JPH0356960A - ポジ型フオトレジスト組成物 - Google Patents

ポジ型フオトレジスト組成物

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JPH0356960A
JPH0356960A JP19288889A JP19288889A JPH0356960A JP H0356960 A JPH0356960 A JP H0356960A JP 19288889 A JP19288889 A JP 19288889A JP 19288889 A JP19288889 A JP 19288889A JP H0356960 A JPH0356960 A JP H0356960A
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JP
Japan
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methyl
weight
coating
group
acid
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JP19288889A
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English (en)
Inventor
Yasumasa Kawabe
河辺 保雅
Tadayoshi Kokubo
小久保 忠嘉
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0356960A publication Critical patent/JPH0356960A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野j 本発明は福利線に感応するポジ型フォトレジストに間す
るものであり、更に詳しくは、IC等の半導体製造工程
、}夜晶、サーマルヘット等の回路基板の製造、その他
のフオトフアプリケーション工程で好適に用いられる、
塗布性能、溶液安定性に優れた、微細加工用フォトレジ
スト組成物に関するものである。
「従来技術」 ポジ型フオトレジス}l成物としては、一般にアルカリ
可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノンジアジド化合
物とを溶剤に溶解させて成るレジスト繕成物が用いられ
ている。例えば、 「ノボラツク型フェノール樹脂/ナ
フトキノンジアジド置換化合物」としてUSP3666
473号、同4115128号、同4 1 73470
号等に、また最も典型的な組成物として「クレゾールー
ホルムアルデヒドより成るノボラツク樹脂/トリヒドロ
キシベンゾフエノン−1,1−ナフトキノンジアジドス
ルホン酸エステル」の例がトンブソン「イントロダクシ
ョン・トウー・マイクロリソグラフィーJ  (L.F
.Thompson rTntro 一duction
  to  Microlitho−graphyJ 
ASC出版、No.219号、P112〜l21)に記
載されている。
結合剤としてのノボラツク樹脂は、膨澗することなくア
ルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成した画像をエ
ッチングのマスクとして使用する際に特にプラズマエッ
チングに対して高い耐性を与えるが故に本用途に特に有
用である。また、感光物に用いるナフトキノンジアジド
化合物は、それ自身ノボラツク樹脂のアルカリ溶解性を
低下せしめる溶解阻止剤として作用するが、光照射を受
けて分解するとアルカリ可溶性物質を生じてむしろノボ
ラツク樹脂のアルカリ溶解度を高める働きをする点て特
異であり、この光に刻する大きな性質変化の故にポジ型
フォトレジストの感光物として特に有用である。
これまで、かかる観点からノボラツク樹脂とナフトキノ
ンジアジド系感光物を含有する数多くのポジ型フォトレ
ジスト組成物が開発、実用化され、集積回路の高集積度
が要求される近年は、特に多用されている。
しかし、アルカリ可溶性樹脂とナフトキノンジアジド系
感光物を溶剤に溶解させて成るフォトレジスト用組成物
を基板上に塗布した際にストリエーションと呼ばれる塗
布ムラが生し、パターンの直線性及び再現性が低下し、
所要の精度を有するレジス1・パターンを形成すること
ができないという問題が発生することがしばしばある。
また、最近においては、シリコンウエハー等の基板が大
口径になる傾向にあり、そのためレジスト絹成物を基板
上に塗布するときに塗れ残りが発生するという問題があ
る。
この塗布性を改良する目的で、特開昭58−10514
3号、同58−203434号、同62−36657号
には公知のレジスト組成物用の溶剤であるエチレングリ
コールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノエ
チルエーテルアセテート、エチレングリコールモノメチ
ルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルア
セテート、N,  N−ジメチルホルムアミド、ジオキ
サン、シクロヘキサノン、シクロベンタノン、γ−プチ
ルラクトン、乳酸エチル、乳酸メチルにフッ素系界面活
性剤を配合することが記載されており、また、tJsP
4526856号、特開昭59−231534号には、
シクロペンタノン及びシクロヘキサンと炭素数5〜12
の脂肪族アルコールを組み合わせることが言己載されて
いる。
また、特開昭6 0 − 2 4 5 4 5号には、
60〜]70゜Cの沸点を有する溶剤に180〜350
℃の沸点を有する溶剤な■み合わせることでストリ工一
ションを改良することが開示されている。
更に、USP3666473号には酢酸ブチル及びキシ
レンとエチレングリコールモノメチルエーテルアセテー
トを絹み合わせることが開示されている。  上記の問
題とは別に、1,2−ナフトキノンジアジド系感光剤を
含有するフォトレジスト組成物を例えば孔径0.  2
μmのフィルターで濾過したのち放置すると、目視では
観察しえない微粒子(ナフトキノンジアジド系の感光剤
)が析出し、この微粒子の析出したレジスト朝成物を更
に長期にわたって保存すると、やがては沈澱の発生に至
る場合がある。
このような微粒子を含有するレジスト組成物を用いてウ
エハー上:こレジストパターンを形成すると、現像によ
りレジストが除去されるべき部分に微粒子が残り、解像
度が低下するという問題がある。
この経時安定性を改良する目的で、特開昭612602
39号には、N−メチル−2−ビロリドン、ジメチルス
ルホキシト、ジメチルマロネート、エチルシアンアセテ
ート、ブタンジオールの様に沸点が高<(I80〜22
0゜C)かつ溶解バラメーターが11〜12の溶剤を混
合することが開示ざれている。
また、特開昭62−123444号、同63一220 
1 39号では、例えば2−メトキシ酢酸メチル、2−
エトキシ酢酸メチル、2−ヒドロキシブロピオン酸メチ
ル、2−ヒドロキシブロビオン酸エチル、3−エトキシ
ブロビオン酸エチル、3ーメトキシブロビオン酸メチル
、2−ヒドロキシブロピオン酸プロビル、2−メトキシ
ブロビオン酸エチル、2−エトキシブロピオン酸プロビ
ル、2−エトキシブロビオン酸メチル、2−エトキシブ
ロビオン酸エチル等の様なモノオキシモノカルだン酸エ
ステル類を含有する溶剤を用いることで安定性が改良さ
れることが、特開昭5 9 − 1 ’5 5838号
には特にシクロベンタノンが有効であることが、開示さ
れている。
更に、特開昭60−12 1445号、同62一284
354号、同62−178562号、同63−2424
4号、同63−113451号には保存安定性の改良さ
れた1,2−キノンジアジド化合物が開示されている。
「発明が解決しようとする問題点」 このように、これらの塗布性能並びに溶液.の保存安定
性は、感光剤及びパインダーボリマー等の構成成分にか
かる属性であると同時に、その溶媒によって大きく左右
される特性であることが知られている。しかるに、この
塗布性能と溶液の保存安定性の二つの問題点を同時に改
良しろる溶媒は殆ど知られていないのが実状である。
本発明の第一の目的は、塗れ残り、ストリエーション等
の故障の無い、塗布性能に優れたポジ型?ォトレジスト
用組戊物を提供することにある。
本発明の別の目的は、溶液の保存安憲性が優れ、保存中
(こ感光剤の微粒子の析出が起きないようなポジ型フォ
トレジスト用紐成物を提供することにある。
「問題点を解決するための手段」 本発明者等は、前記堵特性に留意し、鋭意検討した結果
、アセタール構造を分子中に有する溶剤を用いたフォト
レジスト用組成物が特異的に■布性能と感光剤微拉子の
析出に関する保存安定仁の点で優れていることを見いだ
し、本発明を完成させるに至った。
即ち、本発明の目的は、 (a)アルカリ可溶性樹脂、
 (b)1.2−ナフトキノンジアジド−4(又は/及
び−5)−スルホン酸エステル、及び(c)一般式(I
)で表される溶剤、を含んで成ることを特徴とするポジ
型フォトレジスト絹成物一般式(I) R1: 炭素数1〜4のアルキレン基 R2:水酸基、メトキシカルボニル基もしくはアセチル
基 により、達成された。なお、アルキレン基とは、2価の
脂肪族連結基を竜昧する。
以下に、本発明を詳細に説明する。
一般弐〇)で表される溶剤としては、例えば3 3−ジ
メトキシブロビオン酸メチル、2−メチル−3.3−ジ
メ}・キシブロビオン酸メチル、3,3−シメトキシー
1−プロバノール、44ージメトキシ−2−ブタノール
、2−メチル−3,3−ジメトキシ−1−プロバノール
、1,1−ジメトキシ−3−ブタノン、1.1−ジメト
キシー4−ベンタノン等が挙げられる。これらの中で特
に好ましいのは、3,3−ジメトキシブロビオン酸メチ
ルである。
これらの溶媒の沸点は130〜170℃の範囲にあるの
が好ましい。フオ1・レジストの塗布溶剤には、火災及
び爆発に幻ずる安全性が要求されるので、引火点のでき
るだけ高い溶剤が望まれる。
ところが、引火点の高い溶剤ほと、フォトレジストの塗
布工程の後に行われるヘーキング工程で完全に蒸発させ
