JPH0338926A - 多点測定装置 - Google Patents
多点測定装置Info
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- JPH0338926A JPH0338926A JP17382989A JP17382989A JPH0338926A JP H0338926 A JPH0338926 A JP H0338926A JP 17382989 A JP17382989 A JP 17382989A JP 17382989 A JP17382989 A JP 17382989A JP H0338926 A JPH0338926 A JP H0338926A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 39
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、多点測定装置に関するものであり、詳しくは
、Ａ／Ｄ変換器を用いた多点測定装置におけるＡ／Ｄ変
換器の高速化に関するものである。
、Ａ／Ｄ変換器を用いた多点測定装置におけるＡ／Ｄ変
換器の高速化に関するものである。
〈従来の技術〉
多点のアナログ信号をデジタル信号に変換して収集する
従来の多点測定装置の精成は、■各測定チャンネル毎に
それぞれＡ／Ｄ変換器を設け、並列にＡ／Ｄ変換を行う
ものと、■第４図に示すように、Ａ／Ｄ変換器１の前段
に測定チャンネルを選択するスキャナ２を設け、時分割
で複数Ｎチャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）のＡ／Ｄ変換を
行って演算制御部（ＣＰＵ）３にデジタル信号を出力す
るものに大別できる。
従来の多点測定装置の精成は、■各測定チャンネル毎に
それぞれＡ／Ｄ変換器を設け、並列にＡ／Ｄ変換を行う
ものと、■第４図に示すように、Ａ／Ｄ変換器１の前段
に測定チャンネルを選択するスキャナ２を設け、時分割
で複数Ｎチャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）のＡ／Ｄ変換を
行って演算制御部（ＣＰＵ）３にデジタル信号を出力す
るものに大別できる。
ここで、前者■の構成は高速性に潰れ、後者■の槽底は
コストおよびスペースの面で優れている。
コストおよびスペースの面で優れている。
ところで、このようなスキャン方式の高速化を妨げる原
因の一つに、ノーマルモードノイズ除去比がある。
因の一つに、ノーマルモードノイズ除去比がある。
すなわち、スキャン方式の多点測定装置の実際の使用状
態におけるノイズの大部分は、ｔｍ周波数成分である。
態におけるノイズの大部分は、ｔｍ周波数成分である。
そこで、このような電源周波数成分のノイズを除去する
ために、フィルタリング処理や積分処理か行われている
。
ために、フィルタリング処理や積分処理か行われている
。
ところが、このような電源周波数成分のノイズ除去処理
を行うためには、電源周波数が５０Ｈｚの場合には最低
でも２０ ｎ５ｅｃが必要になる。
を行うためには、電源周波数が５０Ｈｚの場合には最低
でも２０ ｎ５ｅｃが必要になる。
第５図はこのような動作の一例を示すタイミングチャー
トであり、（ａ）はスキャナ２の切換周期を示し、（ｂ
）はＡ／Ｄ変換器ｌの変換処理およびノイズ処理周期を
示し、（ｃ）は各測定チャンネルのデータ出力レートを
示している。これらから明らかなように、各チャンネル
毎に電源周波数成分のノイズ除去処理を行う場合のある
任意のチャンネルの測定周期は、２０１ｓｅｃｘ Ｎ
（ｓｅｃ）以上になり、この測定周期よりも短くして高
速化を図ることはできない。
トであり、（ａ）はスキャナ２の切換周期を示し、（ｂ
）はＡ／Ｄ変換器ｌの変換処理およびノイズ処理周期を
示し、（ｃ）は各測定チャンネルのデータ出力レートを
示している。これらから明らかなように、各チャンネル
毎に電源周波数成分のノイズ除去処理を行う場合のある
任意のチャンネルの測定周期は、２０１ｓｅｃｘ Ｎ
（ｓｅｃ）以上になり、この測定周期よりも短くして高
速化を図ることはできない。
このような不都合を解決する方法として、ノイズの大部
分が電源周波数成分であることに着目して第６図（ａ）
に示すようにＮチャンネルの各点の測定を正確に１０ｎ
ｓｅｃ周期で行い、（ｂ）に示すように前回の測定デー
タとの平均値を求め、その結果を（Ｃ）に示すように測
定データとして出力することも行われている。
分が電源周波数成分であることに着目して第６図（ａ）
に示すようにＮチャンネルの各点の測定を正確に１０ｎ
ｓｅｃ周期で行い、（ｂ）に示すように前回の測定デー
タとの平均値を求め、その結果を（Ｃ）に示すように測
定データとして出力することも行われている。
