JPH0361981B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0361981B2 JPH0361981B2 JP60136856A JP13685685A JPH0361981B2 JP H0361981 B2 JPH0361981 B2 JP H0361981B2 JP 60136856 A JP60136856 A JP 60136856A JP 13685685 A JP13685685 A JP 13685685A JP H0361981 B2 JPH0361981 B2 JP H0361981B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- vcosωt
- high frequency
- mass spectrometer
- quadrupole mass
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 24
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/421—Mass filters, i.e. deviating unwanted ions without trapping
- H01J49/4215—Quadrupole mass filters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、四重極型質量分析計に供給する電圧
±(U+Vcosωt)を、簡単な構成を用いて生成す
る四重極型質量分析計電源に関するものである。
±(U+Vcosωt)を、簡単な構成を用いて生成す
る四重極型質量分析計電源に関するものである。
四重極型質量分析計はその性質上、質量を分析
するために4本の円柱状の電極に対して、例えば
第5図に示す従来のシステム構成のように、直流
電圧±Uと高周波電圧±Vcosωtとを重畳した電
圧±(U+Vcosωt)を供給する必要がある。この
重畳した電圧±(U+Vcosωt)を生成するため
に、高周波発生器32がOSC(発振器)31から
供給された信号に同期した態様の高周波電圧±
Vcosωtを重畳回路33に供給すると共に、直流
発生器35が検波回路34から供給された電圧
(高周波電圧±Vcosωtを分圧したものの振幅値)
に対応する直流電圧±Uを生成して重畳回路33
に供給していた。そして、重畳回路33は両者の
電圧を重畳した電圧±(U+Vcosωt)を四重極型
質量分析計36に供給していた。
するために4本の円柱状の電極に対して、例えば
第5図に示す従来のシステム構成のように、直流
電圧±Uと高周波電圧±Vcosωtとを重畳した電
圧±(U+Vcosωt)を供給する必要がある。この
重畳した電圧±(U+Vcosωt)を生成するため
に、高周波発生器32がOSC(発振器)31から
供給された信号に同期した態様の高周波電圧±
Vcosωtを重畳回路33に供給すると共に、直流
発生器35が検波回路34から供給された電圧
(高周波電圧±Vcosωtを分圧したものの振幅値)
に対応する直流電圧±Uを生成して重畳回路33
に供給していた。そして、重畳回路33は両者の
電圧を重畳した電圧±(U+Vcosωt)を四重極型
質量分析計36に供給していた。
尚、質量分析を行うためには、イオン源37か
ら質量分析すべきイオンを四重極型質量分析計3
6に入射させると共に、制御部40が例えば高周
波発生器32に鋸波状の掃引信号を供給して四重
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
の振幅を鋸波で掃引する。この際、図に示すよう
に、この掃引信号に、前記検波で得た直流電圧を
比較器41で重畳し、負帰還させることが多い。
これにより、掃引信号に同期した態様で所定の質
量数のイオンが四重極型質量分析計36を通過し
て検出器38によつて検出され、マススペクトラ
ムとして記録計39によつて記録される。このマ
ススペクトラムを分析することによつていずれの
質量数のものであるかが、分析される。
ら質量分析すべきイオンを四重極型質量分析計3
6に入射させると共に、制御部40が例えば高周
波発生器32に鋸波状の掃引信号を供給して四重
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
の振幅を鋸波で掃引する。この際、図に示すよう
に、この掃引信号に、前記検波で得た直流電圧を
比較器41で重畳し、負帰還させることが多い。
これにより、掃引信号に同期した態様で所定の質
量数のイオンが四重極型質量分析計36を通過し
て検出器38によつて検出され、マススペクトラ
ムとして記録計39によつて記録される。このマ
ススペクトラムを分析することによつていずれの
質量数のものであるかが、分析される。
従来の四重極型質量分析計電源は、第5図に示
すように、直流電圧±Uと、高周波電圧±
Vcosωtとを夫々別個に発生させた後、重畳回路
33を用いて重畳させて所望の電圧±(U+
Vcosωt)を発生させ、四重極型質量分析計36
に供給していた。このため、高周波電圧±
Vcosωtと直流電圧±Uとを生成させるための電
源が個別に夫々必要となつてしまう。しかも、直
流電圧±Uは、質量分析を行う場合に最適な条件
が得られるように任意に電圧調整する必要がある
ため、例えば第6図に示すように、正の電源(例
