CN214225329U - 一种芯片测试模块开锁装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；所述驱动装置用于带动所述传动件运动；所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。本实用新型的芯片测试模块开锁装置通过设置驱动装置、传动件和拉杆，拉杆与芯片测试模块上的定位块相对应，驱动装置通过传动件推动定位块运动，从而对芯片测试模块进行解锁，满足了芯片测试模块在放置和取出芯片时解锁的需求。

Description

一种芯片测试模块开锁装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种芯片测试模块开锁装置。

背景技术

在芯片测试领域，芯片在传输时需放置于芯片测试模块内，以免芯片位移脱离测试模块受损。芯片测试模块对芯片进行锁定，避免芯片运动。目前的芯片测试流水线上未设置芯片测试模块开锁装置，或设置的芯片测试模块开锁装置开锁过程不能够完全自动化，增加了人工的工作量，降低了生产效率，影响产能，同时也增加了生产成本。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是:提供一种芯片测试模块开锁装置，自动为芯片测试模块解锁，避免人工操作。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；

所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；

所述驱动装置用于带动所述传动件运动；

所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。

其中，所述传动件包括定位板，所述定位板上设有第一镂空部，所述驱动装置设于所述第一镂空部内。

其中，所述拉杆的一端设有插接部，所述插接部的侧部与所述定位块相抵。

其中，所述驱动装置为气缸，所述气缸的伸缩方向与所述定位板的长度方向的夹角为45度。

其中，所述芯片测试模块开锁装置还包括开锁导轨，所述开锁导轨设于所述定位板下部，所述定位板可以沿所述开锁导轨滑动。

其中，所述开锁导轨的长度方向与所述定位板长度方向的夹角为45 度。

其中，所述芯片测试模块开锁装置还包括弹性装置，所述弹性装置与所述传动件相抵接；

所述弹性装置的长度方向与所述开锁导轨的长度方向相同。

其中，所述定位板上设有第二镂空部，所述弹性装置设于所述第二镂空部内；

所述弹性装置长度方向与所述定位板长度方向的夹角为45度。

其中，所述弹性装置为弹簧。

其中，所述拉杆的数量为多个，且多个所述拉杆之间的距离与多个所述定位块之间的距离相等。

与现有技术相比，本实用新型的芯片测试模块开锁装置达到的有益效果为：通过设置驱动装置、传动件和拉杆，拉杆与芯片测试模块上的定位块相对应，驱动装置通过传动件推动定位块运动，从而对芯片测试模块进行解锁，满足了芯片测试模块在放置和取出芯片时解锁的需求。

附图说明

为更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型芯片测试模块开锁装置的结构示意图；

图2是本实用新型芯片测试模块开锁装置与芯片测试模块的装配示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参阅图1和图2，图1是本实用新型芯片测试模块开锁装置的结构示意图，图2是本实用新型芯片测试模块开锁装置与芯片测试模块的装配示意图。本申请芯片测试流水线中包括芯片测试模块开锁装置8，芯片测试模块开锁装置8包括驱动装置81、传动件82和拉杆83；拉杆 83的一端固定于传动件82上，另一端与芯片测试模块7的定位块相抵接；驱动装置81用于带动传动件82运动；传动件82的运动方向为拉杆83远离芯片测试模块7的方向。前述内容已进行过相应说明，芯片承载于芯片测试模块7上时，被芯片定位机构限位，无法运动，在将芯片从芯片测试模块7上放入或取出之前，需先将芯片定位机构打开，使芯片可以自由运动，测试模块开锁装置8即用于打开芯片定位机构。

本申请芯片测试流水线中自动上料机、测试机和自动下料装置上均设有芯片测试模块开锁装置8，用于对芯片测试模块7进行解锁。自动上料机上设置芯片测试模块开锁装置8，用于打开芯片定位机构后放入芯片，测试机上设置芯片测试模块开锁装置8，用于对芯片进行测试，自动下料装置上设置芯片测试模块开锁装置8，用于打开芯片定位机构后取出芯片。

具体的，驱动装置81用于通过传动件82带动拉杆83运动，在开锁时拉杆83一端的插接部831插入芯片定位机构中盖板的通槽内，从而使插接部831的侧部与定位块821的凸起相抵，拉杆83在运动时推动定位块821运动，运动方向为远离芯片的方向，从而使定位块与芯片相脱离，芯片可以被抓取。

本申请中传动件82包括定位板821，定位板821上设有第一安装孔 822，驱动装置81设于第一安装孔822内。本实施例中第一安装孔822 设于定位板821中心，驱动装置81也安装于定位板821的中心位置，便于传动件82受力运动。

