JPH0335439A - 情報記録媒体 - Google Patents
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- JPH0335439A JPH0335439A JP1169611A JP16961189A JPH0335439A JP H0335439 A JPH0335439 A JP H0335439A JP 1169611 A JP1169611 A JP 1169611A JP 16961189 A JP16961189 A JP 16961189A JP H0335439 A JPH0335439 A JP H0335439A
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Landscapes
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、レーザビーム等の光ビームを照射すること
により記録層に結晶相と非晶質相との間の相変化を生じ
させて情報を情報を記録又は消去することができる光デ
ィスク等の情報記録媒体に関する。
により記録層に結晶相と非晶質相との間の相変化を生じ
させて情報を情報を記録又は消去することができる光デ
ィスク等の情報記録媒体に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題)
従来より、情報の消去が可能な光ディスクとして相変化
型のものが知られている。このような相変化型の光ディ
スクにおいては、記録層に照射するレーザビームの照射
条件により、記録層の照射部分を相異なる2つの構造状
態の間で可逆的に変化させることにより情報を記録・消
去する。
型のものが知られている。このような相変化型の光ディ
スクにおいては、記録層に照射するレーザビームの照射
条件により、記録層の照射部分を相異なる2つの構造状
態の間で可逆的に変化させることにより情報を記録・消
去する。
このような光ディスクに使用される材料としては、例え
ばTe、Ge、TeGe、InSe。
ばTe、Ge、TeGe、InSe。
5bSe、5bTe等の半導体、半導体化合物、又は金
属間化合物が知られている。これらは、レーザビームの
照射条件により、結晶相及び非晶質相の2つの状態をと
り得、各状態における複素屈折率Nmn−1kが相違す
る。レーザビームによる熱処理で記録層のレーザビーム
照射部分の状態を結晶相と非晶質相との間で可逆的に変
化させて消去可能な光メモリとする着想は、S、R。
属間化合物が知られている。これらは、レーザビームの
照射条件により、結晶相及び非晶質相の2つの状態をと
り得、各状態における複素屈折率Nmn−1kが相違す
る。レーザビームによる熱処理で記録層のレーザビーム
照射部分の状態を結晶相と非晶質相との間で可逆的に変
化させて消去可能な光メモリとする着想は、S、R。
0vshinsky等によって提案されている(Met
allurglcal Transactions 2
.641 (1971))。
allurglcal Transactions 2
.641 (1971))。
これによれば、レーザビームの照射条件により、照射部
分を選択的にに結晶及び非晶質のいずれかの状態にし、
再生用レーザビームの照射による反射率の相違によって
これら2つの状態を区別して情報の再生を行う。情報を
記録する場合には、記録層にその材料の融点を超える温
度に加熱可能な高パワーで短いパルス幅のレーザビーム
を照射して照射部分を溶融急冷し、非晶質の記録ピット
を形成する。また、記録された情報を消去する場合には
、記録層材料の結晶化温度を超える温度に加熱可能なパ
ワーで比較的長いパルス幅のレーザビームを照射して徐
冷し、記録ビットを結晶状態に戻す。
分を選択的にに結晶及び非晶質のいずれかの状態にし、
再生用レーザビームの照射による反射率の相違によって
これら2つの状態を区別して情報の再生を行う。情報を
記録する場合には、記録層にその材料の融点を超える温
度に加熱可能な高パワーで短いパルス幅のレーザビーム
を照射して照射部分を溶融急冷し、非晶質の記録ピット
を形成する。また、記録された情報を消去する場合には
、記録層材料の結晶化温度を超える温度に加熱可能なパ
ワーで比較的長いパルス幅のレーザビームを照射して徐
冷し、記録ビットを結晶状態に戻す。
このような情報の記録・消去は、急冷非晶質化を行うた
めの円形スポットのレーザビームと、徐冷結晶化を行う
ための長楕円形スポットの消去用のレーザビームとを用
いる2ビ一ム方式で行われる。
