JPH0361981B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0361981B2
JPH0361981B2 JP60136856A JP13685685A JPH0361981B2 JP H0361981 B2 JPH0361981 B2 JP H0361981B2 JP 60136856 A JP60136856 A JP 60136856A JP 13685685 A JP13685685 A JP 13685685A JP H0361981 B2 JPH0361981 B2 JP H0361981B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
vcosωt
high frequency
mass spectrometer
quadrupole mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60136856A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61296650A (ja
Inventor
Yoshiichi Tamura
Katsuo Kitajima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anelva Corp filed Critical Anelva Corp
Priority to JP60136856A priority Critical patent/JPS61296650A/ja
Priority to US06/877,923 priority patent/US4703190A/en
Publication of JPS61296650A publication Critical patent/JPS61296650A/ja
Publication of JPH0361981B2 publication Critical patent/JPH0361981B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/421Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
    • H01J49/4215Quadrupole mass filters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/022Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、四重極型質量分析計に供給する電圧
±(U+Vcosωt)を、簡単な構成を用いて生成す
る四重極型質量分析計電源に関するものである。
〔従来の技術〕
四重極型質量分析計はその性質上、質量を分析
するために4本の円柱状の電極に対して、例えば
第5図に示す従来のシステム構成のように、直流
電圧±Uと高周波電圧±Vcosωtとを重畳した電
圧±(U+Vcosωt)を供給する必要がある。この
重畳した電圧±(U+Vcosωt)を生成するため
に、高周波発生器32がOSC(発振器)31から
供給された信号に同期した態様の高周波電圧±
Vcosωtを重畳回路33に供給すると共に、直流
発生器35が検波回路34から供給された電圧
(高周波電圧±Vcosωtを分圧したものの振幅値)
に対応する直流電圧±Uを生成して重畳回路33
に供給していた。そして、重畳回路33は両者の
電圧を重畳した電圧±(U+Vcosωt)を四重極型
質量分析計36に供給していた。
尚、質量分析を行うためには、イオン源37か
ら質量分析すべきイオンを四重極型質量分析計3
6に入射させると共に、制御部40が例えば高周
波発生器32に鋸波状の掃引信号を供給して四重
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
の振幅を鋸波で掃引する。この際、図に示すよう
に、この掃引信号に、前記検波で得た直流電圧を
比較器41で重畳し、負帰還させることが多い。
これにより、掃引信号に同期した態様で所定の質
量数のイオンが四重極型質量分析計36を通過し
て検出器38によつて検出され、マススペクトラ
ムとして記録計39によつて記録される。このマ
ススペクトラムを分析することによつていずれの
質量数のものであるかが、分析される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の四重極型質量分析計電源は、第5図に示
すように、直流電圧±Uと、高周波電圧±
Vcosωtとを夫々別個に発生させた後、重畳回路
33を用いて重畳させて所望の電圧±(U+
Vcosωt)を発生させ、四重極型質量分析計36
に供給していた。このため、高周波電圧±
Vcosωtと直流電圧±Uとを生成させるための電
源が個別に夫々必要となつてしまう。しかも、直
流電圧±Uは、質量分析を行う場合に最適な条件
が得られるように任意に電圧調整する必要がある
ため、例えば第6図に示すように、正の電源(例
えば+350V)と負の電源(例えば−350V)とを
設け、トランジスタTR1、TR2を用いて入力信号
に対応した所望の直流電圧±Uを発生させる必要
があつた。このため、必要とされる最大の直流電
圧よりも高い電圧の電源、例えば数百ボルトの正
の電源と負の電源とを準備する必要があると共
に、電圧制御用トランジスタ等が必要となり、構
成が複雑となつてしまうという問題点があつた。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、前記問題点を解決するために、四重
