KR940007795Y1 - 카메라의 자동 초점 조절회로 - Google Patents

카메라의 자동 초점 조절회로 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

카메라의 자동 초점 조절회로
제 1 도는 삼각측거방식의 동작원리를 설명하기 위한 도면.
제 2 도는 이 고안인 카메라의 작동 초점 조절회로의 블록도이다.
제 3 도는 상기 고안의 실시예를 보여 주는 상세 회로도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
6, 7 : 2분할 수광 다이오드 I1, I2: 전류
VR2-VR5 : 가변저항
R10, R11, R20, R21, R24, R26, R27, R29 : 저항
20 : 신호 변환회로 201 : 샘플-홀드회로
202 : 차동증폭기 30 : 로그-증폭회로
40 : 차동증폭회로 U1, U2, U7, U8 : 연산증폭기
이 고안은 카메라에 이용되고 있는 초점을 자동으로 조절하는 자동초점 조절 장치에 관한 것으로, 피사체의 반사율 변화를 받지 않고 초점을 조절할 수 있는 카메라의 자동 초점 조절회로에 관한 것이다.
수동조작으로 피사체와의 거리를 조절하는 방식을 사용할 때 카메라의 전문가나 숙련자가 아닐 경우 정확한 초점을 맞춰 선명한 사진을 얻기가 매우 힘들다. 그러므로 자동 초점 카메라는 사용자가 조리개의 노출정도와 피사체와의 거리조정을 행하지 않고 간편하게 선명한 사진을 얻을 수 있도록 피사체와의 거리에 따라 초점거리를 이동시켜 자동으로 세팅시켜 주는 장치가 내장되어 있다. 이러한 자동 초점 장치는 자동 카메라뿐 아니라 CCD(Charge Coupled Device) 카메라, 촬상관식 카메라, 전자스틸 비디오 카메라, 비디오 카메라 및 캠코더 등과 같은 많은 장치에 사용되고 있다. 이러한 많은 사용에 부흥하여 초점을 자동으로 계산하기 위한 방법으로 초점 검출방식과 측거방식 등이 있다.
상기 초점 검출방식은 촬영렌즈를 통과하는 광을 이용하는 것으로서 초점위치의 부근에서 피사체의 상의 콘트라스트나 위치를 직접 검출하여 조절하는 방식으로 이 초점검출방식으로서는 콘트라스트 검출방식과 위상 검출방식 등이 있다.
그리고 측거방식은, 피사체와의 거리를 측정하고, 그 값을 궤환시켜 그 값에 따라 초점을 조절하는 방식으로서, 초음파를 발사하여 발사한 초음파가 피사체에 반사되어 되돌아오는 시간으로 거리를 계산하여 피사체와의 초점을 맞추는 초음파 전파시간 방식과 피사체를 보는 각도를 검출하여 피사체와의 거리를 측정하는 삼각측거 방식 등이 있다.
삼각측거방식으로서는, 일정한 간격으로 배치된 2개의 측정창으로 입사되는 피사체의 상을 포토 다이오드에 각기 결상시키고, 그 포토 다이오드에 결상된 피사체의 상을 비교하여 가동미러의 각도 변위를 검출하여, 검출한 가동미러의 각도 변위를 이용하여 피사체와의 거리를 측정하는 2중 상 합치방식과, 적외선을 발사하여 발광소자와 그 적외선을 수광하는 수광소자를 일정한 간격에 위치시켜 설치하고, 발광소자에서 발사되는 적외선이 피사체에 반사되어 수광소자 위에 결상되는 입사광의 각도를 검출하여 피사체와의 거리를 측정하는 투광방식 등이 있다.
이와 같은 방법들 중에서 적외선 투광에 의한 삼각측거방식은 제어원리와 회로구성이 간단하고 입사광의 각도에 따라 거리를 측정하기 때문에 많이 사용되고 있다. 이 고안에서도 상기한 삼각측거방식에 근거를 두고 있기 때문에 이 방식의 원리에 대하여 제 1 도를 참조하여 설명한다.