めの円形スポットのレーザビームと、徐冷結晶化を行う
ための長楕円形スポットの消去用のレーザビームとを用
いる2ビ一ム方式で行われる。
しかしながら、このような2ビ一ム方式では、光学系が
複雑となり、特に、長楕円スポットをディスクのスパイ
ラル状のトラックに追従させることが困難なため、複雑
な機構が必要となる。
複雑となり、特に、長楕円スポットをディスクのスパイ
ラル状のトラックに追従させることが困難なため、複雑
な機構が必要となる。
そこで、記録と消去とを1つのレーザビームで行う1ビ
一ム方式の研究が進められている。この1ビ一ム方式に
おいては原理的にオーバーライドを容易に行うことがで
きる。オーバーライドとは、単一のレーザビームから放
射されるレーザビームを2段階のパワーレベルP[1(
消去)及びPW(記録) (Pw >pa )の間で
パワー変調し、これにより既に記録された情報を消去し
ながら新しい情報を重ね書きする方式のことである。こ
のように1ビームのレーザでオーバーライドを行う方式
は1ビ一ムオーバライド方式と称されている。
一ム方式の研究が進められている。この1ビ一ム方式に
おいては原理的にオーバーライドを容易に行うことがで
きる。オーバーライドとは、単一のレーザビームから放
射されるレーザビームを2段階のパワーレベルP[1(
消去)及びPW(記録) (Pw >pa )の間で
パワー変調し、これにより既に記録された情報を消去し
ながら新しい情報を重ね書きする方式のことである。こ
のように1ビームのレーザでオーバーライドを行う方式
は1ビ一ムオーバライド方式と称されている。
1ビ一ム方式は、上述した2ビ一ム方式における他の欠
点をも解消することができる。
点をも解消することができる。
しかしながら、1ビ一ムオーバーライド方式を相変化型
記録層に適用する場合には、以下のような困難性を伴う
。すなわち、記録層のビーム照射部分が非晶質状態にな
るか結晶状態になるかは照射されるレーザビームのパワ
ーの大きさのみで決定されるから、情報の消去において
徐冷結晶化を行うことができない。つまり、非晶質化と
同じ程度の短い時間で結晶化を行なわなければならなも
1゜また、情報を記録する場合にも記録用ビームのノく
ワーレベルは消去用パワーレベルに重畳されているため
、非晶質記録ピットが形成されるべき部分の周辺部分が
消去用パワーレベルのレーザによって熱せられ、急冷さ
れに<<、非晶質の記録ピ・ソトの形成が困難である。
記録層に適用する場合には、以下のような困難性を伴う
。すなわち、記録層のビーム照射部分が非晶質状態にな
るか結晶状態になるかは照射されるレーザビームのパワ
ーの大きさのみで決定されるから、情報の消去において
徐冷結晶化を行うことができない。つまり、非晶質化と
同じ程度の短い時間で結晶化を行なわなければならなも
1゜また、情報を記録する場合にも記録用ビームのノく
ワーレベルは消去用パワーレベルに重畳されているため
、非晶質記録ピットが形成されるべき部分の周辺部分が
消去用パワーレベルのレーザによって熱せられ、急冷さ
れに<<、非晶質の記録ピ・ソトの形成が困難である。
このように、相変化型の記録層において1ビームオーバ
ーライドは困難性を伴うため、これが可能な記録媒体と
して実用可能なものは未だ殆ど見出だされていないのが
現状である。
ーライドは困難性を伴うため、これが可能な記録媒体と
して実用可能なものは未だ殆ど見出だされていないのが
現状である。
この発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、
1ビームオーバーライドが可能であり、特性が良好な情
報記録媒体を提供することを目的とする。
1ビームオーバーライドが可能であり、特性が良好な情
報記録媒体を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
この発明に係る情報記録媒体は、基板と、光ビームの照
射条件により結晶相と非晶質相との間で可逆的に且つ還
択的に相変化する記録層と、前記基板と前記記録層との
間及び/又は前記記録層の上に設けられた保護層とを有
する情報記録媒体であって、前記記録層は、 (In+oo−x Sbx ) too−y Te、
(ただし、X。
射条件により結晶相と非晶質相との間で可逆的に且つ還
択的に相変化する記録層と、前記基板と前記記録層との
間及び/又は前記記録層の上に設けられた保護層とを有
する情報記録媒体であって、前記記録層は、 (In+oo−x Sbx ) too−y Te、
(ただし、X。
yは夫々原子%で表されており、夫々45≦x≦52.
