JP3243916B2 - 円形状パターン計測・位置認識装置 - Google Patents
円形状パターン計測・位置認識装置Info
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- JP3243916B2 JP3243916B2 JP00394894A JP394894A JP3243916B2 JP 3243916 B2 JP3243916 B2 JP 3243916B2 JP 00394894 A JP00394894 A JP 00394894A JP 394894 A JP394894 A JP 394894A JP 3243916 B2 JP3243916 B2 JP 3243916B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電気製品等のメカ部品組
立における部品挿入のための穴位置認識やネジ穴位置認
識、あるいは精密穴加工、円形部品加工等における精密
加工寸法測定等をＴＶカメラを利用した画像処理により
非接触に測定する円形状パターン計測・位置認識装置に
関するものである。
立における部品挿入のための穴位置認識やネジ穴位置認
識、あるいは精密穴加工、円形部品加工等における精密
加工寸法測定等をＴＶカメラを利用した画像処理により
非接触に測定する円形状パターン計測・位置認識装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、基幹メカ部品、製品の組立作業の
自動化、加工部品等の加工制度の測定自動化等が加速さ
れ、またより高精度、信頼性の高い自動化装置の要求が
増大しており、非接触でＴＶカメラ等を用いた画像処理
による円形状パターン計測・位置認識装置が開発されて
いる。
自動化、加工部品等の加工制度の測定自動化等が加速さ
れ、またより高精度、信頼性の高い自動化装置の要求が
増大しており、非接触でＴＶカメラ等を用いた画像処理
による円形状パターン計測・位置認識装置が開発されて
いる。
【０００３】以下図面を参照しながら、上述した従来の
円形状パターン計測・位置認識装置の一例について説明
する。
円形状パターン計測・位置認識装置の一例について説明
する。
【０００４】図４は従来の画像処理による円形状パター
ン計測・位置認識装置の高製図である。位置決めテーブ
ル２１の上に置かれた認識すべき対象物２２を入力する
ために照明装置２３が設置され、可動テレビカメラ支持
部２４にテレビカメラ２５が設置されている。ここで、
テレビカメラ２５はテレビカメラ制御手段２６により制
御されている。
ン計測・位置認識装置の高製図である。位置決めテーブ
ル２１の上に置かれた認識すべき対象物２２を入力する
ために照明装置２３が設置され、可動テレビカメラ支持
部２４にテレビカメラ２５が設置されている。ここで、
テレビカメラ２５はテレビカメラ制御手段２６により制
御されている。
【０００５】テレビカメラ２４により入力された映像信
号は、アナログディジタル変換（以後、Ａ／Ｄ変換とい
う）手段２７に入り、画像の濃度により０〜２５５（２
５６階調）等の画像データに数値化され、ＣＰＵ，ＲＯ
Ｍ，ＲＡＭ等からなる画像処理部に入力される。画像処
理部としては、主コントローラあるいは操作盤より指令
が与えられる判定制御手段（ＣＰＵ）２８と、処理する
エリアを指定する処理エリア設定手段２９と、該処理エ
リア内の円のエッジを検出するエッジ検出手段３０と、
該検出したエッジ点（Ｘ，Ｙ）の平均座標
号は、アナログディジタル変換（以後、Ａ／Ｄ変換とい
う）手段２７に入り、画像の濃度により０〜２５５（２
５６階調）等の画像データに数値化され、ＣＰＵ，ＲＯ
Ｍ，ＲＡＭ等からなる画像処理部に入力される。画像処
理部としては、主コントローラあるいは操作盤より指令
が与えられる判定制御手段（ＣＰＵ）２８と、処理する
エリアを指定する処理エリア設定手段２９と、該処理エ
リア内の円のエッジを検出するエッジ検出手段３０と、
該検出したエッジ点（Ｘ，Ｙ）の平均座標
【０００６】
【外１】
【０００７】，
【０００８】
【外２】
【０００９】を円の中心として検出する円中心検出手段
３１と、該検出した中心エッジ点までの距離の平均を半
径として検出する半径検出手段３２とから構成されてい
る。
３１と、該検出した中心エッジ点までの距離の平均を半
径として検出する半径検出手段３２とから構成されてい