えば+350V)と負の電源(例えば−350V)とを
設け、トランジスタTR1、TR2を用いて入力信号
に対応した所望の直流電圧±Uを発生させる必要
があつた。このため、必要とされる最大の直流電
圧よりも高い電圧の電源、例えば数百ボルトの正
の電源と負の電源とを準備する必要があると共
に、電圧制御用トランジスタ等が必要となり、構
成が複雑となつてしまうという問題点があつた。
すように、直流電圧±Uと、高周波電圧±
Vcosωtとを夫々別個に発生させた後、重畳回路
33を用いて重畳させて所望の電圧±(U+
Vcosωt)を発生させ、四重極型質量分析計36
に供給していた。このため、高周波電圧±
Vcosωtと直流電圧±Uとを生成させるための電
源が個別に夫々必要となつてしまう。しかも、直
流電圧±Uは、質量分析を行う場合に最適な条件
が得られるように任意に電圧調整する必要がある
ため、例えば第6図に示すように、正の電源(例
えば+350V)と負の電源(例えば−350V)とを
設け、トランジスタTR1、TR2を用いて入力信号
に対応した所望の直流電圧±Uを発生させる必要
があつた。このため、必要とされる最大の直流電
圧よりも高い電圧の電源、例えば数百ボルトの正
の電源と負の電源とを準備する必要があると共
に、電圧制御用トランジスタ等が必要となり、構
成が複雑となつてしまうという問題点があつた。
本発明は、前記問題点を解決するために、四重
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
を分圧し、この分圧した電圧を整流して生成した
電圧を直流電圧±Uとして四重極型質量分析計に
供給すると共に、この直流電圧±Uを高周波電圧
±Vcosωtの振幅に対応づけるよう制御を行うこ
とにより、簡単な構成によつて所定の電圧±(U
+Vcosωt)を生成して出力している。
極型質量分析計に供給する高周波電圧±Vcosωt
を分圧し、この分圧した電圧を整流して生成した
電圧を直流電圧±Uとして四重極型質量分析計に
供給すると共に、この直流電圧±Uを高周波電圧
±Vcosωtの振幅に対応づけるよう制御を行うこ
とにより、簡単な構成によつて所定の電圧±(U
+Vcosωt)を生成して出力している。
第1図は本発明の原理的構成を示す。図中、1
は高周波検出回路、2−1,2−2は直流電圧発
生回路、3は高周波トランス、4は高周波発生
器、5は比較器、C1ないしC7はコンデンサ、L1
ないしL3は各コイルのインダクタンスを表す。
は高周波検出回路、2−1,2−2は直流電圧発
生回路、3は高周波トランス、4は高周波発生
器、5は比較器、C1ないしC7はコンデンサ、L1
ないしL3は各コイルのインダクタンスを表す。
第1図において、高周波検出回路1には、電圧
±(U+Vcosωt)からコンデンサC5を介して高
周波電圧成分が供給されていると共に、電圧(−
U−Vcosωt)からコンデンサC6を介して高周波
電圧成分が供給されている。そして、供給された
両者の高周波電圧成分が整流され、例えば両者の
振幅値の和に対応する検出電圧VREFが出力され
る。また、正の高周波電圧の振幅値と負の高周波
電圧の振幅値とは、ほぼ等しいから、いずれか一
方のものを整流して生成した検出電圧VREFを出力
してもよい。
±(U+Vcosωt)からコンデンサC5を介して高
周波電圧成分が供給されていると共に、電圧(−
U−Vcosωt)からコンデンサC6を介して高周波
電圧成分が供給されている。そして、供給された
両者の高周波電圧成分が整流され、例えば両者の
振幅値の和に対応する検出電圧VREFが出力され
る。また、正の高周波電圧の振幅値と負の高周波
電圧の振幅値とは、ほぼ等しいから、いずれか一
方のものを整流して生成した検出電圧VREFを出力
してもよい。
直流電圧発生回路2−1は、コンデンサC2の
両端に発生した高周波電圧成分を整流して当該コ
ンデンサC2の両端に直流電圧±U1を発生させる
ものである。そして、この発生させた直流電圧±
U1は、基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路
1から出力された検出電圧VREFに対して比例関係
に保持される。同様に、直流電圧発生回路2−2
によつてコンデンサC3の両端に発生させた直流
電圧−U2は、基準電圧信号VINあるいは高周波検
出回路1から出力された検出電圧VREFに対して比
例関係に保持される。
両端に発生した高周波電圧成分を整流して当該コ
ンデンサC2の両端に直流電圧±U1を発生させる
ものである。そして、この発生させた直流電圧±
U1は、基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路
1から出力された検出電圧VREFに対して比例関係
に保持される。同様に、直流電圧発生回路2−2
によつてコンデンサC3の両端に発生させた直流
電圧−U2は、基準電圧信号VINあるいは高周波検
出回路1から出力された検出電圧VREFに対して比
例関係に保持される。
そして、コンデンサC2に生成された直流電圧
±U1は、チヨークコイルおよびインダクタンス
L2を介して電圧(U+Vcosωt)中の直流電圧±
Uとして供給される。同様に、コンデンサC3に
生成された直流電圧−U2は、チヨークコイルお
よびインダクタンスL3を介して電圧(−U−
Vcosωt)中の直流電圧−Uとして供給される。
±U1は、チヨークコイルおよびインダクタンス
