JPH01150809A - 距離検出装置 - Google Patents

距離検出装置

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JPH01150809A
JPH01150809A JP31068987A JP31068987A JPH01150809A JP H01150809 A JPH01150809 A JP H01150809A JP 31068987 A JP31068987 A JP 31068987A JP 31068987 A JP31068987 A JP 31068987A JP H01150809 A JPH01150809 A JP H01150809A
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恵二 国重
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、距離検出装置、更に詳しくは、光投射型の三
角測距方式の距離検出装置に関する。
[従来の技術] 被写体にパルス光を投光し、この被写体からの反射光を
、投光部より所定の基線長だけ離れて配置された、半導
体装置検出素子(以下、PSDと略記する)からなる受
光部により受光して被写体距離を検出するようにした光
投射型の三角測距方式による距離検出装置は、既に特開
昭59−99420号公報等によって知られている。
第9図(A)は、この距離検出装置に適用される三角測
距の原理を説明するための概略図である。
第9図(A)において、投光索子101から発光された
パルス光は、投光レンズ102でスポット状に集束され
て被写体103に向は投射される。同被写体103によ
り反射された反射光は、上記投光レンズ102より基線
長しだけ隔てた位置にある受光レンズ104によってP
SD105上に結像される。このPSD105上の結像
点の位置は、被写体距離に応じて変化するから、結像位
置に応じてPSD105の両端から取り出される光電流
I、、12の比を求めることにより結像点の重心位置を
求め、この重心位置から被写体距離を求めることができ
る。
無限遠(以下、■と略記する)に位置した被写体からの
反射光の結像点が、PSD105の中心105Cと一致
している理想的状態を示す第9図(B)の場合、PSD
105の全長を2d、受光レンズ104の焦点距離をf
J、被写体距離をa1全光電流を■。(”Il+12)
とすると、端子105aからの光電流11は、 となる。また、端子105bからの光電流I2は■ となる。そこで、上記(1) 、 (2)式より演算出
力12 / (II + 12 )を求めると、となる
から、演算出力12 / (II + I2 )は被写
体距離の逆数(1/a)に比例することになる。
第10図は、被写体距離の逆数(1/a)を横軸に、上
記(3)式に示す演算出力I2/(Il+ようになり、
1つの演算出力I2 / (II +Iz )に対して
1つの被写体距離aが対応はしているから、演算出力I
2/ (II +12)を求めることによって被写体距
離aを求めることができる。
次に、無限遠に位置する被写体からの反射光の結像点が
PSD105の中心点105Cより位置ズレ量ΔXだけ
ずれている第9図(C)の場合を考えると、このときに
は、端子105aからの光電1、=         
 ・lo  ・・・・・・・・・(4)d となる。また、端子105bからの光電流■2は、■ となる。従って、演算出力I2 / (II +12 
)となる。この(6)式を上記第(3)式と比べると、
Δx / 2 dだけシフトしたものとなっている。つ
まり、第10図に示した破線δ2のように、上記理想的
な特性線である実線δ1をΔx / 2 dだけ上方に
平行移動したものとなっている。なお、結像点の重心位
置が第9図(C)に示した場合とは逆方向にずれている
場合には、破線δ、のようになる。 ところで、実際に
光電流を求めるには、電子回路によって検出しているか
ら、PSD105に発生した光電流出力に電子回路のバ
イアス電流1Bが加算されて検出されることになる。回
路を工夫することによりバイアス電流Inはできるだけ
小さい値となるように設定されるが、それでも皆無にす
ることは不可能なので、検出回路の影響も考慮すると、
端子105aから検出される光電流となる。また端子1
05bから検出される光電流となる。よって演算出力I
2 / (If +12 )は■ となる。Ioは全受光光電流出力であるので、その大き
さは1/a2に比例し、■では0となり、被写体距離が
近くなる程(1/a2が大きくなる程)大きくなる。つ
まり、近距離においては、1 o > I B1.I 
B2の関係が成り立つ。上記の近似を上記(9)式に代
