JPH034067Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の利用分野〕 本考案は、被検査物である電子部品を多数搭載
した複数枚の基板を、電子部品検査機器に設けた
複数個のコネクタに対して一斉に挿入、抜去する
構造の基板着脱機構に関するものである。

〔考案の背景〕

多数の被検査部品を電子部品検査用機器に装
着、脱却する場合、作業能率を高めるため複数枚
の基板を構成し、各基板に複数個の電子部品を搭
載してこの基板を電子部品検査機器のコネクタに
挿入、抜去する構造が用いられる。

第７図は検査用機器１に基板２を着脱するよう
に構成された従来装置を示す。

被検査物である電子部品（図示せず）を搭載さ
れた基板２は、電子部品検査用機器１に設けられ
たガイド３に沿つて往復矢印Ｙ−Y′の如く前、
後進せしめられ、これに伴つて基板２に設けられ
た端子板部分２ａがコネクタ４に嵌合・離脱す
る。

複数枚の基板２を１挙動でコネクタ４に挿脱し
て作業効率を上げるため、第８図に示すごとく複
数枚の基板２を可動箱５に収納し、この可動箱５
をレバー６によつて前後進させる構造（以下、試
案と言う）が考られる。

９は可動箱５に外嵌してこれを前、後進方向
（矢印Ｙ−Y′）に案内する箱形案内である。

８は可動箱５に取り付けられたフツクで、バー
７を介して基板２を前進方向に押動する。

前記のレバー６は軸６ａによつて箱形案内９に
対して枢支されるとともに、リンク６ｂを介して
可動箱５に連結されている。

第９図は第８図の矢印Ｙ方向に見た外観図で、
本試案においては５枚の基板２が可動箱５に収納
される構造である。５ａは基板２に嵌合する収納
溝である。

５枚の基板２のそれぞれに対向せしめて、５個
のコネクタ４（１個のみ図示す）が設けられてい
る。

以上に説明した試案の装置（第８図、第９図）
は、複数枚（本例においては５枚）の基板を、単
一のレバー６を操作することによつて一斉に前、
後進せしめ、同時にコネクタ４に挿入し、又は同
時に抜去できるという効果を奏する。

本考案者は上記の試案の基板着脱装置の実用試
験研究を繰り返した結果、次記のような問題点を
発見した。

例えば５枚の基板２を検査機器１に装着するに
は、先ず該基板２を１枚ずつ可動箱５の中へ挿入
しなければならず、検査終了後は１枚ずつ抜き出
さねばならない。基板２が全部可動箱５に収納さ
れた後は、レバー６の１挙動で挿入、抜去が可能
であるが、可動箱５の中へ基板を出し入れする間
は検査機器１のアイドルタイムとなる。

こうしたアイドルタイムを解消しようとする
と、第９図に示されている構成部分を２組設置し
て、１組の基板５枚の検査を行つている間に、他
の１組の基板５枚を可動箱５に挿脱するように構
成することも考えられるが、１人の作業員が２組
の可動箱および２個のレバーを交互に操作するこ
とは非常に煩雑である上に、装置全体が複雑、大
形となる。

〔考案の目的〕

本考案は上述の事情に鑑みて為されたもので前
記試案の基板着脱装置（第８図、第９図）を改良
して、１個の可動箱、１本の操作レバーを備えて
いて、複数枚の基板を効率良く検査用機器に着脱
することのできる装置、すなわち、１組の基板の
検査中に他の１組の基板を可動箱に挿脱すること
によつて検査用機器の待ち時間を格段に縮小する
ことのできる基板着脱機構を提供しようとするも
のである。

〔考案の概要〕

第１図は本考案の基本的原理の説明図である。
説明の便宜上、直交３軸Ｘ，Ｙ，Ｚを想定する。

可動ボツクス５′は、複数枚の基板２_-1，２_-2，
…２_-oを、それぞれＹ−Ｚ平面に平行な姿勢と
し、これらをＸ方向に並べて、１対（２枚）ずつ
収納する。１対の基板（１組になつた２枚の基
板）、例えば２_-1と２_-2、及び２_-3と２_-4は、相
互に一定の間隔ｄで対向し、各組はピツチＰを隔
てて配列される。

上記の可動箱５′は往復矢印LRの如くＸ軸方向
にストローク寸法ｄだけ往復スライドできるよう
に支承され、かつ、Ｙ軸方向にも前後進できる構
造である。

前記の如く配列された基板の内、奇数番目の基
板２_-1，２_-3（図示しないが２_-5，２_-7〜）に対
向せしめて、それぞれコネクタ４が設けられてい
る。これらのコネクタ４は電子部品の検査用機器
１に対して固定され、Ｘ軸方向にピツチ寸法Ｐで
配設されている。

いま、図示の状態から可動箱５′を矢印Ｙ方向
に前進させると、奇数番目の基板２_-1，２_-3がそ
れぞれコネクタ４に挿入され、前記の可動箱５′
を矢印Y′方向に後退させるとコネクタ４から抜
去される。

また、図示の状態から可動箱５′を矢印Ｌの如
くＸ軸に沿つてストローク寸法ｄだけ図の左方へ
スライドさせると、偶数番目の基板２_-2，２_-4〜
がコネクタ４に対向する状態となり、この状態で
可動箱５′を前、後進させると偶数番目の基板２_-
２，２_-4がコネクタ４に挿脱される。

従つて、可動箱５′を矢印Ｒ方向にスライドさ
せた状態で奇数番目の基板２_-1，２_-3をコネクタ
４に嵌合せしめて検査を行いつつ、上記の検査の
間に偶数番目の基板２_-2，２_-4を可動箱５′に収
納したり取り出したりすることができる。

奇数番目の基板２_-1，２_-3の検査を終わると、
可動箱５′を後退させた後、矢印Ｌ方向にスライ
ドさせて偶数番目の基板２_-2，２_-4をコネクタ４
に対向させ、可動箱５′を前進させて該偶数番目
の基板２_-2，２_-4をコネクタ４に嵌合させて検査
を行う。

このようにして偶数番目の基板の検査を行つて
いる間に、奇数番目の基板の交換を行つて次のサ
イクルの作業に備える。

こうした操作を繰り返すことにより、単一の部
材である可動箱５′を用いて、奇数番目の基板の
検査中に偶数番目の交換を行い、偶数番目の基板
の検査中に奇数番目の基板の交換を行つて、検査
用機器のアイドルタイムを短縮することができ
る。

第１図について説明した上述の原理に基づいて
前記の目的（検査用機器のアイドルタイム短縮）
を達成するため、本考案に係る基板着脱機構は、
被検査物である電子部品を搭載した基板を平行に
並べて可動箱に取り付け、上記の可動箱を電子部
品の検査用機器に対して接近・離間し得るように
支承し、該可動箱を検査用機器に接近せしめたと
き該可動箱に取り付けた基板が、検査用機器に設
けたコネクタに挿入され、前記可動箱を検査用機
器から離間せしめたとき基板がコネクタから抜去
されるように構成した基板着脱機構において、 直交３軸Ｘ，Ｙ，Ｚを想定し、 前記の可動箱は検査用機器に対してＹ軸方向に
接近・離間するように案内されると共に、Ｘ軸方
向に寸法ｄだけ往復移動し得るように案内されて
おり、 前記の可動箱内には、多数の基板がYZ面と平
行に、Ｘ軸方向に並べて収納される構造になつて
おり、 上記多数の基板は、１対ずつ間隔寸法ｄで配置
されると共に、複数対の基板がピツチ寸法Ｐで配
列されるようになつており、 かつ、前記の検査用機器には、前記の基板に対
応するコネクタがピツチ寸法Ｐで、Ｘ軸方向に配
列されていることを特徴とする。

〔考案の実施例〕

次に、本考案の基板着脱装置の１実施例につい
て、第２図乃至第７図を参照しつつ、その具体的
な構成を説明する。

第２図は本実施例を、第１図の矢印Ｙ方向に見
た正面図である。

可動箱５′は、10枚の基板２_-1〜２_-10をそれぞ
れYZ平面に揃え、Ｘ軸方向に並べて支承してい
る。

上記の可動箱５′を第２図の左右方向（Ｘ−
X′方向）に平行移動させるため、可動箱５′の両
端面にボツクスガイドバー１０をＸ軸方向に固着
し、スライド軸受１１で摺動自在に支承する。

上記可動箱５′、スライド軸受１１を矢印Ｘ方
向に見た側面図を第３図に示す。１２は可動箱
５′をＹ−Y′方向に案内するため検査機器１に固
定した前後進ガイドバー、１３はスライド軸受で
ある。

第３図に示してあるレバー６を軸６ａの回りに
回動させると、第４図について後述するリンク手
段によつて可動箱５′はＹ軸方向に前後進し、該
レバー６を紙面と垂直方向（Ｘ軸方向）に動かす
と、可動箱５′はスライド軸受１１に支承されて
紙面と垂直に往復動する。この往復動に際し、可
動箱５′に固着されたＸ軸方向のガイドバー１４
は、スライド軸受１３と一体に連結されたスライ
ド軸受１５に対して摺動する。

第４図は可動箱５′の駆動機構を説明する為の
Ｙ−Ｚ面による断面図である。６は可動箱５′を
前進操作させた状態のレバー、６′は後退させた
状態のレバーを示す。６ｂは前進時のリンク、６
b′は後退時のリンクである。

１６は、可動箱５′のＹ軸方向の前後進、及び
Ｘ軸方向の左右スライドを案内するためのガイド
ピン、１７は同じくガイドプレートである。この
部分の平面図を第５図に示す。前記のガイドプレ
ート１７にはＸ軸方向及びＹ軸方向の辺を有する
コの字形の案内溝１７ａを設け、ガイドピン１６
を案内している。