L2を介して電圧(U+Vcosωt)中の直流電圧±
Uとして供給される。同様に、コンデンサC3に
生成された直流電圧−U2は、チヨークコイルお
よびインダクタンスL3を介して電圧(−U−
Vcosωt)中の直流電圧−Uとして供給される。
所定の高周波電圧±Vcosωtを発生させるため
の基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路1に
よつて生成された検出電圧VREF(高周波電圧(±
Vcosωt)の振幅値に対応する電圧)と、コンデ
ンサC2、C3の両端に生成させる直流電圧+U1、−
U2とを比例関係に保持させるように直流電圧発
生回路2−1,2−2が制御している。これによ
り、四重極型質量分析計に供給する電圧±(U+
Vcosωt)のうち、直流電圧±Uが高周波電圧±
Vcosωtから自動的に生成され、かつ所定の比例
関係に保持され、しかも重畳された態様で生成さ
れる。
の基準電圧信号VINあるいは高周波検出回路1に
よつて生成された検出電圧VREF(高周波電圧(±
Vcosωt)の振幅値に対応する電圧)と、コンデ
ンサC2、C3の両端に生成させる直流電圧+U1、−
U2とを比例関係に保持させるように直流電圧発
生回路2−1,2−2が制御している。これによ
り、四重極型質量分析計に供給する電圧±(U+
Vcosωt)のうち、直流電圧±Uが高周波電圧±
Vcosωtから自動的に生成され、かつ所定の比例
関係に保持され、しかも重畳された態様で生成さ
れる。
第2図は本発明の1実施例構成図を示す。図
中、CH1、CH2はチヨークコイル、C8はコンデン
サを表す。尚、図中1ないし5、C1ないしC7、
L1ないしL3は第1図に示すものに夫々対応する
ものである。
中、CH1、CH2はチヨークコイル、C8はコンデン
サを表す。尚、図中1ないし5、C1ないしC7、
L1ないしL3は第1図に示すものに夫々対応する
ものである。
第2図において、比較器5は、外部から供給さ
れた基準電圧信号VINと、高周波検出回路1によ
つて検出された検出電圧VREF(高周波電圧±
Vcosωtの振幅値に対応する電圧)こが例えば等
しくなるように制御信号Vcを高周波発生器4に
供給する。これにより、高周波発生器4から高周
波トランス3に供給された高周波電圧が所定の高
周波電圧±Vcosωtに変圧され、四重極型質量分
析計に供給される。この供給された高周波電圧±
Vcosωtは、四重極型質量分析計を構成する電極
間の容量、可変コンデンサC7、高周波トランス
3の2次側のインダクタンス等に共振する。この
調整は、例えば可変コンデンサC7を調整して行
えばよい。
れた基準電圧信号VINと、高周波検出回路1によ
つて検出された検出電圧VREF(高周波電圧±
Vcosωtの振幅値に対応する電圧)こが例えば等
しくなるように制御信号Vcを高周波発生器4に
供給する。これにより、高周波発生器4から高周
波トランス3に供給された高周波電圧が所定の高
周波電圧±Vcosωtに変圧され、四重極型質量分
析計に供給される。この供給された高周波電圧±
Vcosωtは、四重極型質量分析計を構成する電極
間の容量、可変コンデンサC7、高周波トランス
3の2次側のインダクタンス等に共振する。この
調整は、例えば可変コンデンサC7を調整して行
えばよい。
また、電圧(U+Vcosωt)がコンデンサC1と
コンデンサC2によつて分圧されている。コンデ
ンサC2の両端に生じる直流電圧+U1の大きさは、
直流電圧発生回路2−1を構成するダイオード
D1を用いて高周波電圧を整流することによつて
任意の値に制御される。まず、第3図を用いてコ
ンデンサC2の両端に直流電圧+U1が生成される
概念を説明する。
コンデンサC2によつて分圧されている。コンデ
ンサC2の両端に生じる直流電圧+U1の大きさは、
直流電圧発生回路2−1を構成するダイオード
D1を用いて高周波電圧を整流することによつて
任意の値に制御される。まず、第3図を用いてコ
ンデンサC2の両端に直流電圧+U1が生成される
概念を説明する。
第3図イに示すように、電圧(U+Vcosωt)
をコンデンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧
する。そして、分圧点P1と接地との間に図示の
向きにダイオードD1を接続する。これにより、
分圧点P1に生じる直流電圧+U1は、第3図ロに
示すようになる。しかし、この直流電圧+U1は、
ダイオードD1が順方向の整流特性に非直線性を
持つているために、供給された電圧(U+
Vcosωt)に比例した電圧とはならない。このた
め、本発明では、ダイオードD1の非直線性等に
よつて影響を受けない回路構成を採用している。
以下第2図を用いて詳細に説明する。
をコンデンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧
する。そして、分圧点P1と接地との間に図示の
向きにダイオードD1を接続する。これにより、
分圧点P1に生じる直流電圧+U1は、第3図ロに
示すようになる。しかし、この直流電圧+U1は、
ダイオードD1が順方向の整流特性に非直線性を
持つているために、供給された電圧(U+
Vcosωt)に比例した電圧とはならない。このた
め、本発明では、ダイオードD1の非直線性等に
よつて影響を受けない回路構成を採用している。
以下第2図を用いて詳細に説明する。