入すれば、被写体距離が閃の場と近似される。つまり、
演算出力は被写体距離が凶に近づくにつれ、検出回路に
よって定まるバイアス定数I B2/ (’I Bt 
+ I B2)に近づき、近距離になればなる程、検出
回路の影響は無視できるよして、グラフに表わすと、第
11図に示すように直線δ4.δ、に歪みを生じる。こ
の歪みの度合は検出回路のバイアス定数I B2/ (
I ol+ I B2)および位置ズレ量ΔXによっっ
て決定される。第11図より明らかなようにPSD10
5の中心点105cに対し■被写体からの反射光による
結像点の重心位置が投光素子101側によっているとき
ΔXを負の値、その逆を正の値とすると、ΔXが正の値
をとる場合、曲線δ4のようになり、負の値をとる場合
は曲線δ、のようになる。
[発明が解決しようとする問題点] したがって、第11図に示す実線δ4.δ5では、被写
体距離aの逆数に対する演算出力I2/(II+I2)
の直線関係が崩れ、正確に測距することができない。取
り分け、結像点の位置ズレ量ΔXが負の値をとる実線δ
、の場合、1個の演算出力iに対し2個の被写体距離の
逆数1/a5+および1/a、2が対応する距離領域が
発生し、その領域では測距不能となってしまう。
そこで、次に、上記位置ズレ量ΔXを極力少なくする一
般的な調整方法について述べる。
第12図は、前記第9図(A)に示した三角測距の原理
を説明するための線図から投光部と受光部のみを示した
ものである。
第12図において、図示しない開被写体からの反射光に
よる結像点の重心位置は、投光素子101と、投光レン
ズ102の主点を結ぶ直線、つまり投光光軸に平行な入
射光の主光線がPSD105の面と交わる点である。従
って、結像点の位置は、投光レンズ102と受光レンズ
104の主点位置、投光素子105の位置のそれぞれの
位置関係によって決定される。通常、投・受光レンズ1
02゜104および投光素子101.PSD105は、
それぞれ別部品であり、組み立てによって位置関係が設
定される為、結像点の重心位置のズレ量ΔXは、組立時
の作業により個々に大きくばらつく。
そこで、組立後、投光素子101もしくはPSD105
を微調整してできるだけ上記ズレ量ΔXが小さくなるよ
うに調整される。第12図は、投光素子101をXだけ
移動させて投光素子101aから発光させた場合の例で
、この場合■被写体からの反射光による結像点の重心位
置は受光レンズ104の焦点距離をf、とし、投光レン
ズ102の焦点距離をfTとすると、次式で与えられる
結像点の位置ズレ量ΔXだけ移動することになる。
このようにして投光索子101を移動させることにより
、PSD105の中心105Cに開被写体の反射光によ
る結像点の重心位置を合わせるよう調整することができ
る。しかしながら、調整できる位置ズレ量ΔXの大きさ
は投光素子101を移動させる機構の微調能力と、調整
マシンの微調能力によって決定される。位置ズレ量ΔX
は数10μm以内に調整されることが要求されるので、
調整マシンとして同オーダの微調能力を必要とすること
になる。
このように、投光素子、受光素子がそれぞれ1個の場合
は、機械的調整方法に伴う欠点を無視すれば、結像点の
位置ズレ量ΔXを機械的に補正することにより測距不能
となることを回避することが可能である。しかしながら
、特開昭60−140306号公報等に示されるように
、投光素子、受光素子を複数個用いる1lllJ距装置
においては、それぞれの位置関係を前述した様なレベル
で機械的に調整することは、生産工程上、コスト12J
整工数が掛かり過ぎるので不可能である。また、このよ
うな調整機構を、コンパクトなカメラ内に収納すること
すら、ニアX可能である。第13図は3個の投光素子1
11〜113.3個のPSD114〜116.投光レン
ズ117および受光レンズ118をもった広視野測距装
置の例である。この場合、通常、投光素子111〜11
3は3個のチップを1つのパッケージに封入して製造さ
れるから投光素子個々の位置の相対的なズレは避けられ
ず、基準位置に対して±O,1nus内の精度となる。
PSDI 14〜116に関しても同様なことがいえる
。このため、たとえ真中の投光素子112とPSD11
5との位置関係を精密に機械的な方法で微調したとして
も、投光素子111とPSD114、また投光索子11
3とPSD116との位置関係はそれぞれ±0.1mm
程度のズレが軽くでてしまうことになる。従って、この
ような場合は特に、上記ズレ量ΔXを数10μm程度に
しようという要求レベルからいかにかけ離れているもの
であるかが明白である。
以上述べたように、複数の投光素子と受光素子を用いる
測距装置まで考えるとき、機械的調整法にはおのずから
その限界があることが明らかである。
