JPH0364715A - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JPH0364715A
JPH0364715A JP1200761A JP20076189A JPH0364715A JP H0364715 A JPH0364715 A JP H0364715A JP 1200761 A JP1200761 A JP 1200761A JP 20076189 A JP20076189 A JP 20076189A JP H0364715 A JPH0364715 A JP H0364715A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野] この発明は、た占えばスチルカメラやビデオカメラなと
に用いられる距離検出装置などの測距装置に関する。
[従来の技術] 周知のように、測距装置tしては、アクティブ方式の三
角測距型の距離検出装置、三角測距型の位相差検出法に
よる距離検出装置、あるいはTTL (Tbrouzh
  Tbe  Lens)型の位相差検出法による距離
検出装置などが実用化されている。
−L紀アクティブ方式の三角測距型の距離検出装置は、
被写体に向けてパルス光を投射j7、その反射光を投光
部から所定の基線長だけ離れた位置に配置された受光素
子にて検出することにより、上記被写体までの距離を検
出するものである。また、三角測距朋の位相差検出法に
よる距離検出装置は、被写体像を2つの異なる光学系に
て相対的にずれた像として受光素子上に結像させ、」二
足ずれの量を検出することによって被写体距離を算出す
るものである。きらに、TTL型の位相差検出法による
距離検出装置は、撮影[/ンズの異なる瞼を過つた光束
により再結像された像の相対的なずれ量を検出するもの
である。
これらの距離検出装置は、一般に、第11図に示すよう
に、距MfJの逆数1/1に比例した出力信号Vを出力
する理論によるものである。したがって、上記出力信号
Vをもとにして撮影レンズを適切な位置に制御すること
によって、カメラのオートフォーカス装置(以下、AF
装置と略記する)が実現される。しかし、距離検出装置
における実際の測距特性は、投・受光素子の位置関係、
回路および使用光学系などの精度(できばえ)によって
理論値どおりの直線とはなり得ず、傾きや直線性、理論
値からのずれ量に誤差を生じ易い。
そこで、理論値と実際の出力(実測値)とを−致させる
ための補正計算を演算制御回路(CPU)に行わせ、個
々の製品のばらつきに応じた補正係数を、電気的に書き
込み可能な記憶素子に人力するようにしてなる距離検出
装置がすでに提案されている(たとえば、特開昭63−
198818号公報参照)。
[発明が解決しようとする課題] 上記したような従来の距離検出装置では、実際の測距特
性が、その方式によって、1本の直線関係で近似されな
い場合がある。すなわち、第12図に示すように、破線
で示される実測値が距MlcHを境に2本の直線り、、
L2によって近似されるもの、または第13図に示すよ
うに、破線で示される実測値がある距離g、□を越える
と直線L1関係を満たさないものなどがある。
このように、従来の距離検出装置においては、1つの関
数のみで補正演算を行うだけでは不十分な場合が多い。
このため、至近から無限大(oo)まで、よりワイドレ
ンジの測距装置を実現できないという欠点があった。
この発明は、よりワイドレンジで、しかも高精度な測距
装置を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段] 上記の目的を達成するために、この発明の測距装置にあ
っては、被写体までの距離に対応した信号を出力する測
距手段と、この測距手段の出力にもとづいて合焦用レン
ズの移動量を所定の関係にしたがって決定する演算制御
手段と、前記測距手段の出力の全範囲を複数の領域に分
割し、前記測距手段の出力と合焦用レンズの移動量との
関係が所定の関係に近付くように各領域ごとに補正演算
