JP3197284B2 - 測距装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、測距装置、詳しくは、
スチルカメラ、ビデオカメラ等に用いられる被写体の距
離検出装置である測距装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の測距装置としては、まず、被写体
に向けてパルス光を投射し、その反射光を投光部から所
定の基線長だけ離れた位置に配置された受光素子にて検
出して被写体までの距離を検出するアクティブ方式の三
角測距型の測距装置、また、撮影レンズの異なる瞳を通
った光束の再結像された像の相対的なずれ量を検出する
ＴＴＬ型の位相差検出法による測距装置等が実用化され
ている。これらの測距装置は、一般に、図１３に示すよ
うに、理論上、被写体距離Ｌの逆数１／Ｌに比例した出
力Ｖthを出力するものであり、上記出力Ｖthをもとに撮
影レンズを適切な位置に繰り出すオートフォーカス装置
が実現できる。

【０００３】ところが、上記アクティブ方式の測距装置
においては得られる実際の測距特性、即ち、距離に対す
る出力値は投受光素子の位置関係、回路特性、光学系の
精度等によって変化するため理想特性通りの直線とはな
りえず、その傾きや直線性に誤差を生ずる。そこで、特
開昭６３−１９８８１８号公報に開示の測距装置は、理
論値と実際の出力を一致させるための演算をＣＰＵに行
わせ、個々の製品のバラツキに応じた係数を電気的に書
き込み可能な記憶素子Ｅ² ＰＲＯＭに記憶させ、測距時
においてその係数を読み出すようにしたものである。

【０００４】また、実際の出力が理想特性線ｖthよりも
下側にずれると、遠距離側では出力値が０乃至負とな
り、測距可能範囲が狭くなる。そこで、設計上、測定出
力特性線ｖｒを理想特性線より上側にずらしておき、そ
の出力特性線に基づき上記の個々の製品のバラツキに応
じた係数を利用する補正により誤差をカバーする技術も
提案されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際の
測距手段の出力特性は、被写体距離Ｌに対する測距セン
サの実測出力特性を示す線（以下実測特性線と称する）
ｖｒが図１４のように、被写体距離の逆数１／Ｌが小さ
くなる、即ち、被写体が遠くなるに従ってその直線性は
なくなる。そして、距離Ｌ0 ではついにその実測出力値
Ｖｒが０になってしまう。この原因の一つは、遠距離に
なるに従い、光量がセンサの検出レベル以下になるため
であって、結果として測距出力の低下を招き処理不能と
なる。これはアクティブ方式の特徴である。

【０００６】ここで、図１４に示すように実測特性線ｖ
ｒが直線性を保つと仮定した場合の距離の逆数１／Ｌが
０のときの出力値をＶｂとし、更に、実測特性線ｖｒと
測距性能上理想とされる測距出力特性線（以下理想特性
線と称する）ｖthの傾きが同一とすると、実測特性線ｖ
ｒから値Ｖｂを差引き、理想特性線ｖthに略合致する補
正された出力を与える特性線（以下補正特性線と称す
る）ｖｃを得ることができる（図１５参照）。しかし、
図１５に示されるように、距離Ｌ2 以遠では理想特性線
ｖthと補正特性線ｖｃとは、ずれを生じ、補正特性線ｖ
ｃでは距離Ｌ1 以遠ではその出力が０になる。しかし、
実測特性線ｖｒの方は距離Ｌ1 より遠い距離Ｌ0 まで＋
出力値を有している。このことは補正によって遠距離の
測距領域が狭くなってしまったことを示している。つま
り、補正前の出力を用いていれば少なくとも距離Ｌ1 と
Ｌ0 の判別はついていたにも関わらず補正によって判別
が不可能になっていた。

【０００７】本発明の目的は、上述の不具合を解決する
ためになされたものであって、測距出力をできる限り犠
牲にすることなく、誤差の発生を抑えて、最大限、その
測距可能な領域を広げるようにした測距装置を提供する
にある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の測距装置は、図
１の概念図に示すように、被写体の距離を測定し、実測
距離信号を出力する測距手段１０１と、上記実測距離信
号を理想特性値に近づけるための補正値と上記実測距離
信号を用いて補正演算を行い、補正距離信号を出力する
演算手段１０３内蔵される補正演算手段と、上記補正距
離信号もしくは上記実測距離信号を、記憶手段１０４に
記憶される所定値と比較し、この比較結果に基づいて上
記補正距離信号もしくは上記実測距離信号を選択して被
写体の距離検出を行うものであって、演算手段１０３に
内蔵されている距離検出手段とを具備することを特徴と
する。