そこで本発明は、上述の事情に鑑みてなされたもので、
電気的に回路のバイアス電流を調整することにより、P
SD等の受光素子面上における結像点の位置ズレ量ΔX
の補正と、検出回路のバイアス電流により引き起こされ
る測距演算出力の歪の補正とを行なった距離検出装置を
提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段および作用]本発明の距
離検出装置は、投光素子から測距対象に向けて投射され
た光パルスの反射光を受光素子で受光し、その入射位置
を検出することによって被写体距離の情報を得る三角測
距方式の距離検出装置であって、上記受光素子が上記反
射光を受光して発生する光電流をバイアス電流に重畳さ
せて検出する検出回路と、上記バイアス電流に重畳した
光電流から被写体距離情報を演算して出力する演算出力
回路と、上記バイアス電流を調整して被写体距離の逆数
が測距範囲の全域に亘り上記演算出力に比例するように
したバイアス電流調整回路とを具備してなるものである
本発明の原理を表わした第14図において、被写体距離
aの逆数、を横軸にとり、演算出力12 / (II 
+ 12 )を縦軸にとった場合、近距離域では実線g
。のように1本の直線として確定されるとき、遠距離域
では前述した理由から曲線go−II6のように変化し
てしまい、閃収束ポイント、つまり特性線図と縦軸の交
点がP。−P6のように変化するので、本発明の距離検
出装置においては、演算出力I 2 / (I 1+ 
12 )の■収束ポイントが、近距離域での特性線Ω。
をそのまま延長させた実線g4に一致するように、バイ
アス電流を調整する。この結果、前記の位置ズレ量ΔX
やバイアス電流IBによって生じた演算出力の歪みが修
正され、被写体距離の逆数と演算出力とのリニアな関係
が保たれる。
[実 施 例コ 以下、図面を参照して本発明を具体的に説明する。
第1図は、本発明の第1実施例を示す距離検出装置の電
気回路図で、第3図は、上記第1図中の制御回路部25
から供給される信号のタイミングチャートである。この
距離検出装置は、測距対象に光パルスを投射する投光回
路部21と、7Illl距対象からの反射光を受光して
光電流を検出、この光電流をバイアス電流に重畳する光
電流検出回路部22と、バイアス電流に重畳された光電
流から被写体の距離情報を求める演算出力回路部23と
、この演算出力回路部23の出力を受けてカウントする
カウント回路部24と、上記各回路部に制御信号を送出
する制御回路部25とから構成されている。
第1図において、投光回路部21のIRED(赤外発光
ダイオード)68は、トランジスタ67゜抵抗66.6
9およびオペアンプ65で構成されている定電流駆動回
路により定電流ドライブされる。この定電流駆動回路の
オン・オフを制御するトランジスタ70のベースが抵抗
71.74を介して制御回路部25の端子T1に接続さ
れており、このIRED68から第3図に示されるパル
ス波形で投射される赤外光のオン・オフ制御は制御回踏
部25の端子T、の出力信号(第3図参照)により行な
われる。
光電流検出回路22はプリアンプ回路部、背景光除去回
路部およびバイアス設定回路部から構成されている。P
SDIの一方のアノードから得られる第1の光電流11
は、光電流検出回路部22のトランジスタ2〜トランジ
スタ18で構成される回路網により前置増幅され、背景
光を除去された後、バイアス電流に重畳して取り出され
る。
PSDIの一方のアノードから得られる第1の光電流1
1を増幅するオペアンプ3は、トランジスタ2によって
帰還がかけられるように、その出力端をトランジスタ2
のエミッタに、反転入力端子をベースにそれぞれ接続さ
れており、トランジスタ2の電流増幅率β倍に増幅され
た信号は、第1のカレントミラー回路を形成する次段の
トランジスタ8,9に供給されるようになっている。そ
して、トランジスタ9のコレクタは、上記第1のカレン
トミラー回路に電流を供給する定電流源10と背景光除
去回路部のオペアンプ5の非反転入力端子に接続されて
いる。
このオペアンプ5は、非投光時にトランジスタ6が端子
T、の出力信号の“H”レベルが抵抗74.73を通じ
てベースに与えられることによりオンするとアクティブ
となり、その出力端に接続されたコンデンサ7に、この
背景光の明るさに応じた電荷を蓄積すると共に、同コン
デンサ7とトランジスタ4とで構成されたフィードバッ
クループによってPSDIの背景光による充電流成分と
、オペアンプ3のバイアス電流成分をトランジスタ4の
コレクタ電流としてグランドラインに排出する。その結
果として、トランジスタ2のコレクタ電流は、背景光の
大きさによらず定電流源10の定電流値に応じた一定値
となる。投光時には、トランジスタ6がオフするからオ