第2図において、電圧(U+Vcosωt)をコン
デンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧した分
圧点P1と、アンプIC1の出力端との間にダイオー
ドD1を図示の向きに接続する。アンプIC1の正極
性(+)端子に検出電圧VREF、即ち高周波検出回
路1によつて検出した高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対応する電圧を入力する。そして、アンプ
IC1の負極性(−)端子に、分圧点P1と接地との
間に接続した抵抗器R1、R2の中点を接続する。
以上説明した負帰還の構成を採用することによ
り、高周波検出回路1によつて検出された検出電
圧VREFに対して、比例関係となる直流電圧+U1
が分圧点P1に生成される。この生成された直流
電圧+U1はチヨークコイルCH1およびインダク
タンスL2を介して、電圧(U+Vcosωt)のうち
の直流電圧+Uとして供給される。また、検出電
圧VREFをIC1の正極性端子に供給する代わりに、
図中に示す基準電圧信号VINを当該IC1の正極性端
子に供給してもよい。これは、当該基準電圧信号
VINが高周波電圧±Vcosωtの大きさを指示するも
のであるから、直流電圧発生回路2−1によつて
生成される直流電圧+U1は必然的に高周波電圧
Vcosωtの振幅に対応するものとなり、直流電圧
+U1と高周波電圧Vcosωtの振幅電圧とは比例関
係となる。
デンサC1とコンデンサC2とを用いて分圧した分
圧点P1と、アンプIC1の出力端との間にダイオー
ドD1を図示の向きに接続する。アンプIC1の正極
性(+)端子に検出電圧VREF、即ち高周波検出回
路1によつて検出した高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対応する電圧を入力する。そして、アンプ
IC1の負極性(−)端子に、分圧点P1と接地との
間に接続した抵抗器R1、R2の中点を接続する。
以上説明した負帰還の構成を採用することによ
り、高周波検出回路1によつて検出された検出電
圧VREFに対して、比例関係となる直流電圧+U1
が分圧点P1に生成される。この生成された直流
電圧+U1はチヨークコイルCH1およびインダク
タンスL2を介して、電圧(U+Vcosωt)のうち
の直流電圧+Uとして供給される。また、検出電
圧VREFをIC1の正極性端子に供給する代わりに、
図中に示す基準電圧信号VINを当該IC1の正極性端
子に供給してもよい。これは、当該基準電圧信号
VINが高周波電圧±Vcosωtの大きさを指示するも
のであるから、直流電圧発生回路2−1によつて
生成される直流電圧+U1は必然的に高周波電圧
Vcosωtの振幅に対応するものとなり、直流電圧
+U1と高周波電圧Vcosωtの振幅電圧とは比例関
係となる。
同様に、直流電圧回路2−2によつて、コンデ
ンサC3の両端に直流電圧−U2が生成される。こ
の生成された直流電圧−U2はチヨークコイル
CH2および高周波トランス3を構成するインダク
タンスL3を介して、電圧(−U−Vcosωt)のう
ちの直流電圧−Uとして供給される。
ンサC3の両端に直流電圧−U2が生成される。こ
の生成された直流電圧−U2はチヨークコイル
CH2および高周波トランス3を構成するインダク
タンスL3を介して、電圧(−U−Vcosωt)のう
ちの直流電圧−Uとして供給される。
第4図は本発明の他の実施例構成図であつて、
高周波トランス6にタツプを設けて電圧±(U+
Vcosωt)を分圧した構成図を示す。
高周波トランス6にタツプを設けて電圧±(U+
Vcosωt)を分圧した構成図を示す。
第4図において、高周波トランス6の端子bに
対して第2図を用いて説明した直流発生回路2−
1が接続され、かつコンデンサC8が図示のよう
に端子cと端子dとの間に接続されているため、
当該端子bに直流電圧+U1が生成される。同様
に、端子eに直流発生回路2−2が接続されてい
るため、直流電圧−U2が生成される。このよう
な構成を採用することにより、第2図図示構成に
用いた分圧用のコンデンサC1ないしC4およびチ
ヨークコイルCH1、CH2が不要となる。
対して第2図を用いて説明した直流発生回路2−
1が接続され、かつコンデンサC8が図示のよう
に端子cと端子dとの間に接続されているため、
当該端子bに直流電圧+U1が生成される。同様
に、端子eに直流発生回路2−2が接続されてい
るため、直流電圧−U2が生成される。このよう
な構成を採用することにより、第2図図示構成に
用いた分圧用のコンデンサC1ないしC4およびチ
ヨークコイルCH1、CH2が不要となる。
尚、第4図図示構成は、基準電圧信号VINを直
流電圧発生回路2−1,2−2に夫々入力し、生
成される直流電圧±Uの値が、基準入力信号VIN
に対して比例関係に保持されるようにしている。
また、第2図図示構成のように、高周波検出回路
1によつて検出された検出電圧VREFを直流電圧発
生回路2−1,2−2に夫々入力し、生成される
直流電圧±Uの値が、高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対して比例関係に保持されるようにするこ
とも可能である。
流電圧発生回路2−1,2−2に夫々入力し、生
成される直流電圧±Uの値が、基準入力信号VIN
に対して比例関係に保持されるようにしている。
また、第2図図示構成のように、高周波検出回路