25≦y≦45の範囲内である)で表される組成の合金
で形成され、前記保護層はCeO2で形成されているこ
とを特徴とする。
25≦y≦45の範囲内である)で表される組成の合金
で形成され、前記保護層はCeO2で形成されているこ
とを特徴とする。
(作 用)
記録層がIn、Sb、Teで構成され、これらが前述の
組成比で存在する記録層は高速結晶化及び非晶質化が容
易である。従って、記録部分を非晶質化の際と同程度に
急冷しても消去が可能であり、また、非晶質の記録ビッ
トの形成も容易である。更に、記録層に隣接してCeO
2で形成された保護層を設けることにより、記録層の温
度コントロールを有効に行うことができる。このため、
1ビームオーバーライドにおいて、良好なオーバーライ
ド特性を得ることができる。
組成比で存在する記録層は高速結晶化及び非晶質化が容
易である。従って、記録部分を非晶質化の際と同程度に
急冷しても消去が可能であり、また、非晶質の記録ビッ
トの形成も容易である。更に、記録層に隣接してCeO
2で形成された保護層を設けることにより、記録層の温
度コントロールを有効に行うことができる。このため、
1ビームオーバーライドにおいて、良好なオーバーライ
ド特性を得ることができる。
(実施例)
以下、この発明について具体的に説明する。
第1図は、この発明の実施例に係る情報記録媒体を示す
断面図である。基板1は透明で経時変化が少ない材料、
例えばガラス、又はポリカーボネートのような樹脂で形
成されている。基板1上には保護層2、記録層3、保護
層4、反射層5、及び樹脂層6がこの順に形成されてい
る。
断面図である。基板1は透明で経時変化が少ない材料、
例えばガラス、又はポリカーボネートのような樹脂で形
成されている。基板1上には保護層2、記録層3、保護
層4、反射層5、及び樹脂層6がこの順に形成されてい
る。
保護層2.4はCeO2で形成されており、以下のよう
な機能を有している。
な機能を有している。
■レーザビームを記録層3に照射した際に、その照射部
分が蒸発して穴が形成されることを防止する機能。
分が蒸発して穴が形成されることを防止する機能。
■記録層3にレーザビームを照射した際に、所望の相変
化が生じるように記録層3の温度をコントロールする機
能。
化が生じるように記録層3の温度をコントロールする機
能。
■光学的な干渉を利用して再生信号をエンハンスする機
能。
能。
CeO,は熱伝導率に、が約0.08W/cs+・℃と
大きく、I n5bTe合金の0.17W/am・℃の
1/2程度であるから、このような保護層2.4を設け
ることにより、記録層3の温度コントロールを有効に行
うことができ、オーバーライド特性を著しく向上させる
ことができる。
大きく、I n5bTe合金の0.17W/am・℃の
1/2程度であるから、このような保護層2.4を設け
ることにより、記録層3の温度コントロールを有効に行
うことができ、オーバーライド特性を著しく向上させる
ことができる。
なお、保護層2,4は上述のように両方設けることが好
ましいが、いずれか一方であってもよい。
ましいが、いずれか一方であってもよい。
反射層5は、A1等の金属で形成されており、再生用の
レーザビームを反射させ、保護層4と共働して再生信号
をエンハンスする機能を有している。
レーザビームを反射させ、保護層4と共働して再生信号
をエンハンスする機能を有している。
樹脂層6は、例えば紫外線硬化樹脂で形成されており、
傷等が発生することを防止する機能を有している。
傷等が発生することを防止する機能を有している。
なお、反射層5及び樹脂層6は設けることが好ましいが
、必ずしも設ける必要はない。
、必ずしも設ける必要はない。
記録層3は、
(I n1oO−x Sb藁) +00−y Tev
(ただし、x。
(ただし、x。
yは夫々原子%で表されており、夫々45≦x≦50.