적외선 투광에 의한 삼각측거방식은 제 1a 도에 도시한 바와 같이 발광소자(1)와 일정한 간격으로 배치되어 있는 1차원 이미지 센서(2)가 배치되어 있고, 발광소자(1)와 피사체(3)와의 사이에는 발광 비임시준(Collimation)렌즈(4)가 설치되어 있으며, 1차원 이미지 센서(2)와 피사체(3) 사이에는 수광비임 결상렌즈(5)가 상기한 발광 비임 시준렌즈(4)와 동일한 축 상에 설치되어 있다. 그러므로 발광소자(1)에서 발사되는 적외선이 발광 비임 시준렌즈(4)를 통하여 피사체(3)에 반사되어 들어오는 입사광이 수광 비임 결상렌즈(5)를 통하여 1차원 이미지 센서(2)에 맺히게 되고, 이미지 센서(2)에서는 입력되는 입사광에 따라 대응하는 전류를 출력하게 된다. 그러므로 대응하는 전류량에 따라서 수광부를 이동시켜 초점을 조절하는 방식이다.
즉, 피사체(3)의 발광 비임 시준렌즈(4)의 광축 중심간의 거리를 L, 발광 비임 시준렌즈(4)와 수광 비임 결상렌즈(5)의 중심간의 거리를 B라 하고, 수광 비임 결상렌즈(4)의 중심과 1차원 이미지 센서(2)와의 거리를 F, 수광 비임 결상렌즈(5)의 중심과 1차원 이미지 센서(2)에 피사체(3)가 결상되는 점과의 거리를 T라하면, L : B=F : T가 성립하므로 L=(F X B)/T인 관계식을 얻을 수 있다.
제 1 도의 (b)~(d)는 피사체(3)와의 거리에 따라서 1차원 이미지 센서(2)인 2분할 수광 다이오드(6)(7)에 피사체가 결상체가 결상된 상태를 나타내는 것으로 제 1b 도는 초점 렌즈부의 초점거리가 정확히 맞았을 경우를 나타내고, 제 1b 도는 초점 렌즈부의 초점거리가 정확히 맞았을 경우를 나타내고, 제 1c 도는 피사체(3)와의 초점거리가 근거리일 경우를 나타내며, 제 1d 도는 피사체(3)와의 거리가 원거리일 경우를 각각 나타낸다. 여기서 알 수 있는 바와 같이 2분할 수광 다이오드(6)(7)에 맺히는 상의 위치에 따라 2분할 수광 다이오드(6)(7)는 상에 대응하는 신호의 전류값을 각기 출력하고, 그 두 신호의 전류값이 동일하게 되도록 기구적으로 연동되게 설치한 초점렌즈부의 2분할 수광 다이오드(6)(7)를 구동시킴으로써 초점렌즈부의 초점거리가 정확히 맞게 된다.
이러한 삼각측거방식의 자동 초점조절 장치에서는, 2분할 수광 다이오드(6)(7)가 출력하는 전류량이 매우 미약한 신호이므로 이 미약한 신호 즉, 2분할 수광 다이오드(6)(7)에 맺힌 피사체에서 반사되어 입력되는 신호를 검출하는 것이 중요하다.
상기한 종래의 삼각측거방식의 문제점은 피사체의 반사율의 따라 1분할 수광 다이오드에서 출력되는 전류량이 영향을 받아 정확한 거리를 측정할 수 없다는 것이다. 피사체에서 반사되는 적외선의 입사각도를 측정하여 2분할 수광 다이오드에서 피사체 반사파가 입사되는 결상위치에 따라 해당 전류의 값을 출력하게 된다. 그러나 피사체의 거리는 일정하고 피사체의 반사율에 따라 피사체에서 반사되는 적외선의 세기가 달라질 때 2분할 수광 다이오드에 입사되는 각도는 변하지 않는다. 그러나 2분할 수광 다이오드에 입사되는 각도가 같은데도 불구하고 피사체의 반사율이 2분할 수광 다이오드에서 출력되는 전류량에 영향을 끼치게 되어 2분할 수광 다이오드에 입사되는 입사광의 각도에 따라 출력되는 전류량이 반사율에 영향을 받아 비례적으로 변하게 되어 위치가 변화된 것으로 인식하게 된다.