【０００９】

【作用】上記補正距離信号もしくは上記実測距離信号を
所定値を比較し、この比較結果に基づいて上記補正距離
信号もしくは上記実測距離信号を選択して被写体の距離
検出を行う。

【００１０】

【実施例】以下図示の実施例に基づいて本発明を説明す
る。図２は、本発明の第１実施例を示す測距装置を内蔵
するスチルカメラと該測距装置の調整装置の主要ブロッ
ク構成図である。上記スチルカメラ１０は、測距装置１
００と撮影レンズ（図示せず）を合焦駆動する合焦モー
タ８およびそのドライバ７とで構成されている。そし
て、本実施例の測距装置１００は、主に演算制御回路で
あるＣＰＵ１と、測距部２と、記憶部３とで構成されて
いる。

【００１１】上記測距部２は、ＣＰＵ１からの測距命令
により制御される、アクティブ式距離検出装置から被写
体距離Ｌに応じた実測距離信号の測距出力値（以下実測
出力値と称する）Ｖｒを出力する。また、記憶部３は、
上記実測出力値Ｖｒを補正する所定の補正データ等を書
き込み可能なメモリである。更に、ＣＰＵ１は測距部２
に測距命令を出すとともに、この測距命令に対して上記
測距部２より出力される実測出力値Ｖｒと、記憶部３に
記憶されている補正データをもとに演算される補正距離
信号の補正出力値Ｖｃを求め、更に、それらのデータに
基づいて被写体距離情報（測距距離Ｌに関する情報）を
算出するものである。そして、ＣＰＵ１はそのの距離情
報によってドライバ７を制御し撮影レンズを移動させる
とカメラは合焦されることになる。

【００１２】一方、上記調整装置２００は、スチルカメ
ラの製品によって異なる上記補正データ等を測定し、調
整し、補正データの書き込みを行うものである。その構
成はスチルカメラ１０の各特性、例えば、図１５の実測
特性線ｖｒ等をＣＰＵ１の出力に基づいて調べ上記補正
データを算出する調整演算回路４と、この演算回路４に
より制御され測距チャート６を駆動するための駆動回路
５と、合焦位置検出用の測距用チャート６とにより構成
されている。

【００１３】ここで、上記測距部２からの実測特性線ｖ
ｒの実測値を補正した補正値が、例えば、前記のように
図１５の補正特性線ｖｃである場合は、近距離では略理
想特性線ｖthに合致するが被写体が距離Ｌ2 より遠くな
ると徐々に両者は離れていく。そこで、本実施例におい
ては距離Ｌ2 より遠距離側では理想特性線とは異なる判
定を行って補正データを得るようにし、補正誤差のより
少ない測距データを得るようにする。そして、図３に示
されるように距離がＬ1 より大となり補正特性線ｖｃの
出力値が０になる場合は、補正特性線ｖｃによる補正出
力値を用いず、実測特性線ｖｒに沿った出力Ｖ1 〜０を
用いるようにする。

【００１４】上記補正処理を含む撮影処理動作を図４の
フローチャートによって説明する。まず、測距指令によ
り本処理がスタートし、ステップＳ０１にて測距部２に
より測距を行う。ステップＳ０２において補正演算が実
行される。この補正は実測特性線ｖｒの実測出力値Ｖｒ
から補正値Ｖｂを差し引いてた補正特性線ｖｃ上の補正
出力値Ｖｃを求めるものである。なお、演算の結果、
（―）となる場合も０とみなす。そして、ステップＳ０
３において、上記値Ｖｃが０かどうかのチェックを行
い、０でなかった場合、即ち、被被写体が距離Ｌ1 より
近くにあった場合、ステップＳ０４にジャンプして補正
特性線ｖｃ上の補正出力値Ｖｃに対応する距離を被写体
距離Ｌとして採用する。そして、ステップＳ０６に進
む。

