憶し、ＲｅｆＣＰ１、ＲｅｆＣ
Ｐ２を基準露光電位座標メモリーに記憶する。
サープローブに対応した電位データー、除電電位座標メ
モリーＡＰ１、ＡＰ２及び帯電電位座標メモリーＢＰ
１、ＢＰ２と露光電位座標メモリーＣＰ１、ＣＰ２は処
理部６において除電電位座標メモリーデーター（ＡＰ
１、ＡＰ２）と帯電電位座標メモリーデーター（ＢＰ
１、ＢＰ２）の各センサーデーターに対応する差を求
め、 （ＢＰ１）−（ＡＰ１）＝（ＲｅｆＢＰ１）、 （ＢＰ２）−（ＡＰ２）＝（ＲｅｆＢＰ２）、 （ＣＰ１）−（ＡＰ１）＝（ＲｅｆＣＰ１）、 （ＣＰ２）−（ＡＰ２）＝（ＲｅｆＣＰ２）とし、上記
差計算結果であるＲｅｆＢＰ１、ＲｅｆＢＰ２を基準帯
電電位座標メモリーに記憶し、ＲｅｆＣＰ１、ＲｅｆＣ
Ｐ２を基準露光電位座標メモリーに記憶する。
【００４５】次に被検査物１の検査を行う感光体ドラム
を検査機構部にセットし、前記同様に制御部９の指令で
感光体ドラムは回転駆動モーター７により或る定速で回
転を開始し、除電、帯電、露光と同様な動作及び表面電
位がその都度検出されそれぞれの電位検出データーが、
前記同様に定められた処理部６の除電電位座標メモリー
（ＡＰ１、ＡＰ２）と帯電電位座標メモリー（ＢＰ１、
ＢＰ２）及び露光電位座標メモリー（ＣＰ１、ＣＰ２）
に記憶される。
を検査機構部にセットし、前記同様に制御部９の指令で
感光体ドラムは回転駆動モーター７により或る定速で回
転を開始し、除電、帯電、露光と同様な動作及び表面電
位がその都度検出されそれぞれの電位検出データーが、
前記同様に定められた処理部６の除電電位座標メモリー
（ＡＰ１、ＡＰ２）と帯電電位座標メモリー（ＢＰ１、
ＢＰ２）及び露光電位座標メモリー（ＣＰ１、ＣＰ２）
に記憶される。
【００４６】この様に被検査物の検査にて処理部６に記
憶された各電位データーは判定前処理１として前記良品
感光体ドラムで得た各電位センサーに対応する各基準記
憶電位データーと比較される。
憶された各電位データーは判定前処理１として前記良品
感光体ドラムで得た各電位センサーに対応する各基準記
憶電位データーと比較される。
【００４７】帯電電位データーについては、（ＢＰ１）
と（ＲｅｆＢＰ１）が比較され （ＢＰ１）−（ＲｅｆＢＰＩ）＝（ｂｐ１） の結果として求められ、同様に（ＢＰ２）−（ＲｅｆＢ
Ｐ２）＝（ｂｐ２）が結果として求められる。
と（ＲｅｆＢＰ１）が比較され （ＢＰ１）−（ＲｅｆＢＰＩ）＝（ｂｐ１） の結果として求められ、同様に（ＢＰ２）−（ＲｅｆＢ
Ｐ２）＝（ｂｐ２）が結果として求められる。
【００４８】又、露光電位データーについても同様に
（ＣＰ１）−（ＲｅｆＣＰ１）＝（ｃｐ１）、
（ＣＰ２）−（ＲｅｆＣＰ２）＝（ｃｐ２）が結果とし
て求められる。
て求められる。
【００４９】この様に良品感光体ドラム各電位データー
と比較された結果データー（ｂｐ１）、（ｂｐ２）、
（ｃｐ１）、（ｃｐ２）は、処理部６から信号ライン６
ａを介して制御部９に入力される。
と比較された結果データー（ｂｐ１）、（ｂｐ２）、
（ｃｐ１）、（ｃｐ２）は、処理部６から信号ライン６
ａを介して制御部９に入力される。
【００５０】制御部９に入力された前記結果データーは
判定前処理２として、事前に制御部９に記憶設定された
帯電良品許容電位値の上下限値と（ｂｐ１）及び（ｂｐ
２）が比較され、上記上下限値を越えるデーター部にお
いてそのメモリー座標値が隣接する場合は一つの座標群
と判断して個数（Ｇｂｎ）が抽出され、それぞれの上記
座標群個数に対し面積値（ＳＧｂｎ）と各座標群におけ
る最大レベル（ＬＬＧｂｎ）と最小レベル（ＬＳＧｂ
ｎ）が抽出される。
判定前処理２として、事前に制御部９に記憶設定された
帯電良品許容電位値の上下限値と（ｂｐ１）及び（ｂｐ
２）が比較され、上記上下限値を越えるデーター部にお
いてそのメモリー座標値が隣接する場合は一つの座標群
と判断して個数（Ｇｂｎ）が抽出され、それぞれの上記
座標群個数に対し面積値（ＳＧｂｎ）と各座標群におけ
る最大レベル（ＬＬＧｂｎ）と最小レベル（ＬＳＧｂ
ｎ）が抽出される。
【００５１】（帯電判定）上記の様に抽出された帯電良
品許容電位上下限値を越えた各面積値（ＳＧｂｎ）は次
に帯電判定として、事前に制御部９に記憶設定された判
別面積値（Ｓｂ）とその面積値を越える判別個数（Ｓｂ
Ｎ）と更に比較され、前記個数（Ｇｂｎ）の内から面積
値（Ｓｂ）を越える個数が判別個数（ＳｂＮ）を越える
場合は、帯電不良と判定され、判別個数と等しい又は以
下の場合は次に各座標群における最大レベル（ＬＬＧｂ
ｎ）と最小レベル（ＬＳＧｂｎ）が事前に制御部９に記
憶設定された判別最大レベル値（ＬＬｂ）とその判別最
大レベル値を越える判別個数（ＬＬｂＮ）と、同様に判