ペアンプ5がノンアクティブとなるが、コンデンサ7に
蓄積された電荷によりトランジスタ4が背景光による光
電流をグランドラインに排出し続けるので、PSDIの
一方のアノードから得られる第1の光電流から背景光に
よる光電流を除いたパルス光成分はトランジスタ2で3
倍されて第1のカレントミラー回路8.9によって折り
返され圧縮ダイオード11に注入される。
トランジスタ12とダイオード11.13.14とは、
第2のカレントミラー回路を構成し、圧縮ダイオードを
兼ねるダイオード11のアノードは、上記第1のカレン
トミラー回路を構成するトランジスタ9のコレクタに接
続されている。カレントミラー回路の性質から、トラン
ジスタ12とダイオード11を流れる電流はダイオード
13.14を流れる電流に等しく、またダイオード13
.14とトランジスタ15とはそれぞれ直列に接続され
ているので、ダイオード11に流れる電流はトランジス
タ15を流れる電流IBlに等しい。従って、圧縮ダイ
オード11に注入される投光時のパルス光電流成分は、
トランジスタ15のコレクタ電流IB□に相当するバイ
アス電流に重畳して検出されることになる。
上述の説明と同様に、PSDIの他方のアノードから得
られた第2の光電流■2は、トランジスタ2A〜トラン
ジスタ18Aからなる同様の回路網で処理され、トラン
ジスタ15Aのコレクタ電流■B2に相当するバイアス
電流に重畳して圧縮ダイオード11Aのアノードから検
出される。
トランジスタ15.18およびトランジスタ15A、1
8Aはそれぞれ第3のカレントミラー回路を形成してい
る。これら第3のカレントミラー回路の定電流は、トラ
ンジスタ35. 36゜37および定電流源38で構成
されている第4のカレントミラー回路によって与えられ
るようになっている。定電流源38の電流値をIBとす
れば、カレントミラー回路の性質から、トランジスタ3
5.36.37の各コレクタ電流は何れもIBとなる。
トランジスタ36はトランジスタ18と直列に接続され
ているから、トランジスタ18を流れる電流は上記定電
流Inである。ところで、一方の第3のカレントミラー
回路を形成しているトランジスタ15と18のエミッタ
にそれぞれ抵抗16と可変抵抗17が接続されているの
で、可変抵抗17と抵抗16とが等しい抵抗値であれば
、トランジスタ15を流れるバイアス電流IBlも、上
記定電流源38の電流値IBに等しくなるが、後述する
ように、可変抵抗17は被写体距離に応じた演算出力を
補正する目的で可変調整されるものであるので、一般に
はIBl”Bである。トランジスタ18Aはトランジス
タ35に直列なので、他方の第3のカレントミラー回路
を構成するトランジスタ15A、18Aを流れる電流I
B2はInに等しいので、結局、一般的には、IBl”
B2となる。
すなわち、上記可変抵抗17を可変することにことにな
る。
このようにして、圧縮ダイオード11あるいは11Aの
アノードに得られた信号電圧は、演算出力回路部23の
トランジスタ41と42のベースに供給される。
演算出力回路部23は、トランジスタ41゜42.44
〜46と定電流源43からなり、測距演算出力を得るた
めの対数伸長回路を構成している。差動増幅器を形成し
ているトランジスタ41゜42の各ベースは、上記圧縮
ダイオード11とIIAの各アノードに直接、あるいは
図示しない緩衝増幅器を介して接続され、各エミッタは
定電流源43に共通に接続されている。トランジスタ4
2のコレクタは、カレントミラー回路を形成しているト
ランジスタ44〜46の各ベースとトランジスタ44の
コレクタとに接続されている。
ところで、上記ダイオード11.IIAにそれぞれ流れ
る電流は、前記PSDIの各アノードから得られた光電
流I、、I2と、上記バイアス電流■Bl” B2との
和である。すなわち、前記した電流Ilb”2bは、 である。
従って、今、トランジスタ42のコレクタ電流Icは、
定電流源43の定電流を10とすると、となる。この(
18)式で示される電流1cは前記(9)式で示された
演算出力に係数IEが掛けられたものに相当している。
この(13)式に上記(12)式を代入すれば、となる
従って、トランジスタ42のコレクタ電流Icを測定す
れば被写体までの距離を求めることができることになる
。この電流1cはカレントミラー回路の性質から、トラ
ンジスタ46のコレクタにも流れ、このトランジスタ4
6のコレクタ電流Icが演算出力となる。この演算出力
回路部23では、トランジスタ41を流れるコレクタ電
流をが成立するように作動する。
ここで、上記バイアス電流IBl”B2は、前述したよ
うに、第1の光電流11+第2の光電流I2に重畳して
それぞれ圧縮ダイオード11. IIAを流れることに
なるので、ここで電子の電荷をq。