1によつて検出された検出電圧VREFを直流電圧発
生回路2−1,2−2に夫々入力し、生成される
直流電圧±Uの値が、高周波電圧±Vcosωtの振
幅値に対して比例関係に保持されるようにするこ
とも可能である。
以上説明したように、本発明によれば、高周波
電圧±Vcosωtから所定の関係をもつ直流電圧±
Uを生成すると共に、両者の電圧を重畳した電圧
±(U+Vcosωt)を出力するよう構成しているた
め、別個に直流電源を設ける必要がなく、電源回
路を簡単にすることができる。
電圧±Vcosωtから所定の関係をもつ直流電圧±
Uを生成すると共に、両者の電圧を重畳した電圧
±(U+Vcosωt)を出力するよう構成しているた
め、別個に直流電源を設ける必要がなく、電源回
路を簡単にすることができる。
第1図は本発明の原理的構成図、第2図は本発
明の1実施例構成図、第3図は本発明の動作概念
を説明する概念説明図、第4図は本発明の他の実
施例構成図、第5図は従来の四重極型質量分析計
システム構成図、第6図は従来の直流発生器の回
路図を示す。 図中、1は高周波検出回路、2−1,2−2は
直流電圧発生回路、3は高周波トランス、4は高
周波発生器、5は比較器、C1ないしC7はコンデ
ンサ、L1ないしL3は各コイルのインダクタンス
を表す。
明の1実施例構成図、第3図は本発明の動作概念
を説明する概念説明図、第4図は本発明の他の実
施例構成図、第5図は従来の四重極型質量分析計
システム構成図、第6図は従来の直流発生器の回
路図を示す。 図中、1は高周波検出回路、2−1,2−2は
直流電圧発生回路、3は高周波トランス、4は高
周波発生器、5は比較器、C1ないしC7はコンデ
ンサ、L1ないしL3は各コイルのインダクタンス
を表す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 四重極型質量分析計に供給する電圧±(U+
Vcosωt)の高周波電圧±Vcosωtと直流電圧±U
とを所定の関係に制御するよう構成した四重極型
質量分析計電源において、 前記高周波電圧±Vcosωtを生成して四重極型
質量分析計に供給する高周波発生器と、 この高周波発生器が四重極型質量分析計に供給
する高周波電圧±Vcosωtを夫々分圧し、この分
圧した各電圧をダイオードD1、D2によつて整流
すると共にこの整流した直流電圧(あるいは分圧
した直流電圧)と四重極型質量分析計に供給する
高周波電圧±Vcosωtの振幅に対応する電圧VREF
(あるいは上記高周波発生器に供給する基準電圧
VIN)とを差動アンプIC1、IC2に入力してその出
力を上記ダイオードD1、D2の接地側に供給し、
この整流した直流電圧を四重極型質量分析計に供
給する前記直流電圧±Uとして使用するよう構成
した直流電圧発生回路とを備え、 前記高周波発生器から四重極型質量分析計に供
給する高周波電圧の振幅に対応する電圧VREFを抽
出し、この抽出した電圧VREFを前記高周波発生器
に負帰還して高周波電圧±Vcosωtを所定値に制
御するよう構成したことを特徴とする四重極型質
量分析計電源。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60136856A JPS61296650A (ja) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | 四重極型質量分析計電源 |
US06/877,923 US4703190A (en) | 1985-06-25 | 1986-06-24 | Power supply system for a quadrupole mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60136856A JPS61296650A (ja) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | 四重極型質量分析計電源 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61296650A JPS61296650A (ja) | 1986-12-27 |
JPH0361981B2 true JPH0361981B2 (ja) | 1991-09-24 |
Family
ID=15185108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60136856A Granted JPS61296650A (ja) | 1985-06-25 | 1985-06-25 | 四重極型質量分析計電源 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4703190A (ja) |
JP (1) | JPS61296650A (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DK0379902T3 (da) * | 1989-01-27 | 1995-02-13 | Siemens Ag | Indretning til induktiv tilkobling for oparbejdning af meddelelser |
JPH0656752B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1994-07-27 | 株式会社島津製作所 | 四重極質量分析装置 |
