JPH0574870B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0574870B2 JPH0574870B2 JP60250220A JP25022085A JPH0574870B2 JP H0574870 B2 JPH0574870 B2 JP H0574870B2 JP 60250220 A JP60250220 A JP 60250220A JP 25022085 A JP25022085 A JP 25022085A JP H0574870 B2 JPH0574870 B2 JP H0574870B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- area
- circuit
- verification
- noise removal
- coordinate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 39
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 31
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Character Input (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光電変換スキヤナにより入力される多
数の図形の位置を画像処理手法を用いて検出する
装置に関し、例えば生産ライン上の部品の位置検
出を行なう装置に関する。
数の図形の位置を画像処理手法を用いて検出する
装置に関し、例えば生産ライン上の部品の位置検
出を行なう装置に関する。
従来、光電変換スキヤナにより入力される多数
の図形の位置を画像処理手法を用いて検出する装
置は、例えば第６図のようなブロツク構成のもの
がある。第６図において、光電変換スキヤナ１か
ら得られる検出対象の時系列画像信号を２値化回
路２へ入力し、２値化回路２ではあらかじめ設定
された固定的な２値化の閾値で画像信号を２値化
し、座標検出部２４では２値化回路２より得る２
値画像中の微小な図形の除去、検出処理対象領域
の設定などにより、不要な図形を画像上から除去
した後に座標検出を行なつていた。前記不要な図
形とは２値化画像において所望の図形以外の図形
のことであり、例えば第７図で示される部品２９
のよごれ２８が２値化されて、第８図の不要な図
形２３として現われる場合である。
の図形の位置を画像処理手法を用いて検出する装
置は、例えば第６図のようなブロツク構成のもの
がある。第６図において、光電変換スキヤナ１か
ら得られる検出対象の時系列画像信号を２値化回
路２へ入力し、２値化回路２ではあらかじめ設定
された固定的な２値化の閾値で画像信号を２値化
し、座標検出部２４では２値化回路２より得る２
値画像中の微小な図形の除去、検出処理対象領域
の設定などにより、不要な図形を画像上から除去
した後に座標検出を行なつていた。前記不要な図
形とは２値化画像において所望の図形以外の図形
のことであり、例えば第７図で示される部品２９
のよごれ２８が２値化されて、第８図の不要な図
形２３として現われる場合である。
しかしながら、上述した手法のみでは照明装置
の照度の経年変化、調整による明るさの変化によ
り得られる画像の品質が異なり、２値化された画
像上では、図形の大きさや個数、不要な図形に変
化が伴なう為、不要な図形の位置を誤検出してし
まう欠点があつた。
の照度の経年変化、調整による明るさの変化によ
り得られる画像の品質が異なり、２値化された画
像上では、図形の大きさや個数、不要な図形に変
化が伴なう為、不要な図形の位置を誤検出してし
まう欠点があつた。
本発明は、上述のような原因による位置の誤検
出を判定して閾値を修正し、所望の図形あるいは
図形群の座標を高精度に検出する位置検出装置を
提供するものである。
出を判定して閾値を修正し、所望の図形あるいは
図形群の座標を高精度に検出する位置検出装置を
提供するものである。
誤り判定部は、前記２値画像から得られた図形
のうち、あらかじめ定められた大きさ以上のもの
を除いた図形の中心座標値と検出座標個数の検出
を行う大ノイズ除去及び座標検出回路と、この大
ノイズ除去及び座標検出回路より得る検出と座標
個数とあらかじめ設定した図形の個数とを比較し
て誤検出の有無を検証し、その結果を前記閾値決
定部にフイードバツクする個数検証部と、検出さ
れた複数の図形の相互距離があらかじめ設定され
た図形の相互距離の許容範囲内におさまらない場
合、その情報を前記閾値決定部にフイードバツク
する相互距離検証部と、前記２値画像から得られ
た図形の面積をカウントする面積カウント回路
と、この面積カウント回路から出力される面積と
あらかじめ設定した所望の図形の面積とを比較し
て誤検出の有無を検証し、その結果を前記閾値決
定部にフイードバツクする面積検証部とを具備し
ている。
のうち、あらかじめ定められた大きさ以上のもの
を除いた図形の中心座標値と検出座標個数の検出