絶対温度をT、ボルツマン定数をに、逆方向飽和電流を
Isとすると、−一を7丁とおき、簡単のため背坦光が
ないと考えると、被写体距離が充分に遠くて光電流!、
、I2が充分に小さいとき、ダ’(オー)’11.II
A(7)7/−ド電位v1゜v2は、 となる。
つまり、この場合、圧縮ダイオード11.IIAのアノ
ードの電位はバイアス電流’Bl” B2のみによって
定まることになる。従って、このときの演算出力Icは
上記(14)式から となる。
次に、被写体が充分に近くて、PSDIからの光電流I
、、I2がバイアス電流IBl”B2に比して大きな場
合には、圧縮ダイオード11.IIA■ I  −−” IE 01、+1.2 となる。
従来の測距回路においては、■Bl+lB2としていた
ので演算出力1cは 1 c −21p となるものであったが、この実施例では、バイアス電流
I を定電流源38の■8に等しく一定とし、バイアス
電流IBlについてはトランジスター5゜18と抵抗値
R1の抵抗16および抵抗値R2の可変抵抗17によっ
て、 なる関係式を満足するように可変抵抗17を調整体距離
の逆数に、測距範囲の全域に亘って比例するものとして
いる。
カウント回路部24は、上記トランジスタ45゜46の
コレクタ電流を計測して制御回路部25に内蔵されてい
るカウンタ機構(図示せず)でディジタル計測するもの
で、非投光時に背景光を記憶保持しておき、投光時に受
光光電流から上記背景光を除いたパルス光成分でカウン
トするものである。
背景光を記憶し保持する回路を制御するトランジスタ4
8は、ベースが抵抗75を介して制御回路部25の端子
T2に接続されており、制御回路部25の端子T2の出
力信号(第3図参照)によリオン、オフ制御される。つ
まり、非投光時に上記トランジスタ48がオンするよう
になっている。
トランジスタ48がオンのときは、オペアンプ47、ト
ランジスタ50およびコンデンサ49よりなるフィード
バックループにより、トランジスタ50には上記(14
)式で与えられるコレクタ電流Icが流れ、トランジス
タ50とトランジスタ51はカレントミラー回路を形成
しているので、このときトランジスタ51にも電流1c
が流れる。
そして、このときコンデンサ49には背景光に相当する
電荷が蓄えられるが、非投光時の電流IcはI、−12
−0であるので、このとき前述したように前記(14)
式より、コンデンサ4つに蓄えらとなる。つまり、トラ
ンジスタ51は被写体距離■時の演算出力をグランドに
排出する役割を果す。
投光時には、トランジスタ48がオフしてオペアンプ4
7が不動作となるからコンデンサ49の保持電荷によっ
てトランジスタ51の排出電流量は保持されることにな
る。
このようにして、コンデンサ52には、投光ごとに有限
被写体距離時の演算出力からψ被写体距離時の出力を引
いた電流が流れて電荷が蓄積されていくことになる。オ
ペアンプ53は上記コンデンサ52のリセットをするた
めのもので、その制御用のトランジスタ54のベースは
抵抗76を介して制御回路部25の端子T3に接続され
ている。
従って、この端子T3の出力信号(第3図参照)により
、トランジスタ54は、オンしてコンデンサ52の電位
を基準電圧Vreflにセットし、投光開始の直前にオ
フしてオペアンプ53を動作不能とする。その後はコン
デンサ52の電位は、同コンデンサ52への注入電流に
よって増加していく。
所定回数の投光が終ると、第3図のタイミングチャート
に示すようにその端子T4がH−+Lとなるのでトラン
ジスタ63がオフし、トランジスタ55でコンデンサ5
2を放電していく。同時に制御回路部25に内蔵された
カウンタが働き、コンパレータ62の出力がHになるま
でカウントを続ける。コンパレータ62は、コンデンサ
52の両端電圧が基準電圧Vreflより小さくなると
、LからHに変化する。コンデンサ52の放電速度は、
定電流源61と抵抗58.59とトランジスタ57.6
0によって決定される。抵抗59は可変抵抗であ−っで
、これを変化させることによって任意のディスチャージ
速度を設定できる。このようにして被写体輝度に応じた
出力を制御回路部25内のカウンタのカウント値として
得ることができる。
ところで、上記距離検出装置において、可変抵抗17の
調整は、次のような手順で行なわれる。
(イ)比較的近距離の2箇所を測距して、被写体距離が
alのときのカウント値を01とし、B2のときのカウ
ント値をC2とする。
(ロ)ψカウント値の演算を行ない、閃カウントにより
求める。この(20)式は、2箇所の4111距値(1
/a+ 、C+ )、(1/a21 C2)から第14
図に示すような直線g。+ D 4を求め、ωの測距値
、つまり縦軸との交点P4の座標を計算するための計算
式である。
(ハ)受光部を遮光してカウント値がCに略等しくなる