이러한 문제를 해결하기 위하여 이 고안의 목적은 피사체의 반사율에 영향을 받아 변화된 2분할 수광 다이오드의 출력 전류량의 변화분을 보정하여 반사율에 영향을 받지않고 단지 2분할 수광 다이오드에 입사되는 각도만으로 정확한 피사체의 거리를 인식하도록 하는 것이다.
상기한 목적을 달성하기 위한 이론적인 배경은 2분할 수공 다이오드의 전극간 저항을 RP, 전극간에서 입사광의 위치가지 저항을 R1, R2, 그리고 부하저항은 RL이라 할 때 2분할 수광 다이오드에서 출력되는 1쌍의 전류값은 I1=((R2+RL)/(RP+2RL))×I0, I2=((R1+RL)/(RP+2RL))×I0, (I0=I1+I2)로 계산된다.
그리고 상기 두 식을 이용하여 상기 삼각측거방식에 의하여 피사체의 거리가 변하게 될 때 2분할 수광 다이오드에 맺히는 반사파의 결상위치(T)가 변하게 되므로 반사파의 결상위치(T)를 구하기 위한 식은
ln(I1/I2)=(4/B)T (1)
이 된다.
상기식(1)을 이용할 때, 피사체의 위치가 변할 경우 반사파의 결상위치(T)가 변하게 되어 2분할 수광 다이오드에서 출력되는 전류의 값도 달라지게 된다. 그러나 피사체의 위치가 변하지 않고 피사체의 반사율이 반사량에 영향을 끼치게 될 경우 반사파의 결상위치(T)는 변하지 않고 반사율에 비례하여 2분할 수광 다이오드에서 출력되는 전류(I1)(I2)의 양이 변하게 된다. 그러나 반사율에 비례하여 전류(I1)(I2)양이 변하더라도 상기식(1)에서 2분할 수광 다이오드에 맺히는 반사파의 결상위치(T)가 변하지 않고 일정하기 때문에 상기식(1)의 우측 연산 계산에 의하여 출력되는 전류값은 변하지 않고 일정하게 된다. 그러므로 로그 연산에 의하여 전류의 증가분이 보정된다. 따라서 ln(I1/I2)의 결과는 반사율의 변화에 따른 전류량의 변화분을 보정해 주기 위한 연산식이고, 또한 피사체와의 거리가 같고 다만 피사체의 반사율이 변하게 될 경우 반사율이 변함에 따라 달라지는 전류량을 보정하기 위하여도 상기식(1)을 이용할 수 있다.
그러므로, 피사체의 반사율이 출력되는 전류의 양에 영향을 끼쳐 전류량이 변하게 되더라도 상기식(1)의 연산에서 반사파의 결상위치(T)가 변하지 않으므로 반사율의 변화에 따른 전류량의 변화분을 보정해 주기 때문에 출력되는 전류량의 변화에 따라 피사체 초점거리를 잘못 측정하게 되는 문제를 해결할 수가 있게 된다.
상기식(1)을 처리하기 위하여 ln(I1/I2)는 lnI1-lnI2와 같으므로 뺄셈을 처리하기 위하여 차동증폭기를 이용함으로써 구현가능하게 된다.