を行う大ノイズ除去及び座標検出回路と、この大
ノイズ除去及び座標検出回路より得る検出と座標
個数とあらかじめ設定した図形の個数とを比較し
て誤検出の有無を検証し、その結果を前記閾値決
定部にフイードバツクする個数検証部と、検出さ
れた複数の図形の相互距離があらかじめ設定され
た図形の相互距離の許容範囲内におさまらない場
合、その情報を前記閾値決定部にフイードバツク
する相互距離検証部と、前記２値画像から得られ
た図形の面積をカウントする面積カウント回路
と、この面積カウント回路から出力される面積と
あらかじめ設定した所望の図形の面積とを比較し
て誤検出の有無を検証し、その結果を前記閾値決
定部にフイードバツクする面積検証部とを具備し
ている。
次に本発明について図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明の位置検出装置のブロツク構成
図である。
図である。
光電スキヤナ１により得られる検出対象の時系
列画像信号を２値化回路２へ入力する。２値化回
路２では閾値決定部４より設定される閾値に従い
画像信号を２値化し、誤り判定部３へ入力する。
誤り判定部３では、２値化回路から入力された２
値画像から座標検出し、あらかじめ設定された条
件を用いて検出座標の検証を行い、条件を満足し
ない場合は閾値決定部４にエラー信号を出力す
る。閾値決定部４では誤り判定部３から出力され
るエラー信号に同期して後述の方法で新しい閾値
を決定し２値化回路２へ設定する。
列画像信号を２値化回路２へ入力する。２値化回
路２では閾値決定部４より設定される閾値に従い
画像信号を２値化し、誤り判定部３へ入力する。
誤り判定部３では、２値化回路から入力された２
値画像から座標検出し、あらかじめ設定された条
件を用いて検出座標の検証を行い、条件を満足し
ない場合は閾値決定部４にエラー信号を出力す
る。閾値決定部４では誤り判定部３から出力され
るエラー信号に同期して後述の方法で新しい閾値
を決定し２値化回路２へ設定する。
２値化回路２から得られる２値画像は、例えば
第４図、第５図の如くなる。第４図は検出対象の
他にノイズ図形が含まれており、高精度の位置検
出を行なうためには第５図のようなノイズのない
２値画像を得ることが望ましい。このような２値
画像を得る為の閾値の決定法を第３図を用いて説
明する。第３図は第１図の閾値決定部４のブロツ
ク図であり、初期閾値設定部１３に設定する閾値
TH（０）を初期閾値としてバツフア１４に格納
し、 第１図の２値化回路２に出力され検出対象の画
像信号は２値化される。かかるときに後述する原
因、例えば第４図のような２値化が行なわれたこ
とによりエラー信号が入力端子２０に入力された
場合カウンタ１５が１だけカウントアツプされ、
その結果とバツフア１４に格納された初期閾値と
を用いて加減算回路１６にて演算を行ない切換回
路１７によりエラー信号が消える閾値TH（０）＋
αまでTH（０）＋１，TH（０）−１，TH（０）＋
２，TH（０）−２，……の如く変化させる。エラ
ー信号が再度入力された場合はTH（０）＋αから
閾値を同様に変化させ、エラー信号が消える閾値
TH(1)を決定する。
第４図、第５図の如くなる。第４図は検出対象の
他にノイズ図形が含まれており、高精度の位置検
出を行なうためには第５図のようなノイズのない
２値画像を得ることが望ましい。このような２値
画像を得る為の閾値の決定法を第３図を用いて説
明する。第３図は第１図の閾値決定部４のブロツ
ク図であり、初期閾値設定部１３に設定する閾値
TH（０）を初期閾値としてバツフア１４に格納
し、 第１図の２値化回路２に出力され検出対象の画
像信号は２値化される。かかるときに後述する原
因、例えば第４図のような２値化が行なわれたこ
とによりエラー信号が入力端子２０に入力された
場合カウンタ１５が１だけカウントアツプされ、
その結果とバツフア１４に格納された初期閾値と
を用いて加減算回路１６にて演算を行ない切換回
路１７によりエラー信号が消える閾値TH（０）＋
αまでTH（０）＋１，TH（０）−１，TH（０）＋
２，TH（０）−２，……の如く変化させる。エラ
ー信号が再度入力された場合はTH（０）＋αから
閾値を同様に変化させ、エラー信号が消える閾値
TH(1)を決定する。
以降、エラー発生ａ回目まで同様に閾値を決定
する。エラー発生ａ＋１回目以降は、エラー発生
以前ａ回の閾値の平均値を平均値算出回路１７に
て算出し、新しい閾値TH(n)（ｎ＝ａ，ａ＋１，
ａ＋２，……）として決定し、第１図の２値化回
路２に設定する。以上は制御部１９の制御の下で
行なわれその結果第５図のようなノイズのない２
値化が行なえる。第２図は第１図誤り判定部３の
ブロツク構成図の一例である。第２図において小
ノイズ除去回路５では、第１図２値化回路２より
得る２値画像中の微小な図形を一般に公知な方法
で除去する。又、円形マスク走査回路６では、小
ノイズ除去回路５から得る２値画像からあらかじ
め定められた円形マスクと一致する領域を検出し
前記領域の中心位置を一般に公知な方法で検出す
る。
する。エラー発生ａ＋１回目以降は、エラー発生