別最小レベル値（ＬＳｂ）とその判別最小レベル値を越
える判別個数（ＬＳｂＮ）と比較され、前記個数（Ｇｂ
ｎ）の内から判別最大レベル値を越える個数が判別個数
（ＬＬｂＮ）を越える場合、又は、判別最小レベル値を
越える個数が判別個数（ＬＳｂＮ）を越える場合は、帯
電不良と判定され、判別個数と等しい又は以下の場合は
帯電良品と判定される。
品許容電位上下限値を越えた各面積値（ＳＧｂｎ）は次
に帯電判定として、事前に制御部９に記憶設定された判
別面積値（Ｓｂ）とその面積値を越える判別個数（Ｓｂ
Ｎ）と更に比較され、前記個数（Ｇｂｎ）の内から面積
値（Ｓｂ）を越える個数が判別個数（ＳｂＮ）を越える
場合は、帯電不良と判定され、判別個数と等しい又は以
下の場合は次に各座標群における最大レベル（ＬＬＧｂ
ｎ）と最小レベル（ＬＳＧｂｎ）が事前に制御部９に記
憶設定された判別最大レベル値（ＬＬｂ）とその判別最
大レベル値を越える判別個数（ＬＬｂＮ）と、同様に判
別最小レベル値（ＬＳｂ）とその判別最小レベル値を越
える判別個数（ＬＳｂＮ）と比較され、前記個数（Ｇｂ
ｎ）の内から判別最大レベル値を越える個数が判別個数
（ＬＬｂＮ）を越える場合、又は、判別最小レベル値を
越える個数が判別個数（ＬＳｂＮ）を越える場合は、帯
電不良と判定され、判別個数と等しい又は以下の場合は
帯電良品と判定される。
【００５２】（露光判定）また、露光電位に関しても上
記同様に判定前処理１として、露光良品許容電位値の上
下限値と（ｃｐ１）及び（ｃｐ２）が比較され、上記同
様に判定前処理２として個数（Ｇｃｎ）と各個数の面積
値（ＳＧｃｎ）及び、最大レベル（ＬＬＧｃｎ）と最小
レベル（ＬＳＧｃｎ）が抽出され、露光良品許容電位上
下限値を越えた各面積値（ＳＧｃｎ）は次に露光判定と
して、事前に制御部９に記憶設定された判別面積値（Ｓ
ｃ）とその面積値を越える判別個数（ＳｃＮ）と更に比
較され、前記個数（Ｇｃｎ）の内から面積値（Ｓｃ）を
越える個数が判別個数（ＳｃＮ）を越える場合は露光不
良と判定され、判別個数と等しい又は以下の場合は次に
各座標群における最大レベル（ＬＬＧｃｎ）と最小レベ
ル（ＬＳＧｃｎ）が事前に制御部９に記憶設定された判
別最大レベル値（ＬＬｃ）とその判別最大レベル値を越
える判別個数（ＬＬｃＮ）と、同様に判別最小レベル値
（ＬＳｃ）とその判別最小レベル値を越える判別個数
（ＬＳｃＮ）と比較され、前記個数（Ｇｃｎ）の内から
判別最大レベル値を越える個数が判別個数（ＬＬｃＮ）
を越える場合、又は判別最小レベル値を越える個数が判
別個数（ＬＳｃＮ）を越える場合は、露光不良と判定さ
れ、判別個数と等しい又は以下の場合は良品と判定され
る。
記同様に判定前処理１として、露光良品許容電位値の上
下限値と（ｃｐ１）及び（ｃｐ２）が比較され、上記同
様に判定前処理２として個数（Ｇｃｎ）と各個数の面積
値（ＳＧｃｎ）及び、最大レベル（ＬＬＧｃｎ）と最小
レベル（ＬＳＧｃｎ）が抽出され、露光良品許容電位上
下限値を越えた各面積値（ＳＧｃｎ）は次に露光判定と
して、事前に制御部９に記憶設定された判別面積値（Ｓ
ｃ）とその面積値を越える判別個数（ＳｃＮ）と更に比
較され、前記個数（Ｇｃｎ）の内から面積値（Ｓｃ）を
越える個数が判別個数（ＳｃＮ）を越える場合は露光不
良と判定され、判別個数と等しい又は以下の場合は次に
各座標群における最大レベル（ＬＬＧｃｎ）と最小レベ
ル（ＬＳＧｃｎ）が事前に制御部９に記憶設定された判
別最大レベル値（ＬＬｃ）とその判別最大レベル値を越
える判別個数（ＬＬｃＮ）と、同様に判別最小レベル値
（ＬＳｃ）とその判別最小レベル値を越える判別個数
（ＬＳｃＮ）と比較され、前記個数（Ｇｃｎ）の内から
判別最大レベル値を越える個数が判別個数（ＬＬｃＮ）
を越える場合、又は判別最小レベル値を越える個数が判
別個数（ＬＳｃＮ）を越える場合は、露光不良と判定さ
れ、判別個数と等しい又は以下の場合は良品と判定され
る。
【００５３】上記の様な合否判定で、帯電電位と露光電
位で一つでも不良と判定された場合は被検査物１の感光
体ドラムは不良と判断され、全て良品と判定された場合
は良品と判断される検査結果が得られる。
位で一つでも不良と判定された場合は被検査物１の感光
体ドラムは不良と判断され、全て良品と判定された場合
は良品と判断される検査結果が得られる。
【００５４】次の繰り返し被検査物１の検査を行う場
合、前被検査物１を取り除き次の被検査物１の感光体ド
ラムを検査機構部にセットし、同様の検査動作が行わ
れ、検査にて処理部６に記憶された各電位データーは、
前記良品感光体ドラムで得た各電位センサーに対応する
各基準記憶電位データーと比較された後、帯電電位での
判定と露光電位での判定が同様に行われ良品か不良品の
検査結果が得られる。