상기 목적을 달성하기 위하여 이 고안의 구성은 피사체에서 반사되어 들어오는 적외선을 받아들여 반사되어 들어오는 반사광의 세기에 비례하여 전류량을 비례적으로 출력하는 2분할 수광 다이오드와, 상기한 수광 다이오드의 출력에서 나오는 1쌍의 미세한 전류를 연산증폭기의 반전단자로 각각 입력으로 받아 전압으로 변화시켜 전압값을 출력하는 전류-전압회로와, 상기 전류-전압 변환회로의 1쌍의 출력신호의 레벨을 안정화시키기 위하여 상기 전류-전압 변환회로의 출력값을 각각의 인(IN)단자로 입력받고 로직(LOGIC)단자로 입력되는 클럭신호(CLK)에 따라 동작되어 신호레벨의 안정화 실현시키는 신호변환 회로와, 반사율에 의하여 영향을 받게 되는 출력 전류값을 보정하기 위하여 상기 신호변환 회로의 출력값을 각각 연산증폭기의 반전단자로 입력받아 로그 연산을 취하는 로그-증폭회로와, 그리고 상기 로그연산을 취한 후 뺄셈처리를 위하여 상기 로그-증폭회로에서 출력되는 1쌍의 출력값을 연산증폭기의 반전단자와 비반전단자로 각각 입력받아 동작하는 차동 증폭회로로 이루어져 있다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 설명한다.
제 2 도는 이 고안의 카메라의 자동 초점 조절 회로의 블록도이고, 제 3 도는 상기 카메라의 자동 초점 조절회로의 상세회로도이다.
제 2 도에 보여진 것처럼 이 고안의 구성은 피사체에서 반사되어 들어오는 적외선을 받아들여 반사되어 들어오는 반사광의 세기에 비례하여 전류량(I1)(I2)을 비례적으로 출력하는 2분할 수광 다이오드, (6)(7)와, 상기한 수광 다이오드의 출력에서 나오는 1쌍의 미세한 (I1)(I2)와 클럭신호(CLK)을 입력으로 하여 전압으로 변화시켜 출력단자(a)(a')에 전압값을 출력하는 전류-전압 변환회로(10)와, 상기 전류-전압 변환회로(10)에서 1쌍의 출력값을 입력으로 하여 1쌍의 출력값을 출력단자(b)(b')로 해당하는 값을 내어 출력되는 신호레벨의 안정화를 실현하는 신호변환 회로(20)와, 상기 신호변환 회로(20)의 출력값을 입력으로 하여 출력단자(c)(c')에 값을 출력하여 로그연산을 취하기 위한 로그-증폭회로(30)와, 그리고 상기 로그-증폭회로(30)의 값을 입력으로 하여 해당하는 값을 출력단자(OUTPUT)로 출력하여 상기한 고안의 목적을 달성할 수 있게 하는 차동증폭회로(40)을 보여 주고 있다.
제 3 도는 이 고안의 상세회로도로 이를 참조로 하여 동작을 상세히 설명한다. 제 3 도에 보여진 카메라의 자동초점 조절 회로의 전류-전압변환 회로(10)는 전원전압(5V)이 인가되어 2분할 수광 다이오드(6)(7)에서 피사체에서 반사되어 들어오는 적외선을 감지하여 해당하는 1쌍의 전류값(I1)(I2)이 출력되면 출력값은 연산증폭기(U1)(U2)의 비반전단자가 접지되어 있고 반전단자로 상기 1쌍의 출력값을 입력으로 받아들인다. 상기 연산증폭기(U1)(U2)의 반전단자와 출력단자 사이에는 저항(R1)(R2)과 캐패시터(C1)(C2)가 병렬로 각각 연결되어 출력단자에 해당하는 값을 출력하게 된다. 상기한 것처럼 연결되어 있는 전류-전압 변환회로(10)는 상기 2분할 수광 다이오드(6)(7)의 양단에서 출력되는 1쌍의 미소한 전류값(I1)(I2)을 전압으로 변환시키기 위하여 동작한다.
상기한 전류-전압 변환회로(10)의 출력값은 샘풀-홀드 회로(201)와 차동증폭기(202)로 구성되어 있는 신호변환 회로(20)로 입력된다.
