JP2006267082A - 電荷調整装置及び方法並びに熱刺激電流測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】同一のイオナイザを用いて物体の除電作業と帯電作業を実施可能にして，これらの作業を少ない設備で実施できるようにする。
【解決手段】電荷調整ステーション１０ではトナー３２の除電作業と帯電作業を実施できる。表面電位測定ステーション１２ではトナー３２の表面電位を非接触で測定できる。トナー３２を支持する支持台３０は電荷調整ステーション１０と表面電位測定ステーション１２との間を移動できる。電荷調整ステーション１０にはイオナイザ１６があり，正イオンと負イオンとを含む気体を生成できる。電荷調整ステーション１０には作業切換装置（第１スイッチ２２と第２スイッチ２６）があり，除電作業と帯電作業を切り換えることができる。除電作業では，トナー３２に正イオンと負イオンの両方をトナー３２に当て，一方，帯電作業ではどちらかの種類のイオンだけをトナー３２に当てる。
【選択図】図１

Description

本発明は、物体の電荷を調整する調整装置及び方法に関し，また，電荷が調整された物体の熱刺激電流を測定する方法に関するものである。

電子写真法の現像剤は，トナーからなる粉体，またはトナー及びキャリアからなる粉体である。以下，これらの現像剤を，単にトナーという言葉で表現するものとする。電子写真法は，帯電及び露光によって静電潜像が形成された感光体に，一定の帯電量をもったトナーを静電気力により付着させることで，静電潜像を可視化する技術である。したがって，トナーの性能を評価する重要な項目のひとつに帯電特性がある。この帯電特性を評価する手法のひとつとして，熱刺激電流（ＴＳＣ）を測定する手法が知られている。帯電させたトナーの熱刺激電流を測定することは次の特許文献１に開示されている。
特開平８−６２８８５号公報

熱刺激電流法によってトナーの帯電特性を測定するためには，トナーの表面電位を所定値に調整する必要がある。トナーの表面に所定量の電荷を付与するために，従来は，コロナ放電を用いた帯電装置を用いている。上述の特許文献１でもコロナ放電を用いている。また，帯電作業の前にはトナーの電荷を中和するために除電作業を実施するのが好ましい。この除電作業を実施するには，除電装置を用いている。除電装置はイオナイザを備えており，このイオナイザは，軟Ｘ線や真空紫外線を用いて正イオン及び負イオンを発生するものである。それらのイオンを試料に当てることにより，試料の電荷を中和できる。なお，上述の特許文献１は帯電作業の前の除電作業には触れていない。

物体を除電するためにイオナイザを用いるものとしては，例えば，次の特許文献２及び特許文献３が知られている。
特開２０００−２１５９６号公報 特開平５−３１２９９８号公報

特許文献２に記載された空気イオン化装置は，半導体や液晶ディスプレイの静電気を除去するためのものであるが，軟Ｘ線を用いて空気や窒素ガスをイオン化している。軟Ｘ線を用いているので，コロナ放電を用いる場合の問題点（オゾンの発生や電磁ノイズの発生）を解決することができる。また，この空気イオン化装置は，正イオンだけを分離して取り出す正イオン発生チャンバと，負イオンだけを取り出す負イオン発生チャンバを備えていて，正イオンの量と負イオンの量を独立に調整してから，それらのイオンをミキシングして被除電物体に当てている。これにより，正負イオンのバランスを適切に制御できて，除電性能を向上させることができる。正イオンと負イオンを含む気体流から，正イオンだけまたは負イオンだけを取り出すには（特許文献２では，これを単極分離機能と呼んでいる），ハニカム状のフィルタ電極を用いている。このフィルタ電極に，取り出したいイオンと同極性の電圧を印加する。

特許文献３に記載されたイオン発生装置は，軟Ｘ線を用いてガスをイオン化することを開示するものであるが，このようなイオンを用いて物体を帯電または除電することができるとの記述がある。

上述の特許文献２に示すように，帯電された物体を除電するのに軟Ｘ線イオナイザを用いることで，コロナ放電による問題点を解消できることが知られている。また，帯電された物体を除電するために，単極分離機能を用いて正イオンまたは負イオンだけを取り出してから，それらの２種類のイオンを最適なバランスでミキシングすることも知られている。一方，特許文献３においては，軟Ｘ線イオナイザを帯電または除電の目的で使うことが示唆されている。しかしながら，特許文献２と特許文献３のいずれにも，そのようなイオナイザを除電目的と帯電目的とに使い分けることは記載されていない。