优选的，驱动装置81为气缸，气缸的伸缩方向与定位板821的长度方向的夹角为45度。上述已进行过相应说明，定位块长度方向与芯片长宽方向呈45度角，便于定位块的一端对芯片的两侧面进行限位，同时施加的力较均衡。定位板821与芯片相平行，为带动定位块运动，因此将气缸的伸缩方向也设置为45度，与定位块的长度方向相同，气缸伸缩时带动定位板821及拉杆83也沿45度角方向直线运动，推动定位块远离芯片，对芯片定位机构进行解锁。

本申请中芯片测试模块开锁装置8还包括开锁导轨84，开锁导轨 84设于定位板821下部，定位板821可以沿开锁导轨84滑动，开锁导轨84的长度方向与定位板821长度方向的夹角为45度。定位板821由驱动装置81推动，沿开锁导轨84滑动，滑动方向为45度角，与定位块的运动方向一致。

本申请中芯片测试模块开锁装置8还包括弹性装置85，弹性装置85与传动件82相抵接；弹性装置85的长度方向与开锁导轨84的长度方向相同。本实施例设置弹性装置85，便于传动件82回弹，自动复位。传动件82推动定位块开锁时，弹性装置85压缩，当开锁结束，弹性装置85释放弹力，推动传动件82复位，便于继续对另一芯片定位机构开锁。

本申请中定位板821上设有第二安装孔823，弹性装置85设于第二安装孔823内，便于弹性装置85直接对定位板821施加弹力。弹性装置85长度方向与定位板821长度方向的夹角为45度，从而使弹性装置 85的弹力方向与定位板821的运动方向一致。

优选的，本申请中弹性装置85为弹簧，当然，弹性装置85也可以为弹性胶体，也可以向定位板821施加回弹力，带动定位板821运动。

本申请中拉杆83的数量为多个，且多个拉杆83之间的距离与多个定位块之间的距离相等。本申请的芯片测试模块开锁装置8设有多个拉杆83，拉杆83之间的距离与芯片测试模块7上定位块之间的距离相同，从而使多个拉杆83同时对多个芯片测试模块7进行开锁。优选的，本实施例中芯片测试模块7上设有四个芯片定位机构，定位板821上设置八个拉杆83，可以同时对两块芯片测试模块7上的所有芯片进行解锁。

本申请的芯片测试模块开锁装置8的工作流程为：

将芯片测试模块7固定，拉杆83下端插入芯片测试模块7的通槽内，驱动装置81通过传动件82带动拉杆83运动，拉杆83推动定位块朝远离芯片的方向滑动，芯片可以放置入芯片测试模块7内或从芯片测试模块7被抓取到外部。上述过程中弹性装置85被压缩。之后拉杆83 与芯片测试模块7脱离，弹性装置85向传动件82施加弹力，带动传动件82和拉杆83复位。

使用本实用新型的芯片测试模块开锁装置，通过设置驱动装置、传动件和拉杆，拉杆与芯片测试模块上的定位块相对应，驱动装置通过传动件推动定位块运动，从而对芯片测试模块进行解锁，满足了芯片测试模块在放置和取出芯片时解锁的需求。

以上所述仅为本实用新型的实施方式，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种芯片测试模块开锁装置，用于对芯片测试模块进行解锁，其特征在于，所述芯片测试模块开锁装置包括驱动装置、传动件和拉杆；

所述拉杆的一端固定于所述传动件上，另一端与所述芯片测试模块的定位块相抵接；

所述驱动装置用于带动所述传动件运动；

所述传动件的运动方向为所述拉杆远离所述芯片测试模块的方向。

2.根据权利要求1所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述传动件包括定位板，所述定位板上设有第一镂空部，所述驱动装置设于所述第一镂空部内。

3.根据权利要求1所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述拉杆的一端设有插接部，所述插接部的侧部与所述定位块相抵。

4.根据权利要求2所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述驱动装置为气缸，所述气缸的伸缩方向与所述定位板的长度方向的夹角为45度。

5.根据权利要求2所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述芯片测试模块开锁装置还包括开锁导轨，所述开锁导轨设于所述定位板下部，所述定位板可以沿所述开锁导轨滑动。

6.根据权利要求5所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述开锁导轨的长度方向与所述定位板长度方向的夹角为45度。

7.根据权利要求5所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述芯片测试模块开锁装置还包括弹性装置，所述弹性装置与所述传动件相抵接；

所述弹性装置的长度方向与所述开锁导轨的长度方向相同。

8.根据权利要求7所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述定位板上设有第二镂空部，所述弹性装置设于所述第二镂空部内；

所述弹性装置的长度方向与所述定位板长度方向的夹角为45度。

9.根据权利要求8所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述弹性装置为弹簧。

10.根据权利要求1所述的芯片测试模块开锁装置，其特征在于，所述拉杆的数量为多个，且多个所述拉杆之间的距离与多个所述定位块之间的距离相等。

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