るためには、高温かつ長時間を要する。ポジ型フオ1・
レジストで用いている1,2ーナフ1・キノンジアジト
系感光物は、比較的分解温度が低い(I20’C)ため
、ヘーキング温度を110℃より高く上げることができ
ない。従って、実用上、あまり高沸点の溶剤を使用する
ことには制限がある。
もしヘーキングが不足し、残留溶剤の多いレジストをそ
のまま用いると、レジスト特性、特に残膜率、密着性が
低下するので好ましくない。
また、これとは逆に、高揮発性溶剤の使用には、塗布上
の厳しい問題がある。即ち、ウエハー上にスピンコーテ
ィングする方法において沸点の低い溶剤を用いるとレジ
ストの広がり時間に比較して乾燥時間が短くなり、ウエ
ハー全体を均一に塗布することが困難になる。
本発明においては前記一般式(I)で表される溶剤を主
;こ用いることが好ましいが、他の溶剤を溶剤全量の7
0重潰%未溝、好ましくは50重量%未溝、更に好まし
くは30重量%未溝の範囲て濃合することができる。
混合できる他の溶剤の具体例としては、エチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エ
チレングリコールイソブロビルエーテル、エチレングリ
コールモノーn−プチルエーテル、ジエチレングリコー
ルモノメチル工一テル、ジエチレングリコールモノエチ
ルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、
プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレン
グリコールモノーn−プチルエーテル、ジプロピレング
リコールモノメチルエーテル、ペンジルエチルエーテル
、ジヘ土シルエーテル等のエーテル類、メチルセロソル
ブアセテート、エチルセロソルブアセテート、酢酸エチ
ル、酢酸ブチル、酢酸アミル、酢酸ヘキシル、ブロビオ
ン酸ブチル、ブロビオン酸アミル、酪酸ブロピル、酪酸
ブチル、安息香酸エチル、蓚酸ジエチル、マレイン酸ジ
工チル、炭酸エチレン、炭酸ブロビレン、γ−ブテロラ
ク1・ン、γ−ハレロラクトン箋のエステル類、メチル
エチルケトン、ジーiso−プチルケトン、メチル−i
qo−プチルケトン、メチルーn−ブナルケトン、ジー
iso−プロビルケトン、メチルーn−アミルケトン、
メチルーiso−アミルケトン、3−メチル−2−ヘキ
サノン、4−メチル−2−ヘキサノン、メチルーn−へ
キシルケトン、メチルーiso−へキシルケトン、4−
メチル−2−ヘブタノン、5−メチル−2−ヘブタノン
、3−ヘブタノン、4−ヘブタノン、2,6ージメチル
−4−ヘブタノン等の脂肪族ケトン類、シクロブタノン
、シクロペンタノン、シクロヘキサノン等の脂環式ケト
ン類、アセチルアセトン、アセトニルアセトン箋のジケ
トン類、l−メトキシ−2−ブタノン、1−エトキシ−
2−ブタノン、1−メトキシ−3−ペンタノン、1−エ
トキシー3−ペンタノン、1−メトキシ−2−ペンタノ
ン、1−エトキシ−2−ベンタノン、a−n−プロボキ
シー2−ブロバノン、4−iso−ブロボキシー2−ブ
ロパノン、4−メトキシー2−ブタノン、4−エトキシ
−2−ブタノン、4−n−プロボキシー2−ブタノン、
4−iso−プロボキシー2ーブタノン、5−メトキシ
−2−ベンタノン、5ーエトキシ−2−ペンタノン、5
−メトキシ−4ーメチル−2−ベンタノン、5−メトキ
シ−4一メチルー・2−ベンタノン、5−メトキシー3
−メチル−2−ペンタノン、5−メトキシ−4−メチル
−2−ベンタノン、4−メトキシ−4−メチルー2−ペ
ンタノン、4−エトキシ−4−メチルー2−ベンタノン
、4−エトキシ−4−メチル−2ーブタノン、4−エト
キシ−3−メチル−2−ブタノン等のケトエーテル類、
4−ヒドロキシ−2ーブタノン、3−ヒトロキシー2−
ブタノン、3一ヒトロキシー2−ペンタノン、5−ヒト
ロキシー2−ベンタノン、3−ヒドロキシ−2−ヘキサ
ノン、4−ヒドロキシ−3−メチル−2−ブタノン、3
−ヒトロキシー3−メチル−2−ブタノン、4−ヒドロ
キシ−4−メチル−2−ベンタノン等のケトール類、ブ
チルアルコール、n−アミルアルコール、 iso−ア
ミルアルコール、ベンジルアルコール、シクロヘキサノ
ール、フルフリルアルコール等のアルコール類、2−メ
トキシ酢酸メチル、2−エトキシ酢酸エチル、2−ヒド
ロキシプロピオン酸メチル、2−ヒドロキシブロピオン
酸エチル、3−エトキシプロビオン酸エチル、3ーメト
キシブロビオン酸メチル、2−ヒド口キシブロピオン酸
プロビル、2−メトキシプロビオン酸エチル、2−エト
キシブロピオン酸プロビル、2−エトキシブロビオン酸
メチル、2−エトキシブロビオシ酸エチル等のモノオキ
シカルボン酸エステル類、1・ルエン、キシレン、エチ
ルヘンゼン、アニソール等の芳香族炭化水素類、ジメチ
ルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチルホル
ムアミド、ジメチルスルホキシド等の高極性溶剤類を挙
げることができる。
本発明に用いるアルカリ可溶性樹脂としては、ノボラツ
ク樹脂、アセトンーピロガロール樹脂やポリヒドロキシ