する補正演算手段と、この補正演算手段における補正演
算のための補正係数と前記複数の領域の境界となる出力
値とを記憶する記憶手段とから構成されている。
[作用] この発明は、上記した手段により、複数の関数を用いて
部分的に補正演算することになるため、補正演算の誤差
を小さくできるようになるものである。
[実施例] 以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
第1図は、この発明の測距装置、たとえばスチルカメラ
に用いられる距離検出手段の概念を示すものである。
すなわち、101は被写体までの距離に対応した信号を
出力する測距手段、102は上記測距手段101からの
距離信号にもとづいて合焦用レンズ(図示しない)の移
動量を所定の関係にしたがって決定する演算制御手段、
103は前記測距手段101の出力の全範囲を複数の領
域に分割し、前記測距手段101の出力と合焦用レンズ
の移動量との関係が所定の関係に近付くように各領域ご
とに補正演算する補正演算手段、104は上記補正演算
手段103における補正演算のための補正係数と前記複
数の領域の境界となる出力値とを記憶する記憶手段であ
る。
第2図は、この実施例における技術手段の構成を概略的
に示すものであり、上記演算制御手段102および上記
補正演算手段103としての演算制御回路(以下、CP
Uと略記する)1と、上記測距手段101としての測距
部2と、上記記憶手段104としての記憶部3とにより
、スチルカメラ10の距離検出装置100が構成されて
いる。
上記測距部2は、CPUIからの測距命令によって制御
ざ412、被写体距離に応じた出力信号(距離信号)■
を出力するものである。
」二記記憶部3は、切換えポイントデータ(7TIIJ
距部2の出力の全範囲を複数の領域に分割[また際の各
領域の境界となる出力値)4;、補正データ(各領域に
対する補正係数)とを記憶するものであり、上記データ
が書き込み可能な構成たきれて(1する。
上記CP WJ 1は、測距部2に測距命令を供給する
とεもに、この測距命令に対j7て上記測距部2より出
力される出力信号Vた、記憶部3に記憶されている補正
データおよび切換えポイントデータεをもとに、正確な
距離情報aを算81するものである。また、CPUIは
、この距離情報ρによってドライバ7を制御してモータ
8を駆動することにより、図示していない撮影[ノンズ
を移動させてその距離にある被写体にピントが合うよう
に制御するものである。
一方、200は、スチルカメラ10のできばえに合わせ
て上記補正データなどを調整するための調整装置である
。この調整装置200は、スチルカメラ10のできばえ
をCP U ff、の出力によって調べながら上記補正
データおよび切換えポイントデータを算出する調整演算
回路4と、この調整演算回路4により制御される駆動回
路5色、この駆動回路5により移動される測距用チャー
1・6とから構成されている。
ここで、尤記測距部2が、たεえば第12図に破線で示
すような測距特性を持っている場合、近距離例では、測
距結果はほぼ第1−の理論線Llに沿って変化する。(
2かし、距MNcoより遠し1遠距M ff1iでは、
測距結果は第1の理論線り、から離れてい(。そこで、
距1!t1.9c++より遠距が側では、第1の理論線
L 、とは異なる第2の理論線L2を想定j7、これに
実際の測距特性を近似補正1.て距離に変換させるよう
にする。これにより、第1の理論線L 、のみによる補
正よりも誤差を小さくできる。
すなわち、第12図に示すような測距特性を待つ測距部
2においては、距MNCH(出力信号V CH)を境り
する近距離側ε遠距離側たて異なる関数により距離を求
める必要がある。
なお、前記の補正データとは、これらの関数が1次の場
合、rl/N−aXV+bJとして現されるときの、a
、bに相当するものである。
また、すでに述べたように、上記補正データばかりでな
く、スチルカメラ10のできばえによって切換えポイン
トデータ(距Mlcu−つまり出力iM号V CH)も
、個々のカメラ10によって異なったものさなる。