本発明の目的は，物体の除電作業と帯電作業を少ない設備で実施できるようにした電荷調整装置及び方法を提供することにある。また，本発明の別の目的は，そのような電荷調整方法で帯電させた試料を用いて熱刺激電流を測定する方法を提供することにある。

本発明の電荷調整装置は，電荷調整ステーションと表面電位測定ステーションを備えている。電荷調整ステーションは，電荷調整の対象となる物体の除電作業と帯電作業を実施するところである。表面電位測定ステーションは，前記物体の表面電位の測定作業を実施するところである。前記物体は支持台で支持され，この支持台は電荷調整ステーションと表面電位測定ステーションとの間を移動できる。電荷調整ステーションにはイオナイザが配置されている。このイオナイザは，正イオンと負イオンとを含む気体を生成する。電荷調整ステーションには作業切換装置が設けられていて，除電作業と帯電作業を切り換えることができる。除電作業では，電荷調整ステーションの位置にある前記支持台に支持された物体に対して，イオナイザが生成する正イオンと負イオンの両方を当てて，物体を除電する。帯電作業では，イオナイザが生成する正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて物体を帯電させる。表面電位測定ステーションには表面電位測定装置が配置されている。この表面電位測定装置は，表面電位測定ステーションの位置にある支持台に支持された物体の表面電位を非接触で測定する。

本発明の電荷調整方法は，次のような段階を備えている。まず，正イオンと負イオンとを含む気体を生成するイオナイザを電荷調整ステーションに配置し，かつ，表面電位測定装置を表面電位測定ステーションに配置する。そして，電荷調整の対象となる物体を前記電荷調整ステーションに配置して，除電作業を実施する。除電作業では，電荷調整ステーションの位置にある前記物体に，イオナイザが生成する正イオンと負イオンの両方を当てて，物体を除電する。除電作業が終了したら，物体を電荷調整ステーションから表面電位測定ステーションに移動する（第１の移動段階）。そして，表面電位測定ステーションの位置にある除電後の物体の表面電位を，非接触で測定する（第１の表面電位測定段階）。この表面電位測定によって，物体の表面電位がほぼ零であること，すなわち除電がなされたこと，を確認できる。次に，物体を表面電位測定ステーションから電荷調整ステーションに戻す（第２の移動段階）。次に，電荷調整ステーションの位置にある物体に，イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて，除電後の物体を帯電させる。帯電後の物体を電荷調整ステーションから表面電位測定ステーションに再び移動する（第３の移動段階）。そして，表面電位測定ステーションの位置にある帯電後の物体の表面電位を，非接触で測定する（第２の表面電位測定段階）。この表面電位測定によって，帯電後の物体の表面電位を確認できる。

本発明の電荷調整装置及び電荷調整方法は、電荷調整ステーションに配置したイオナイザを用いて，除電作業と帯電作業を切り換えて実施することができる。これにより，除電用の設備と帯電用の設備を別個に設けなくてもよい。そして，物体の表面が所望の電位となるように物体を帯電させる場合において，物体を除電してから帯電させれば，再現性の良好な帯電状態を実現でき，本発明はそのような帯電作業に有効である。

以下，図面を参照して本発明の実施例を詳しく説明する。図１は本発明の電荷調整装置の一実施例の構成図である。この電荷調整装置は，電荷調整ステーション１０と表面電位測定ステーション１２を備えている。また，この図１は，電荷調整装置の隣に配置した熱刺激電流測定装置１４も示している。

電荷調整ステーション１０はイオナイザ１６を備えている。このイオナイザ１６は，軟Ｘ線を空気に照射することで空気をイオン化して，正イオンと負イオンとを含む気体を生成するものである。軟Ｘ線の代わりに紫外線（例えば，真空紫外線）を用いてもよい。軟Ｘ線または紫外線を利用したイオナイザは，コロナ放電を用いる場合の問題点（オゾンの発生や電磁ノイズの発生）が存在しない利点がある。この電荷調整ステーション１０は，さらに，筒型電極１８とグリッド２０を備えている。筒型電極１８は第１スイッチ２２を介して第１電源２４に接続されている。グリッド２０は第２スイッチ２６を介して第２電源２８に接続されている。