以前ａ回の閾値の平均値を平均値算出回路１７に
て算出し、新しい閾値TH(n)（ｎ＝ａ，ａ＋１，
ａ＋２，……）として決定し、第１図の２値化回
路２に設定する。以上は制御部１９の制御の下で
行なわれその結果第５図のようなノイズのない２
値化が行なえる。第２図は第１図誤り判定部３の
ブロツク構成図の一例である。第２図において小
ノイズ除去回路５では、第１図２値化回路２より
得る２値画像中の微小な図形を一般に公知な方法
で除去する。又、円形マスク走査回路６では、小
ノイズ除去回路５から得る２値画像からあらかじ
め定められた円形マスクと一致する領域を検出し
前記領域の中心位置を一般に公知な方法で検出す
る。
大ノイズ除去及び座標検出回路７では、円形マ
スク走査回路６から検出された図形からあらかじ
め定められた大きさ以上の図形を除去し、円形マ
スク走査回路６にて得られた図形の中心座標値と
検出座標個数の検出を一般に公知な方法で行な
う。
スク走査回路６から検出された図形からあらかじ
め定められた大きさ以上の図形を除去し、円形マ
スク走査回路６にて得られた図形の中心座標値と
検出座標個数の検出を一般に公知な方法で行な
う。
個数検証部８、相互距離検証部９、面積検証部
１０は大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る
多数の座標値個数及び面積カウント回路１１から
得る所望の図形の面積の情報を用いて前述の方法
で第１回閾値決定部４が決定した閾値の良否を判
定し、閾値が適当でないときは、第１図閾値決定
部４に対しエラー信号を送る。これらの動作を以
下に説明する。
１０は大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る
多数の座標値個数及び面積カウント回路１１から
得る所望の図形の面積の情報を用いて前述の方法
で第１回閾値決定部４が決定した閾値の良否を判
定し、閾値が適当でないときは、第１図閾値決定
部４に対しエラー信号を送る。これらの動作を以
下に説明する。
個数検証部８では、あらかじめ検出する対象の
個数の許容範囲を設定する。設定した許容範囲内
に、大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る座
標個数がおさまらない場合、第１図閾値決定部４
にエラー信号を送る。
個数の許容範囲を設定する。設定した許容範囲内
に、大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る座
標個数がおさまらない場合、第１図閾値決定部４
にエラー信号を送る。
相互距離検証部９では、あらかじめ検出する複
数の対象の相互距離を設定する。設定した相互距
離と大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る座
標間の相互距離が設定した許容範囲内におさまら
ない場合、第１図閾値決定部４にエラー信号を送
る。
数の対象の相互距離を設定する。設定した相互距
離と大ノイズ除去及び座標検出回路７から得る座
標間の相互距離が設定した許容範囲内におさまら
ない場合、第１図閾値決定部４にエラー信号を送
る。
面積検証部１０ではあらかじめ小ノイズ除去回
路５から出力される所望の図形の面積の許容範囲
を設定する。設定した面積の許容範囲内に面積カ
ウント回路１１から得る面積がおさまらない場
合、閾値決定部４にエラー信号を送る。
路５から出力される所望の図形の面積の許容範囲
を設定する。設定した面積の許容範囲内に面積カ
ウント回路１１から得る面積がおさまらない場
合、閾値決定部４にエラー信号を送る。
制御部１２では個数検証部８、相互距離検証部
９、面積検証部１０及び所望の図形又は図形群の
座標値、個数などのデータの外部への出力、外部
からのデータの入力を行なう。
９、面積検証部１０及び所望の図形又は図形群の
座標値、個数などのデータの外部への出力、外部
からのデータの入力を行なう。
もちろん、例えば図形群の位置を代表する１点
の座標値を決定するときは、例えば３個の図形か
らなる図形群の場合、各図形の座標３点を結ぶ三
角形の重心座標を制御部１２において算出して決
定することもできる。
の座標値を決定するときは、例えば３個の図形か
らなる図形群の場合、各図形の座標３点を結ぶ三
角形の重心座標を制御部１２において算出して決
定することもできる。
以上説明した如く、本発明による位置検出装置
によれば、照明装置の照度の経年変化、調整によ
る明るさの変化に起因して生じる為の対象の位置
の誤検出を判定し、その結果を２値化回路へフイ
ードバツクして独特の方法で閾値を修正し偽の対
象を２値画像上から除去することにより安定で精
度の良い位置検出を行なえる。
によれば、照明装置の照度の経年変化、調整によ
る明るさの変化に起因して生じる為の対象の位置
の誤検出を判定し、その結果を２値化回路へフイ
ードバツクして独特の方法で閾値を修正し偽の対
象を２値画像上から除去することにより安定で精
度の良い位置検出を行なえる。
第１図は本発明のブロツク構成図、第２図は座
標検出及び検証部のブロツク構成図、第３図は閾