상기한 샘플-홀드 회로(201)는 인(IN)단자가 상기한 전류-전압 변환회로(10)의 출력단자와 연결되어 있고 로직단자(LOGIC)단자는 외부에서 공급하는 클럭신호단자(CLK)와 연결되어 있어 출력단자(D5)에 해당하는 값을 출력한다. 그리고 단자(D6)에 캐패시터(C5)(C6)가 접지되어 있다. 상기 차동증폭기(202)는 연산증폭기(U7)(U8)의 반전단자로 상기 샘플-홀드 회로(201)의 출력단자에 저항(R10)(R11)이 연결되어 입력되고 상기 연산증폭기(U7)(U8)의 반전단자와 출력단자사이에 저항(R21)(R22)이 연결되어 궤환된다. 연산증폭기(U7)(U8)이 반전단자에 전원전압(6V)단자와 직렬로 저항(R14)(R15)(R17)(R18)이 연결되어 있고 상기 저항(R14)(R15)(R17)(R18)단자 사이에 캐패시터(C7)(C8)와 저항(R16)(R19)이 각각 병렬로 접지되어 있다. 상기 저항(R14)(R17)의 일측단자는 상기한 샘플-홀드 회로(201)의 인(IN)단자와 한쪽단자가 연결되어 있는 저항(R12)R13)의 다른 한쪽단자와 직렬로 연결되어 있다. 그리고 상기한 연산증폭기(U7)(U8)의 출력단자에 저항(R22)(R23)이 연결되어 있다.
상기 구조를 가지는 샘플-홀드 회로(201)는 인(IN)단자로 입력되는 값과 로직(LOGIC)단자로 입력되는 클럭신호(CLK)에 따라 동작하여 값을 출력하게 되는 IC 칩 IF398 등으로 구성될 수도 있다. 상기 샘플-홀드회로(201)의 동작은 입력단자에 입력신호가 입력될 때 클럭에 따라 상기 회로(201) 내부에 첨가되어 있는 스위치가 도통되고 차단됨에 따라 캐패시터(C5)(C6)에 입력값을 저장하며 출력하거나, 또는 캐패시터(C5)(C6)에 저장된 값이 출력단자로 출력된다.
상기한 구조를 갖고 있는 차동증폭기(202)의 동작은 상기 샘플-홀드 회로(201)의 출력단자와 연결되어 연산 증폭기(U7)(U8)의 반전단자로 입력되는 값과 전원전압(6V)을 안정화시키기 위하여 다수의 저항(R12~R19)과 캐패시터(C7)(C8)를 거쳐 연산증폭기(U7)(U8)의 비반전단자로 입력되는 값을 비교하여 다수의 저항(R12~R19)캐패시터(C7)(C8)를 거쳐 비반전단자로 입력되는 값을 비교하여 비반전단자의 값에서 반전단자의 값을 뺄셈하여 출력단자에 연결되어 있는 저항(R22)(R23)을 통하여 출력하게 된다. 이때 출력하게 되는 값은 주변환경에 따라 전류-전압 변환회로(10)를 통과하여 나온 값이 주변환경에 따라 출력레벨이 변하게 되는 것을 안정하게 잡아주게 된다.
그러므로 샘플-홀드 회로(201)와 차동증폭기(202)로 이루어진 신호변환 회로(20)의 역할은 후에 설명할 로그-증폭회로의 신호가 "0"에 가까울 경우 ∞로 증가하는 경향이 있고, 피사체의 거리가 멀 경우 피사체에 반사되어 들어오는 입력신호가 매우 미약하고, 또한 상기 입력신호가 주변환경이나 휘도변화에 매우 민감하게 동작하여 잡신호가 입력신호에 혼입될 때 2분할 수광 다이오드의 출력은 민감하게 반응하여 출력신호의 레벨이 변하게 되므로 출력신호 레벨을 안정화시켜 주기 위하여 동작한다.
상기 신호변환 회로(20)의 출력값은 로그 연산을 행하기 위한 로그-증폭회로(30)로 입력된다. 상기 로그-증폭회로(30)는 상기 신호변환 회로(20)의 출력값은 가변저항(VR2)(VR3)이 전원전압(6V)에 연결되어 있고 반전단자와 출력단자사이에 캐패시터(C9)(C10)가 궤환되어 적분기를 형성하고 있는 연산증폭기(U9)(U10)의 반전단자로 입력된다. 그리고 로그-증폭기회로(30)의 기준을 잡아주기 위한 전원전압(5V)단자와 접지사이에 가변저항(VR4)(VR5)이 연결되어 있고 상기 가변저항(VR4)(VR5)의 일측단자에 저항(R30)(R31)이 연결되어 비반전단자가 접지되어 있는 연산증폭기(U11)(U12)의 반전단자에 연결되어 있다. 연산증폭기(U11)(U12)의 출력단자와 반전단자 사이에 캐패시터(C11)(C12)가 연결되어 있어 적분기를 이루고 있다. 상기 저항(R30)(R31)의 일측단자는 트랜지스터(Q1)(Q2)(Q3)(Q4)의 에미터 단자가 서로 연결되어 저항(R25)(R28)를 경유하여 연산증폭기(U11)(U12)의 출력단자에 연결되어 있는 상기 트랜지스터(Q2)(Q4)의 콜렉터 단자에 연결되어 있다. 베이스 단자가 접지되어 있는 상기 트랜지스터(Q1)(Q3)의 콜렉터 단자는 상기 연산증폭기(U9)(U10)의 반전단자에 연결되어 있다. 상기 연산증폭기(U9)(U10)의 출력단자에는 출력값을 조절할 수 있는 분압저항(R24)(R26)(R27)(R29)이 상기 트랜지스터(Q2)(Q4)의 베이스 단자와 접지사이에 병렬로 연결되어 있다.
상기한 로그-증폭회로(30)는 신호변환 회로(20)을 거쳐 나온 출력신호는 반사율의 변화에 의하여 영향을 받게 되는 출력전류량을 보정하기 위하여 그 연산을 취하기 위한 것으로 로그-증폭회로(30)의 기준을 잡아주기 위하여 전원단자(6V)에 가변저항(VR4)(VR5)이 접지되어 있고, 반전단자로 전원단자로 입력되는 값을 입력받고 비반전단자가 접지되어 있는 연산증폭기(U11)(U12)와 저항(R30)(R31), 캐패시터(C11)(C12)로 이루어져 입력신호를 적분하고, 이 값은 저항(R25)(R26)이 연결되어 트랜지스터(Q1)(Q2)(Q3)(Q4)의 에미터 단자에 접속되어 있다. 베이스 단자가 접지되어 있는 트랜지스터(Q1)(Q3)의 콜렉터 단자는 연산증폭기(U9)(U10), 가변저항(VR2),(VR3), 캐패시터(C9)(C10)로 이루어진 적분기의 반전단자에 상기한 신호변환 회로(20)의 차동증폭기의 출력단자와 함께 접속되어 있다. 이 연산증폭기(U9)(10)의 출력단자는 출력신호의 크기를 조절 할 수 있는 분압저항(R24)(R26)(R27)(29)이 트랜지스터(Q2)(Q4)의 베이스 단자에 직렬과 병렬로 각각 연결되어 로그-증폭회로(30)의 크기를 제어할 수 있다.
상기한 차동증폭기(U7)(U8)와 같은 구조를 가지고 있는 차동증폭회로(40)는 로그-증폭 회로(30)에서 출력되는 1쌍의 값이 각각 저항(R32)(R33)을 거쳐 연산증폭기(U13)의 반전단자와 비반전단자로 입력되어 출력단자(OUTPUT)에 해당하는 값을 출력해낸다. 반전단자로는 전원전압(6V)단자와 직렬로 저항(R34)(R37)이 연결되어 있고 상기 저항(R34)(R37)단자 사이에 캐패시터(C13)와 저항(R36)이 각각 병렬로 접지되어 있다. 상기 저항(R34)의 일측단자는 상기한 저항(R32)의 일측단자와 연결되어 연산증폭기(U13)의 비반전단자로 입력된다.