次に、第3図を参照1.て、上記切換えポイントデータ
を求める際の動作について説明する。
まず、調整演算回路4により駆動回路5が動作される。
するり、駆動回路5のたとえばビニオン5bが回転きれ
ることにより、ラック5aが移動される。これにより、
上記ラック5aの移動に応じて、測距用チャート6が図
示矢印方向に移動される。
また、この状態(こおいて、スチルカメラ10により上
記測距用チャート6を被写体とする測距動作が行われる
。そして、そのときに得られる測距結果がCPUIより
」二足調整演算回路4に供給されるこεにより、切換え
ポイントデータとしての出力信号VCl2が算出される
すなわち、測距用チャー1・6を移動させながら、それ
をスチルカメラ1.0により測距17て、そのεきの測
距結果より切換えポイントデータV、1.が求められる
。この場合、測距用チャート6までの距M1を6gずつ
変化させたεきの出力信号Vが、たεえばΔVずつ変化
されている領域については第1の理論線Llで良いため
、△VV上変化し始めたεきの出力信号■が切換えポイ
ントデータVCHとされる。
第4図は、上記のように17で求めた切換えポイントデ
ータを用いた、CPUIにおける演算動作を示すもので
ある。
まず、測距部2からの山刃信号Vは、切換えポイントデ
ータVCHと比較されて被写体までの距離りを求めるた
めの式が決定される(ステップ5TI)。
この比較により、出力信号Vが遠近切換えボイントVc
Hより近距離側と判断された(v>vcm)場合には、
式at xv+b、により距離情報lが求められる(ス
テップ5T2)。また、遠距離側と判断された( V 
< V cH)場合には、式a2XV十b2により距離
情報gが求められる(ステップ5T3)。
こうして距離情報gが求められると、撮影レンズの繰り
出し量(移動量)が決定される(ステップ5T4)。
そして、上記したドライバ7が制御され、モータ8が駆
動されることにより、その繰り出し量だけ上記撮影レン
ズが移動される(ステップ5T5)。
この後、通常の撮影シーケンスが実行されることにより
、被写体の撮影が行われる(ステップ5T6)。
なお、ステップ5T2におけるal、bIは、近距離側
の補正データであり、第12図に示した第1の理論1!
L1を現わす式の逆関数の係数に対応するものである。
同様に、ステップ5T2におけるa2+b2は、遠距離
側の補正データであり、第12図に示した第2の理論線
L2を現わす式の逆関数の係数に対応するものである。
ここで、測距部2からの出力信号■が、被写体までの距
Mllの逆数1/Iに比例する理論について説明する。
第5図は、アクティブ方式の三角測距型の距離検出装置
を概略的に示すものである。
この距離検出装置では、赤外発光ダイオード(IRED
)11からの光を投光レンズ12を介して被写体16に
投射し、その反射光を受光レンズ13を介して受光素子
14で受光することによって測距を行うようになってい
る。この場合、両レンズ12.13の主点間距離を81
受光レンズ13の焦点距離をfとしたとき、被写体16
までの距離gは、 s*f g−・・・(1) により求められる。
ここで、Xは上記反射光の受光素子14上の入射位置で
あり、たとえばこの入射位置を電気信号に変換する機能
を有する半導体装置検出素子(以下、PSDと略記する
)が上記受光素子14として用いられている。このPS
D14は、反射光の入射位置に応じて2つの電流信号1
a、Ibを出力する。この電流信号1a、Ibは、 となる。ただし、aはPSD14上の受光レンズ13の
光軸の位置とPSD14のIREDII側の端部との間
の距離、tはPSD14の基線長方向の長さである。
この電流信号1a、Ibは、被写体16までの距離ρを
求めるためのAF(オートフォーカス)回路15に供給
される。
第6図は、AF回路15の一般的な構成を示すものであ
る。
第6図において、22.23は定常光をカットするため
のトランジスタ、24.25は上記トランジスタ22.
23のベース電位を固定するためのコンデンサ、29.