このような方法によれば、前データとそれに続く次デー
タのノイズ周期は正確に位相反転の関係にあり、平均演
算を行うことによりノイズ成分を除去できる。そして、
ある任意のチャンネルの測定周期は、測定チャンネル数
には関係なく、常に１０僧ｓｅｃになる。
タのノイズ周期は正確に位相反転の関係にあり、平均演
算を行うことによりノイズ成分を除去できる。そして、
ある任意のチャンネルの測定周期は、測定チャンネル数
には関係なく、常に１０僧ｓｅｃになる。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、この方法の場合には、除去できるノイズ成分が
電源周波数に限られてしまうこと、Ａ／Ｄ変換器として
高速で分解能の高いものが必要になることから結果的に
コストが高くなってしまうという欠点がある。
電源周波数に限られてしまうこと、Ａ／Ｄ変換器として
高速で分解能の高いものが必要になることから結果的に
コストが高くなってしまうという欠点がある。
本発明は、このような点に着目したものであり、その目
的は、高速で低分解能のＡ／Ｄ変換器を用いて高速で高
い分解能の測定結果が得られる低コストの多点測定装置
を提供することにある。
的は、高速で低分解能のＡ／Ｄ変換器を用いて高速で高
い分解能の測定結果が得られる低コストの多点測定装置
を提供することにある。
〈課題を解決するための手段〉
本発明の多点測定装置は、
周期１／Ｎ−ｆｌで複数の測定チャンネルを選択する高
速半導体スイッチよりなるスキャナと、このスキャナか
ら出力されるアナログ信号を周期１／ｆ２ （Ｎ−ｆｌ
＜ｆ２）でデジタル信号に変換する高速オーバーサン
プリング方式のＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器の出力データを各測定チャンネル毎に
１個のデータに変換し、変換されたデータを前記スキャ
ナの切換に同期して各測定チャンネル番に選択的に出力
するデジタル信号処理部と、各測定チャンネル毎に設け
られ、デジタル信号処理部の出力データから測定信号成
分のみのデジタルデータを生成するデジタルフィルタ、
を設けたことを特徴とする。
速半導体スイッチよりなるスキャナと、このスキャナか
ら出力されるアナログ信号を周期１／ｆ２ （Ｎ−ｆｌ
＜ｆ２）でデジタル信号に変換する高速オーバーサン
プリング方式のＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器の出力データを各測定チャンネル毎に
１個のデータに変換し、変換されたデータを前記スキャ
ナの切換に同期して各測定チャンネル番に選択的に出力
するデジタル信号処理部と、各測定チャンネル毎に設け
られ、デジタル信号処理部の出力データから測定信号成
分のみのデジタルデータを生成するデジタルフィルタ、
を設けたことを特徴とする。
く作用〉
デジタル信号処理部の出力データは、Ａ／Ｄ変換器の出
力データを各測定チャンネル毎に１個のデータに変換す
ることからその分解能はＡ／Ｄ変換器の分解能よりも高
くなり、各測定チャンネルの入力信号をスキャナの切換
周期でサンブリングしたものと等価になる。
力データを各測定チャンネル毎に１個のデータに変換す
ることからその分解能はＡ／Ｄ変換器の分解能よりも高
くなり、各測定チャンネルの入力信号をスキャナの切換
周期でサンブリングしたものと等価になる。
そして、各デジタルフィルタの出力データは各測定チャ
ンネルの信号成分のみでその分解能はデジタル信号処理
部の出力データの分解能よりも向上したものになる。
ンネルの信号成分のみでその分解能はデジタル信号処理
部の出力データの分解能よりも向上したものになる。
〈実施例〉
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である０
図において、複数Ｎチャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の入
力信号は、周期１／Ｎ−ｆｌで複数の測定チャンネルを
選択する高速半導体スイッチよりなるスキャナ４を介し
てＡ／Ｄ変換器５に加えられる。このＡ／Ｄ変換器５と
しては、例えばΔΣＡ／Ｄ変換器のような高速オーバー
サンプリング方式のものを用いる。Ａ／Ｄ変換器５はス
キャナ４の出力信号を周期１／ｆ２ （Ｎ−ｆ、くｆ２
）でデジタル信号に変換し、その出力データをデジタル
信号処理部６に加える。デジタル信号処理部６に加えら
れた出力データは、各測定チャンネル（ＣＨ１〜ＣＨＮ
）毎に１個のデータに変換される。そして、変換された
データは、前記スキャナ４の切換に同期して各測定チャ
ンネル毎に選択的にデジタルフィルタフに出力される。
図において、複数Ｎチャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の入