상기한 구조를 가지고 있는 차동증폭회로(40)의 동작은 로그-증폭회로(30)에서 계산된 로그값이 상기식(i)의 뺄셈 연산을 수행하기 위하여 연산증폭기(U13)의 반전단자와 비반전단자로 입력되는 두 값의 차를 구하고 증폭하여 해당하는 값을 출력하게 된다.
이상에서와 설명한 것처럼 이 고안은 효과는 피사체의 반사율이 2분할 수광 다이오드에서 출력되는 전류의 양에 영향을 끼치게 되는 것을 로그연산을 통해 반사율에 의하여 변화되는 전류량을 보정하는데 있다. 그러므로 반사율이 2분할 수광 다이오드의 출력값에 영향을 끼치지 않고 2분할 수광 다이오드 입사되는 각도만을 측정하여 정확한 피사체의 거리를 자동으로 조절할 수가 있게 된다. 그리고 피사체의 측정거리가 같고 피사체의 반사율이 변하게 되더라도 반사율에 영향을 받는 값이 보정되고 2분할 수광다이오드에 입사되는 입사각이 같으므로 반사율에 영향을 받지않고 정확한 초점조절을 가능하게 한다.

Claims (7)

  1. 피사체에서 반사되어 들어오는 적외선을 받아들여 반사되어 들어오는 반사광의 세기에 비례하여 전류량을 비례적으로 출력하는 2분할 수광 다이오드(6)(7)와; 상기한 수광 다이오드의 출력에서 나오는 1쌍의 미세한 전류를 연산증폭기의 반전단자로 각각 입력으로 받아 전압으로 변화시켜 전압값을 출력하는 전류-전압 변환회로(10)와; 상기 전류-전압 변환회로(10)의 1쌍의 출력신호의 레벨을 안정화시키기 위하여 상기 전류-전압 변환회로(10)의 출력값을 각각의 인(IN)단자로 입력받고 로직(LOGIC)단자로 입력되는 클럭신호(CLK)에 따라 동작되어 신호레벨의 안정화 실현시키는 신호변환 회로(20)와; 반사율에 의하여 영향을 받게 되는 출력 전류값을 보정하기 위하여 상기 신호변환 회로(20)의 출력값을 각각 연산증폭기의 반전단자로 입력받아 로그연산을 취하는 로그-증폭회로(30)와; 그리고 상기 로그연산을 취한 후 뺄셈처리를 위하여 상기 로그-증폭회로(30)에서 출력되는 1쌍의 출력값을 연산증폭기의 반전단자와 비반전단자로 각각 입력받아 동작하는 차동증폭기(40)로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 전류-전압 변한 회로(10)는 저항(R1)(R2)와, 캐패시터(C1)(C2) 및 연산 증폭기(U1)(U2)로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 신호변환회로(20)는 샘플-홀드회로(201)와 차동증폭기(202)로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  4. 제 1 항에 있어서, 로그-증폭회로(30)는 2개의 적분기로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  5. 제 1 항에 있어서, 차동증폭회로(40)는 상기 신호변환 회로(20)속에 포함되어 있는 차동증폭기와 같은 구조로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  6. 제 4 항에 있어서, 상기 로그-증폭회로(30)는 기준전압을 잡아주기 위하여 가변저항(VR2)(VR3)(VR4)(VR5)을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
  7. 제 4 항에 있어서, 상기 로그-증폭회로(30)의 출력값을 조절할 수 있는 분압저항(R24)(R26)(R27)(R29)을 사용하는 것을 특징으로 하는 카메라의 자동 초점 조절 회로.
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