GB9122598D0 (en) * | 1991-10-24 | 1991-12-04 | Fisons Plc | Power supply for multipolar mass filter |
SE469969B (sv) * | 1992-03-11 | 1993-10-18 | Inst Foer Produktions Och Arbe | Förfarande och anordning för att säkerställa öppning av en ventil till en skänk för smält metall |
AU2004306911B2 (en) * | 2003-10-17 | 2008-09-11 | Powercast Corporation | Method and apparatus for a wireless power supply |
GB2415541B (en) * | 2004-06-21 | 2009-09-23 | Thermo Finnigan Llc | RF power supply for a mass spectrometer |
US8334506B2 (en) * | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
US7973277B2 (en) * | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
US9714960B2 (en) * | 2009-10-09 | 2017-07-25 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Apparatus for measuring RF voltage from a quadrupole in a mass spectrometer |
WO2011057415A1 (en) * | 2009-11-16 | 2011-05-19 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Apparatus for providing power to a multipole in a mass spectrometer |
CN104769830B (zh) * | 2012-11-05 | 2017-04-26 | 株式会社岛津制作所 | 高电压电源装置以及应用了该电源装置的质量分析装置 |
US20150228469A1 (en) * | 2014-02-12 | 2015-08-13 | Shimadzu Corporation | Quadrupole mass spectrometry apparatus |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3495186A (en) * | 1968-03-06 | 1970-02-10 | Inc Mountain View | Solid state power supply |
US3641340A (en) * | 1969-09-22 | 1972-02-08 | Gen Electric | Multichannel readout mass spectrometer |
US3621464A (en) * | 1969-11-20 | 1971-11-16 | Electronic Associates | Amplitude modulated rf generator for quadrupole mass analyzer |
US3784814A (en) * | 1970-03-14 | 1974-01-08 | Nippon Electric Varian Ltd | Quadrupole mass spectrometer having resolution variation capability |
US3735287A (en) * | 1971-05-03 | 1973-05-22 | Electronic Associates | Rf/dc generator for quadrupole mass analyzer |
IL38837A (en) * | 1972-02-25 | 1975-07-28 | Yeda Res & Dev | Amplifier and mass spectrometer utilizing same |
US3946229A (en) * | 1974-03-29 | 1976-03-23 | The Bendix Corporation | Gain control for a quadrupole mass spectrometer |
DE2513267C2 (de) * | 1975-03-26 | 1977-05-18 | Kloeckner Werke Ag | Vorrichtung zur steuerung der erzeugung unipolarer funkenentladungen von legierungskomponenten von materialproben aus metall und/oder der auswertung der spektrallinien der mittels der funkenentladungen erzeugten beugungsspektren |