合、前被検査物１を取り除き次の被検査物１の感光体ド
ラムを検査機構部にセットし、同様の検査動作が行わ
れ、検査にて処理部６に記憶された各電位データーは、
前記良品感光体ドラムで得た各電位センサーに対応する
各基準記憶電位データーと比較された後、帯電電位での
判定と露光電位での判定が同様に行われ良品か不良品の
検査結果が得られる。
【００５５】尚、良品感光体ドラムによる各基準電位デ
ーターの記憶は、被検査物１と同じ製品の良品感光体ド
ラムにて行う事であり、違う製品の感光体ドラムを被検
査物にする場合は、改めて被検査物とする対象の良品感
光体ドラムにて、前記同様に各電位センサーに対応する
各基準記憶電位データーを記憶させ被検査物の検査を行
う。
ーターの記憶は、被検査物１と同じ製品の良品感光体ド
ラムにて行う事であり、違う製品の感光体ドラムを被検
査物にする場合は、改めて被検査物とする対象の良品感
光体ドラムにて、前記同様に各電位センサーに対応する
各基準記憶電位データーを記憶させ被検査物の検査を行
う。
【００５６】又、検査性能を保つ為に必要に応じて対象
とする被検査物の良品感光体ドラムにて各基準記憶電位
データーを記憶する事を実施する。
とする被検査物の良品感光体ドラムにて各基準記憶電位
データーを記憶する事を実施する。
【００５７】
【発明の効果】感光体部の表面電位を帯電前後、光照射
後にそれぞれ測定することにより、トナー及び用紙が不
要で画出しをせず、感光体の機能である電荷保持、光照
射による電荷放出状態を含めた検査をする事が出来、消
耗品を使わず、かつ短時間の検査を実現し全数検査が可
能となる。また、画出し後の目視検査の官能検査に代わ
り定量的な検査が可能となる。
後にそれぞれ測定することにより、トナー及び用紙が不
要で画出しをせず、感光体の機能である電荷保持、光照
射による電荷放出状態を含めた検査をする事が出来、消
耗品を使わず、かつ短時間の検査を実現し全数検査が可
能となる。また、画出し後の目視検査の官能検査に代わ
り定量的な検査が可能となる。
【００５８】対象とする被検査物である感光体ドラムの
良品物にて基となる各電位データーを得て、被検査物の
良否判定を行うことから確実な検査判定結果が可能であ
る。
良品物にて基となる各電位データーを得て、被検査物の
良否判定を行うことから確実な検査判定結果が可能であ
る。
【００５９】感光体特性として除電及び帯電の応答時間
があり本放置時間を設定する事で、感光体特性が持つ不
安定要因を除いた電位検出が可能となり、確実な電位検
出及び合否判定を行う事が可能となる。
があり本放置時間を設定する事で、感光体特性が持つ不
安定要因を除いた電位検出が可能となり、確実な電位検
出及び合否判定を行う事が可能となる。
【００６０】本検査において感光体への光照射として要
る除電及び露光の光源を、除電と露光光源を共用する事
で、検査機の小型化を図る事が可能となる。
る除電及び露光の光源を、除電と露光光源を共用する事
で、検査機の小型化を図る事が可能となる。
【図１】 本発明による感光体ドラム表面欠陥検査方
法、及び装置の実施例を説明する構成図
法、及び装置の実施例を説明する構成図
【図２】 実施例における検査フロー
１ 被検査物
２ 白色光源
３ 帯電器
４ 高圧電源
５ 表面電位計
６ 処理部
７ 回転駆動モーター
８ 走査駆動機構
９ 制御部
Claims (8)
- 【請求項１】 被検査物の感光体ドラムに暗所で帯電す
る帯電手段、 光照射する光源及び照射手段、 帯電前後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手
段、 及び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処
理する処理部を備え 帯電後と光照射後でそれぞれ良否判定を行う判定手段
と、 被検査物を定速回転する駆動部を備え、これら全体をコ
ントロールする制御部を具備し感光体ドラム全面の電気
性能検出により良否判定を行う感光体ドラム検査方法。 - 【請求項２】 被検査物の検査前に少なくとも一度は対
象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位センサ
ープローブにて検出し、良品物の各々電位検出データー
を基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査方法。 - 【請求項３】 初期除電への光照射後、帯電後及び帯電
後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する或る
放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電位検