【００１５】一方、値Ｖが０であった場合、即ち、被被
写体が距離Ｌ1 より以遠にあった場合、ステップＳ０５
に進み、実測特性線ｖｒ上の補正前実測出力値Ｖｒに対
応する距離を被写体距離Ｌして採用し、ステップＳ０６
に進む。ステップＳ６で、距離Ｌに対する撮影レンズの
繰り出し量を決定し、ステップＳ０７で、繰り出しを行
う。その後、ステップＳ０８において撮影シーケンスの
処理を実行して撮影を終了する。

【００１６】以上のように、本実施例の測距装置によれ
ば被写体位置が図３に示した距離Ｌ1 以遠であっても実
測特性線ｖｒの出力が０となる距離Ｌ0までの測距を行
うことが可能になる。

【００１７】次に、本発明の第２実施例を示す測距装置
について、図５の測距、撮影処理のフローチャートによ
って説明する。本実施例が上記第１実施例と異なる点
は、補正出力値Ｖｃが０であって、実測出力値Ｖｒによ
る測距距離として階段的な値を与えるように処理する点
である。まず、測距指令により本処理がスタートし、ス
テップＳ１１にて測距部２により測距を行う。ステップ
Ｓ１２において補正演算が実行される。この補正処理で
は実測出力値Ｖｒから補正値Ｖｂを差し引いた補正出力
値Ｖｃを求める。そして、ステップＳ０３において、値
Ｖｃが０かどうかのチェックを行い、０でなかった場
合、即ち、被被写体が距離Ｌ1より近くにあった場合、
ステップＳ１６にジャンプして補正特性線ｖｃ上の補正
出力値Ｖｃに対応する距離を被写体距離Ｌとして採用す
る。そして、ステップＳ２０に進む。

【００１８】一方、値Ｖｃが０であった場合、即ち、被
被写体が距離Ｌ1 より以遠にあった場合、ステップＳ１
４に進み、実測特性線ｖｒを用い、実測出力値Ｖｒ＞
(Ｖ1)／２の判定を行う。但し、値Ｖ1 は補正出力値Ｖ
ｃが０になる距離Ｌ1 に対する実測出力値である（図３
参照）。そして、判定式を満足すれば、被写体距離Ｌと
して値Ｌ1 を与える。また、判定式を満足しなければス
テップＳ１５に進み、実測出力値Ｖｒの値のチェックを
行う。即ち、 (Ｖ1)／２≧Ｖｒ＞０の判定を行う。そし
て、判定式を満足すればステップＳ１８にジャンプし、
満足しなければステップＳ１９に進む。ステップＳ１８
ではその実測特性線ｖｒ上の出力値 (Ｖ1)／２を与える
距離Ｌ（( Ｖ1)／２） を被写体距離Ｌとして採用す
る。ステップＳ１９では被写体距離を∞（無限遠）とす
る。そして、それぞれ、ステップＳ２０に進む。ステッ
プＳ２０、２１で、撮影レンズの繰り出し量を上記設定
被写体距離Ｌに対応する値とし、繰り出しを行う。その
後、ステップＳ２２において撮影シーケンスの処理を実
行して撮影を終了する。

【００１９】なお、上記の判定において補正出力Ｖｃ＝
０の判定は、そのときの被写体距離データ＝∞の判定に
置き換えてもよい。また、上記ステップＳ１４、１５に
おいて用いる値 （Ｖ1 ）／２は、次のようにして記憶
される。即ち、被写体距離Ｌ2 における実測出力値Ｖｊ
と理想出力値Ｖ2 との差 Ｖ( ｊ−2 ）をＶ1 とし、こ
のＶ1 値を記憶部３（図２参照）に記憶しておいてもよ
いが、被写体距離Ｌ1 における実測出力値は上記Ｖ( ｊ
−2 ）に等しくその値はＶ1 であり、その１／２である
( Ｖ1 ）／２を記憶部３に記憶するようにしてもよい。
更に、カメラ個体によるバラツキを加味した (Ｖ1)／２
±αを記憶部３に記憶してもよい（αはシフト量とす
る）。本実施例の測距装置によれば第１実施例の場合と
同様、被写体距離Ｌ1 〜Ｌ0 に対して距離∞位置にレン
ズが繰り出されることがなく、撮影画面として後ピン状
態になる点が改善される。更に、被写体距離Ｌ1 〜Ｌ0
間の測距出力に対する測距距離データとして Ｌ1 とＬ
（( Ｖ1)／２）の２つ値だけでよいことになる。