この電荷調整ステーション１０は物体の除電作業と帯電作業を切り換えて実施することができる。すなわち，第１スイッチ２２と第２スイッチ２６のオン・オフを切り換えることで，グリッド２０の下方に取り出すイオンを，正イオンと負イオンの両方にするか，どちらか一方の種類だけにするか，を切り換えることができる。物体の除電作業を実施するときは，正イオンと負イオンの両方を取り出すようにし，帯電作業を実施するときは，正イオンと負イオンのどちらか一方の種類だけを取り出すようにする。

電荷調整ステーション１０には支持台３０を配置できる。支持台３０は電荷調整の対象となる物体を支持するものである。この実施例では，電荷調整の対象となる物体は，電子写真法で用いられる現像剤としてのトナー３２である。トナー３２は粉体であり，これを，上部が開放した容器３４に入れて，この容器３４を支持台３０の上に載せている。容器３４内のトナー３２の量は例えば８〜１０ｍｇである。支持台３０は第３スイッチ３６を介して接地されている。この支持台３０は電荷調整ステーション１０と表面電位測定ステーション１２との間を，矢印４４で示すように移動できる。

表面電位測定ステーション１２は表面電位計３８を備えている。この表面電位計３８はプローブ４０と表面電位測定回路４２を備えている。この表面電位計３８は被測定物体の表面電位を被接触で測定するものであり，例えば，特開平７−２１８５６７号公報に開示されているような交流式の非接触表面電位計を用いることができる。

熱刺激電流測定装置１４は，帯電させたトナーの熱刺激電流を測定するためのものである。帯電させたトナーを収容した容器３４を，矢印４６に示すように，熱刺激電流測定装置１４の加熱炉４８内に移動して，トナー３２の熱刺激電流を測定することができる。

図２は帯電させたトナーの熱刺激電流を測定する作業工程を示すフローチャートである。まず，所望の量（例えば，８〜１０ｍｇ程度）になるように試料（トナーからなる粉体）を秤量して，これを容器に入れる。容器は，例えば，内径が１０ｍｍの円形で，内側空間の高さが約１ｍｍである。試料を入れた容器を試料台に載せてから，この試料台を電荷調整ステーションに配置する。そして，トナーの除電作業を実施する。次に，試料台を電荷調整ステーションから表面電位測定ステーションに移動して，トナーの表面電位を測定する。除電作業が適切に行われていれば，トナーの表面電位は接地電位に等しくなるはずであり，このことを表面電位測定ステーションで確認する。

ところで，除電作業後に帯電作業を実施したトナーと，除電作業を実施しないで帯電作業を実施したトナーとでは，粉体の集合体における表面電位が同じであっても，粉体の集合体の内部の荷電状態が異なっていることがあるので，熱刺激電流の測定結果は必ずしも同じにならないことが予想される。したがって，再現性のある熱刺激電流測定結果を得るには，帯電作業の前に除電作業を実施することが好ましい。

次に，除電後の表面電位測定が終了したら，試料台を電荷調整ステーションに戻してから，トナーの帯電作業を実施する。次に，試料台を再び表面電位測定ステーションに移動して，トナーの表面電位を測定する。帯電作業が適切に行われていれば，トナーの表面電位は所定のプラスまたはマイナスの電位になっているはずであり，これを表面電位測定ステーションで確認する。次に，試料（帯電されたトナー）の入った容器を熱刺激電流測定装置に移動して，トナーの熱刺激電流を測定する。

図３は除電作業を実施するときの電荷調整ステーションの状態を示す構成図である。第１スイッチ２２は開いていて，筒型電極１８は電気的にフローティング状態にある。また，第２スイッチ２６も開いていて，グリッド２０も電気的にフローティング状態にある。第３スイッチ３６も開いていて，支持台３０も電気的にフローティング状態にある。イオナイザ１６は正イオンと負イオンを含む空気を生成し，この空気が支持台３０に向かって吹き付けられる。空気中の正イオンと負イオンは，グリッド２０を通り抜けてから，容器３４内のトナー３２に当たる。トナー３２が正または負の電荷に帯電されていると，これらの電荷を中和するように正イオンまたは負イオンがトナー３２に引き寄せられて，トナー３２は除電される。