出することを特徴とする請求項１記載の感光体ドラム検
査方法。 - 【請求項４】 初期除電と露光用光源を共用する事を特
徴とする請求項３記載の感光体ドラム検査方法。 - 【請求項５】 被検査物の感光体ドラムに暗所で帯電す
る帯電手段、 光照射する光源及び照射手段、 帯電前後と光照射後のドラム表面電位を検出する検出手
段、 及び帯電前後と光照射後の各電位検出信号を入力して処
理する処理部を備え帯電後と光照射後でそれぞれ良否判
定を行う判定手段と、 被検査物を定速回転する駆動部を備え、これら全体をコ
ントロールする制御部を具備し感光体ドラム全面の電気
性能検出により良否判定を行う感光体ドラム検査装置。 - 【請求項６】 被検査物の検査前に少なくとも一度は対
象被検査物の良品物電位を少なくとも１つの電位センサ
ープローブにて検出し、良品物の各々電位検出データー
を基に被検査物検査判定を行う感光体ドラム検査装置。 - 【請求項７】 初期除電への光照射後、帯電後及び帯電
後の露光照射後に、それぞれに表面電位が安定する或る
放置時間設定を有し、それぞれ設定時間経過後に電位検
出することを特徴とする請求項５記載の感光体ドラム検
査装置。 - 【請求項８】 初期除電と露光用光源を共用する事を特
徴とする請求項７記載の感光体ドラム検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001329144A JP2003131520A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 感光体ドラム検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001329144A JP2003131520A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 感光体ドラム検査方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003131520A true JP2003131520A (ja) | 2003-05-09 |
Family
ID=19145091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001329144A Withdrawn JP2003131520A (ja) | 2001-10-26 | 2001-10-26 | 感光体ドラム検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003131520A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138931A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Ricoh Co Ltd | 感光体の表面電位読み取り方法および感光体特性評価装置 |
| JP2006267082A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-10-05 | Rigaku Corp | 電荷調整装置及び方法並びに熱刺激電流測定方法 |
| JP2013257407A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Ricoh Co Ltd | 潜像担持体の特性評価装置及び特性評価方法 |
-
2001
- 2001-10-26 JP JP2001329144A patent/JP2003131520A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138931A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Ricoh Co Ltd | 感光体の表面電位読み取り方法および感光体特性評価装置 |
| JP4620429B2 (ja) * | 2004-11-10 | 2011-01-26 | 株式会社リコー | 感光体特性評価装置 |
| JP2006267082A (ja) * | 2005-02-24 | 2006-10-05 | Rigaku Corp | 電荷調整装置及び方法並びに熱刺激電流測定方法 |
| JP2013257407A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Ricoh Co Ltd | 潜像担持体の特性評価装置及び特性評価方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050104 |