【００２０】次に、本発明の第３実施例を示す測距装置
について説明する。上記実測出力値Ｖｒも電気回路のノ
イズ、被写体の状態等によってバラツキが発生する。従
って、その補正出力値Ｖｃもバラツキを有している。そ
こで、本実施例のものは、そのバラツキも考慮した補正
を行うものである。即ち、前記実施例での補正出力Ｖｃ
＝０の判定に対して、補正出力が０になるバラツキ上の
ｍｉｎ値である距離Ｌａに対する補正出力Ｖｏを上記判
定に用い、距離Ｌａ以遠に対して適切な処理を実施する
ものである（図６参照）。本実施例を適用したカメラの
測距、撮影処理を図７のフローチャートによって説明す
る。

【００２１】まず、測距指令により本処理がスタート
し、ステップＳ３１にて測距部２により測距を行う。ス
テップＳ３２において補正演算が実行され、補正出力値
Ｖｃを求める。そして、ステップＳ３３において、値Ｖ
ｃ≦Ｖｏの判定を行う。判定式を満足しなかった場合、
即ち、被写体がバラツキのｍｉｎに対応する距離Ｌ0 よ
り近くにあった場合、ステップＳ３６にジャンプして補
正特性線ｖｃ上の補正出力値Ｖｃに対応する距離を被写
体距離Ｌとして採用する。そして、ステップＳ４０に進
む。一方、上記判定式を満足しなかった場合、ステップ
Ｓ３４に進む。

【００２２】ステップＳ３４では、実測出力値Ｖｒ＞Ｖ
ａ／２の判定を行う。ここで値Ｖａは上記距離Ｌａに対
応する実測出力値を示す。判定式を満足する場合はステ
ップＳ３７にジャンプし、距離Ｌａを測距距離Ｌに採用
する。そして、ステップＳ４０に進む。判定式を満足し
なかった場合はステップＳ３５に進む。

【００２３】ステップＳ３５において、実測出力値Ｖｒ
がＶａ≧Ｖｒ＞０の判定式を満足するかどうかのチェッ
クをする。満足する場合はステップＳ３８に進み、実測
出力値Ｖａの１／２に対応する距離Ｌ（Ｖａ／２）を測
距距離Ｌとして採用する。そして、ステップＳ４０に進
む。満足しなかった場合はステップＳ３９に進み、測距
距離を∞として、ステップＳ４０に進む。ステップＳ４
０、４１で、撮影レンズの繰り出し量を上記設定被写体
距離Ｌに対応する値とし、繰り出しを行う。その後、ス
テップＳ４２において撮影シーケンスの処理を実行して
撮影を終了する。

【００２４】本実施例の測距装置においては、上記被写
体距離としてバラツキを考慮した最大幅Ｌ0 からＬｂの
領域においても撮影レンズは∞位置に繰り出されること
なく、撮影画面上後ピンになることが改善される。

【００２５】ここで、測距部２からの出力信号Ｖが、被
写体までの距離Ｌの逆数１／Ｌに比例する理論について
説明する。図８は、アクティブ式の三角測距型の距離検
出装置の構成図である。この測距検出装置では、赤外発
光ダイオード（ＩＲＥＤ）１１からの光を投光レンズ１
２を介して被写体１６に投射し、その反射光を受光レン
ズ１３を介して受光素子１４で受光することによって測
距を行うようになっている。この場合、両レンズ１２，
１３の主点間距離をｓ、受光レンズ１３の焦点距離をｆ
としたとき、被写体１６までの距離Ｌは、 Ｌ＝ｓ・ｆ／ｘ …… (1) により求められる。

【００２６】ここで、ｘは上記反射光の受光素子１４上
の入射位置であり、たとえばこの入射位置を電気信号に
変換する機能を有する半導体位置検出素子（以下、ＰＳ
Ｄと略記する）が上記受光素子１４として用いられてい
る。このＰＳＤ１４は、反射光の入射位置に応じて２つ
の電流信号Ｉa ，Ｉb を出力する。この電流信号Ｉa ，
Ｉb は、次式で示される。

【００２７】

【数１】

【００２８】ただし、ａはＰＳＤ１４上の受光レンズ１
３の光軸の位置とＰＳＤ１４のＩＲＥＤ１１側の端部と
の間の距離、ｔはＰＳＤ１４の基線長方向の長さであ
る。この電流信号Ｉa ，Ｉb は、被写体１６までの距離
Ｌを求めるためのＡＦ（オートフォーカス）回路１５に
供給される。

