JPH0363765B2 - - Google Patents

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JPH0363765B2
JPH0363765B2 JP58094523A JP9452383A JPH0363765B2 JP H0363765 B2 JPH0363765 B2 JP H0363765B2 JP 58094523 A JP58094523 A JP 58094523A JP 9452383 A JP9452383 A JP 9452383A JP H0363765 B2 JPH0363765 B2 JP H0363765B2
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JP
Japan
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overcurrent detection
configuration
power supply
circuit
output
Prior art date
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Application number
JP58094523A
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English (en)
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JPS59220816A (ja
Inventor
Mamoru Yaejima
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS59220816A publication Critical patent/JPS59220816A/ja
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  • Supply And Distribution Of Alternating Current (AREA)
  • Direct Current Feeding And Distribution (AREA)
  • Power Sources (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は過電流検出方式に係り、特に電子計算
機システム等の電子装置に用いる電源装置の過電
流を監視する場合の過電流検出方式に関する。
〔発明の背景〕
従来の電子計算機システム等の電子装置の過電
流を検出する方法においては、過電流検出におけ
る過電流検出設定値は、一般には定常負荷電流に
負荷電流ドリフト、設定誤差、負荷変動、マージ
ン等を加えた固定した値に決められていた。しか
し、このような過電流検出設置の決定方法は、負
荷変動の大きい電子装置、たえば電子計算機シス
テムのようにその構成の変更が多い電子装置にお
いては、過電流検出設定値を大きい負荷に合せて
設定する必要があるため、定常負荷電流値と過電
流検出設定電流値との差が大きくなり、もし負荷
が小さい時の定常負荷電流が流れている場合に、
負荷短絡等の異状が発生した場合、過電流を検出
するまでに負荷に流れ込むエネルギーが大きくな
り、その流れ込むエネルギーのため負荷の損傷が
拡大する欠点があつた。
これを避けるには、負荷の変動に応じて、過電
流検出レベルを変える必要があるが、ヒユーズや
ブレーカ等により過電流検出を行つている場合
は、そのつどヒユーズやブレーカを取替えなけれ
ばならず、実際には実施が不可能に近かつた。
〔発明の目的〕
本発明は上述の点にかんがみてなされたもので
負荷の変動に応じて過電流検出ポイントを自動的
に変更する手段を設けることにより、過電流検出
するまでに負荷に流れ込むエネルギーを制限し、
負荷の損傷の拡大を防ぐようにした過電流検出方
式を提供することを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明の要点は、電子計算機システム等のシス
テム構成の変更により負荷電流が変化するような
電子装置において、電子装置の構成を検出する手
段と、電子装置の構成によつて変動する出力電流
の増減に応じて過電流検出の設定値を変更する手
段とを設け、電子装置の構成変更に応じて過電流
検出設定値を自動的に変更するようにしたもので
ある。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。
第1図は本発明を電子計算機システムに用いた
場合の構成例を示すブロツク図である。同図にお
いて、電子計算機システムはサービスプロセツサ
(以下単に「SVP」と称す)1と、演算装置7と
記憶装置8と、入力装置9とにより構成される。
SPV1はマイクロプログラムロードに使用され
るフロツピーデイスク装置2と、メモリ部3と、
マイクロプロセツサを含む制御部4と、電子計算
機の構成により各電源装置の出力電流の増減があ
る場合、過電流検出ポイントを変更するデータが
格納されているROM(リードオンメモリ)5、
レジスタ21、デコーダ22及び出力レジスタ2
3によつて構成される。演算装置7には制御記憶
装置6が設けられており、SVP1の制御部4と
データバスで結ばれている。演算装置7、記憶装
置8、および入出力装置9には、それぞれ各装置
に電力を供給する電源装置10,11,12があ
り、これら各電源装置に過電流検出回路13が含
まれている。
第2図は過電流検出回路13の一実施例であ
り、過電流検出抵抗18、比較回路17、減算回
路16、基準電圧電源15、SVP1の制御部4
とつながるD−Aコンパータ14、およびその制
御回路20から構成される。
上記過電流検出回路の動作は、電源10(電源
11,12でもよい)の出力電流による過電流検
出抵抗18の電圧降下VPと減算回路16の出力
電圧VSとを比較回路17によつて比較し、過電
流検出抵抗18の電圧降下が減算回路16の出力
電圧を上廻つた時、異状検出信号とし比較回路1
7の出力側に電圧を発生させる。減算回路16に
は基準電圧電源15からの基準電圧とD−Aコン
バータ14の出力電圧が入力され、基準電圧をD
−Aコンバータ14の出力電圧で減算した値が比
較回路17に入力される。なお、基準電圧電源1
5の基準電圧は、当該電源10の最大定格出力電
流+αの値で過電流を検出できる値に定められ
る。
今、電子計算機システムの運転が開始される
と、フロツピーデイスク装置2にあらかじめ記憶
されているマイクロプログラムがSVP1のメモ
リ部3へロードされ、その後、SVP1の制御部
4により演算装置7の制御記憶装置6へと転送さ
れる。その時、該マイクロプログラムに具備され
ている当該電子計算機システムの現在の構成を表
わす計算機制御情報の中の特有な情報を、SVP
1の制御部4によつてメモリ部3より読み出し、
レジスタ21にセツトする。このレジスタ21に
セツトされた情報は、デコーダ22により、シス
テム構成に応じて電源の過電流検出ポイントを変
更するデータが格納されているROM5の対応す
る番地情報に変換され、該当データがROM5か