25≦y≦45の範囲内である)で表される組成の合金
で形成されている。この組成は、第2図の斜線で示す範
囲内であり、このような組成の合金は高速結晶化及び易
非晶質化を満足し、1ビームオーバライドが可能となる
。以下、その理由について説明する。
25≦y≦45の範囲内である)で表される組成の合金
で形成されている。この組成は、第2図の斜線で示す範
囲内であり、このような組成の合金は高速結晶化及び易
非晶質化を満足し、1ビームオーバライドが可能となる
。以下、その理由について説明する。
In−3b系において、In5oSbso金属間化合物
は結晶化速度が極めて速いことは既に知られている。本
願発明者の実験によれば、その結晶化速度は45 n5
ecであった。従って、このIn5゜5bso金属間化
合物をベースにした組成であれば、高速結晶化が可能で
ある。一方、In5(ISbs。金属間化合物よりもs
bが多い組成では、過剰なsbが析出することにより結
晶化速度が著しく遅くなる。これに対してInが過剰の
場合には、このようなことはない。従って、In5゜5
bso金属間化合物のみならず、これよりも若干Inを
過剰にした組成において結晶化速度を速くすることがで
きる。すなわち、I n’lo。−g S b mにお
いて45≦x≦50の範囲の合金をベースにすれば、高
速結晶化が可能である。しかしながら、このような組成
の合金は、結晶化速度は速いがゆえに、非晶質化が困難
である。
は結晶化速度が極めて速いことは既に知られている。本
願発明者の実験によれば、その結晶化速度は45 n5
ecであった。従って、このIn5゜5bso金属間化
合物をベースにした組成であれば、高速結晶化が可能で
ある。一方、In5(ISbs。金属間化合物よりもs
bが多い組成では、過剰なsbが析出することにより結
晶化速度が著しく遅くなる。これに対してInが過剰の
場合には、このようなことはない。従って、In5゜5
bso金属間化合物のみならず、これよりも若干Inを
過剰にした組成において結晶化速度を速くすることがで
きる。すなわち、I n’lo。−g S b mにお
いて45≦x≦50の範囲の合金をベースにすれば、高
速結晶化が可能である。しかしながら、このような組成
の合金は、結晶化速度は速いがゆえに、非晶質化が困難
である。
ところが、本願発明者の検討の結果、この組成の合金に
対して25乃至45原子%の範囲で非晶質化が容易なカ
ルコゲン系の材料であるTeを添加することにより、非
晶質化が容易となり、しかも、結晶化速度が速い(約1
5 n5ec)純Teの効果が現れるため、高結晶化速
度が維持されることが判明した。従って、記録層3を前
述のような組成にすることにより、高速結晶化及び易非
晶質化を満足し、1ビームオーバライドが可能となる。
対して25乃至45原子%の範囲で非晶質化が容易なカ
ルコゲン系の材料であるTeを添加することにより、非
晶質化が容易となり、しかも、結晶化速度が速い(約1
5 n5ec)純Teの効果が現れるため、高結晶化速
度が維持されることが判明した。従って、記録層3を前
述のような組成にすることにより、高速結晶化及び易非
晶質化を満足し、1ビームオーバライドが可能となる。
これに、前述した保護層2,4の効果が付加されること
により、極めて良好なオーバーライド特性を得ることが
できる。
により、極めて良好なオーバーライド特性を得ることが
できる。
次に、以上のように構成される情報記録媒体の製造方法
の例について説明する。先ず、基板1をスパッタリング
装置の真空チャンバ内に設置し、チャンバ内を高真空に
する。次いで、チャンバ内にアルゴンガスを導入し、C
eO,で形成されたターゲットのアルゴンスパッタリン
グを実施する。
の例について説明する。先ず、基板1をスパッタリング
装置の真空チャンバ内に設置し、チャンバ内を高真空に
する。次いで、チャンバ内にアルゴンガスを導入し、C
eO,で形成されたターゲットのアルゴンスパッタリン
グを実施する。