る。
【００１０】以上のように構成された装置において、以
下その動作について説明する。まず、図５のフローチャ
ートに示すように、位置決めテーブル２１の上に置かれ
た認識すべき対象物２２をテレビカメラ２４で撮像しＡ
／Ｄ変換後画像処理装置に入力し（ステップ１）、該入
力された画像に対して処理する範囲内でエッジ検出を行
うラインを設定し（ステップ２）、各ラインの濃度デー
タを２値化し、白から黒、または黒から白に変化する点
をエッジとして検出し（ステップ３）、該検出されたエ
ッジ点（Ｘ，Ｙ）の平均座標（外１），（外２）を円の
中心として検出し（ステップ４）、該検出した中心とエ
ッジ点までの距離の平均を半径として検出し（ステップ
５）、円形状パターンの位置認識を行う。
下その動作について説明する。まず、図５のフローチャ
ートに示すように、位置決めテーブル２１の上に置かれ
た認識すべき対象物２２をテレビカメラ２４で撮像しＡ
／Ｄ変換後画像処理装置に入力し（ステップ１）、該入
力された画像に対して処理する範囲内でエッジ検出を行
うラインを設定し（ステップ２）、各ラインの濃度デー
タを２値化し、白から黒、または黒から白に変化する点
をエッジとして検出し（ステップ３）、該検出されたエ
ッジ点（Ｘ，Ｙ）の平均座標（外１），（外２）を円の
中心として検出し（ステップ４）、該検出した中心とエ
ッジ点までの距離の平均を半径として検出し（ステップ
５）、円形状パターンの位置認識を行う。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような装置構成では、例えば、エッジ検出の際にノイズ
等エッジ候補になり得ない部分をエッジ点として検出し
てしまい、該誤って検出したデータにより円の式を算出
し、計測・位置認識を行うと精度が大幅に低下する場合
があるため、円の式算出においては信頼性の高いエッジ
のみを利用して円の式を算出、位置認識を行う必要があ
った。
ような装置構成では、例えば、エッジ検出の際にノイズ
等エッジ候補になり得ない部分をエッジ点として検出し
てしまい、該誤って検出したデータにより円の式を算出
し、計測・位置認識を行うと精度が大幅に低下する場合
があるため、円の式算出においては信頼性の高いエッジ
のみを利用して円の式を算出、位置認識を行う必要があ
った。
【００１２】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、認識対象物の状態が悪くエッジ検出の際にノイズ等
の影響で部分的にエッジ検出の信頼性が低い場合でも、
有効なエッジを検出し利用し、円の式を算出することに
より、高精度に計測・位置認識を行う高精度円形状パタ
ーン計測・位置認識装置を提供するものである。
で、認識対象物の状態が悪くエッジ検出の際にノイズ等
の影響で部分的にエッジ検出の信頼性が低い場合でも、
有効なエッジを検出し利用し、円の式を算出することに
より、高精度に計測・位置認識を行う高精度円形状パタ
ーン計測・位置認識装置を提供するものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の第１の発明の円形状パターン計測・位置認識
装置は、認識対象物の状態が悪くエッジ検出の際にノイ
ズ等の影響で、部分的にエッジ検出の信頼性の低い場合
でも、多数決の原理を用いて有効なエッジのみを利用し
て円の式を算出することを目的とし、対象物の形状に合
わせて処理エリアを設定する処理エリア設定手段と、該
処理エリア内において円形状の境界点を複数検出するエ
ッジ点検出手段と、該検出した複数のエッジ点から円の
近似式を算出する近似式算出手段と、該算出された近似
式による円の中心から所定の範囲内で基準点を設ける基
準点移動設定手段と、該各々の基準点から円のエッジ点
までの距離を算出し、距離と度数のヒストグラムを作成
するヒストグラム作成手段と、該各々のヒストグラムに
おける最頻度数のうち最も最頻度数の高い最頻度数を検
出する最頻度数算出手段と、該最も高い最頻度数をもつ
ヒストグラムを構成した基準点を改めて円の中心とし、
また、そのときの最頻度距離を半径とする円の式を算出
する円の式算出手段とを備えることを特徴としたもので
ある。
に本発明の第１の発明の円形状パターン計測・位置認識
装置は、認識対象物の状態が悪くエッジ検出の際にノイ
ズ等の影響で、部分的にエッジ検出の信頼性の低い場合
でも、多数決の原理を用いて有効なエッジのみを利用し
て円の式を算出することを目的とし、対象物の形状に合
わせて処理エリアを設定する処理エリア設定手段と、該
処理エリア内において円形状の境界点を複数検出するエ
ッジ点検出手段と、該検出した複数のエッジ点から円の
近似式を算出する近似式算出手段と、該算出された近似
式による円の中心から所定の範囲内で基準点を設ける基
準点移動設定手段と、該各々の基準点から円のエッジ点
までの距離を算出し、距離と度数のヒストグラムを作成
するヒストグラム作成手段と、該各々のヒストグラムに
おける最頻度数のうち最も最頻度数の高い最頻度数を検
出する最頻度数算出手段と、該最も高い最頻度数をもつ
ヒストグラムを構成した基準点を改めて円の中心とし、
また、そのときの最頻度距離を半径とする円の式を算出
する円の式算出手段とを備えることを特徴としたもので
ある。
【００１４】また、本発明の第２の発明の円形状パター
ン計測・位置認識装置は、本発明の第１の発明において
検出した最頻度距離を基準に所定範囲外の距離のエッジ
点ノイズとして除去するノイズ除去手段と、ノイズ除去
した残りのエッジ点から再度円の近似式を算出する円の
式算出手段を備えることを特徴としたものである。
ン計測・位置認識装置は、本発明の第１の発明において
検出した最頻度距離を基準に所定範囲外の距離のエッジ
点ノイズとして除去するノイズ除去手段と、ノイズ除去
した残りのエッジ点から再度円の近似式を算出する円の
式算出手段を備えることを特徴としたものである。
【００１５】また、本発明の第３の発明の円形状パター
ン計測・位置認識装置は、本発明の第１及び第２の発明
において、ノイズ除去手段においてノイズとするエッジ
点が検出されなくなるまで処理を繰り返す、繰り返し近
似手段を備えることを特徴とするものである。
ン計測・位置認識装置は、本発明の第１及び第２の発明
において、ノイズ除去手段においてノイズとするエッジ
点が検出されなくなるまで処理を繰り返す、繰り返し近
似手段を備えることを特徴とするものである。
【００１６】
【作用】本発明によれば、例えば、認識対象物の状態が
悪くエッジ検出の際にノイズ等の影響で、部分的にエッ
ジ検出の信頼性の低い場合でも、多数決の原理をもちい
て有効なエッジのみを利用して、円の式を算出するた
め、高精度に円形状パターンの計測・位置認識を行うこ
とができる。
悪くエッジ検出の際にノイズ等の影響で、部分的にエッ
ジ検出の信頼性の低い場合でも、多数決の原理をもちい
て有効なエッジのみを利用して、円の式を算出するた
め、高精度に円形状パターンの計測・位置認識を行うこ
とができる。
【００１７】
【実施例】以下本発明の一実施例について図１から図３
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
【００１８】図１は円形状パターン計測・位置認識装置
の構成図である。位置決めテーブル１の上に置かれた認
識すべき対象物２を入力するために照明装置３が設置さ
れ、可動テレビカメラ支持部４にテレビカメラ５が設置
されている。ここで、テレビカメラ５はテレビカメラ制
御手段６により制御されている。
の構成図である。位置決めテーブル１の上に置かれた認
識すべき対象物２を入力するために照明装置３が設置さ
れ、可動テレビカメラ支持部４にテレビカメラ５が設置
されている。ここで、テレビカメラ５はテレビカメラ制
御手段６により制御されている。
【００１９】テレビカメラ５により入力された映像信号
は、アナログディジタル変換（以後、Ａ／Ｄ変換とい
う）手段７に入り、画像の濃度により０〜２５５（２５
６階調）等の画像データに数値化され、ＣＰＵ，ＲＯ
Ｍ，ＲＡＭ及び入出力等から構成される画像処理部に入
力される。
は、アナログディジタル変換（以後、Ａ／Ｄ変換とい
う）手段７に入り、画像の濃度により０〜２５５（２５
６階調）等の画像データに数値化され、ＣＰＵ，ＲＯ
Ｍ，ＲＡＭ及び入出力等から構成される画像処理部に入
力される。
【００２０】画像処理部としては、主コントローラある
いは操作盤より指令が与えられる判定制御手段（ＣＰ
Ｕ）８と、対象物形状に合わせて処理する範囲を設定
し、放射状または、水平垂直方向にエッジ検出ラインを
設定する処理エリア設定手段９と、該エッジ検出ライン
（複数ラインを加算する場合もある）で円のエッジを検
出するエッジ検出手段１０と、該検出した複数のエッジ
点から円の近似式を算出する円の近似式算出手段１１
と、該算出された近似式による円の中心から所定の範囲
内で基準点を設ける基準点移動設定手段１２と、該各々
の基準点から算出した円のエッジ点までの距離を算出
し、距離と度数のヒストグラムを作成するヒストグラム
作成手段１３と、該各々のヒストグラムにおける最頻度
数のうち最も高い最頻度数を検出する最頻度数算出手段
１４と、該最も高い最頻度数をもつヒストグラムを構成
した基準点を改めて円の中心とし、また、そのときの最
頻度距離を半径とする円の式を算出する円の式算出手段
１５とから構成されている。
いは操作盤より指令が与えられる判定制御手段（ＣＰ
Ｕ）８と、対象物形状に合わせて処理する範囲を設定
し、放射状または、水平垂直方向にエッジ検出ラインを
設定する処理エリア設定手段９と、該エッジ検出ライン
（複数ラインを加算する場合もある）で円のエッジを検
出するエッジ検出手段１０と、該検出した複数のエッジ
点から円の近似式を算出する円の近似式算出手段１１
と、該算出された近似式による円の中心から所定の範囲
内で基準点を設ける基準点移動設定手段１２と、該各々
の基準点から算出した円のエッジ点までの距離を算出
し、距離と度数のヒストグラムを作成するヒストグラム
作成手段１３と、該各々のヒストグラムにおける最頻度
数のうち最も高い最頻度数を検出する最頻度数算出手段
１４と、該最も高い最頻度数をもつヒストグラムを構成
した基準点を改めて円の中心とし、また、そのときの最
頻度距離を半径とする円の式を算出する円の式算出手段
１５とから構成されている。
【００２１】また、第２の実施例の構成は、第１の実施
例の構成において、検出した最頻度距離を基準に±Ｌの
所定範囲外の距離のエッジ点をノイズとして除去するノ
イズ除去手段１６と、ノイズ除去した残りのエッジ点か
ら再度円の近似式を算出する円の式算出手段１５とを備
えている。
例の構成において、検出した最頻度距離を基準に±Ｌの
所定範囲外の距離のエッジ点をノイズとして除去するノ
イズ除去手段１６と、ノイズ除去した残りのエッジ点か
ら再度円の近似式を算出する円の式算出手段１５とを備
えている。
【００２２】また、第３の実施例の構成は、第２の実施
例におけるノイズ除去手段において、ノイズとするエッ
ジ点が検出されるまで本実施例及び第２実施例における
処理を繰り返す、繰り返し近似手段１７が追加構成され
ている。
例におけるノイズ除去手段において、ノイズとするエッ
ジ点が検出されるまで本実施例及び第２実施例における
処理を繰り返す、繰り返し近似手段１７が追加構成され
ている。
【００２３】以上のように構成された円形状パターン計
測・位置認識装置について、以下その動作について図２
のフローチャートを用いて説明する。位置決めテーブル
１の上に置かれた図３（ａ）のような円形状部品等の認
識すべき対象物２をテレビカメラ５で撮像しＡ／Ｄ変換
後画像処理部に入力し（ステップ１）、該入力された画
像に対して図３（ａ）のように円形状に合わせて認識処
理を行うエリアを配置し、図３（ｂ）に示すようにエッ
ジ検出を行う走査ライン（帯データを加算する場合もあ
る）を放射状に設定し（ステップ２）、該各走査ライン
上で所定の濃度変化部分をエッジとして検出する（ステ
ップ３）。ここで、エッジ検出方式について説明する
と、図３（ｃ）のような１次元濃度データに対して微分
処理を施し図３（ｄ）しきい値以上の極大極小点を検出
し、エッジ点とする。次に該検出したエッジ点から円の
式を求めるために、まず、検出された全エッジ点の座標
Ｘ，Ｙから平均値（外１），（外２）を求め仮の円の中
心とし（最小２乗誤差近似により円の近似式を算出する
場合もある）（ステップ４）、次に該円の仮中心に対し
て図３（ａ）のようにＸ，Ｙ座標の±Ｋの範囲で基準点
を移動させ（仮の中心に対して半径Ｒの同心円内の範囲
で基準点を移動させる場合もある）（ステップ５）、各
基準点に対して、各エッジ点までの距離を算出し距離と
度数のヒストグラムを図３（ｅ）のように作成し（ステ
ップ６）、全基準点に対するヒストグラムの各々の最頻
度の中で最も度数の高い最頻度をもつ基準点を算出し
（ステップ７）、該基準点を円の中心とし、このときの
距離を半径として円の式を算出する（ステップ８）。
測・位置認識装置について、以下その動作について図２
のフローチャートを用いて説明する。位置決めテーブル
１の上に置かれた図３（ａ）のような円形状部品等の認
識すべき対象物２をテレビカメラ５で撮像しＡ／Ｄ変換
後画像処理部に入力し（ステップ１）、該入力された画
像に対して図３（ａ）のように円形状に合わせて認識処
理を行うエリアを配置し、図３（ｂ）に示すようにエッ
ジ検出を行う走査ライン（帯データを加算する場合もあ
る）を放射状に設定し（ステップ２）、該各走査ライン
上で所定の濃度変化部分をエッジとして検出する（ステ
ップ３）。ここで、エッジ検出方式について説明する
と、図３（ｃ）のような１次元濃度データに対して微分
処理を施し図３（ｄ）しきい値以上の極大極小点を検出
し、エッジ点とする。次に該検出したエッジ点から円の
式を求めるために、まず、検出された全エッジ点の座標
Ｘ，Ｙから平均値（外１），（外２）を求め仮の円の中
心とし（最小２乗誤差近似により円の近似式を算出する
場合もある）（ステップ４）、次に該円の仮中心に対し
て図３（ａ）のようにＸ，Ｙ座標の±Ｋの範囲で基準点
を移動させ（仮の中心に対して半径Ｒの同心円内の範囲
で基準点を移動させる場合もある）（ステップ５）、各
基準点に対して、各エッジ点までの距離を算出し距離と
度数のヒストグラムを図３（ｅ）のように作成し（ステ
ップ６）、全基準点に対するヒストグラムの各々の最頻
度の中で最も度数の高い最頻度をもつ基準点を算出し
（ステップ７）、該基準点を円の中心とし、このときの
距離を半径として円の式を算出する（ステップ８）。
【００２４】第２の実施例の動作としては、図３（ｅ）
のように上述した第１の実施例のヒストグラム最頻度の
距離を基準に所定の範囲外の点をノイズとして処理から
除外し（ステップ９）、残ったエッジ点のみを用いて平
均座標を求め円の中心とし、該中心と各エッジまでの距
離の平均を半径として（最小２乗誤差近似により中心、
半径を算出する場合もある）円の式を算出する（ステッ
プ１０）。
のように上述した第１の実施例のヒストグラム最頻度の
距離を基準に所定の範囲外の点をノイズとして処理から
除外し（ステップ９）、残ったエッジ点のみを用いて平
均座標を求め円の中心とし、該中心と各エッジまでの距
離の平均を半径として（最小２乗誤差近似により中心、
半径を算出する場合もある）円の式を算出する（ステッ
プ１０）。
【００２５】第３の実施例の動作としては第１及び第２
の実施例の動作で説明したノイズ除去と円の式算出のス
テップをノイズ除去がなくなるまで繰り返し演算し精度
向上を図る（ステップ１１）。
の実施例の動作で説明したノイズ除去と円の式算出のス
テップをノイズ除去がなくなるまで繰り返し演算し精度
向上を図る（ステップ１１）。
【００２６】最後に、複数のエッジ点から最小２乗誤差
近似により円の近似式を算出する方法を説明する。エッ
ジ点列を｛Ｘｉ、Ｙｉ｜ｉ＝１、２、……、ｎ−１｝と
すると、点列の近似円の中心座標（ａ，ｂ）と、半径ｒ
は、それぞれ（数１），（数２），（数３）によって求
められる。
近似により円の近似式を算出する方法を説明する。エッ
ジ点列を｛Ｘｉ、Ｙｉ｜ｉ＝１、２、……、ｎ−１｝と
すると、点列の近似円の中心座標（ａ，ｂ）と、半径ｒ
は、それぞれ（数１），（数２），（数３）によって求
められる。
【００２７】
【数１】
【００２８】
【数２】
【００２９】
【数３】
【００３０】但し、（数１），（数２），（数３）中の
各項は以下のように与えられる。
各項は以下のように与えられる。
【００３１】
【数４】
【００３２】
【数５】
【００３３】
【数６】
【００３４】
【数７】
【００３５】
【数８】
【００３６】
【数９】
【００３７】
【数１０】
【００３８】
【数１１】
【００３９】また、ｚは次式に示す通りであり、Ｍ
（ｚ），Ｖ（ｚ），Ｃｏｖ（ｘ，ｚ），Ｃｏｖ（ｙ，
ｚ）等は（数１）から（数１１）までの式と同様に計算
する。
（ｚ），Ｖ（ｚ），Ｃｏｖ（ｘ，ｚ），Ｃｏｖ（ｙ，
ｚ）等は（数１）から（数１１）までの式と同様に計算
する。
【００４０】
【数１２】
【００４１】
【発明の効果】本発明によれば、例えば、認識対象物の
状態が悪くエッジ検出の際にノイズ等の影響で、部分的
にエッジ検出の信頼性の低い場合でも、多数決の原理を
もちいて有効なエッジのみを利用して、円の式を算出す
るため、高精度に円形状パターンの計測・位置認識を行
うことができる。
状態が悪くエッジ検出の際にノイズ等の影響で、部分的
にエッジ検出の信頼性の低い場合でも、多数決の原理を
もちいて有効なエッジのみを利用して、円の式を算出す