図４は帯電作業を実施するときの電荷調整ステーションの状態を示す構成図である。第１スイッチ２２は閉じていて，筒型電極１８には第１電源２４により所定の正電位または負電位が印加される。図４の例では負電位が印加されるが，第１電源２４の極性を逆にすれば，筒型電極１８に正電位が印加される。第１電源２４の出力電圧は例えば１ｋＶである。また，第２スイッチ２６も閉じていて，グリッド２０には第２電源２８により所望の正電位または負電位が印加される。第２電源２８は可変電源であり，印加電位を任意の値に設定できる。図４の例では任意の負電位が印加されるが，第２電源２８の極性を逆にすれば，任意の正電位がグリッド２０に印加される。第２電源２８の最大出力は例えば１ｋＶである。第３スイッチ３６も閉じていて，支持台３０は接地されている。イオナイザ１６は正イオンと負イオンを含む空気を生成し，この空気が支持台３０に向かって吹き付けられる。この場合，正イオンは，負電位にある筒型電極１８とグリッド２０に引き寄せられて，それらに流れ込む。一方，負イオンは気体の流れに沿ってグリッド２０を通り抜けてから，負電位のグリッド２０に加速されて，容器３４内のトナー３２に当たる。したがって，トナー３２の表面が負電位に帯電する。第２電源２８の出力電圧を調整したり帯電作業時間（イオンの照射時間）を変化させたり，それらの両者を併用したりすることで，トナー３２の帯電量を変えることができる。帯電作業時間は例えば１〜２分である。帯電後の試料の表面電位は例えば４００〜６００Ｖである。

上述のように，除電作業のときは，第１スイッチ２２，第２スイッチ２６及び第３スイッチ３６を開いており，帯電作業のときは，これらのスイッチを閉じている。これらのスイッチが本発明における作業切換装置に該当する。

図５は，高分子を含むトナー粉体からなる試料の熱刺激電流をエアーギャップ法で測定する原理を説明する原理図である。図５（Ａ）において，トナー３２を収容した容器３４は下部電極５０の上に載っている。下部電極５０は接地されている。上部電極５２の下面は容器３４内のトナー３２の表面から所定距離だけ離れている。上部電極５２と下部電極５０は温度調節可能な加熱炉４８（図１を参照）の内部に配置されている。上部電極５２と接地電位との間には，微小電流を測定可能な電流計５４が接続されている。トナー３２の表面が正または負の電荷で帯電していると，上部電極５２の下面には，それと反対極性の電荷が等量だけ誘起される。例えば，トナー３２の表面に正の電荷５６が所定量だけ帯電していると仮定すると，トナー３２の表面に対向している上部電極５２の下面には負の電荷５８が誘起される。負電荷５８の電荷量の絶対値は，正電荷５６の電荷量の絶対値と等しい。

室温のときに図５（Ａ）の状態であると仮定する。この状態から所定の昇温速度で試料の温度を上昇させていくと，図５（Ｂ）に示すように，トナー３２の表面の電荷状態が変化する。すなわち，トナー３２の表面の正電荷５６の一部はトナー３２の内部に移動する。その理由は次のとおりである。トナー３２中の高分子は，温度が上昇するにつれてその状態が変化し，それにつれて表面の電荷が試料内部に拡散していく。ゆえに，表面の正電荷５６の電荷量が減少する。これとバランスするように，上部電極５２の下面の負電荷５８も同量だけ減少する。この減少分が電子の流れ６０となって，電流計５４を流れる。電子の流れ６０が電流計５４のところで図の下向きと仮定すると，電流Ｉは上向きに流れる。ところで，エアーギャップ法での熱刺激電流の正負の方向は次のように定義している。接地側から上部電極５２に向かって電流が流れるとき（すなわち，図５（Ｂ）に示す電流Ｉの方向）を，プラスの電流と定義する。一般に，試料表面を正に帯電して熱刺激電流を測定するとプラスの電流が流れ，逆に，試料表面を負に帯電して熱刺激電流を測定するとマイナスの電流が流れる。

図５（Ｃ）は，図５（Ｂ）の状態からさらに試料温度が上昇した状態を示す。トナー３２の表面の正電荷５６は，内部に移動する量が増え，上部電極５２の下面の負電荷５８はそれに応じて減少している。その減少分に対応して熱刺激電流が流れる。