スチレン及びその誘導体を挙げることができる。
これらの中で、特にノボラツク樹脂が好ましく、所定の
モノマーを主成分として、酸性触媒の存在下、アルデヒ
ド類と付加縮合させることにより得られる。
所定のモノマーとしては、フェノール、m−クレゾール
、p−クレゾール、0−クレゾール等のクレゾール類、
2,5−キシレノール、3,5一キシレノール、3,4
−キシレノール、2,3ーキシレノール等のキシレノー
ル類、m一エチルフェノール、p一エチルフェノール、
〇一エチルフェノール、p−t−プチルフェノール等の
アルキルフェノール類、p−メトキシフェノール、m 
−メトキシフェノール、3,6−ジメトキシフェノール
、2−メトキシ−4−メチルフェノール、mーエトキシ
フェノール、p一エトキシフェノール、m−プロボキシ
フエスール、p−ブロボキシフェノール、m−ブトキシ
フェノール、p−ブトキイフェノール等のアルコキシフ
ェノール類、2−メチル−4−イソブロビルフェノール
等のビスアルキルフェノール類、m−クロロフェノール
、pーク00フェノール、○−クロロフェノール、ジヒ
ドロキシビフエニル、ビスフェノールA1  フエニル
フェノール、レゾルシノール、ナフトール等のヒドロキ
シ芳香族化合物を単独もしくは2種以上混合して使用す
ることができるが、これらに限定されるものではない。
アルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒド、バラ
ホルムアルデヒト′、アセトアルデヒト、プロビルアル
デヒド、ベンズアルデヒド、フエニルアセトアルデヒド
、α−フエニルブロビルアルデヒド、β−フエニルブロ
ピルアルデヒド、0 −ヒドロキシベンズアルデヒド、
In−ヒ1・゜ロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキ
シベンズアルデヒド、0−クロロベンズアルデヒド、m
−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒ
ド、○−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズア
ルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、〇一メチルベ
ンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メ
チルベンズアルデヒド、p一エチルベンズアルデヒド、
p−n−プチルベンズアルテヒト、フルフラール、クロ
ロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール体、例えば
クロロアセトアルデヒド、ジエチルアセタール等を使用
することができるが、これらの中で、ホルムアルデヒド
を使用するのが好ましい。
これらのアルデヒド類は、単独でもしくは2種以上鞘み
合わせて用いられる。
酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸及びシュウ酸
等を使用することができる。
こうして得られたノボラツク樹脂の重量平均分子量は、
2000〜30000の範囲であることが好ましい。2
000未満では未露光部の現像後の膜減りが大きく、3
0000を越えると現像速度が小さくなってしまう。特
に好適なのは6000〜20000の範囲である。
ここで、重量平均分子量はゲルバーミエーションク口マ
トグラフイーのボリスチレン換算値をもって定義ざれる
本発明に用いられる1,2−ナフトキノンジアジド化合
物としては、1.  2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸もしくは1,2−ナフトキノンジアジド−4
−スルホン酸とポリヒドロキシ芳香族化合物とのエステ
ルが用いられる。
該ポリヒドロキシ芳香族化合物としては、1分子中に3
個以上の水酸基を有するものが好ましく、例えば、2,
  3.  4−トリヒドロキシベンゾフエノン、2,
  4.  4’一トリヒドロキシベンゾフェノン、2
,  4.  6−Fリヒドロキシペンゾフエノン、2
,3.4−トリヒドロキシー2′−メチルベンゾフエノ
ン、2,  3,  4.  4’−テトラヒド口キシ
ベンゾフエノン、2,2″4,4′−テトラヒド口キシ
ベンゾフエノン、2,  4,  6.  3’4゛−
ペンタヒド゛ロキシベンゾフェノン、2,3,4.2’
,4’−ペンタヒドロキシベンゾフエノン、2,  3
,  4.  2’,  5’−ベンタヒドロキシベン
ゾフエノン、2,  4,  6.  3’,  4’
,  5’ーへキサヒド口キシベンゾフェノン、2, 
 3,  4.3′,4”,5′−へキサヒド口キシベ
ンゾフェノン等のポリヒドロキシベンゾフェノン類、2
,3,4−トリヒF゛ロキシアセトフェノン、2,3,
4−!・リヒドロキシフエニルベンチルケトン、2,3
,4−トリヒドロキシフエニルヘキシルケトン等のポリ
ヒドロキシフエニルアルキルケトン類、ビス(2I 4
−ジヒドロキシフエニル)メタン、ビス(2,  3.
  4−トリヒドロキシフエニル)メタン、ビス(2,
4−ジヒドロキシフエニル)ブロバンー1、ビス(2.
3.4−}リヒドロキシフエニル)ブロバンー1、ノル
ジヒドログアイアレチン酸等のビス((ポリ)ヒドロキ
シフエニル)アルカン類、3,  4.  5−1リヒ
ドロキシ安息香酸ブロビル、2,  3.  4−1リ
ヒドロキシ安息香酸フエニル、3,4.5−}リヒトロ
キシ安息香酸フエニル等のポリヒドロキシ安息香酸エス
テル類、ビス(2,  3.  4−トリヒドロキシベ
ンゾイル)メタン、ビス(3−アセチルー4,  5.
  6 −トリヒドロキシフエニル)−メタン、ビス(
2,3,4−トリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、ビ
ス(2,  4.  6−トリヒド口キシベンゾイル)
ベンゼン等のビス(ポリヒドロキシベンゾイル)アルカ
ン又はビス(ポリヒドロキシベンゾイル)アリール類、
エチレングリコールージ(3.5−ジヒドロキシベンソ
エート)、エチレングリコールージ(3,  4.  
5−トリヒドロキシベンゾエート)等のアルキレンージ
(ポリヒドロキシペンソ工一ト)類、2,  3.  
4−ビフエニルトリオール、3,  4.  5−ビフ
エニルトリオール、3,  5.  35′−ビフエニ
ルテトロール、2,  4.  2’4゜−ビフエニル
テトロール、2,  4,  6.  3’5′−ビフ
エニルベントール、2,  4,  6.  2“4’
,6’−ビフエニルヘキソール、2,  3,  4.
2’,3’,4’−ビフエニルヘキソール等のポリヒト
ロキシビフエニル類、4,4′−チオビス(I,3−ジ
ヒトロキシ)ヘンゼン等のビス(ボリヒドロキシ)スル
フイF類、2.  2’,  4.  4ーテトラヒド
ロキシジフエニルエーテル等のビス(ポリヒドロキシフ
エニル)エーテル類、2,2’4.4’−テトラヒドロ
キシジフエニルスルフオキシド等のビス(ボリヒドロキ
シフエニル)スルフオキシド類、2.  2’,  4
.  4’−ジフエニルスルフオン等のビス(ポリヒド
ロキシフェニル)スルフオン類、4.4’.3”,4′
′−テトラヒドロキシ−3.  5.  3’ 5’−
テトラメチルトリフエニルメタン、4.4’,2”,3
”,4ーペンタヒドロキシ−3.  5.  3′,5
′−テトラメチルトリフエニルメタン、2,  3, 
 4.  23’,4’一へキサヒドロキシ−5.5’
−ジアセチルトリフエニルメタン、2,  3,  4
.  23’  4’  3” 4”−オクタヒドロキ
シ−5.5’−ジアセチルトリフエニルメタン、2,4
,6.2’  4’,6’一へキサヒドロキシー5,5
′−ジプロビオニルトリフエニルメタン等のポリヒドロ
キシトリフエニルメタン類、3,3,3’,3’−テト
ラメチル−1,1′−スビロビーインダン−5.  6
.  5’  6’一テl・ロール、3,  3.  
3’,  3’−テトラメチル−1.1’−スビロビー
インダン−5.  6,  7.  5’,  6’7
′−へキソオール、3.  3.  3’,  3’−
テトラメチル−1,1′−スビロビーインダン−4,5
,6.4’,5’,6’−へキソオール、3,3.3’
3″−テトラメチル−1,1′−スビロビーインダン−
4.  5,  6.  5’,  6’,  7’一
へキソオール等のポリヒドロキシスビ口ビーインダン類
、3,3−ビス(3,4−ジヒドロキシフエニル)フタ
リド、3,3−ビス(2,  3,  4一}・リヒド
ロキシフエニル)フタリド、3′45’,6’−テトラ
ヒド口キシスピ口[フタリドー3,9′−キサンテン]
等のポリヒドロキシフタリド類、あるいはモリン、ケル
セチン、ルチン等のフラボノ色素類等を用いることがで
きる。
また、ノボラツク樹脂等フェノール樹脂の低核体を用い
ることもできる。
これらのポリヒドロキシ化合物は単独で、もしくは2種
以上の組合せで用いられろ。
前記ポリヒドロキシ化合物と1,2−ナフ1・キノンジ
アジド−5−スルホニルクロリドもしくは1,2−ナフ
トキノンジアジド−4−スルホニルクロリドとのエステ
ル化反応には、通常の方法が用いられる。即ち、所定量
のポリヒドロキシ化合物と1.  2−ナフトキノンジ
アジト−5−スルホニルクロリドもしくは1,2−ナフ
トキノンジアジト−4−スルホニルクロリト及びジオキ
サン、アセ1・ン、メチルチェチルケトン、N−メチル
ビロリトン等の溶剤をフラスコ中に仕込み、塩基性触媒
、例えば水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素
ナトリウム、トリエチルアミン等を滴下して縮合させる
。得られた生成物は、水洗後精製し乾燥する。以上の方
法により1,2−ナフトキノンジアジトの感光物を調製
できる。
エステル化率(平均値として定義ざれる)は、原f4で
あるボリヒドロキシ化合物と、1,2−ナフトキノンジ
アジト−5(及び/又は−4)一スルホニルクロリトと
の湛合比により制御できる。
即ち、添加された1,2−ナフトキノンジアジドー5ぐ
及び/又は−4)一スルホニルクロリドは、実質上総て
エステル化反応を起こすので、所望のエステル化率の湛
金物を得るためには、原料のモル比を調整すれば良い。
必要に応じて、1.  2−ナフトキノンジアジドー5
−スルホン酸エステルと1,2−ナフトキノンジアジド
−4−スルホン酸エステルを併用することもてきる。
また、前記方法における反応温度は、通常−20〜60
゜C、好ましくはO − 4 0 ’Cである。
既述のようにして合成される本発明で使用する感光物は
、レジスト糺成物中で単独で、もしくは2種以上混合し
てアルカリ可溶性樹脂に配合される。
この配合量はアルカリ可溶性樹脂100重量部に対し感
光物5〜100重量部、好ましくは10〜50重量部で
ある。この使用比率が5重量部未満では残膜率が著しく
低下し、また100重量部を越えると感度及び溶剤への
溶解性が低下する。
本発明の組成物には、更に現像液への溶解促進のために
、ポリヒドロキシ化合物を含有させることができる。好
ましいポリヒトロキシ化合物としては、フェノール類、
レゾルシン、フロログルシン、2,  3.  4−ト
リヒドロキシベンゾフエノン、2,  3,  4. 
 4″−テトラヒド口キシベンゾフエノン、2.  2
’,  4.  4’−テトラヒド口キシベンゾフエノ
ン、2,  3,  4.  3’,  4’,  5
’ヘキサヒトロキシヘンゾフエノン、アセトンービロガ
ロール縮合樹脂、フロログルシド等を挙げることができ
る。
ボリヒドロキシ化合物の配合量は、キノンジアジト化合
物100重量部に対し、通常100重量部以下、好まし
くは、5〜50重量部である。
本発明のポジ型フォトレジスト用組成物には、ストリエ
ーション等の塗布性を更に向上させるために、界面活性
剤を配合することができる。
界面活性剤としては、例えばボリオキシエチレンラウリ
ルエーテル、ポリオキシエチレンステアノルエーテル、
ボリオキシエチレンセチルエーテル、ポリオキシエチレ
ンオレイルエーテル等のポリオキシエチレンアルキルエ
ーテル類、ボリオキシエチレンオクチルフェノールエー
テル、ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル等
のポリオキシエチレンアルキルアリルエーテル類、ボリ
オキシエチレン・ボリオキシブロビレンブロックコボリ
マー類、ソルビタンモノラウレート、ソルビタンモノバ
ルミテート、ソルビタンモノステアレー1・、ソルビタ
ンモノオレエート、ソルビタントリオレエート、ソルビ
タントリステアレート等のソルビタン脂肪酸エステル類
、ボリオキシエチレンソルビタンモノラウレート、ポリ
オキシエチレンソルビタンナモノパルミテート、ボリオ
キシエチレンソルビタンモノステアレート、ポリオキシ
エチレンソルビタントリオレエート、ボリオキシエチレ
ンソルビタントリステアレート等のボリオキシエチレン
ソルビタン脂肪酸エステル類等のノニオン系界面活性剤
、エフトツブEF301,EF303,EF352(新
秋田化成@製)、メガファツクF171,F]73(大
日本インキη讃製)、フロラードFC430,FC43
1 (住友スリーエム■製)、アサヒガードAG710
、サーフロンS−382,SCIOI,SC102,S
C103,SC104,SCl05,SCIO6(旭硝
子園製)等のフッ素系界面活性剤、オルガノシロキサン
ボリマーKP341 (信越化学工業圏製)やアクリル
酸系もしくはメタクリル酸系(共)重合ボリフローNo
.  75,  No.  95 (共栄社油脂化学工
業住勾製)等を挙げることができる。これらの界面活性
剤の配合量は、本発明の絹成物中のアルカリ可溶性樹脂
及びキノンジアジド化合物100重量部当り、通常、2
重量部以下、好ましくは1重量部以下である。
これらの界面活性剤は単独で添加してもよいし、また、
いくつかの鞘合せて添加することもてきる。
本発明のポジ型フォトレジスト用組成物の現像液として
は、水酸化ナトリウム、水故化カリウム、炭酸ナトリウ
ム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモ
ニア水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロビ
ルアミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジーn−
プチルアミン等の第ニアミン類、1・リエチルアミン、
メチルジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタ
ノールアミン、トリエタノールアミン等のアルコールア
ミン類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テト
ラエチルアウンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモ
ニウム塩、ピロール、ピペリジン等の環状アミン類、等
のアルカリ類の水溶液を使用することができろ。更に、
上記アルカリ類の水溶濠にアルコール類、界面活性剤を
適当量添加して使用することもてきる。
本発明のポジ型フオトレジス1・用矧成物には、必要に
応じ、染料、可塑剤、接着助剤を配合することができる
その具体例を挙げると、メチルバイオレット、クリスタ
ルバイオレット、マラカイトグリーン等の染料、ステア
リン酸、アセタール樹脂、フェノキシ樹脂、アルキツド
樹脂等の可塑剤、ヘキサメチルジシラザン、クロロメチ
ルシラン等の接着助剤がある。
上記ポジ型フォトレジスト用絽成物を精密集積回路素子
の製造に使用されるような基板(例:シリコン/二酸化
シリコン被覆)上にスピナー コーター等の適当な塗布
方法により塗布後、所定のマスクを通して露光し、現像
することにより良好なレジストを得ることができる。
「発明の効果」 本発明によれば、アルカリ可溶性樹脂及び1,2−ナフ
トキノンジアジド化合物を特定の溶剤に溶解させること
により、以下の効果を有する。
(I)塗布性が良好であり、スピンコーティング{こよ
る塗布膜の形成においてストリエーションの発生が殆ど
無く、きわめて平滑な表面を有するレジスト膜が形成さ
れる。
(2)レジスト組成物の基板に対する濡れ性が良好であ
り、塗れ残りを生じることなく均一で完全なレジスト膜
を形成することができる。
(3)経時安定性に優れ、長期間保存しても微粒子の析
出・沈澱が無いため、レジスト性能に影響を及ぼさない
「実施例」 以下に、本発明を実施例をもって説明するが、本発明は
これらに限定されるものではない。また、特に指定の無
い限り、%は重量%を示す。
実施例1 m−クレゾール、p−クレゾールを蓚酸を触媒としてホ
ルムアルデヒドで縮合して得られたノボラツク樹脂(m
−クレゾール/p−クレゾール=40/60モル比.M
w=7200)1 00重量部と2.  3,  4.
  4″−テトラヒF口キシベンゾフエノンの1,2−
ナフトキノンジアジド−5ースルホン酸エステル(平均
エステル化率75%)26重量部、フッ素系界面活性剤
rFc−430J(フロロケミ力ルー住友スリーエム製
)0.05重量部を3,3−ジメトキシブロビオン酸メ
チル(沸点166゜C)320重量部に溶解し、0.2
0μmのミクロフィルターを用いて濾過しフエトレジス
ト組成物を調整した。
このフォトレジスト組成物をスビナーを用いてシリコン
ウエハー上に塗布し、窒素雰囲気下の対流オーブンで9
0℃、30分間乾燥して膜厚1,2071mのレジスト
膜を得た。このレジスト膜表面を光学顕微鏡によって観
察し、塗れ残り及びストリエーションの発生を調べたが
、いずれも認められなかった。また、レジスト膜の表面
粗さをアルファステップ−1 00 (TENCOR製
)で測定したところ、30A(オングストローム)と小
さかった。
また、調製したフォトレジスト?IJA成物を4 0 
’Cの恒温に保ち、析出物の発生の経時試験(保存安定
性)を行った。経時試験における析出物の確認は、4イ
ンチシリコンウエハー上に、スピナーで塗布し、ウエハ
ー上の析出物を光学顕微鏡で観察することによって調べ
た。この液を用いた場合には、2400時間経過しても
析出物は確認できず、全く安定な絹成物であることが認
められた。
実施例2〜18 実施例1の3,3−ジメトキシブロビオン酸メチルの代
わりに、表1に示す溶剤を全溶剤量の20%混合した溶
液を調製し、実施例1と同様にして評価した。塗布性を
調べたところ、塗れ残り及びストリエーションの発生は
認められなかった。
また、レジスト膜の表面粗さは30Aと小さかった。経
時試験を行ったところ、1800時間まで析出物は確認
されなかった。
実施例19〜32 実施例1で用いたノボラツク樹脂100重量部と表−2
に示す、1,2−ナフトキノンジアジド表−1 シブロビオン酸メチルである。
系感光物26重量部を、3,3−ジメトキシブロビオン
酸メチル320重量部に溶解し、0.20μmのミクロ
フィルターを用いて濾過し、フォトレジスト用組成物を
調製し、実施例1と同様にして評価した。塗布性を調べ
たところ、実施例19〜32のいずれも、塗れ残りやス
トリエーションの発生は認められなかった。また、レジ
スト膜の表面粗さは50Aと小さかった。経時試験を行
ったところ、2400時間経過しても、いずれも、析出
物は確認されなかった。
比較例1 実施例1で用いたノボラツク樹脂100重量部と、2,
3.4−}リヒドロキシベンゾフエノンのナフトキノン
ジアジド−5−スルホン酸エステル(平均エステル化率
67%)26重量部をエチレングリコールモノエチルエ
ーテルアセテート320重量部に溶解し、0.20μm
のミクロフィルターを用いて濾過し、フォトレジスト用
組成物を調製し、実施例1と同様にして評価した。
塗れ残りは無かったがストリエーションの発生が認めら
れ、表面粗さは300Aと大きかった。
経時試験を行ったところ、600時間で析出物が確認さ
れた。
比較例2 比較例1で用いたエチレングリコールモノエチルエーテ
ルアセテートの代わりに、乳酸エチルを用いた池は、比
較例1と同様にしてフォトレジスト用組成物を調製し、
評価した。
塗れ残りは無かったが、ストリエーシ1ヨンの発生が大
きく、表面粗さは、850Aと太きかつた。
経時試験を行っkところ、900時間で析出物が確認さ
れた。
比較例3 比較例1で用いたエチレングリコールモノエチルエーテ
ルアセテートの代わりに、ジエチレングリコールジメチ
ルエーテルを用いた他は、比較例1と同様にしてフォト
レジスト用組成物を調製し、評価した。ストリエーショ
ンは無かったが塗れ残りが発生した。表面粗さは80A
であった。
経時試験を行ったところ、900時間で析出物が確認さ
れた。
比較例4〜14 実施例1の3,3−ジメトキシブロビオン酸メチルの代
わりに表−3に示す溶剤を用いて実施例1と同様にして
フォトレジスト用鞘成物を調製、評価した。
塗布性を調べたところ、比較例5,13て塗れ残りが発
生したが、その他は塗れ残り、ストリエーションは認め
られなかった。表面粗さは比較例6,  7,  9.
  10が120Aであり、その他は80Aであった。
経時試験を行った結果を表−3に示す。いずれも900
時間以内で析出物が確認された。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (a)アルカリ可溶性樹脂、(b)1、2−ナフトキノ
    ンジアジド−4(又は/及び−5)−スルホン酸エステ
    ル、及び(c)一般式( I )で表される溶剤、を含ん
    で成ることを特徴とするポジ型フォトレジスト用組成物
    。 一般式( I ) ▲数式、化学式、表等があります▼ R_1:炭素数1〜4のアルキレン基 R_2:水酸基、メトキシカルボニル基もしくはアセチ
    ル基
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