値決定部のブロツク構成図、第４図はノイズを含
む２値化画像の一例、第５図はノイズを含まない
２値化画像の一例、第６図は従来の位置検出装置
のブロツク構成の一例、第７図は検出対象の一
例、第８図は第７図の部品の２値画像の一例を示
す。 １……光電変換スキヤナ、２……２値化回路、
３……誤り判定部、４……閾値決定部、５……小
ノイズ除去回路、６……円形マスク走査回路、７
……大ノイズ除去及び座標検出回路、８……個数
検証部、９……相互距離検証部、１０……面積検
証部、１１……面積カウント回路、１２，１９…
…制御部、１３……初期閾値設定部、１４……バ
ツフア、１５……カウンタ、１６……加減算回
路、１７……切換回路、１８……平均値算出回
路、２０……入力端子、２１……光電変換スキヤ
ナの走査範囲、２２……所望の図形、２３……不
要な図形、２４……座標検出部、２５……位置検
出装置、２６……ベルトコンベア、２７……検出
対象、２８……よごれ、２９……部品。
標検出及び検証部のブロツク構成図、第３図は閾
値決定部のブロツク構成図、第４図はノイズを含
む２値化画像の一例、第５図はノイズを含まない
２値化画像の一例、第６図は従来の位置検出装置
のブロツク構成の一例、第７図は検出対象の一
例、第８図は第７図の部品の２値画像の一例を示
す。 １……光電変換スキヤナ、２……２値化回路、
３……誤り判定部、４……閾値決定部、５……小
ノイズ除去回路、６……円形マスク走査回路、７
……大ノイズ除去及び座標検出回路、８……個数
検証部、９……相互距離検証部、１０……面積検
証部、１１……面積カウント回路、１２，１９…
…制御部、１３……初期閾値設定部、１４……バ
ツフア、１５……カウンタ、１６……加減算回
路、１７……切換回路、１８……平均値算出回
路、２０……入力端子、２１……光電変換スキヤ
ナの走査範囲、２２……所望の図形、２３……不
要な図形、２４……座標検出部、２５……位置検
出装置、２６……ベルトコンベア、２７……検出
対象、２８……よごれ、２９……部品。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光電変換スキヤナと、この光電変換スキヤナ
で検出された画像を２値化する２値化回路と、こ
の２値化回路から得る２値画像から図形を検出し
あらかじめ設定した条件と比較して２値化の閾値
の良否を判定し、その結果を出力する誤り判定部
と、この誤り判定部から得る結果が否の場合に新
しい２値化の閾値を決定し、前記２値化回路へ設
定する閾値決定部とを有する位置検出装置におい
て、 前記誤り判定部は、 前記２値画像から得られた図形のうち、あらか
じめ定められた大きさ以上のものを除いた図形の
中心座標値と検出座標個数の検出を行う大ノイズ
除去及び座標検出回路と、 この大ノイズ除去及び座標検出回路より得る検
出座標個数とあらかじめ設定した図形の個数とを
比較して誤検出の有無を検証し、その結果を前記
閾値決定部にフイードバツクする個数検証部と、 検出された複数の図形の相互距離があらかじめ
設定された図形の相互距離の許容範囲内におさま
らない場合、その情報を前記閾値決定部にフイー
ドバツクする相互距離検証部と、 前記２値画像から得られた図形の面積をカウン
トする面積カウント回路と、 この面積カウント回路から出力される面積とあ
らかじめ設定した所望の図形の面積とを比較して
誤検出の有無を検証し、その結果を前記閾値決定
部にフイードバツクする面積検証部とを具備し、 前記２値画像を前記個数検証部、相互距離検証
部および面積検証部の３箇所で検証し、これら３
つの検証部よりフイードバツクされた結果を用い
て閾値決定部にて座標検出に最適な２値化の閾値
の決定を行うことを特徴とする位置検出装置。 ２ 前記誤り判定部は前記２値化された画像に含
まれる微少な図形を除去する小ノイズ除去回路
と、 あらかじめ定められた円形マスクと一致する領
域を検出し前記領域の中心位置を検出する円形マ
スク操作回路と、 この円形マスク操作回路から検出された図形の
うち、あらかじめ定められた大きさ以上の図形を
除去し、前記円形マスク走査回路にて得られた図
形の中心座標値と検出座標個数の検出を行う大ノ
イズ除去及び座標検出回路と、 この大ノイズ除去及び座標検出回路より得る検
出座標個数を用いて閾値の良否をする個数検証部
と、 あらかじめ設定する座標間の相互位置関係を用
いて閾値の良否の判定を行う相互距離検証部と、 前記小ノイズ除去回路から得る画像より相互距
離検証部で検証された位置に存在する図形の面積
をカウントする面積カウント回路と、 このカウント回路より得る面積を用いて閾値の
良否の判定をする面積検証部と、 前記大ノイズ除去及び座標検出回路から得る座
標値、個数などのデータを用いて所望の図形又は
図形群の位置の座標値を算出して外部へ出力し、
又外部からの入力を行い前記個数検証部，面積検
証部及び相互距離検証部の制御を行う制御部とを