【００２９】図９は、ＡＦ回路１５の一般的な構成を示
すものである。この図９において、２２，２３は定常光
をカットするためのトランジスタ、２４，２５は上記ト
ランジスタ２２，２３のベース電位を固定するためのコ
ンデンサ、２９，３０はシーケンスコントローラ３１に
より制御されるオペアンプであり、これらによって上記
ＰＳＤ１４の出力電流からＩＲＥＤ１１の発光による電
流信号Ｉa ，Ｉb の成分を分離するための回路が構成さ
れている。すなわち、ＰＳＤ１４は、上記ＩＲＥＤ１１
の発光による信号のみを受光することが望ましい。した
がって、ＰＳＤ１４は、一般にＩＲＥＤ１１の発光波長
以外をカットする、たとえば樹脂により形成された光学
フィルタを有している。しかし、外光成分にはＩＲＥＤ
１１と同じ波長の成分も含まれている。このため、ＰＳ
Ｄ１４からは、ＩＲＥＤ１１の発光による電流信号Ｉa
，Ｉb のほかに、外光成分による電流も出力される。
そこで、ＰＳＤ１４から出力される電流より、外光成分
による電流を除去する必要がある。

【００３０】この場合、上記オペアンプ２９，３０は、
ＩＲＥＤ１１の発光タイミング以前においてシーケンス
コントローラ３１により動作され、ＩＲＥＤ１１の発光
タイミングにおいて動作が禁止される。オペアンプ２
９，３０のそれぞれの正側端子は圧縮ダイオード２６，
２７の電圧に設定され、それぞれの負側端子は基準電圧
Ｖref に固定されている。そして、オペアンプ２９，３
０の出力で、それぞれの定常光カット用トランジスタ２
２，２３のベース電圧を制御することにより、不必要な
光電流（外光成分による電流）がプリアンプ２０，２１
で増幅されるのを防いでいる。すなわち、上記電流信号
Ｉa ，Ｉb 以外の電流はプリアンプ２０，２１で増幅さ
れることなく、グランド（ＧＮＤ）に捨てられる。

【００３１】しかして、ＩＲＥＤ１１が発光されると、
オペアンプ２９，３０はオフされる。このとき、トラン
ジスタ２２，２３のベース電位は、それぞれのコンデン
サ２４，２５により固定されている。したがって、ＩＲ
ＥＤ１１の発光による電流信号Ｉa ，Ｉb のみがプリア
ンプ２０，２１によってそれぞれ増幅され、そして圧縮
ダイオード２６，２７にそれぞれ流し込まれる。この
後、上記圧縮ダイオード２６，２７からの圧縮信号は差
動演算回路２８に供給され、ここで差動演算されること
によりＡＦ出力に変換される。

【００３２】なお、上記ＩＲＥＤ１１は、ドライバ３３
によってオン／オフされるようになっている。また、上
記ドライバ３３を駆動するプリドライバ３２は、上記シ
ーケンスコントローラ３１からの発光信号によってその
発光タイミングが制御されるようになっている。

【００３３】図１０は、差動演算回路２８の構成を概略
的に示すものである。この図１０において、３４，３５
はバッファ、３６，３７はＮＰＮトランジスタ、３８は
定電流源、３９は抵抗である。上記バッファ３４，３５
は、前記プリアンプ２０，２１によりそれぞれ増幅さ
れ、圧縮ダイオード２６，２７にそれぞれ流し込まれる
電流Ｉx ，Ｉy によってそれぞれのアノードに生じる圧
縮信号Ｖa ，Ｖb をＮＰＮトランジスタ３６，３７のベ
ースにそれぞれ供給するものである。

【００３４】上記ＮＰＮトランジスタ３６，３７は、そ
れぞれのエミッタ端子が共通に接続され、定電流源３８
を介して接地されている。この場合、定電流源３８の両
端電圧をＶz とし、ＮＰＮトランジスタ３６，３７のベ
ース・エミッタ間電圧Ｖbeとコレクタ電流Ｉ1 ，Ｉ2 と
を考慮したとき、上記圧縮信号Ｖa ，Ｖb について次の
関係が成り立つものとする。すなわち、 Ｖa ＝Ｖt ・ｌn （Ｉ1 ／Ｉs ）＋Ｖz ＝Ｖo ＋Ｖt ・ｌn （Ｉx ／Ｉs ） …… (4) Ｖb ＝Ｖt ・ｌn （Ｉ2 ／Ｉs ）＋Ｖz ＝Ｖo ＋Ｖt ・ｌn （Ｉy ／Ｉs ） …… (5) ただし、Ｖt はサーマルボルテージ、Ｉs はトランジス
タ３６，３７の逆方向飽和電流である。また、Ｖo は圧
縮ダイオード２６，２７のアノード側の定電圧である。