ように可変抵抗17を調整する。
なお、上記第1実施例においては、光電流検出回路部2
2における定常光を除去するためのオペアンプ5 (5
A)の反転入力端子への信号は、ダイオード13と14
(13Aと14A)の接続点からとっていたが、第2図
に示すように、トランジスタ19 (19A)と定電流
源20 (20A)との直列回路を追加し、このトラン
ジスタ19 (19A)のベースをダイオード1B(1
3A)のアノードに接続し、同トランジスタ19 (1
9A)エミッタをオペアンプ5 (5A)の反転入力端
子に接続するようにしてもよい。周知のように、定電流
駆動されたエミッタフォロアのトランジスタ19(19
A)の入力インピーダンスはほぼ無限大と考えられるの
で、ダイオード11.13.14およびトランジスタ1
2で構成されている第2のカレントミラー回路に与える
負荷効果を軽減させることができる。
第4図は、本発明の第2実施例を示す距離検出装置の要
部回路図である。この第2実施例においては、光電流検
出回路部22Aは、背景光除去回路部を除いて、プリア
ンプ回路部26とバイアス設定回路部27とから構成さ
れている。また、演算出力回路部23Aでは前記第1図
におけるトランジスタ45が用いられていない。第4図
に示されていない投光回路部、カウント回路部および制
御回路部については、前記第1図に示した第1実施例と
略同様に構成される。第1実施例と全(同一の構成部品
については、同一符号を付すに止め、その説明が重複す
るのを避けてこれを省略する。
第4図において、PSDlの一方のアノード出力側で、
PNP型トランジスタ30のベースはオペアンプ3の出
力端に、エミッタはオペアンプ3の反転入力端子に、コ
レクタはダイオード11のアノードにそれぞれ接続され
ていて、PSDlの第1の光電流11は、トランジスタ
30で負帰還されたオペアンプ3で前置増幅されて圧縮
ダイオード11に注入される。トランジスタ31は、そ
のコレクタとベースが短絡されているのでベース。
エミッタ接合のダイオードと等価になり、第1図に示す
ダイオード13に相当する。従って、このトランジスタ
31はトランジスタ12.ダイオード11.14と共に
カレントミラー回路を構成している。ダイオード11に
は、トランジスタ15のコレクタ電流IBlと等しいバ
イアス電流が流れるように、トランジスタ12が作動す
る。PSDlの他方のアノード出力側においても、同様
に構成されているのでダイオード11Aにもトランジス
タ15Aのコレクタ電流”B2と等しいバイアス電流が
流れるように、トランジスタ12Aが作動する。
従って、この実施例でも、前記第1図に示した実施例で
説明したと同様に圧縮ダイオード11゜11人のアノー
ド電位として前記(15)〜(18)式が成立し、しか
も、バイアス電流IBl”B2の比を可変抵抗17によ
り可変できることから、前記第1実施例と同じ効果を期
待できる。
第5図は、本発明の第3実施例を示す距離検出装置の要
部回路図である。この実施例において、光電流検出回路
部は、背景光除去回路が除かれている点は上記第2実施
例と同じである。第2実施例と異なる点は、上記第2実
施例では、バイアス電流IB工、■8゜を得るための定
電流分配回路として、トランジスタ15.18と15A
、18Aで構成されるカレントミラー回路を2組とトラ
ンジスタ35.36.37で構成されるカレントミラー
回路1組と計3組設けていたが、この実施例では、バイ
アス設定回路部27Aにおいて上記カレントミラー回路
を使用するかわりに、トランジスタ35B、36B、可
変抵抗37Bおよび定電流源33による電流分配回路を
使用している。
トランジスタ35Bを流れるバイアス電流IBlとトラ
ンジスタ36Bを流れるバイアス電流IB2の比を可変
抵抗37Bの調整によって適宜の値に設定でき、且つ、
バイアス電流IBlと■B2との和がバイアス電流比に
関係なく、定電流源33によって一定の電流値IBに決
まる。すなわち、バイアス電流IBl” B2の比が、
可変抵抗37Bによって設定されると、トランジスタ3
5.36の電流増幅率をβpとすれば、下式の関係が成
立する。
1Bl+IB2″″βpIB 第6図は、本発明の第4実施例を示す距離検出装置のブ
ロック図である。この実施例は、第12図を用いて前述
したように、複数の投光素子、すなわちIRED92〜
93を投光回路部95によって発光させ、これを複数の
受光素子、すなわちPSD89〜91で受光することに
より広視野にわたって距離検出を行なう装置で、各ブロ
ックの詳細な回路構成は前記第1図と同じである。受光
素子を複数化したためにセレクタ部81が設けられてい
る。セレクタ部81は、各光電流検出回路部82〜84
の出力を選択して演算出力回路部96に供給するための