これにより基板1上に保護層2が形成される。
チャンバ内を同じ雰囲気に維持したまま、記録層の各構
成元素でつくられたターゲットの3元同時スパッタリン
グ、又は予め得ようとする記録層組成に調節された合金
ターゲットのスパッタリングによって記録層3を形成す
る。
成元素でつくられたターゲットの3元同時スパッタリン
グ、又は予め得ようとする記録層組成に調節された合金
ターゲットのスパッタリングによって記録層3を形成す
る。
その後、保護層2と同様にして保護層4を形成する。更
に、所望の金属ターゲットをスパッタリングして反射層
5を形成する。
に、所望の金属ターゲットをスパッタリングして反射層
5を形成する。
その後、基板をスパッタリング装置から外して、スピン
コード法により反射層5の上に紫外線硬化樹脂を塗布し
、これに紫外線を照射して樹脂層6を形成する。
コード法により反射層5の上に紫外線硬化樹脂を塗布し
、これに紫外線を照射して樹脂層6を形成する。
次に、このように構成される情報記録媒体における初期
化、並びに情報のオーバーライド及び再生について説明
する。
化、並びに情報のオーバーライド及び再生について説明
する。
初期化
記録層3は成膜直後には通常非晶質であるから、非晶質
の記録マークを形成できるようにするために、この記録
層3にレーザビームを連続光照射して記録層を溶融した
後、徐冷し、結晶相に相変化させる。
の記録マークを形成できるようにするために、この記録
層3にレーザビームを連続光照射して記録層を溶融した
後、徐冷し、結晶相に相変化させる。
記録(オーバーライド)
情報の記録に際しては、第3図に示すように、レベルが
高い記録用レベルP、とこれよりもレベルが低い消去用
パワーPEとの間でパワー変調してレーザビームを記録
層3に照射する。1回目の記録ではPwにより記録のみ
を行い記録層3に記録マーク9を形成する。2回目以降
は、従前に記録されている情報をP9のパワーで消去し
ながら新しい情報を重書きする。光ディスクの場合は、
ディスクを所定速度で回転しながら、重書きしたい領域
にPwのパワーの記録ビームを照射する。
高い記録用レベルP、とこれよりもレベルが低い消去用
パワーPEとの間でパワー変調してレーザビームを記録
層3に照射する。1回目の記録ではPwにより記録のみ
を行い記録層3に記録マーク9を形成する。2回目以降
は、従前に記録されている情報をP9のパワーで消去し
ながら新しい情報を重書きする。光ディスクの場合は、
ディスクを所定速度で回転しながら、重書きしたい領域
にPwのパワーの記録ビームを照射する。
そして、記録用ビームが照射されない部分には消去用パ
ワーPBのビームが照射されることになる。
ワーPBのビームが照射されることになる。
これにより、PRが照射された部分では従前の非晶質記
録マーク9が結晶相に相変化して情報が消去され、Pw
が照射された部分は非晶質に相変化して記録マーク9が
形成される。
録マーク9が結晶相に相変化して情報が消去され、Pw
が照射された部分は非晶質に相変化して記録マーク9が
形成される。
再 生
情報の再生に関しては、P Kより更にパワーが小さい
レーザビームを記録層3に照射し、記録マーク9と非記
録部分との反射光強度の差を光電変換素子により検出す
ることによりなされる。
レーザビームを記録層3に照射し、記録マーク9と非記
録部分との反射光強度の差を光電変換素子により検出す
ることによりなされる。
次に、この実施例に基いて、実際に光ディスクを作成し
て特性を評価した結果について説明する。
て特性を評価した結果について説明する。
3元のスパッタリング装置の真空チャンバ内にグループ
付のポリカーボネート製の直径5インチのディスク状基
板をセットし、CeO2ターゲットにラジオフリークエ
ンシー(R,F、)パワーを投入してアルゴンガスのス
パッタリングラ行い、基板上に保護層として厚みが約5
00ÅのCeO,層を成膜した。
付のポリカーボネート製の直径5インチのディスク状基
板をセットし、CeO2ターゲットにラジオフリークエ
ンシー(R,F、)パワーを投入してアルゴンガスのス
パッタリングラ行い、基板上に保護層として厚みが約5
00ÅのCeO,層を成膜した。
次に、1n5゜Sbう。金属間化合物ターゲットと純T
eターゲットにR,F、パワーを投入してアルゴンガス
中の同時スパッタリングを行い、厚みが約400Åの記
録層を成膜した。この際に、記録層の組成が(In+o
o−m Sbm ) too−y Te。
eターゲットにR,F、パワーを投入してアルゴンガス
中の同時スパッタリングを行い、厚みが約400Åの記
録層を成膜した。この際に、記録層の組成が(In+o
o−m Sbm ) too−y Te。
で表される所定の組成となるように、予めR,F。
パワーを調節しておいた。
その後、再度Ce O2のアルゴンスパッタリングを行
い、記録層上に厚みが約500λのCeO,保護層を成
膜した。
い、記録層上に厚みが約500λのCeO,保護層を成
膜した。
更に、AuターゲットにR,F、パワーを投入してアル
ゴンスパッタリングを行い、CeO2保護層の上に、再
生信号をエンハンスするためのAu反射層を約200大
の厚みで成膜した。
ゴンスパッタリングを行い、CeO2保護層の上に、再
生信号をエンハンスするためのAu反射層を約200大
の厚みで成膜した。
その後、このディスクをスパッタリング装置から取り出
し、スピナーにセットして紫外線硬化樹脂を約10μm
の厚みでスピンコードし、紫外線を照射して硬化させ、
樹脂層を形成した。
し、スピナーにセットして紫外線硬化樹脂を約10μm
の厚みでスピンコードし、紫外線を照射して硬化させ、
樹脂層を形成した。
以上のようにして記録層の組成を種々に変化させた複数
の光デイスクサンプルを作成した。記録層の組成は以下
の通りである。
の光デイスクサンプルを作成した。記録層の組成は以下
の通りである。
サンプルA群; (InsoSb、o) too−y
Te。
Te。
(y=20.25,30.35,45.50)サンプル
B群; (I n 55S b 45) too−y
T e v(y−20,25,30,35,45,5
0)サンプルC群; (InszSb4s) too
−F TeF(y−20,25,30,35,45,5
0)サンプルD群; (In4ssbs2) roo
−Te。
B群; (I n 55S b 45) too−y
T e v(y−20,25,30,35,45,5
0)サンプルC群; (InszSb4s) too
−F TeF(y−20,25,30,35,45,5
0)サンプルD群; (In4ssbs2) roo
−Te。
(y=20. 25. 30. 35. 45. 50
)サンプルE群; (I n4g5bss) +00
− Te。
)サンプルE群; (I n4g5bss) +00
− Te。
(y−20,25,30,35,45,50)なお、こ
れら35枚のディスクサンプルは、記録層の組成以外は
全て同一の条件で作成した。
れら35枚のディスクサンプルは、記録層の組成以外は
全て同一の条件で作成した。
次に、これらのサンプルを180 Or、p、mで回転
させつつ、以下のような手順で動特性評価した。
させつつ、以下のような手順で動特性評価した。
(a)先ず、記録層面におけるパワーが14mWの連続
発光のレーザ光にて、成膜直後非晶質の記録層のトラッ
クを結晶化させた。この場合に、この部分が完全に結晶
化するように、同一トラックを3回レーザビームでなぞ
った。
発光のレーザ光にて、成膜直後非晶質の記録層のトラッ
クを結晶化させた。この場合に、この部分が完全に結晶
化するように、同一トラックを3回レーザビームでなぞ
った。
(b)次いで、第3図に示すようなオーバーライド波形
のパルスレーザにより。先ず1回目の記録を行った。こ
の場合に、パワー14mWで周波数4 M Hz 、デ
ユーティ−比50%の記録用パルスにより、上述の結晶
化したトラック上に情報を記録した。なお、消去用のバ
イアスパワーは8 m Wとした。
のパルスレーザにより。先ず1回目の記録を行った。こ
の場合に、パワー14mWで周波数4 M Hz 、デ
ユーティ−比50%の記録用パルスにより、上述の結晶
化したトラック上に情報を記録した。なお、消去用のバ
イアスパワーは8 m Wとした。
記録後、記録層のグループに0.8mWの再生用レーザ
ビームを照射して記録した情報を再生した。その再生信
号をA/D変換してスペクトロアナライザにてC/N値
を測定した。
ビームを照射して記録した情報を再生した。その再生信
号をA/D変換してスペクトロアナライザにてC/N値
を測定した。
(C)記録パルスの周波数を5 M Hz 、デユーテ
ィ−比50%に変化させた以外は上述のオーバーライド
波形と同様の条件のパルスレーザを、1回目の記録を行
ったグループに照射しオーバーライドを行った。
ィ−比50%に変化させた以外は上述のオーバーライド
波形と同様の条件のパルスレーザを、1回目の記録を行
ったグループに照射しオーバーライドを行った。
オーバーライド後、記録層のグループに再び0.8mW
の再生用レーザビームを照射して記録された情報を再生
し、その再生信号をA/D変換し、スペクトロアナライ
ザにてC/N値を測定した。また、従前の周波数4 M
Hzでの記録の消去残り信号のC/N値を測定し、従
前の記録マークがどの程度消去されたかを消去度として
測定した。
の再生用レーザビームを照射して記録された情報を再生
し、その再生信号をA/D変換し、スペクトロアナライ
ザにてC/N値を測定した。また、従前の周波数4 M
Hzでの記録の消去残り信号のC/N値を測定し、従
前の記録マークがどの程度消去されたかを消去度として
測定した。
その結果を第4図乃至第8図に示す。第4図乃至第8図
は、横軸にTe含有量をとり、縦紬にC/N値及び消去
度をとって、これらの関係を示すグラフであり、夫々A
群乃至E群について示すものである。
は、横軸にTe含有量をとり、縦紬にC/N値及び消去
度をとって、これらの関係を示すグラフであり、夫々A
群乃至E群について示すものである。
ここでいうC/N値及び消去度について、第9図を参照
して説明する。第9図(a)に示すように1回目の記録
(4MHz)後の再生信号のC/N値をAとし、(b)
に示すように、オーバーライド(5MHz)後の再生信
号のC/N値を81オーバーライド後の第1回目の記録
の消去残り信号のC/N値をBとした場合に、B−Aが
消去度であり、CがC/N値である。
して説明する。第9図(a)に示すように1回目の記録
(4MHz)後の再生信号のC/N値をAとし、(b)
に示すように、オーバーライド(5MHz)後の再生信
号のC/N値を81オーバーライド後の第1回目の記録
の消去残り信号のC/N値をBとした場合に、B−Aが
消去度であり、CがC/N値である。
第4図乃至第8図において、C/N値が35dB以上、
消去値が一20dB以下となれば良好なオーバーライド
特性と判断し、それ以外の値であれば特性不十分と判断
した。このようにして特性が良好と判断された組成をQ
印、特性不十分と判断された組成をX印として、第10
図に示す組成図に記載した。
消去値が一20dB以下となれば良好なオーバーライド
特性と判断し、それ以外の値であれば特性不十分と判断
した。このようにして特性が良好と判断された組成をQ
印、特性不十分と判断された組成をX印として、第10
図に示す組成図に記載した。
第10図から明かなように、記録層の組成を(In+o
o−m St)m ) Zoo−F Te、と表した場
合に、45≦x≦52.25≦y≦45であれば良好な
オーバーライド特性が得られることが確認された。
o−m St)m ) Zoo−F Te、と表した場
合に、45≦x≦52.25≦y≦45であれば良好な
オーバーライド特性が得られることが確認された。
[発明の効果]
この発明によれば、記録層の組成を
(I n+oo−x Sbm ) 100−y Te、
(ただし〜x。
(ただし〜x。
yは夫々原子%で表されており、夫々45≦x≦52.