力信号は、周期１／Ｎ−ｆｌで複数の測定チャンネルを
選択する高速半導体スイッチよりなるスキャナ４を介し
てＡ／Ｄ変換器５に加えられる。このＡ／Ｄ変換器５と
しては、例えばΔΣＡ／Ｄ変換器のような高速オーバー
サンプリング方式のものを用いる。Ａ／Ｄ変換器５はス
キャナ４の出力信号を周期１／ｆ２ （Ｎ−ｆ、くｆ２
）でデジタル信号に変換し、その出力データをデジタル
信号処理部６に加える。デジタル信号処理部６に加えら
れた出力データは、各測定チャンネル（ＣＨ１〜ＣＨＮ
）毎に１個のデータに変換される。そして、変換された
データは、前記スキャナ４の切換に同期して各測定チャ
ンネル毎に選択的にデジタルフィルタフに出力される。
各デジタルフィルタ７は、デジタル信号処理部６の出力
データから各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の測定
信号成分のみのデジタルデータを生成する。
データから各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の測定
信号成分のみのデジタルデータを生成する。
これら各デジタルフィルタ７の出力データは、演算制御
部（ＣＰＵ）８により適宜読み出される。
部（ＣＰＵ）８により適宜読み出される。
このように構成された装置の動作を第２図お上び第３図
の波形図を用いて説明する。
の波形図を用いて説明する。
Ａ／Ｄ変換器５は、第２図（ａ）に示すようにスキャナ
４を介して入力される各測定チャンネル（ＣＨ１〜ＣＨ
Ｎ）の入力信号を周波数Ｉ２ （周期１／ｆ ２）で逐
次デジタル信号に変換してデジタル信号処理部６に送出
する。デジタル信号処理部６は、Ａ／Ｄ変換器５から変
換出力される複数のデジタルデータに対してフィルタリ
ング処理を施して第２図（ｂ）に示すように各測定チャ
ンネル毎（ＯＨ１〜ＣＨＮ ）に１個のデジタルデータ
を生成し、生成したデジタルデータをスキャナ４の切換
に同期して各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）に対応
して設けられている所定のデジタルフィルタ７（＃１〜
＃Ｎ）に送出する。ここで、デジタル信号処理部６での
デジタルデータの生成のためのフィルタリング処理の最
も単純な例としては単純加算平均処理がある。このよう
にしてデジタル信号処理部６で生成され各デジタルフィ
ルタ７（＃１〜＃Ｎ）に入力されるデジタルデータは第
３図（ａ）に示すように各測定チャンネル（ＣＨ１〜Ｃ
ＨＮ）の入力信号を周波数ｆ、（周期１７ｆ＋）でサン
プリングしたものと等価になり、それらの分解能はＡ／
Ｄ変換器５の分解能よりも高くなる。各デジタルフィル
タ７（＃１〜＃Ｎ）はデジタル信号処理部６から入力さ
れる各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の入力信号に
関連した第３図（ａ）に示すデジタルデータに対して、
さらに必要な帯域でのフィルタリング処理を施す。
４を介して入力される各測定チャンネル（ＣＨ１〜ＣＨ
Ｎ）の入力信号を周波数Ｉ２ （周期１／ｆ ２）で逐
次デジタル信号に変換してデジタル信号処理部６に送出
する。デジタル信号処理部６は、Ａ／Ｄ変換器５から変
換出力される複数のデジタルデータに対してフィルタリ
ング処理を施して第２図（ｂ）に示すように各測定チャ
ンネル毎（ＯＨ１〜ＣＨＮ ）に１個のデジタルデータ
を生成し、生成したデジタルデータをスキャナ４の切換
に同期して各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）に対応
して設けられている所定のデジタルフィルタ７（＃１〜
＃Ｎ）に送出する。ここで、デジタル信号処理部６での
デジタルデータの生成のためのフィルタリング処理の最
も単純な例としては単純加算平均処理がある。このよう
にしてデジタル信号処理部６で生成され各デジタルフィ
ルタ７（＃１〜＃Ｎ）に入力されるデジタルデータは第
３図（ａ）に示すように各測定チャンネル（ＣＨ１〜Ｃ
ＨＮ）の入力信号を周波数ｆ、（周期１７ｆ＋）でサン
プリングしたものと等価になり、それらの分解能はＡ／
Ｄ変換器５の分解能よりも高くなる。各デジタルフィル
タ７（＃１〜＃Ｎ）はデジタル信号処理部６から入力さ
れる各測定チャンネル（ＣＨＩ〜ＣＨＮ）の入力信号に
関連した第３図（ａ）に示すデジタルデータに対して、
さらに必要な帯域でのフィルタリング処理を施す。
これにより、デジタルフィルタフの出力データは第３図
（ｂ）に示すように各測定チャンネル（ＣＩ４１〜ＣＨ
Ｎ）の入力信号成分のみのデジタルデータとなり、それ
らの分解能はさらに向上したものになる。