【００３５】上記２つの式(4),(5）より、 Ｖo −Ｖz ＝Ｖt ・ｌn （Ｉ1 ／Ｉs ）−Ｖt ・ｌn （Ｉx ／Ｉs ） ＝Ｖt ・ｌn （Ｉ2 ／Ｉs ）−Ｖt ・ｌn （Ｉy ／Ｉs ）……(6 ）したがって、次式が求められる。

【００３６】 Ｖt ・ｌn （Ｉ1 ／Ｉx ）＝Ｖt ・ｌn （Ｉ2 ／Ｉy ） …… (7) Ｉ2 ＝（Ｉ1 ／Ｉx ）・Ｉy …… (8) 図１１は、圧縮ダイオード２６，２７の構成を示すもの
である。圧縮ダイオード２６，２７は、ダイオード接続
されたトランジスタによって構成されている。この場
合、ＮＰＮトランジスタ３６，３７とのペア性が重視さ
れ、その特性が揃えられている。これにより、上記コレ
クタ電流Ｉ1 ，Ｉ2 はいずれも定電流源３８側に流れ込
むため、 Ｉ1 ＋Ｉ2 ＝Ｉo …… (9) となる。したがって、 Ｉ1 ＝（Ｉx ／（Ｉx ＋Ｉy ））・Ｉo ……(10) となる。ただし、Ｉo は定電流源３８の電流である。

【００３７】上記式(10)は、電流Ｉx ，Ｉy がＰＳＤ１
４の各出力である電流信号Ｉa ，Ｉb を同じように増幅
したものであることから、次のように書き直すことがで
きる 。 Ｉ1 ＝（Ｉa ／（Ｉa ＋Ｉb ））・Ｉo ……(11) したがって、前記式(2),(3）より、上記式(11)は、次の
ようになる。

【００３８】 Ｉ1 ＝（（ａ＋ｘ）／ｔ）・Ｉo ……(12) このことから、上記コレクタ電流Ｉ1 は、

【００３９】

【数２】

【００４０】また、前記式(1）より、次式が成立する。

【００４１】

【数３】

【００４２】したがって、この電流信号Ｉ1 が抵抗３９
に流れることにより、測距による出力信号Ｖは、

【００４３】

【数４】

【００４４】となる。ただし、Ｒは抵抗３９の抵抗値で
ある。しかし、これらの関係は、回路にノイズがなく、
各素子などにまったくばらつきがないときにのみ成立す
るものである。また、アクティブ方式の三角測距型の距
離検出装置の場合、被写体１６までの距離が大きくなる
ほど、ＰＳＤ１４で受ける反射光は小さくなる。このた
め、たとえば遠距離側では、上記電流信号Ｉa ，Ｉb へ
のノイズ成分Ｉn による影響が無視できない。

【００４５】このノイズ成分Ｉn を考慮すると、前記し
た式(11)は図１２に示すようになる。すなわち、近距離
側では、上記電流信号Ｉa ，Ｉb が十分に大きいため、
次式が成立し第１の理論線ｖ1 を満足する。

【００４６】

【数５】

【００４７】ところが、上記電流信号Ｉa ，Ｉb が小さ
くなる遠距離側では、 Ｉ1 ＝（Ｉn ／（Ｉn ＋Ｉn ））・Ｉo ＝（１／２）・Ｉo ……(16) となり、これに一点鎖線ｖ4 のような曲線で近づく。