CH604144A5 (ja) * | 1975-03-26 | 1978-08-31 | Kloeckner Werke Ag | |
JPS583073Y2 (ja) * | 1975-07-19 | 1983-01-19 | 株式会社島津製作所 | ブンコウコウドケイ |
US4066894A (en) * | 1976-01-20 | 1978-01-03 | University Of Virginia | Positive and negative ion recording system for mass spectrometer |
CA1076714A (en) * | 1976-01-20 | 1980-04-29 | Donald F. Hunt | Positive and negative ion recording system for mass spectrometer |
US4144463A (en) * | 1976-05-20 | 1979-03-13 | Sansui Electric Co., Ltd. | Stabilized DC power supply devices for providing a plurality of DC power outputs which are selectively consumed |
US4609870A (en) * | 1981-03-27 | 1986-09-02 | Hocking Electronics Limited | Lift off compensation of eddy current crack detection system by controlling damping resistance of oscillator |
DE3120196C2 (de) * | 1981-05-21 | 1985-02-14 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Hochfrequenzgenerator für die Versorgung eines Massenspektrometers |
-
1985
- 1985-06-25 JP JP60136856A patent/JPS61296650A/ja active Granted
-
1986
- 1986-06-24 US US06/877,923 patent/US4703190A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4703190A (en) | 1987-10-27 |
JPS61296650A (ja) | 1986-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4538101A (en) | Power supply device | |
JPH0361981B2 (ja) | ||
KR20090106980A (ko) | 제전 장치 | |
EP0564629A1 (en) | POWER SUPPLY FOR MULTIPOLAR MASS FILTERS. | |
US4106084A (en) | Means for controlling the electric current density of a high tension direct current source | |
US3621464A (en) | Amplitude modulated rf generator for quadrupole mass analyzer | |
JPS6150310B2 (ja) | ||
JP2932485B2 (ja) | 四重極質量分析装置 | |
JP2005137085A (ja) | 直流安定化電源装置 | |
JPH1069880A (ja) | 四重極質量分析計 | |
JP2826566B2 (ja) | インバータ式x線装置 | |
JP2934679B2 (ja) | インバータ装置 | |
JPH0540716Y2 (ja) | ||
JP2723264B2 (ja) | 電源装置 | |
US6690125B1 (en) | CRT scan circuit with a geometry correction independent from the scan frequency | |
DE2233249C3 (de) | Thyristor-Ablenkschaltung mit Netztrennung | |
JP2723265B2 (ja) | 電源装置 | |
US3524150A (en) | Mass analyzer including a broad range modulator | |
JPH0649114Y2 (ja) | 直流高電圧電源装置 | |
JP2893834B2 (ja) | 電源装置 | |
JP2643308B2 (ja) | 電源装置 | |
JPH0422605Y2 (ja) | ||
JPS61109462A (ja) | 高圧電源装置 | |
JP4639437B2 (ja) | 高圧電源装置 | |
JPH10290566A (ja) | スイッチング電源装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |