JPH0344348B2 - - Google Patents

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JPH0344348B2
JPH0344348B2 JP59044310A JP4431084A JPH0344348B2 JP H0344348 B2 JPH0344348 B2 JP H0344348B2 JP 59044310 A JP59044310 A JP 59044310A JP 4431084 A JP4431084 A JP 4431084A JP H0344348 B2 JPH0344348 B2 JP H0344348B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
leads
pattern
lead
degree
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59044310A
Other languages
English (en)
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JPS60189079A (ja
Inventor
Hiroyuki Inoe
Kazumasa Okumura
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59044310A priority Critical patent/JPS60189079A/ja
Publication of JPS60189079A publication Critical patent/JPS60189079A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、基板への多リード電子部品(フラツ
トパツクIC等)実装での位置認識装置に利用さ
れ、リードピツチが小さく単純な同一形状のリー
ドを複数個持つような電子部品の位置認識装置に
関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、基板の高密度化にともないフラツトパツ
クICのように単純な同一形状のリードを複数個
持ち、なおかつリードピツチが小さい電子部品が
出現してきたが、自動機で基板上に実装するには
位置認識の点で問題があり、そのため種々のパタ
ーン認識の技術が開発されている。
以下に図を参照しながら、従来のパターンマツ
チングによる位置認識装置と、その問題点につい
て説明を行なう。
第1図は従来の単純な同一形状のパターンが複
数個存在するのみの、多リード電子部品の位置認
識方法における構成を示した図である。
第1図において、まず位置認識対象物は撮像装
置1により映象信号に変換される。次に映象信号
は2値化回路2で前処理として2値化信号に変換
され、パターンマツチング回路3で信号パターン
と標準パターンとを比較し画面上の各点における
一致の度合いを検出する。
検出された一致度は、一時記憶回路4に記憶さ
れ、次の8近傍切出し回路5で画面上の1つの点
に対してその周囲8近傍の点の一致度が切出され
る。8近傍における一致度とある点の一致度は比
較回路6a〜6hで比較される。その比較した結
果をもとに極大点判定回路7で極大点の判定を行
ない、極大点での一致度と、あらかじめしきい値
記憶回路8に記憶されているしきい値と比較回路
9で比較され、しきい値より大きな一致度を有す
る極大点の時には、その一致度がゲート回路10
を通じて一致度記憶回路11に記憶される。また
比較回路9の出力はゲート回路12にも伝えら
れ、極大点の座標を座標記憶回路13に記憶す
る。
以上の動作を1フレームの画像内で行なうこと
により、フラツトパツクICのように単純な同一
形状のパターンが複数個存在するのみの対象にお
いて、そのパターンの位置が認識される。
しかしながら、基板の印刷パターンと電子部品
の反射率が異なることや、照明状態の変動などの
ため常にコントラストのよい最適の条件で撮像す
ることは難しく、撮像条件の変動に対し、2値化
レベルが固定されているので正確にパターン化さ
れない場合が生じてしまう。その場合では特に、
標準パターンに選ぶリードの先端の部分が正確に
パターン化されず切れてしまうことが多く、その
ため誤認識をしてしまうことがあつた。
発明の目的 本発明は上記欠点に鑑み、撮像条件の変動に対
しても安定な位置認識を行なうことのできる電子
部品の位置認識装置を提供するものである。
発明の構成 本発明の電子部品の位置認識装置は、複数個の
リードが撮像されている画像より、各リードの先
端部の位置およびリード本数を検出し、記憶する
手段と、各リードの先端部以外の場所で上記リー
ド本数を検出し、記憶する手段と、上記二手段で
記憶したリード本数を比較する手段と、比較した
結果リード本数が等しい場合は各リード先端部の
位置を出力し、リード本数が異なる場合は映象信
号を二値化する二値化レベルを設定し直し、上記
の検出、記憶を再度行なう手段とから構成されて
おり、撮像条件の変動に対しても安定な位置認識
を行なえるという特有の効果を有する。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
第2図は本発明の一実施例における多リード電
子部品の位置認識装置の構成を示すものである。
第2図において、14は撮像装置、15は撮像装
置14からの映象信号を2値化する2値化回路、
16は全画面から所望の部分だけを取り出すため
のマスク設定回路、17はあらかじめ登録されて
いるパターンAを一致度検出ができる形で記憶さ
れる標準パターンA記憶回路、18はパターンマ
ツチングを行うための標準パターンを切換えるパ
ターン切換回路、19はパターンマツチングによ
り一致度を検出しなおかつその時の座標も出力す
るパターンマツチング回路、20は第1図で示し
た極大点検出回路である。また21は、一致度の
しきい値を記憶するしきい値記憶回路、22はし
きい値記憶回路に記憶されているしきい値と極大
点での一致度を比較する比較回路、23は極大点
での一致度を比較回路23の結果により後回路へ
伝えるゲート回路、24はパターン切換回路19
に連動してパターンA側とパターンB側の切換え
を行なう切換回路、25は極大点の一致度を記憶
する一致度記憶回路、26はパターン切換回路1
8と連動し、パターンAの時は接続されパターン
Bの時は切れる切換回路、27は極大点の座標を
28の座標記憶回路へ伝えるゲート回路、29は
パターンAでの極大点を計測しておくカウンタ
ー、30は標準パターンBを記憶しておく記憶回
路、31はパターンBでの極大点数を計測してお
くカウンター、32はパターンAでの極大点数カ
ウンター29とパターンBでの極大点数カウンタ
ー31との結果を比較する比較回路、33は比較
回路32の結果により、座標出力、一致出力を制
御する出力制御回路、34は比較回路32の結果
により映象信号を2値化するレベルを補正する2
値化レベル補正回路である。
以上のように構成された多リード電子部品の位
置認識方法について、以下にその動作を説明す
る。
今、第3図aの40の部分を撮像し、そのリー
ドの先端部の位置、すなわち第3図bの41〜4
3の位置を安定に認識するものとする。
まず撮像装置14により対象物が映象信号に変
換され、あらかじめ2値化レベルが設定された2
値化回路15で2値化信号に変換される。最初は
マスクを設定する必要はないのでマスク設定回路
16は信号はそのまま通過する。次に第3図cで
表わされる標準パターンAが記憶されている記憶
回路17からパターン切換回路18を通じて標準
パターンAが、パターンマツチング回路19に読
み込まれる。そして撮像画面に対し上記の標準パ
ターンAとのパターンマツチングが行なわれ、各
点の一致度とその座標を出力する。従来例で説明
した極大点検出回路20では各点での一致度が入
力されその8近傍での極大点を検出し、そこでの
一致度が出力される。出力された一致度は、あら
かじめしきい値記憶回路21に記憶されているし
きい値と比較回路22で比較され、しきい値より
大きな一致度を有する極大点の時にはゲート回路
23、切換回路24を通じて一致度記憶回路25
に記憶される。また比較回路22の出力は切換回
路26を通つてゲート回路27にも伝えられ、極
大点の座標を座標記憶回路28に記憶される。こ
の動作を1フレームの画像内で行なうと、第3図
bでのパターン先端部の一致度とその座標が記憶
される。そしてそれと同時に標準パターンAを用
いたときの極大点数、すなわちパターン先端部の
個数をカウンター29で計測しておく。
次に第3図dで示されるマスクを第3図bの画
像にかけ、第3図eの44で示される部分を取り
出す。そして標準パターンBとして第3図fを記
憶させた記憶回路30側にパターン切換回路18
を切換え、標準パターンAを用いた場合と同様に
パターンマツチング、極大点検出を行ない、パタ
ーンBでの極大点数すなわちパターン根本部の個
数をカウンター31に計測させる。
カウンター29および31での結果を比較回路
32で比較し、その個数が等しければ対象物が正
しく撮像されているとして出力制御回路33を通
して座標、一致度が出力される。
また逆にカウンター29および30の結果が異
なつている場合は、第3図aの40の部分が正し
く撮像されていないことを示すので、一致度記憶
回路25、座標記憶回路28の内容をクリアーし
た上で、映象信号を2値するレベルを2値化レベ
ル補正回路34で補正し、以上の位置認識動作を
最初から行ない、比較回路32の結果が等しくな
るまで繰り返す。
以上のように本実施例によれば、二つの標準パ
ターンに対するパターンマツチングおよび極大点
検出回路を1つのハードウエアで構成することに
より、安価に位置認識装置を構成することができ
る。
発明の効果 以上のように本発明は、複数個のリードが撮像
されている画像より各リードの先端部の位置およ
びリード本数を検出し、記憶する手段と、各リー
ドの先端部以外の場所で上記リード本数を検出し
記憶する手段と、上記二手段で記憶したリード本
数を比較する手段と、比較した結果リード本数が
等しい場合は各リード先端部の位置を出力し、リ
ード本数が異なる場合は映象信号を二値化する二
値化レベルを設定し直し、上記の検出、記憶を再
度行なう手段とを設けることにより、撮像条件の
変動に対しても安定に多リード電子部品の位置認
識を行なうことができ、その実用的効果は大なる
ものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の多リード電子部品の位置認識装
置の構成図、第2図は本発明の一実施例における
多リード電子部品の位置認識装置の構成図、第3
図a,bは単純な同一形状パターンが複数個存在
する対象物の具体例を示す図、第3図cは第3図
bで設定した標準パターンを示す図、第3図dは
マスクの具体例を示した図、第3図eは第3図b
に第3図dのマスクをかけ所望の部分を取り出し
た図、第3図fは第3図eに対して設定した標準
パターンを示す図である。 14……撮像装置、15……2値化回路、19
……リード先端部の位置を検出するパターンマツ
チング回路、28……検出した座標を記憶する回
路、29……リード先端部でのリード本数をカウ
ントし記憶する回路、31……リード先端部以外
で同様にリード本数をカウントし、記憶する回
路、32……上記29,31で記憶したリード本
数を比較する回路、33……リード先端部の位置
の出力を制御する回路、34……2値化レベルを
設定し直す回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 撮像装置により対象物を撮像し、その映象信
    号を2値化する手段と、複数個の同一形状リード
    が撮像されている画像より各リードの先端部の位
    置(座標)およびリード本数を検出し、記憶する
    手段と、各リードの先端部以外の場所で、上記リ
    ード本数を検出し記憶する手段と、上記二手段で
    記憶したリード本数を比較する手段と、比較した
    結果リード本数が等しい場合は各リード先端部の
    位置(座標)を出力し、リード本数が異なる場合
    は映象信号を二値化する二値化レベルを設定し直
    し、上記の検出、記憶を再度行なう手段とを備え
    た電子部品の位置認識装置。
JP59044310A 1984-03-08 1984-03-08 電子部品の位置認識装置 Granted JPS60189079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59044310A JPS60189079A (ja) 1984-03-08 1984-03-08 電子部品の位置認識装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59044310A JPS60189079A (ja) 1984-03-08 1984-03-08 電子部品の位置認識装置

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Publication Number Publication Date
JPS60189079A JPS60189079A (ja) 1985-09-26
JPH0344348B2 true JPH0344348B2 (ja) 1991-07-05

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ID=12687915

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JP59044310A Granted JPS60189079A (ja) 1984-03-08 1984-03-08 電子部品の位置認識装置

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JPH01111281A (ja) * 1987-10-23 1989-04-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品認識方法

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JPS60189079A (ja) 1985-09-26

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