もので、制御回路部85によって制御される。従って、
演算出力回路部96は、各光電流検出回路部82〜84
の出力毎に演算を行ない、被写体距離に応じた演算出力
をカウント回路部97に送る。各光電流検出回路部82
〜84には、可変抵抗86〜88が接続されていて、各
光電流検出回路部82〜84毎にバイアス電流をそれぞ
れ調整することができる。この調整値は、PSD89と
IRED92.PSD90とIRED93.PSD91
とIRED94の相対的位置関係によって、前記第1実
施例で説明したように決定される。なお、中央のPSD
90とIRED93を機械的に調整してしまえば、光電
流検出回路部83に接続されている可変抵抗87は調整
不要となるので、これを固定抵抗にしてもよい。このよ
うにすれば、バイアス電流調整は可変抵抗86.88の
2個についてのみ行なえばよいので、ICのピン数が減
りコストを低減できる利点がある。
第7図は、本発明の距離検出装置の演算出力回路部の他
の具体的な回路例を示した電気回路図でと定電流源12
9とから構成される差動増幅器のトランジスタ122,
124のベースに前記した第1の電流Ilbと第2の電
流I2bがそれぞれ供給される。トランジスタ121と
125はカレントミラー回路を構成し、同様に、トラン
ジスタ123と127もカレントミラー回路を構成して
いるがら、トランジスタ125,126を流れる電流は
トランジスタ122に流れる電流に等しく、トランジス
タ127,128を流れる電流はトランジスタ124に
流れる電流に等しい。このため、トランジスタ125〜
128で構成される差動増幅器のトランジスタ128の
コレクタがらの演算出前述の(7)式および(8)式よ
り、 である。
第8図は、演算出力回路部の更に他の具体的な回路例の
電気回路図である。この演算出力回路部式より ・・・・・・・・・(25) となる。上記演算式による演算を行ない演算出力回路部
がこの第8図に示す回路では光電流検出回路部からの電
流l1tl”2bは、ボルテージフォロワを形成してい
るオペアンプ131,132の非反転入力端子にそれぞ
れ供給されてインピーダンス変換されると、この後、オ
ペアンプ133と抵抗134〜137からなる減算回路
によりの演算が行なわれてオペアンプ133の出力端よ
り出力される。
[発明の効果コ 以上述べたように本発明によれば、受光素子と投光素子
間の相対的位置ずれと検出回路のバイアス電流により引
き起こされる測距演算出力の歪みにより、測距不能とな
る欠点を電気的調整で解決することにより、従来の機械
的な調整法に伴う様々な欠点を解消し、数10μmのオ
ーダの微調整をも簡単かつ安価にしかも経年変化のない
ように確実に調整することができ、さらに従来の機械的
調整では全く不可能であった複数の投・受光素子を用い
る測距装置にも応用することができる等の顕著な効果を
有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1実施例に係る距離検出装置の電
気回路図、 第2図は、上記第1図における光電流検出回路部の他の
回路例を示す要部回路図、 第3図は、上記第1図における制御回路部から出力され
る信号のタイミングチャート、第4図は、本発明の第2
実施例に係る距離検出装置の要部回路図、 第5図は、本発明の第3実施例に係る距離検出装置の要
部回路図、 第6図は、本発明の第4実施例に係る距離検出装置のブ
ロック図、 第7図は、本発明の距離検出装置の演算出力回路部の他
の例を示す電気回路図、 第8図は、本発明の距離検出装置の演算出力回路部式に
他の例を示す電気回路図、 第9図(A) 、 (B) 、 (C)は、本発明に用
いられる三角測距の原理を説明するための全体概略図と
受光部の概略図、 第10.11図は、従来の距離検出装置における演算出
力−距離の関係を示す特性線図、第12.13図は、従
来の距離検出装置における測距誤差の発生とその調整法
を説明するための投・受光部の概略図、 第14図は、本発明の距離検出装置における演算出力−
距離の関係を調整する方法を説明するための特性線図で
ある。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 投光素子から測距対象に向けて投射された光パルスの反
    射光を上記投光素子から一定基線長だけ離して配置した
    受光素子で受光し、同受光素子の入射位置を検出するこ
    とにより被写体距離情報を得る距離検出装置において、 上記受光素子が上記反射光を受光して発生する光電流を
    バイアス電流に重畳させて検出する検出回路と、 上記バイアス電流に重畳された光電流出力から被写体距
    離情報を演算して出力する演算出力回路と、 上記バイアス電流を調整して被写体距離の逆数が測距範