30はシーケンスコントローラ31により制御されるオ
ペアンプであり、これらによって上記PSD14の出力
電流からIREDIIの発光による電流信号1a、Ib
の成分を分離するための回路が構成されている。すなわ
ち、PSD14は、上記IREDIIの発光による信号
のみを受光することが望ましい。したがって、PSD1
4は、一般に、IREDIIの発光波長以外をカットす
る、たとえば樹脂により形成された光学フィルタを有し
ている。しかし、外光成分にはIREDIIと同じ波長
の成分も含まれている。このため、PSD14からは、
IREDIIの発光による電流信号1a、Ibのほかに
、外光成分による電流も出力される。そこで、PSD1
4から出力される電流より、外光成分による電流を除去
する必要がある。
この場合、上記オペアンプ29.30は、IREDII
の発光タイミング以前においてシ−ケンスコン!・ロー
ラ31により動作され、IREDllの発光タイミング
において動作が禁止きれる。オペアンプ29.30のそ
れぞれの疋側端子は圧縮ダイオード26.27の電圧に
設定され、それぞれの負側端子は基準電圧Vfefに固
定されている。そして、オペアンプ29.30の111
力で、それぞれの定常光カブE用トランジスタ22.2
3のベース電圧を制御するこたにより、不必要な充電流
(外光成分による電流)がプリアンプ20.21で増幅
されるのを防いでいる。すなわち、J二足電流信号!a
、I¥)以外の電流はプリアンプ20.21で増幅され
るこさなく、グランド(G N D)に捨てられる。
(7かして、IREDIIが発光されると、オペアンプ
29.30はオフされる。このとき、トランジスタ22
.23のベース電位は、それぞれのコンデンサ24.2
5により固定されている。したがって、IREDl、1
の発光による電流信号Ia、Ibのみがプリアンプ20
.21によってそれぞれ増幅され、そ(7て圧縮ダイオ
ード26゜27にそれぞれ流j2込まれる。この後、コ
ニ記圧縮ダイオード26.27からの圧縮信号は差動演
算回路28に供給され、ここで差動e1算されることに
よりAF出力に変換される。
なお、上記IREDIIは、ドライバ33によってオン
/オフされるようになっている。また、」二足ドライバ
33を駆動するブリドライバ32は、上記シーケンスコ
ントローラ31からの発光信号によってその発光タイミ
ングが制御されるようになっている。
第7図は、差動演算回路28の構成を概略的に示すもの
である。
第7図において、34.35はバッファ、36゜37は
NPN トランジスタ、38は定電流源、39は抵抗で
ある。
」―記バッファ34.35は、前記プリアンプ20.2
]によりそれぞれ増幅され、圧縮ダイオード26.27
にそれぞれ流し込まれる電流lx。
Iyによってそれぞれのアノードに生じる圧縮信号V 
A * V BをNPN l−ランジスタ36,37の
ベースにそれぞれ供給するものである。
上記NPN トランジスタ36.37は、それぞれのエ
ミッタ端子が共通に接続きれ、定電流源38を介j2て
接地されている。この場合、定電流源38の両端電圧を
Vzhし、NPN )ランジスタ36,37のベース・
エミッタ間電圧vB、、i:コレクタ電流I、、I、と
を考慮したとき、上記圧縮信号VA、VBについて次の
関係が成り立つものとする。すなわち、 ただし、V丁はザーマルボルテージ、Isはトランジス
タ36.37の逆方向飽和電流である。
また、Voは圧縮ダイオード26.27のアノード側の
定電圧である。
上記2式(4)、(5)より、 第8図は、圧縮ダイオード26.27の構成を示すもの
である。
圧縮ダイオード26.27は、ダイオード接続されたト
ランジスタによって構成きれている。この場合、NPN
トランジスタ36.37とのペア性が重視され、その特
性が揃えられている。これにより、上記コレクタ電流1
..I、はいずれも定電流源38側に流れ込むため、 1、+!、mlo          −(9)となる
。jまたがって、 乏なる。ただし、Ioは定電流源38の電流である。
上fa式(10) にi、M流1 x 、  I y 
カS PD14の各出力である電流信号1a、Ibを同
じように増幅したものであることから、次のように書き
直すことができる。
a h−・Io    ・・・(11) Ia十lb したがって、前記式(2)、(3)より、上記式(11
)は、 1、am□・IO・・・(12) となる。このことから、゛上記コレクタ電流■、は、1