図６は熱刺激電流の時間的変化を模式的に示すグラフである。横軸は時間であり，縦軸は試料の温度及び熱刺激電流である。一般に，試料の温度は一定の昇温速度で上昇させる。エアーギャップ法の熱刺激電流は，図５に示すような原理で誘起される。この熱刺激電流が電流計で測定され，その測定結果は，図５に示すような電流のグラフとなる。

図７は，トナー粉体の集合体からなる試料について，試料表面をマイナス２６０Ｖに帯電した場合の試料の熱刺激電流を測定したグラフである。実線の曲線は，試料を帯電させた直後に熱刺激電流を測定したものである。破線の曲線は，試料を帯電させて４０分放置してから，試料の熱刺激電流を測定したものである。室温から１２０℃まで毎分５℃の昇温速度で試料温度を上昇させている。ピークＡは，トナーを構成する成分がガラス状からゴム状に遷移する過程で生じる熱刺激電流である。ピークＢは，トナーを構成する成分の結晶相が緩和する過程などで生じる熱刺激電流である。

上述の実施例の説明では，帯電させた試料を準備するに当たって，帯電作業のあとに表面電位を測定して，試料の表面電位を確認しているが，次のようにすることで，帯電後の表面電位測定を省略してもよい。まず，標準的な試料について，帯電条件（筒型電極及びグリッドに印加する電圧，イオナイザの動作条件，試料へのイオンの照射時間など）と，それによって得られる表面電位との関係を，あらかじめ求めておく。そして，同種の試料について，所望の表面電位となるように帯電条件を選択して帯電作業を実施する。こうすれば，試料の表面電位が所望の表面電位になっているものと推定できる。この場合，除電後の表面電位も省略できる。

図８は電荷調整ステーションの変更例の構成図である。この電荷調整ステーションは，図３に示す電荷調整ステーションと比較して，グリッド２０と第２電源２８が取り除かれていて，支持台電源６２が追加されている。この支持台電源６２は可変電源であって，支持台電源スイッチ６４を介して支持台３０に接続されている。除電作業をするときは，第１スイッチ２２は開いていて，筒型電極１８は電気的にフローティング状態にある。また，支持台電源スイッチ６４も開いていて，支持台３０も電気的にフローティング状態にある。したがって，支持台３０は，電気的には図３に示す状態と同じ状態にある。この状態で支持台３０上のトナー３２が除電される。

一方，帯電作業を実施するときには，図９に示すように，第１スイッチ２２は閉じていて，筒型電極１８には第１電源２４により所定の正電位または負電位が印加される。図９に示す例では負電位が印加される。以下，筒型電極１８を負電位に設定する場合を例にして説明する。支持台電源スイッチ６４は閉じていて，支持台３０の電位は，筒型電極１８とは反対の極性の電位（すなわち，正電位）に設定される。イオナイザ１６は正イオンと負イオンを含む空気を生成するが，筒型電位１８の電位とは反対極性のイオン（すなわち，正イオン）だけが，筒型電極１８に引き付けられる。これにより，筒型電極１８の中のイオンは，負イオンだけの単極性になる。支持台３０には，筒型電極１８とは反対の極性の電位（正電位）が印加されているので，支持台３０に負イオンが引き付けられて，この負イオンが容器３４内のトナー３２に当たる。これにより，トナー３２が負電位に帯電される。この電荷調整ステーションは，図３に示す電荷調整ステーションと比較して，トナー３２に対して，より多くの帯電量を付与することができる。

図８に示す試料台３０を用いて表面電位を測定するには，試料台３０を表面電位ステーション１２（図１を参照）に移動する。そして，第３スイッチ３６を閉じて，トナー３２の表面電位を測定する。

本発明の電荷調整装置の一実施例の構成図である。 帯電させたトナーの熱刺激電流を測定する作業工程を示すフローチャートである。 除電作業を実施するときの電荷調整ステーションの状態を示す構成図である。 帯電作業を実施するときの電荷調整ステーションの状態を示す構成図である。 粉体試料の熱刺激電流をエアーギャップ法で測定する原理を説明する原理図である。 熱刺激電流の時間的変化を模式的に示すグラフである。 試料の熱刺激電流を測定したグラフである。 電荷調整ステーションの変更例について，その除電作業を実施するときの状態を示す構成図である。 図８の電荷調整ステーションについて，その帯電作業を実施するときの状態を示す構成図である。