ら読み出されて出力レジスタ23にセツトされ
る。この出力レジスタ23にセツトされた、過電
流検出ポイントを変更させるデータは、SVP1
の制御部4の指令により、電源装置10(あるい
は電源装置11,12)の第2図に示す過電流検
出回路13のD−Aコンバータ14およびその制
御回路20へ転送される。
上記SVP1の制御部4の指令により転送され
た過電流検出ポイントを変更するデータは、制御
回路20の制御下でD−Aコンバータ14でアナ
ログ電圧に変更される。このD−Aコンバータ1
4の出力アナログ電圧を、基準電圧電源15の基
準電圧から減算回路16により減算し、その減算
した電圧VSを比較回路17に入力する。比較回
路17では前記のように、過電流検出抵抗18の
電圧降下による電圧VPと減算回路16の出力電
圧VSとが比較され、前者が後者を上廻れば、比
較回路に出力が現われ、過電流が検出される。
なお、電子計算機システムが記憶装置8のメモ
リ増減、入出力装置9のチヤネルトランクの増減
あるいは演算装置7のオプシヨンとしての高速演
算装置の付加、不付加等によりその構成が変われ
ば、それに対応してマイクロプログラムの中の電
子計算機制御情報の該当情報が変わる。それによ
り、電源の過電流検出ポイントを変更するデータ
の格納されているROM5のアドレスが変化し、
その構成に応じた過電流検出ポイントを変更する
データが読出される。
第3図はROM5に格納される過電流検出ポイ
ントを変更するデータの一例であり、X番地はシ
ステム構成の増減を、Y番地は各装置、たとえば
Y=00は記憶装置のメモリを、Y=01は入出力装
置9のチヤネルトランクを、Y=02は演算装置8
の論理装置というように割当てられる。XY=
0000はメモリ容量最小(例えば2Mバイト)の減
算情報値16Aが格納され、0100(4Mバイト)、
0200(6Mバイト)、0300(8Mバイト)とメモリ容
量が増え、減算情報値は14A,12A,10Aと減少
する。XY=0002は演算装置にオプシヨンとして
高速演算装置が付かない場合の減算情報値35A
が、0102には高速演算装置が付く場合の減算情報
値30Aが格納される。たとえば、デコーダ22
からROM5の0000番地のデータが読み出される
と、出力レジスタ23に減算情報値16Aがセツ
トされ、制御部4の指令により、記憶装置8の電
源11の過電流検出回路13のD−Aコンバータ
14およびその制御回路20へ転送される。
なお、上記実施例ではデコーダ22により
ROM5に格納された過電流検出ポイントを変更
するデータを読み出すようにしたが、電子計算機
システム構成情報と過電流検出ポイント値を対に
したものを複数対記憶している連想メモリを用
い、レジスタ21にセツトされた電子計算機構成
情報と一致するものをこの連想メモリから捜し、
そこから過電流検出ポイント値を読出すようにし
てもよい。
上記のように、本実施例によれば、電源装置1
0〜12の過電流検出回路13のD−Aコンバー
タ14に電子計算機システムの構成に応じて過電
流検出ポイントを変更させるデータが、マイクロ
プログラムを電子計算機にロードする時に転送さ
れて来るため、例えば、記憶装置8のメモリ容
量、入出力装置のチヤネルトランク数の増減ある
いは演算装置7のオプシヨンとしての高速演算装
置の付加等による、電源の出力電流の増減に応じ
た、過電流の検出ポイントの変更を自動的に行う
ことができる。
上記実施例においては電子計算システムを例に
示したが、本発明は、システム構成の変更により
負荷電流の変化するものであれば他の電子装置に
も当然利用できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係る過電流検出
システムは、電子装置の構成変更に応じて過電流
検出設定値を変更するようにしたので、短絡等の
事故に際し、過電流検出するまでに負荷に流れ込
なエネルギーを小さくすることができ、負荷損傷
の拡大を防ぐと共に、負荷変動に応じてヒユー
ズ、ブレーカ等の変更を行う必要がないという優
れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の過電流検出方式を電子計算機
システムに適用した場合の全体構成を示すブロツ
ク図、第2図は第1図内の過電流検出回路の具体
的構成を示すブロツク図、第3図は第1図内の
ROMに格納される過電流検出ポイントを変更す
るデータの一例を示す図である。 1……サービスプロセツサ(SVP)、2……フ
ロツピーデイスク装置、3……メモリ部、5……
ROM、6……制御記憶装置、7……演算装置、
8……記憶装置、9……入出力装置、10〜12
……電源装置、13……過電流検出回路、14…
…D−Aコンバータ、15……基準電圧電源、1
6……減算回路、17……比較回路、18……過
電流検出抵抗、20……制御回路、22……デコ
ーダ、23……出力レジスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 構成変更により負荷電流が変化する電子装置
    に用いる電源装置の過電流検出方式において、前
    記電子装置の構成を検出する構成検知手段と、前
    記電子装置の構成によつて変動する出力電流の増
    減に応じて過電流検出の設定値を可変とする設定
    値変更手段とを設け、前記電子装置の構成変更に
    応じて過電流検出設定値を変更するようにしたこ
    とを特徴とする過電流検出方式。
JP58094523A 1983-05-27 1983-05-27 過電流検出方式 Granted JPS59220816A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58094523A JPS59220816A (ja) 1983-05-27 1983-05-27 過電流検出方式

Applications Claiming Priority (1)

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JP58094523A JPS59220816A (ja) 1983-05-27 1983-05-27 過電流検出方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59220816A JPS59220816A (ja) 1984-12-12
JPH0363765B2 true JPH0363765B2 (ja) 1991-10-02

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JPH01264527A (ja) * 1988-04-11 1989-10-20 Fujitsu Ltd 電源アラーム制御方式
JP5361824B2 (ja) * 2010-08-04 2013-12-04 三洋電機株式会社 パック電池及び過電流検出方法

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JPS59220816A (ja) 1984-12-12

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