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
を分圧し、この分圧した電圧を整流して生成した
電圧を直流電圧±Uとして四重極型質量分析計に
供給すると共に、この直流電圧±Uを高周波電圧
±Vcosωtの振幅に対応づけるよう制御を行うこ
とにより、簡単な構成によつて所定の電圧±(U
+Vcosωt)を生成して出力している。
第1図は本発明の原理的構成を示す。図中、1
は高周波検出回路、2−1,2−2は直流電圧発
生回路、3は高周波トランス、4は高周波発生
器、5は比較器、C1ないしC7はコンデンサ、L1
ないしL3は各コイルのインダクタンスを表す。
第1図において、高周波検出回路1には、電圧
±(U+Vcosωt)からコンデンサC5を介して高
周波電圧成分が供給されていると共に、電圧(−
U−Vcosωt)からコンデンサC6を介して高周波
電圧成分が供給されている。そして、供給された
両者の高周波電圧成分が整流され、例えば両者の
振幅値の和に対応する検出電圧VREFが出力され
る。また、正の高周波電圧の振幅値と負の高周波
電圧の振幅値とは、ほぼ等しいから、いずれか一
方のものを整流して生成した検出電圧VREFを出力
してもよい。
直流電圧発生回路2−1は、コンデンサC2
両端に発生した高周波電圧成分を整流して当該コ
ンデンサC2の両端に直流電圧±U1を発生させる
ものである。そして、この発生させた直流電圧±
U1は、基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路
1から出力された検出電圧VREFに対して比例関係
に保持される。同様に、直流電圧発生回路2−2
によつてコンデンサC3の両端に発生させた直流
電圧−U2は、基準電圧信号VINあるいは高周波検
出回路1から出力された検出電圧VREFに対して比
例関係に保持される。
そして、コンデンサC2に生成された直流電圧
±U1は、チヨークコイルおよびインダクタンス
L2を介して電圧(U+Vcosωt)中の直流電圧±
Uとして供給される。同様に、コンデンサC3
生成された直流電圧−U2は、チヨークコイルお
よびインダクタンスL3を介して電圧(−U−
Vcosωt)中の直流電圧−Uとして供給される。
〔作用〕
所定の高周波電圧±Vcosωtを発生させるため
の基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路1に
よつて生成された検出電圧VREF(高周波電圧(±
Vcosωt)の振幅値に対応する電圧)と、コンデ
ンサC2、C3の両端に生成させる直流電圧+U1、−
U2とを比例関係に保持させるように直流電圧発
生回路2−1,2−2が制御している。これによ
り、四重極型質量分析計に供給する電圧±(U+
Vcosωt)のうち、直流電圧±Uが高周波電圧±
Vcosωtから自動的に生成され、かつ所定の比例
関係に保持され、しかも重畳された態様で生成さ
れる。
〔実施例〕
第2図は本発明の1実施例構成図を示す。図
中、CH1、CH2はチヨークコイル、C8はコンデン
サを表す。尚、図中1ないし5、C1ないしC7
L1ないしL3は第1図に示すものに夫々対応する
ものである。
第2図において、比較器5は、外部から供給さ
れた基準電圧信号VINと、高周波検出回路1によ
つて検出された検出電圧VREF(高周波電圧±
Vcosωtの振幅値に対応する電圧)こが例えば等
しくなるように制御信号Vcを高周波発生器4に
供給する。これにより、高周波発生器4から高周
波トランス3に供給された高周波電圧が所定の高
周波電圧±Vcosωtに変圧され、四重極型質量分
析計に供給される。この供給された高周波電圧±
Vcosωtは、四重極型質量分析計を構成する電極
間の容量、可変コンデンサC7、高周波トランス
3の2次側のインダクタンス等に共振する。この
調整は、例えば可変コンデンサC7を調整して行
えばよい。
また、電圧(U+Vcosωt)がコンデンサC1
コンデンサC2によつて分圧されている。コンデ
ンサC2の両端に生じる直流電圧+U1の大きさは、
直流電圧発生回路2−1を構成するダイオード
D1を用いて高周波電圧を整流することによつて
任意の値に制御される。まず、第3図を用いてコ
ンデンサC2の両端に直流電圧+U1が生成される
概念を説明する。
第3図イに示すように、電圧(U+Vcosωt)
をコンデンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧
する。そして、分圧点P1と接地との間に図示の
向きにダイオードD1を接続する。これにより、
分圧点P1に生じる直流電圧+U1は、第3図ロに
示すようになる。しかし、この直流電圧+U1は、
ダイオードD1が順方向の整流特性に非直線性を
持つているために、供給された電圧(U+
Vcosωt)に比例した電圧とはならない。このた
め、本発明では、ダイオードD1の非直線性等に
よつて影響を受けない回路構成を採用している。
以下第2図を用いて詳細に説明する。
第2図において、電圧(U+Vcosωt)をコン
デンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧した分
圧点P1と、アンプIC1の出力端との間にダイオー
ドD1を図示の向きに接続する。アンプIC1の正極
性(+)端子に検出電圧VREF、即ち高周波検出回
路1によつて検出した高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対応する電圧を入力する。そして、アンプ