符号の説明

１０ 電荷調整ステーション
１２ 表面電位測定ステーション
１４ 熱刺激電流測定装置
１６ イオナイザ
１８ 筒型電極
２０ グリッド
２２ 第１スイッチ
２４ 第１電源
２６ 第２スイッチ
２８ 第２電源
３０ 支持台
３２ トナー
３４ 容器
３６ 第３スイッチ
３８ 表面電位計
４０ プローブ
４２ 表面電位測定回路
４８ 加熱炉
５０ 下部電極
５２ 上部電極
５４ 電流計
５６ 正電荷
５８ 負電荷
６２ 支持台電源
６４ 支持台電源スイッチ

Claims (8)

1. 次の構成を備える電荷調整装置。
   （ア）電荷調整の対象となる物体の除電作業及び帯電作業を実施する電荷調整ステーション。
   （イ）前記物体の表面電位の測定作業を実施する表面電位測定ステーション。
   （ウ）前記物体を支持する支持台であって，前記電荷調整ステーションと前記表面電位測定ステーションとの間を移動可能な支持台。
   （エ）前記電荷調整ステーションに配置されたイオナイザであって，正イオンと負イオンとを含む気体を生成するイオナイザ。
   （オ）前記電荷調整ステーションの位置にある前記支持台に支持された前記物体に対して，前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンの両方を当てて前記物体を除電する除電作業と，前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて前記物体を帯電させる帯電作業とを切り換えて実施するための作業切換装置。
   （カ）前記表面電位測定ステーションの位置にある前記支持台に支持された前記物体の表面電位を非接触で測定する表面電位測定装置。
2. 請求項１に記載の電荷調整装置において，前記支持台はスイッチを介して支持台電源に選択的に接続可能であり，前記除電作業のときは前記支持台は前記支持台電源から切り離されていて，前記帯電作業のときは前記支持台は前記支持台電源に接続されて所望の電圧が印加されることを特徴とする電荷調整装置。
3. 次の構成を備える電荷調整装置。
   （ア）正イオンと負イオンとを含む気体流を生成するイオナイザ。
   （イ）電荷調整の対象となる物体に対して，前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンの両方を当てて前記物体を除電する除電作業と，前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて前記物体を帯電させる帯電作業とを切り換えて実施するための作業切換装置。
4. 請求項１から３までのいずれか１項に記載の電荷調整装置において，前記イオナイザは軟Ｘ線または紫外線を気体に照射して気体をイオン化するものであることを特徴とする電荷調整装置。
5. 次の段階を備える電荷調整方法。
   （ア）正イオンと負イオンとを含む気体を生成するイオナイザを電荷調整ステーションに配置する段階。
   （イ）表面電位測定装置を表面電位測定ステーションに配置する段階。
   （ウ）電荷調整の対象となる物体を前記電荷調整ステーションに配置する段階。
   （エ）前記電荷調整ステーションの位置にある前記物体に前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンの両方を当てて前記物体を除電する除電段階。
   （オ）前記物体を前記電荷調整ステーションから前記表面電位測定ステーションに移動する第１の移動段階。
   （カ）前記表面電位測定ステーションの位置にある除電後の前記物体の表面電位を非接触で測定する第１の表面電位測定段階。
   （キ）前記物体を前記表面電位測定ステーションから前記電荷調整ステーションに戻す第２の移動段階。
   （ク）前記電荷調整ステーションの位置にある前記物体に前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて前記物体を帯電させる帯電段階。
   （ケ）前記物体を前記電荷調整ステーションから前記表面電位測定ステーションに再び移動する第３の移動段階。
   （コ）前記表面電位測定ステーションの位置にある帯電後の前記物体の表面電位を非接触で測定する第２の表面電位測定段階。
6. 次の段階を備える電荷調整方法。
   （ア）正イオンと負イオンとを含む気体を生成するイオナイザを準備する段階。
   （イ）電荷調整の対象となる物体に前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンの両方を当てて前記物体を除電する除電段階。
   （ウ）前記物体に前記イオナイザが生成する前記正イオンと負イオンのうちのいずれか一方の種類のイオンを当てて前記物体を帯電させる帯電段階。
7. 請求項５または６に記載の電荷調整方法によって電荷が調整された前記物体を試料として，その熱刺激電流を測定することを特徴とする熱刺激電流測定方法。
8. 請求項７に記載の熱刺激電流測定方法において，前記試料は電子写真法の現像剤であることを特徴とする熱刺激電流測定方法。

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