25≦y≦45の範囲内である)としたので、記録層を
高速で結晶化させることができ、且つ非晶質化が容易と
なる。また、CeO2で形成された保護層を記録層に隣
接して設けたので記録層の温度コントロールを有効に行
うことができる。
25≦y≦45の範囲内である)としたので、記録層を
高速で結晶化させることができ、且つ非晶質化が容易と
なる。また、CeO2で形成された保護層を記録層に隣
接して設けたので記録層の温度コントロールを有効に行
うことができる。
従って、極めて良好なオーバーライド特性を得ることが
できる。
できる。
第1図はこの発明の実施例に係る情報記録媒体を示す断
面図、第2図はこの発明の情報記録媒体の記録層組成を
示すIn−3b−Te系組成図、第3図は単一ビームに
よるパワー変gのオーバーライドを行う際のレーザパワ
ーを示す図、第4図乃至第8図は記録層組成とオーバー
ライド特性との関係を示すグラフ、第9図はオーバーラ
イドの際のC/N値及び消去度を説明するための図、第
10図は実験によって得られたオーバーライド特性の良
悪を示すIn−8b−Te系組成図である。 1;基板、2,4;保護層、3;記録層、5;反射層、
6;樹脂層。
面図、第2図はこの発明の情報記録媒体の記録層組成を
示すIn−3b−Te系組成図、第3図は単一ビームに
よるパワー変gのオーバーライドを行う際のレーザパワ
ーを示す図、第4図乃至第8図は記録層組成とオーバー
ライド特性との関係を示すグラフ、第9図はオーバーラ
イドの際のC/N値及び消去度を説明するための図、第
10図は実験によって得られたオーバーライド特性の良
悪を示すIn−8b−Te系組成図である。 1;基板、2,4;保護層、3;記録層、5;反射層、
6;樹脂層。
Claims (1)
- (1)基板と、光ビームの照射条件により結晶相と非晶
質相との間で可逆的に且つ選択的に相変化する記録層と
、前記基板と前記記録層との間及び/又は前記記録層の
上に設けられた保護層とを有する情報記録媒体であって
、前記記録層は、(In_1_0_0_−_xSb_x
)_1_0_0_−_yTe_y(ただし、x、yは夫
々原子%で表されており、夫々45≦x≦52、25≦
y≦45の範囲内である)で表される組成の合金で形成
され、前記保護層はCeO_2で形成されていることを
特徴とする情報記録媒体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169611A JPH0335439A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 情報記録媒体 |
EP19900111119 EP0405225A3 (en) | 1989-06-30 | 1990-06-12 | Information storage medium |
KR1019900009889A KR910001684A (ko) | 1989-06-30 | 1990-06-30 | 정보기록매체 |
US07/825,817 US5202881A (en) | 1989-06-30 | 1992-01-21 | Information storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1169611A JPH0335439A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 情報記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0335439A true JPH0335439A (ja) | 1991-02-15 |
Family
ID=15889706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1169611A Pending JPH0335439A (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 情報記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0335439A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003044788A1 (en) * | 2001-11-22 | 2003-05-30 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
JP2010261563A (ja) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | Burest Kogyo Kenkyusho Co Ltd | 長尺物支持具 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169611A patent/JPH0335439A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003044788A1 (en) * | 2001-11-22 | 2003-05-30 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US6921568B2 (en) | 2001-11-22 | 2005-07-26 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
JP2010261563A (ja) * | 2009-05-11 | 2010-11-18 | Burest Kogyo Kenkyusho Co Ltd | 長尺物支持具 |
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