IC1の負極性(−)端子に、分圧点P1と接地との
間に接続した抵抗器R1、R2の中点を接続する。
以上説明した負帰還の構成を採用することによ
り、高周波検出回路1によつて検出された検出電
圧VREFに対して、比例関係となる直流電圧+U1
が分圧点P1に生成される。この生成された直流
電圧+U1はチヨークコイルCH1およびインダク
タンスL2を介して、電圧(U+Vcosωt)のうち
の直流電圧+Uとして供給される。また、検出電
圧VREFをIC1の正極性端子に供給する代わりに、
図中に示す基準電圧信号VINを当該IC1の正極性端
子に供給してもよい。これは、当該基準電圧信号
VINが高周波電圧±Vcosωtの大きさを指示するも
のであるから、直流電圧発生回路2−1によつて
生成される直流電圧+U1は必然的に高周波電圧
Vcosωtの振幅に対応するものとなり、直流電圧
+U1と高周波電圧Vcosωtの振幅電圧とは比例関
係となる。
同様に、直流電圧回路2−2によつて、コンデ
ンサC3の両端に直流電圧−U2が生成される。こ
の生成された直流電圧−U2はチヨークコイル
CH2および高周波トランス3を構成するインダク
タンスL3を介して、電圧(−U−Vcosωt)のう
ちの直流電圧−Uとして供給される。
第4図は本発明の他の実施例構成図であつて、
高周波トランス6にタツプを設けて電圧±(U+
Vcosωt)を分圧した構成図を示す。
第4図において、高周波トランス6の端子bに
対して第2図を用いて説明した直流発生回路2−
1が接続され、かつコンデンサC8が図示のよう
に端子cと端子dとの間に接続されているため、
当該端子bに直流電圧+U1が生成される。同様
に、端子eに直流発生回路2−2が接続されてい
るため、直流電圧−U2が生成される。このよう
な構成を採用することにより、第2図図示構成に
用いた分圧用のコンデンサC1ないしC4およびチ
ヨークコイルCH1、CH2が不要となる。
尚、第4図図示構成は、基準電圧信号VINを直
流電圧発生回路2−1,2−2に夫々入力し、生
成される直流電圧±Uの値が、基準入力信号VIN
に対して比例関係に保持されるようにしている。
また、第2図図示構成のように、高周波検出回路
1によつて検出された検出電圧VREFを直流電圧発
生回路2−1,2−2に夫々入力し、生成される
直流電圧±Uの値が、高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対して比例関係に保持されるようにするこ
とも可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、高周波
電圧±Vcosωtから所定の関係をもつ直流電圧±
Uを生成すると共に、両者の電圧を重畳した電圧
±(U+Vcosωt)を出力するよう構成しているた
め、別個に直流電源を設ける必要がなく、電源回
路を簡単にすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原理的構成図、第2図は本発
明の1実施例構成図、第3図は本発明の動作概念
を説明する概念説明図、第4図は本発明の他の実
施例構成図、第5図は従来の四重極型質量分析計
システム構成図、第6図は従来の直流発生器の回
路図を示す。 図中、1は高周波検出回路、2−1,2−2は
直流電圧発生回路、3は高周波トランス、4は高
周波発生器、5は比較器、C1ないしC7はコンデ
ンサ、L1ないしL3は各コイルのインダクタンス
を表す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 四重極型質量分析計に供給する電圧±(U+
    Vcosωt)の高周波電圧±Vcosωtと直流電圧±U
    とを所定の関係に制御するよう構成した四重極型
    質量分析計電源において、 前記高周波電圧±Vcosωtを生成して四重極型
    質量分析計に供給する高周波発生器と、 この高周波発生器が四重極型質量分析計に供給
    する高周波電圧±Vcosωtを夫々分圧し、この分
    圧した各電圧をダイオードD1、D2によつて整流
    すると共にこの整流した直流電圧(あるいは分圧
    した直流電圧)と四重極型質量分析計に供給する
    高周波電圧±Vcosωtの振幅に対応する電圧VREF
    (あるいは上記高周波発生器に供給する基準電圧
    VIN)とを差動アンプIC1、IC2に入力してその出
    力を上記ダイオードD1、D2の接地側に供給し、
    この整流した直流電圧を四重極型質量分析計に供
    給する前記直流電圧±Uとして使用するよう構成
    した直流電圧発生回路とを備え、 前記高周波発生器から四重極型質量分析計に供
    給する高周波電圧の振幅に対応する電圧VREFを抽
    出し、この抽出した電圧VREFを前記高周波発生器
    に負帰還して高周波電圧±Vcosωtを所定値に制
    御するよう構成したことを特徴とする四重極型質
    量分析計電源。
JP60136856A 1985-06-25 1985-06-25 四重極型質量分析計電源 Granted JPS61296650A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60136856A JPS61296650A (ja) 1985-06-25 1985-06-25 四重極型質量分析計電源