上記コの字形案内溝の平行２辺部分の間隔寸法
ｄは、第１図に示した寸法ｄと等しく構成する。
また、この平行２辺部分の長さは基板をコネクタ
に挿脱するための前後進ストロークを規制する。

第６図は第２図に示したガイドバー１４を含む
Ｘ−Ｙ断面を示す。可動箱５′は既述の如く前後
進ガイドバー１２とスライド軸受１３とによつて
Ｙ−Y′方向の前後進自在に支承され、レバー６
とリンク６ｂとによつてＹ−Y′方向に往復駆動
される。そして、可動箱５′は上記の手動操作機
構と共に、ガイドバー１４をスライド軸受１５に
よつて支承されつつＸ軸方向（図の左右方向）に
前述の寸法ｄだけ往復駆動される。この左右往復
動に伴つて、コネクタ４_-1，４_-2に対して奇数番
目の基板２_-1，２_-3が正対したり、偶数番目の基
板２_-2，２_-4が正対したりする。上記の往復駆動
はレバー６に左右方向の力を加えることによつて
行われる。

本実施例の装置は以上のようにして可動箱５′
を検査用機器１に対してＹ−Y′方向の前、後進
による接近、離間、および基板２の面に直角なＸ
−X′方向のスライドの双方が可能なように支承
し、かつ、コネクタ４は可動箱５′内に収納され
た基板２に対して一つ置きに対向するように（即
ち、奇数番目、若しくは偶数番目の基板に正対す
るようにピツチ寸法ＰでＸ軸方向に配列してあ
る。これにより、第１図の原理説明図に示した機
能が果たされ、同図について説明した効果、即ち
奇数番目（偶数番目）の基板を検査している間に
偶数番目（奇数番目）の基板を交換してアイドル
タイムを短縮させることが可能となる。

〔考案の効果〕

以上詳述したように、本考案の機構によれば１
個の可動箱、１本の操作レバーを用いて複数個の
基板を効率よく検査用機器のコネクタに着脱する
ことができ、検査用機器のアイドルタイムを短縮
して稼働効率を高め得るという優れた実用的効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の機構の原理的説明図である。
第２図は本考案の１実施例を第１図の矢印Ｙ方向
に見た正面図、第３図は同じく矢印Ｘ方向に見た
側面図、第４図は同じくＹ−Ｚ面による断面図、
第５図は第４図の矢印Z′方向に見た部分平面図、
第６図は前記実施例のＸ−Ｙ面による断面であ
る。第７図は従来の基板着脱機構の側面図、第８
図は試案の基板着脱機構の側面図、第９図は上記
試案の機構の正面図である。 １……電子部品の検査用機器、２……基板、２
_−１〜２_-10……基板、２ａ……端子板、３……ガ
イド、４，４_-1，４_-2……コネクタ、５，５′…
…可動箱、５ａ……収納溝、６……レバー、６ａ
……軸、６ｂ……リンク、７……バー、８……フ
ツク、１０……ボツクスガイドバー、１１……ス
ライド軸受、１２……前後進ガイドバー、１３…
…スライド軸受、１４……ガイドバー、１５……
スライド軸受、１６……ガイドピン、１７……ガ
イドプレート。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 被検査物である電子部品を搭載した基板を平行
   に並べて可動箱に取り付け、上記の可動箱を電子
   部品の検査用機器に対して接近・離間し得るよう
   に支承し、該可動箱を検査用機器に接近せしめた
   とき該可動箱に取り付けた基板が、検査用機器に
   設けたコネクタに挿入され、前記可動箱を検査用
   機器から離間せしめたとき基板がコネクタから抜
   去されるように構成した基板着脱機構において、 直交３軸Ｘ，Ｙ，Ｚを想定し、 前記の可動箱５′は検査用機器１に対してＹ軸
   方向に接近・離間するように案内されると共に、
   Ｘ軸方向に寸法ｄだけ往復移動し得るように案内
   されており、 前記の可動箱５′内には、多数の基板２_-1，２_{-
   ２}，２_-3，……２_-oがYZ面と平行に、Ｘ軸方向に
   並べて収納される構造になつており、 上記多数の基板は、１対ずつ間隔寸法ｄで配置
   されると共に、複数対の基板がピツチ寸法Ｐで配
   列されるようになつており、 かつ、前記の検査用機器１には、前記の基板に
   対応するコネクタ４がピツチ寸法Ｐで、Ｘ軸方向
   に配列されていて、 前記可動箱５′がＸ軸方向に寸法ｄだけ片方へ
   移動したとき、該可動箱に収納されている複数対
   の基板のそれぞれの対の内の何れか一方の基板が
   前記コネクタ４に対向するとともに、 上記可動箱５′がＸ軸方向に、上記と反対に寸
   法ｄだけ移動したとき、上記複数対の基板のそれ
   ぞれの対の内の何れか他方の基板が前記コネクタ
   ４に対向するように構成されていることを特徴と
   する基板着脱機構。