（ｂ）に示すように各測定チャンネル（ＣＩ４１〜ＣＨ
Ｎ）の入力信号成分のみのデジタルデータとなり、それ
らの分解能はさらに向上したものになる。
具体的な数値に基づく計算例を説明する。
デジタルフィルタ７の周波数帯域をｆＢとし、デジタル
信号処理部６の出力分解能をＮＦビットとすると、 Ｓ／Ｎ＝１０１ｏｏ（ｆ 、 ／２ｆ Ｂ ）＋６．０
２− Ｎ Ｆ ＋１．７６（ｄＢ）・・・（１） になる。
信号処理部６の出力分解能をＮＦビットとすると、 Ｓ／Ｎ＝１０１ｏｏ（ｆ 、 ／２ｆ Ｂ ）＋６．０
２− Ｎ Ｆ ＋１．７６（ｄＢ）・・・（１） になる。
一方、Ｎ Ｆ ＩＩａｘは、Ａ／Ｄ変換器５の分解能を
ＮＡとすると、 Ｎ Ｆ １ａｘ＝Ｎ Ａ ＋Ｉｏｇ２ （Ｉ２
／Ｎｆ 、 ） ・・・■で表
せる。
ＮＡとすると、 Ｎ Ｆ １ａｘ＝Ｎ Ａ ＋Ｉｏｇ２ （Ｉ２
／Ｎｆ 、 ） ・・・■で表
せる。
従って、総合の分解能（Ｓ／Ｎ比）は、Ｓ／Ｎ−１０Ｉ
Ｏ（１（ｆ ＋ ／２ｆ Ｂ ）”６．０２ ・
（ＮＡ ”１０（１２（ｆ２／Ｎｆ ＋ ） Ｎ
ｐ ＋１．７６（ｄＢ） ・・・（３）に
なる。
Ｏ（１（ｆ ＋ ／２ｆ Ｂ ）”６．０２ ・
（ＮＡ ”１０（１２（ｆ２／Ｎｆ ＋ ） Ｎ
ｐ ＋１．７６（ｄＢ） ・・・（３）に
なる。
現時点での可能な値としては、
ｆ ２ ＝ １０ Ｍ Ｈｚ （Ｎ Ａ ＝ １ビツト
）ｆ＋＝１０ＫＨｚ 程度であり、測定チャンネル数＝１００点、ｆＢ＝４０
Ｋ Ｈｚとすれば、 Ｓ／Ｎ −： ８９．５（ｄＢ） になる、この値は、１４〜１５ビット分解能のＡ／Ｄ変
換器に相当するものである。
）ｆ＋＝１０ＫＨｚ 程度であり、測定チャンネル数＝１００点、ｆＢ＝４０
Ｋ Ｈｚとすれば、 Ｓ／Ｎ −： ８９．５（ｄＢ） になる、この値は、１４〜１５ビット分解能のＡ／Ｄ変
換器に相当するものである。
このように構成することにより、デジタルフィルタは集
積回路化でき、スペース的にもメリットは大きい、また
、デジタルフィルタは時定数の変更が容易であり、電源
周波数に限らずどのような周波数のノイズにも対処でき
る。
積回路化でき、スペース的にもメリットは大きい、また
、デジタルフィルタは時定数の変更が容易であり、電源
周波数に限らずどのような周波数のノイズにも対処でき
る。
また、測定チャンネル当りのサンプリング周波数が高い
ために現状の多点測定Ａ／Ｄ変換器に比べて再現できる
周波数を飛躍的に高くできる。
ために現状の多点測定Ａ／Ｄ変換器に比べて再現できる
周波数を飛躍的に高くできる。
また、測定チャンネル間の耐圧は高速半導体スイッチを
用いたスキャナの耐圧に依存することになるが、これら
スキャナの耐圧は１５００Ｖ程度までは実現できており
、実用上支障はない。
用いたスキャナの耐圧に依存することになるが、これら
スキャナの耐圧は１５００Ｖ程度までは実現できており
、実用上支障はない。
また、オーバーサンプリング方式のＡ／Ｄ変換器を第２
図（ａ）のようなシーケンスで使用すると通常の構成で
はデジタルフィルタの時定数の影響により出力データが
追従できなくなるが、第１図の構成によれば位相差は生
じるものの波形は忠実に再現できることになる。
図（ａ）のようなシーケンスで使用すると通常の構成で
はデジタルフィルタの時定数の影響により出力データが
追従できなくなるが、第１図の構成によれば位相差は生
じるものの波形は忠実に再現できることになる。
そしてさらに、スキャナおよびＡ／Ｄ変換器の速度が向
上できればより高分解能の多点測定装置が実現できる。
上できればより高分解能の多点測定装置が実現できる。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、高速で低分解能
のＡ／Ｄ変換器を用いて高速で高い分解能の測定結果が
得られる低コストの多点測定装置が実現できる。
のＡ／Ｄ変換器を用いて高速で高い分解能の測定結果が
得られる低コストの多点測定装置が実現できる。
第１図は本発明の一実總例を示すブロック図、第２図は
および第３図は第１図の動作を説明する波形図、第４図
は従来の装置の一例を示すブロック図、第５図は第４図
の動作を説明するタイミングチャート、第６図は第４１
１Ｚの他の動作の説明図である。 ４・・・スキャナ、 ５・・・Ａ／Ｄ変換器、 ・・デジタ 第４ 尻 第 図 ＺＤｔｙｒｓｅＣ２スよ ｒｃノデニｆｔノ７レート ＣＨＩデ′−７ ｃＨ２デ′−７ 乙Ｈ，３ｆ−７− 第 Ｌ ス （Ｃ）、！：刀ｆ−ｙ ＣＨ１ｃ＋Ｍｔ−−− ｒダ Ｆ７
および第３図は第１図の動作を説明する波形図、第４図
は従来の装置の一例を示すブロック図、第５図は第４図
の動作を説明するタイミングチャート、第６図は第４１