US06/877,923 US4703190A (en) 1985-06-25 1986-06-24 Power supply system for a quadrupole mass spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60136856A JPS61296650A (ja) 1985-06-25 1985-06-25 四重極型質量分析計電源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61296650A JPS61296650A (ja) 1986-12-27
JPH0361981B2 true JPH0361981B2 (ja) 1991-09-24

Family

ID=15185108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60136856A Granted JPS61296650A (ja) 1985-06-25 1985-06-25 四重極型質量分析計電源

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4703190A (ja)
JP (1) JPS61296650A (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DK0379902T3 (da) * 1989-01-27 1995-02-13 Siemens Ag Indretning til induktiv tilkobling for oparbejdning af meddelelser
JPH0656752B2 (ja) * 1990-11-30 1994-07-27 株式会社島津製作所 四重極質量分析装置
GB9122598D0 (en) * 1991-10-24 1991-12-04 Fisons Plc Power supply for multipolar mass filter
SE469969B (sv) * 1992-03-11 1993-10-18 Inst Foer Produktions Och Arbe Förfarande och anordning för att säkerställa öppning av en ventil till en skänk för smält metall
AU2004306911B2 (en) * 2003-10-17 2008-09-11 Powercast Corporation Method and apparatus for a wireless power supply
GB2415541B (en) * 2004-06-21 2009-09-23 Thermo Finnigan Llc RF power supply for a mass spectrometer
US8334506B2 (en) * 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US7973277B2 (en) * 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
US9714960B2 (en) * 2009-10-09 2017-07-25 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Apparatus for measuring RF voltage from a quadrupole in a mass spectrometer
WO2011057415A1 (en) * 2009-11-16 2011-05-19 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Apparatus for providing power to a multipole in a mass spectrometer
CN104769830B (zh) * 2012-11-05 2017-04-26 株式会社岛津制作所 高电压电源装置以及应用了该电源装置的质量分析装置
US20150228469A1 (en) * 2014-02-12 2015-08-13 Shimadzu Corporation Quadrupole mass spectrometry apparatus

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3495186A (en) * 1968-03-06 1970-02-10 Inc Mountain View Solid state power supply
US3641340A (en) * 1969-09-22 1972-02-08 Gen Electric Multichannel readout mass spectrometer
US3621464A (en) * 1969-11-20 1971-11-16 Electronic Associates Amplitude modulated rf generator for quadrupole mass analyzer
US3784814A (en) * 1970-03-14 1974-01-08 Nippon Electric Varian Ltd Quadrupole mass spectrometer having resolution variation capability
US3735287A (en) * 1971-05-03 1973-05-22 Electronic Associates Rf/dc generator for quadrupole mass analyzer