 、 oo z        ・・・(13)となる
また、前記式(1)より、 I I”1/j7     − (14)となる。
したがって、この電流信号11が抵抗3つに流れること
により、測距による出力信号Vは、v−R1,−1/I
   −<15) となる。ただし、Rは抵抗3つの抵抗値である。
しかし、これらの関係は、回路にノイズがなく、各素子
などにまったくばらつきがないときにのみ成立するもの
である。
また、アクティブ方式の三角測距型の距離検出装置の場
合、被写体16までの距離が大きくなるほど、5PD1
4で受ける反射光は小さくなる。
このため、たとえば遠距離側では、上記電流信号Ia、
Ibへのノイズ成分INによる影響が無視できない。
このノイズ成分1.を考慮すると、前記した式(11)
は第9図に示すようになる。すなわち、近距離側では、
上記電流信号1a、Ibが十分に大きいため、 1 g )−I N  、   I b ) I Nと
なり、第1の理論線Llの関係を満足する。
ところが、上記電流信号1a、Ibが小さくなる遠距離
側では、 となり、これに−点鎖線L4のような曲線で近付く 。
また、被写体16までの距離が無限大となると、上記電
流信号1a−Ibのときと同じような出力信号Vを出力
する。
ここで、上記式(2)、(3)より、上記電流信号1a
−1bとなる距Mflxを求めると、a十X■t−a−
x となり、この結果、上記距#N Xは、前記式(1)と
なる。この場合、たとえば両レンズ12.13の主点間
距Jlitsを50mm、受光レンズ13の焦点距離f
を14mm、PSD14の基線長方向の長さtを2mm
、およびPSD14のI RED11側の端部との間の
距離aを0.5mmとすると、距Mfl Xは、上記式
(18)より、jlx−1,4m となる。
しかし、このままでは被写体16までの距離が無限大の
場合と1.4mの場合との区別がつかない。
そこで、距離ρCH2以遠の領域では、PSD14に入
射される反射光の光量を判定することにより、−点鎖1
jt L4で示すような測距特性にならないようにする
ための回路(図示していない)が設けられている。これ
により、距Mlcs2以遠の領域では、第3の理論線り
、に近似できるような測距特性を示すことになる。
また、距M1cH+から距QlcHxまでの間は、ノイ
ズ成分INの影響がしだいに現れてくる領域である。こ
のため、第1の理論線Llで近似するより、第2の理論
線L2で近似したほうが誤差が小さ(なる。
このように、AF回路15の測距特性を最大限に利用す
るためには、第9図に破線で示す実際の出力を、3つの
直線L1.L2.L3で近似j2ながら補正演算を行う
ここが好ましい。j2かも、これらの直線i、l * 
”2 *  L!の切換えのポイント・つまり距離fI
CII・ffcu2(出力信号VCHI・VCl2)に
より示される切換えポイントデータは、前述j5たよう
に、回路のS/Nに大きく依存1.ている。特に、投光
源としてのXREDIIの光量のばらつきは部品による
差が大きく、これに影響し易いものとなっている。
また、光学系の両レンズ12.13の主点間距離s1受
光レンズ13の焦点距Mf、およびPSD14のIRE
DII側の端部との間の距離aなどのばらつきにより、
測距特性の傾きやシフト量が変化される。このため、ス
チルカメラ10ごとに切換えポイントデータVcm+V
CH2は異なったものさなる。
次に、上記した切換えのポイントを検出する方法につい
て、第10図に示す調整装置200を例に説明する。
この場合、スチルカメラ10(fl−0)から距離R1
,,1!2. fIi−R4をそれぞれ隔てたところに
、測距部2より投光されるIREDIIの光を標準反射
板で反射する測距用チャートCI+02 *  C3*
  C4がそれぞれ配置されている。これらの各チャー
トC1*  C2*  C3+  C4は、いずれも独
立して可動でき、上記XREDI】からの光の光軸より
退避できるようになりでいる。すなわち、チャートC1
が退避されると、スチルカメラ】0によってチャートC
2が被写体と17で測距され、距M!J2における被写
体までの距離に対する出力信号■を得るころができるよ
うになっている。
ところで、上記切換えポイントl1co+は、この場合
、距離R2と距離g、εの間にあるものと考える。すな
わち、設計上において、いくら部品や取り付けの精度の