【００４８】また、被写体１６までの距離が無限大とな
ると、上記電流信号Ｉa ＝Ｉb のときと同じような出力
信号Ｖを出力する。ここで、上記式(2),(3）より、上記
電流信号Ｉa ＝Ｉb となる距離Ｌx を求めると、 ａ＋ｘ＝ｔ−ａ−ｘ ｘ＝（ｔ／２）−ａ ……(17) となり、この結果、上記距離Ｌx は、前記式(1）より、 Ｌx ＝ｓ・ｆ／（（ｔ／２）−ａ） ……(18) となる。この場合、たとえば両レンズ１２，１３の主点
間距離ｓを５０mm、受光レンズ１３の焦点距離ｆを１４
mm、ＰＳＤ１４の基線長方向の長さｔを２mm、およびＰ
ＳＤ１４のＩＲＥＤ１１側の端部との間の距離ａを０．
５mmとすると、距離Ｌx は、上記式(18)より、 Ｌx ＝１．４ｍ となる。

【００４９】しかし、このままでは被写体１６までの距
離が無限大の場合と１．４ｍの場合との区別がつかな
い。

【００５０】そこで、距離Ｌch2 以遠の領域では、ＰＳ
Ｄ１４に入射される反射光の光量を判定することによ
り、一点鎖線ｖ4 で示すような測距特性にならないよう
にするための回路（図示していない）が設けられてい
る。これにより、距離Ｌch2 以遠の領域では、第３の曲
線ｖ3 に近似できるような測距特性を示すことになる。

【００５１】本発明は上述の実施例に限定されるもので
はなく、本発明の要旨を変えない範囲で種々変形例の測
距装置が可能なことは勿論である。

【００５２】

【発明の効果】以上述べたように本発明の測距装置は、
補正距離信号もしくは実測距離信号を所定値と比較し、
この比較結果に基づいて上記補正距離信号もしくは上記
実測距離を選択して被写体の距離検出を行ようにしたの
で、本発明のものは、従来のもののように補正によって
遠距離の測距領域が狭くなり判別が不可能になることな
く、測距出力をできる限り犠牲にせず、誤差の発生を抑
えて、最大限、その測距可能な領域を広げることができ
るなど顕著な効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の測距装置の概念を示すブロック構成
図。

【図２】本発明の第１実施例を示す測距装置を内蔵した
スチルカメラとその調整装置の主要ブロック構成図。

【図３】上記図２の測距装置における測距出力の理想特
性線と実測特性線と補正特性線を示す図。

【図４】上記図２のスチルカメラにおける測距および撮
影処理のフローチャート。

【図５】本発明の第２実施例を示す測距装置を内蔵した
スチルカメラの測距および撮影処理のフローチャート。

【図６】本発明の第３実施例を示す測距装置における測
距出力の理想特性線とバラツキを含む実測特性線と補正
特性線を示す図。

【図７】上記図６のスチルカメラの測距および撮影処理
のフローチャート。

【図８】上記図２、５、６の実施例の測距装置に用いら
れるアクティブ方式の距離検出装置の構成図。

【図９】上記図８の距離検出装置に用いられるＡＦ回路
図。

【図１０】上記図９のＡＦ回路に用いられる圧縮ダイオ
ード、差動増幅回路図。

【図１１】上記図１０の圧縮ダイオードの構成図。

【図１２】上記図８の測距装置のＰＳＤの出力特性を示
す図。

【図１３】従来の測距装置における測距出力の理想特性
と実測特性を示す図。

【図１４】従来の測距装置における測距出力の理想特性
線と実測特性線の違いを示す図。

【図１５】従来の測距装置における測距出力の理想特性
線と実測特性線および補正特性線を示す図。

【符号の説明】

１……………………ＣＰＵ（補正演算手段、距離検出手
段） ２……………………測距部（測距手段） １０１……………………測距手段 １０３……………………演算手段（補正演算手段、距離
検出手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−198818（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−225112（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−157410（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−276145（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−148614（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−201633（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−256931（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−64715（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−150809（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−3609（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 7/28 - 7/32

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被写体に向けてパルス光を投射する投光
   部と、上記被写体からの上記パルス光の反射光を受光す
   る受光部とを有し、上記受光部の出力信号に基づいて被
   写体の距離に応じた実測距離信号を出力する測距手段
   と、 上記実測距離信号を理想特性値に近づけるための補正値
   を記憶する記憶手段と、 上記実測距離信号と上記補正値とによって補正距離信号
   を求め、この補正距離信号に基づいて上記被写体の距離
   を演算する演算手段と、 を具備する測距装置において、 上記被写体が所定距離以遠にある場合には、上記補正距
   離信号の代わりに上記実測距離信号を用いて上記被写体
   の距離を決定するようにしたことを特徴とする測距装
   置。