IL38837A (en) * 1972-02-25 1975-07-28 Yeda Res & Dev Amplifier and mass spectrometer utilizing same
US3946229A (en) * 1974-03-29 1976-03-23 The Bendix Corporation Gain control for a quadrupole mass spectrometer
DE2513267C2 (de) * 1975-03-26 1977-05-18 Kloeckner Werke Ag Vorrichtung zur steuerung der erzeugung unipolarer funkenentladungen von legierungskomponenten von materialproben aus metall und/oder der auswertung der spektrallinien der mittels der funkenentladungen erzeugten beugungsspektren
CH604144A5 (ja) * 1975-03-26 1978-08-31 Kloeckner Werke Ag
JPS583073Y2 (ja) * 1975-07-19 1983-01-19 株式会社島津製作所 ブンコウコウドケイ
US4066894A (en) * 1976-01-20 1978-01-03 University Of Virginia Positive and negative ion recording system for mass spectrometer
CA1076714A (en) * 1976-01-20 1980-04-29 Donald F. Hunt Positive and negative ion recording system for mass spectrometer
US4144463A (en) * 1976-05-20 1979-03-13 Sansui Electric Co., Ltd. Stabilized DC power supply devices for providing a plurality of DC power outputs which are selectively consumed
US4609870A (en) * 1981-03-27 1986-09-02 Hocking Electronics Limited Lift off compensation of eddy current crack detection system by controlling damping resistance of oscillator
DE3120196C2 (de) * 1981-05-21 1985-02-14 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Hochfrequenzgenerator für die Versorgung eines Massenspektrometers

Also Published As

Publication number Publication date
US4703190A (en) 1987-10-27
JPS61296650A (ja) 1986-12-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4538101A (en) Power supply device
JPH0361981B2 (ja)
KR20090106980A (ko) 제전 장치
EP0564629A1 (en) POWER SUPPLY FOR MULTIPOLAR MASS FILTERS.
US4106084A (en) Means for controlling the electric current density of a high tension direct current source
US3621464A (en) Amplitude modulated rf generator for quadrupole mass analyzer
JPS6150310B2 (ja)
JP2932485B2 (ja) 四重極質量分析装置
JP2005137085A (ja) 直流安定化電源装置
JPH1069880A (ja) 四重極質量分析計
JP2826566B2 (ja) インバータ式x線装置
JP2934679B2 (ja) インバータ装置
JPH0540716Y2 (ja)
JP2723264B2 (ja) 電源装置
US6690125B1 (en) CRT scan circuit with a geometry correction independent from the scan frequency
DE2233249C3 (de) Thyristor-Ablenkschaltung mit Netztrennung
JP2723265B2 (ja) 電源装置
US3524150A (en) Mass analyzer including a broad range modulator
JPH0649114Y2 (ja) 直流高電圧電源装置
JP2893834B2 (ja) 電源装置
JP2643308B2 (ja) 電源装置
JPH0422605Y2 (ja)
JPS61109462A (ja) 高圧電源装置
JP4639437B2 (ja) 高圧電源装置
JPH10290566A (ja) スイッチング電源装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term