ばらつきを考慮しても、切換えポイントI CHlは距
MfJ2よりも近(はならず、また距離11よりも遠(
ならないよう、距離が選ばれている。したがって、距M
l 、は距jli! 、よりも近い距離、距MfJ、は
距離g、よりも遠い距離で、切換えポイントfl CH
2よりは近い距離に設定されている。
このような構成において、スチルカメラ10でチャート
C1,C2+   3+  04を順に測距1.たとき
、出力信号V’+ 、V2 、Vi 、Vaがそれぞれ
得られたとする。すると、第1の理論線り0、第2の理
論線L2を現わす式はおのおの次のようになる。すなわ
ち、 ・・・ (19) ・・・ (20) このLき、第1の理論線り、と第2の理論線L2との交
点は切換えポイントvcH1である。したがって、 となり、これより切換えポイントVC□、は、として求
められる。
このようして、調整演算回路4にて切換えポイントデー
タが算出され、この切換えポイントVCIIIはスチル
カメラ1oのCPUIにより記憶部3に書き込まれる。
また、この調整装置200では、前述した近距離側の補
正データalT  b1%および遠距離側の補正データ
a2.b2を同時に求めることができるようになってい
る。すなわち、 これらの補正データal +  bt +  a2 *
  b2も、同様にして記憶部3に記憶させるようにす
ることにより、部品のばらつき誤差などに起因する測距
特性のばらつきを簡単に補正できるようになる。
なお、第9図に示した、もう1つの切換えポイントD 
C)12についても、上記同様にして求められ、記憶部
3に書き込まれる。
上記したように、実際の出力を複数の直線で近似しなが
ら補正演算するようにしているため、誤差を小さくする
ことができる。したがって、各部品のできばえにかかわ
らず、高精度で、かつワイドレンジの距離検出装置を実
現できるものである。
なお、この発明は上記実施例に限定されるものではなく
、発明の要旨を変えない範囲において、種々変型実施可
能なことは勿論である。
[発明の効果] 以上、詳述したようにこの発明によれば、よりワイドレ
ンジで、しかも高精度な測距装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す距離検出装置の概念
図、第2図は全体の構成を示すブロック図、第3図は調
整装置の一例を示す構成図、第4図は測距演算動作を説
明するために示すフローチャート、第5図はアクティブ
方式の三角測距型の距離検出装置を示す構成図、第6図
はAF回路の一例を示す構成図、第7図は差動演算回路
を示す構成図、第8図は圧縮ダイオードの構成を示す図
、第9図は測距特性を説明するために示す図、第10図
は切換えポイントを検出する方法について説明するため
に示す構成図、第11図乃至第13図は従来技術とその
問題点を説明するために示すもので、第11図は距離検
出装置の動作理論を説明するために示す図、第12図は
2本の直線によって近似される場合を例に測距特性を説
明するために示す図、第13図はある距離を越えると直
線関係を満たさなくなる場合を例に測距特性を説明する
ために示す図である。 1・・・CPU、2・・・測距部、3・・・記憶部、4
・・・調整演算回路、10・・・スチルカメラ、11・
・・IRED、14・・・PSD、15・・・AF回路
、1620.被写体、26.27・・・圧縮ダイオード
、28・・・差動演算回路、100・・・距離検出装置
、101・・・測距手段、102・・・演算制御手段、
103・・・補正演算手段、104・・・記憶手段、2
00・・・調整装置。 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 被写体までの距離に対応した信号を出力する測距手段と
    、 この測距手段の出力にもとづいて合焦用レンズの移動量
    を所定の関係にしたがって決定する演算制御手段と、 前記測距手段の出力の全範囲を複数の領域に分割し、前
    記測距手段の出力と合焦用レンズの移動量との関係が所
    定の関係に近付くように各領域ごとに補正演算する補正
    演算手段と、 この補正演算手段における補正演算のための補正係数と
    前記複数の領域の境界となる出力値とを記憶する記憶手
    段と を具備したことを特徴とする測距装置。
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