    囲の全域に亘り上記演算出力に比例するようにしたバイ
    アス電流調整回路と、 を具備したことを特徴とする距離検出装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0364715A (ja) * 1989-08-02 1991-03-20 Olympus Optical Co Ltd 測距装置
US5294802A (en) * 1991-11-25 1994-03-15 Olympus Optical Co., Ltd. Digitally active distance measurement apparatus for camera or the like
US5311242A (en) * 1991-05-16 1994-05-10 Olympus Optical Co., Ltd. Autofocus camera and method of focus control therefor
US5557363A (en) * 1993-03-16 1996-09-17 Olympus Optical Co., Ltd. CMOS-analog IC for controlling camera and camera system using the same
US7766611B2 (en) 2005-04-28 2010-08-03 Siemens Aktiengesellschaft Method for setting a radial gap of an axial-throughflow turbomachine and compressor

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5895210A (ja) * 1981-12-01 1983-06-06 Ricoh Co Ltd 距離検出装置
JPS58151511A (ja) * 1982-03-05 1983-09-08 Ricoh Co Ltd 距離検出装置
JPS631916A (ja) * 1986-06-20 1988-01-06 Hamamatsu Photonics Kk 信号パルス光電流抜取回路

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5895210A (ja) * 1981-12-01 1983-06-06 Ricoh Co Ltd 距離検出装置
JPS58151511A (ja) * 1982-03-05 1983-09-08 Ricoh Co Ltd 距離検出装置
JPS631916A (ja) * 1986-06-20 1988-01-06 Hamamatsu Photonics Kk 信号パルス光電流抜取回路

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0364715A (ja) * 1989-08-02 1991-03-20 Olympus Optical Co Ltd 測距装置
US5311242A (en) * 1991-05-16 1994-05-10 Olympus Optical Co., Ltd. Autofocus camera and method of focus control therefor
US5294802A (en) * 1991-11-25 1994-03-15 Olympus Optical Co., Ltd. Digitally active distance measurement apparatus for camera or the like
US5557363A (en) * 1993-03-16 1996-09-17 Olympus Optical Co., Ltd. CMOS-analog IC for controlling camera and camera system using the same
US5708880A (en) * 1993-03-16 1998-01-13 Olympus Optical Co., Ltd. CMOS-analog IC for controlling camera and camera system using the same
US7766611B2 (en) 2005-04-28 2010-08-03 Siemens Aktiengesellschaft Method for setting a radial gap of an axial-throughflow turbomachine and compressor

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