るため、高精度に円形状パターンの計測・位置認識を行
うことができる。
【図１】本発明の一実施例の円形状パターン計測・位置
認識装置の構成を示すブロック図
認識装置の構成を示すブロック図
【図２】図１に示す円形状パターン計測・位置認識装置
の動作のフローチャート
の動作のフローチャート
【図３】（ａ）検査対象物の画像の一例と処理エリア設
定、検出エッジ、及び基準点移動設定の説明図 （ｂ）処理エリア設定の説明図 （ｃ）エッジ検出ラインの濃度データの説明図 （ｄ）エッジ検出方法の説明図 （ｅ）各基準点からの距離−度数のヒストグラムの説明
図
定、検出エッジ、及び基準点移動設定の説明図 （ｂ）処理エリア設定の説明図 （ｃ）エッジ検出ラインの濃度データの説明図 （ｄ）エッジ検出方法の説明図 （ｅ）各基準点からの距離−度数のヒストグラムの説明
図
【図４】従来の円形状パターン計測・位置認識装置の構
成図
成図
【図５】図４に示す従来例の動作を説明するフローチャ
ート
ート
９ 処理エリア設定手段 １０ エッジ点検出手段 １１ 近似式算出手段 １２ 基準点移動設定手段 １３ ヒストグラム作成手段 １４ 最頻度数算出手段 １５ 円の式算出手段 １６ ノイズ除去手段
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ Ｇ０６Ｔ 7/60 １５０ Ｇ０６Ｔ 7/60 ２００Ｃ ２００ Ｇ０１Ｂ 11/24 Ｋ (56)参考文献 特開 昭56−121172（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−155804（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−170783（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06T 1/00 305 G01B 11/00 G01B 11/08 G01B 11/24 G06T 7/60 150 G06T 7/60 200
Claims (3)
- 【請求項１】 円形部品やネジ穴の形状、位置認識を画
像処理を用いて行う装置において、対象物の形状に合わ
せて処理エリアを設定する処理エリア設定手段と、該処
理エリア内において円形状の境界点を複数検出するエッ
ジ点検出手段と、該検出した複数のエッジ点から円の近
似式を算出する近似似式算出手段と、該算出された近似
式による円の中心から所定の範囲内で基準点を設ける基
準点移動設定手段と、該各々の基準点から円のエッジ点
までの距離を算出し、距離と度数のヒストグラムを作成
するヒストグラム作成手段と、該各々のヒストグラムに
おける最頻度数のうち最も最頻度数の高い最頻度数を検
出する最頻度数算出手段と、該最も高い最頻度数をもつ
ヒストグラムを構成した基準点を改めて円の中心とし、
また、そのときの最頻度距離を半径とする円の式を算出
する円の式算出手段とを備えること特徴とした円形状パ
ターン計測・位置認識装置。 - 【請求項２】 検出した最頻度距離を基準に所定範囲外
の距離のエッジ点をノイズとして除去するノイズ除去手
段と、ノイズ除去した残りのエッジ点から再度円の近似
式を算出する円の式算出手段を備えることを特徴とした
請求項１記載の円形状パターン計測・位置認識装置。 - 【請求項３】 ノイズ除去手段においてノイズとするエ
ッジ点が検出されなくなるまで、検出した最頻度距離を
基準に所定範囲外の距離のエッジ点をノイズとして除去
し、ノイズ除去した残りのエッジ点から再度円の近似式
を算出する動作を繰り返す、繰り返し近似手段を備える
ことを特徴とする請求項１または２記載の円形状パター
ン計測・位置認識装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00394894A JP3243916B2 (ja) | 1994-01-19 | 1994-01-19 | 円形状パターン計測・位置認識装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00394894A JP3243916B2 (ja) | 1994-01-19 | 1994-01-19 | 円形状パターン計測・位置認識装置 |
Publications (2)
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