１Ｚの他の動作の説明図である。 ４・・・スキャナ、 ５・・・Ａ／Ｄ変換器、 ・・デジタ 第４ 尻 第 図 ＺＤｔｙｒｓｅＣ２スよ ｒｃノデニｆｔノ７レート ＣＨＩデ′−７ ｃＨ２デ′−７ 乙Ｈ，３ｆ−７− 第 Ｌ ス （Ｃ）、！：刀ｆ−ｙ ＣＨ１ｃ＋Ｍｔ−−− ｒダ Ｆ７
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周期１／Ｎ・ｆ＿１で複数Ｎの測定チャンネルを選択す
る高速半導体スイッチよりなるスキャナと、このスキャ
ナから出力されるアナログ信号を周期１／ｆ＿２（Ｎ・
ｆ＿１＜ｆ＿２）でデジタル信号に変換する高速オーバ
ーサンプリング方式のＡ／Ｄ変換器と、 このＡ／Ｄ変換器の出力データを各測定チャンネル毎に
１個のデータに変換し、変換されたデータを前記スキャ
ナの切換に同期して各測定チャンネル毎に選択的に出力
するデジタル信号処理部と、各測定チャンネル毎に設け
られ、デジタル信号処理部の出力データから測定信号成
分のみのデジタルデータを生成するデジタルフィルタ、 を設けたことを特徴とする多点測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17382989A JPH0338926A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 多点測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17382989A JPH0338926A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 多点測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0338926A true JPH0338926A (ja) | 1991-02-20 |
Family
ID=15967929
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17382989A Pending JPH0338926A (ja) | 1989-07-05 | 1989-07-05 | 多点測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0338926A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0613906A (ja) * | 1992-03-30 | 1994-01-21 | Toshiba Corp | Σ−δ変調器 |
| US6638421B2 (en) | 2000-11-30 | 2003-10-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Water treatment control system using fluorescence analyzer |
| JP2013032960A (ja) * | 2011-08-02 | 2013-02-14 | Hioki Ee Corp | コンデンサの絶縁抵抗測定装置およびコンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326652A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-11 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | Analog-digital converter with automatic monitor |
| JPS63316522A (ja) * | 1987-06-19 | 1988-12-23 | Hitachi Ltd | Ａ／ｄ変換装置 |
-
1989
- 1989-07-05 JP JP17382989A patent/JPH0338926A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5326652A (en) * | 1976-08-25 | 1978-03-11 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | Analog-digital converter with automatic monitor |
| JPS63316522A (ja) * | 1987-06-19 | 1988-12-23 | Hitachi Ltd | Ａ／ｄ変換装置 |
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|---|---|---|---|---|
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