具備することを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60250220A JPS62109185A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60250220A JPS62109185A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62109185A JPS62109185A (ja) | 1987-05-20 |
| JPH0574870B2 true JPH0574870B2 (ja) | 1993-10-19 |
Family
ID=17204616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60250220A Granted JPS62109185A (ja) | 1985-11-07 | 1985-11-07 | 位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62109185A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2709306B2 (ja) * | 1990-06-14 | 1998-02-04 | セイコープレシジョン株式会社 | 画像監視装置の画像処理方法 |
| JP4779350B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2011-09-28 | 船井電機株式会社 | 液晶モジュール |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51147219A (en) * | 1975-06-13 | 1976-12-17 | Hitachi Ltd | Pattern recognition device |
| JPS59111579A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン位置検出における閾値制御方式 |
-
1985
- 1985-11-07 JP JP60250220A patent/JPS62109185A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51147219A (en) * | 1975-06-13 | 1976-12-17 | Hitachi Ltd | Pattern recognition device |
| JPS59111579A (ja) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Fujitsu Ltd | パタ−ン位置検出における閾値制御方式 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62109185A (ja) | 1987-05-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS62165476A (ja) | ハ−フト−ン画像情報の認識方法およびその装置 | |
| JPH0574870B2 (ja) | ||
| JP3243916B2 (ja) | 円形状パターン計測・位置認識装置 | |
| JPS5620382A (en) | Information input system using facsimile transmitter | |
| GB2044500A (en) | Signal processing counting apparatus | |
| JPS6151242B2 (ja) | ||
| JPH03134548A (ja) | 表面検査装置 | |
| JPS57194304A (en) | Inspecting method for circuit pattern | |
| JPS58129888A (ja) | 円形端面の位置検出装置 | |
| JPH03195922A (ja) | 混雑度検出装置 | |
| JP2590339B2 (ja) | 認識装置 | |
| JP2959017B2 (ja) | 円形画像判別方法 | |
| JPS62154076A (ja) | 画像処理方法 | |
| JPS5971582A (ja) | 画像２値化方式 | |
| JPS6245123Y2 (ja) | ||
| JPS5856429A (ja) | パタ−ン位置検出装置 | |
| JP2511131B2 (ja) | 文字認識装置 | |
| JPS6113776A (ja) | 焦点検出方法 | |
| JPH0731733B2 (ja) | 矩形検出装置 | |
| JPH01200853A (ja) | バースト信号終了検出回路 | |
| JP3105352B2 (ja) | クリーム半田印刷検査装置 | |
| JPH04285803A (ja) | パターン認識方法 | |
| JPH0143351B2 (ja) | ||
| JPH01172788A (ja) | 誘導装置 | |
| JPH05344341A (ja) | 自動二値化装置 |