JPH0334348A - セル構造電力用半導体装置 - Google Patents

セル構造電力用半導体装置

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JPH0334348A
JPH0334348A JP2019366A JP1936690A JPH0334348A JP H0334348 A JPH0334348 A JP H0334348A JP 2019366 A JP2019366 A JP 2019366A JP 1936690 A JP1936690 A JP 1936690A JP H0334348 A JPH0334348 A JP H0334348A
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ジャック アルヌール
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La Telemecanique Electrique SA
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[技術分野] 本発明は新規なセル構造電力用半導体装置に関し、より
詳しくは、複数個のn−型又はp−型の拡散ffI域が
それぞれp−型又はn−型の基板の表面に形成され、そ
の複数の拡散領域と基板の露出領域とがn−型とp型の
セルが交互に回路網を形成するような相互関係をもって
配列されているように構成されたタイプのセル構造電力
用半導体装置に関するものである。そして、それぞれの
型からなるセルは互に接続され、かつ装置の接続領域の
一つとして画定された共通の導電領域にすべて接続され
ているものである。 [背景技術] この種装置の一従来例としては、例えばフランス特許第
2545.654号明細書で公知であるが、同−柚角の
他の装置に対するこの従来例の長所は良好な電圧及び周
波数特性と回路網を構成する全てのセルへ−様な電流が
供給できる点である。 しかし、装置の電流定格を増加しなければならぬ時には
、個々のセルの数、従ってチップ及び導電シートの面積
を増加しなければならない。電流供給端子とこの端子か
ら最も離れているセルとの間の電流路は長すぎるため大
電気抵抗をもたらし、電圧の相当な低下を生じる。 実際には、上述の特許では、1mの数十倍のピッチで分
111シているセルをもち、平方闘の数十倍に限定され
た表面積を有するような装置が形成されるようになって
いる。 更に高い許容電力を有する装置を製作する現在の一つの
方法は複数個の小型装置を小型化して装置し、配線によ
って同一の前記の個々の装置を相互に接続する事によっ
て構成されるものである。 この公知の方法は労働力を要し、実現性に乏しく、又、
信頼性に問題がある。 本発明は従来技術のこの短所を減少し、更に大きい電流
を流し得るもので、かつ過剰電気抵抗をに1−じる各セ
ルへの又はこれからの電流路を伴う串なしに比例的に大
きくした寸法の半導体チップ上に更に多数のセルを有す
るセル構造半導体装置を捉供するJGを目標とするもの
である。 本発明のもう一つの別の目的は電力用半導体装置におけ
る必要な配置1mを減少する事である。
【発明の開示】
この目的の為に、本発明は基板の表面に複数個の拡散領
域と基板の露出領域とを、相互関係がn−型とp−型と
が交互にセルの回路網を形成する様にp−型又はn−型
の基板上に拡散された複数個のそれぞれn−型又はp−
型の領域と、これら各型の全てのセルを相互に接続し、
さらに、装置の接続閉域に接続する部材とを有するセル
構造の電力用半導体装置において、前記装置が、基板の
表面上に位置し、これから絶縁され、第1の所定のパタ
ーンで、回路網に位置し相互に絶縁された第1及び第2
交互領域に第1境界領域内で分割され、その第1領域で
その下に隣接するn−型の各セルに、またその第2領域
でその下に隣接するp−型の各セルに、第1導電ピンを
介して接続されている第1導電シートと、 第1シートの上に位置し、これから絶縁され、同様に第
2の所定のパターンで、回路網に位置し相互に絶縁され
た第1及び第2交互領域に分割され、それぞれ第1導電
シートの第1及び第2領域に重なり合い、その第1領域
でその下に隣接するp−型の各セルに、その第2領域で
その下に隣接するn−型の各セルに、各セルと一致する
ようにして第1シートをこれとは絶縁されたままでその
電気的連続性を損う事なしに貫通する第2導電ピンを介
して接続されて成る第2導電シートと、第1及び第2導
電シートは前記第1境界領域内で第1シートの各第1及
び第2領域が、前記境界領域内において、第2シートの
隣接第2及び第1領域のそれぞれに接続される様に相互
に接続され、第2シートの上に位置し、これから絶縁さ
れ、第3の所定のパターンで、第2境界領域内で相互に
絶縁された第1及び第2領域に分割され、その第1領域
内で第2シートの各第2下部隣接領域に、又、その第2
領域で第2シートの各第1下部隣接領域にそれぞれ接続
された第3導電シートと、第3シートの上に位置し、こ
れから絶縁され、第4の所定のパターンで、相互に絶縁
され第3導電シートの各第1及び第2領域に重なり合う
第1及び第2領域に分割され、その第1領域で第2シー
トの各第1下部隣接領域に、又、その第2領域内で第2
シートの各第2下部隣接領域に、各セルと一致するよう
に、第2シートを貫通してこれとは絶縁状態でかつその
電気的連続性を損うJlなしに延在する第4導電ピンを
介して接続されている第4導電シートとを有し、 第3及び第4シートは前記第2境界領域において、第3
シートの第1及び第2領域が、前記境界領域西部におい
て第4シートの第2及び第1領域にそれぞれ接続される
様に相互に接続され、前記第2及び¥51領域がそれぞ
れ装置の接続領域を形成しており、 第3及び第4シートの厚みは第1及び第2シートの+V
みよりも大きく、又、第3及び第4ピンは第1及び第2
ピンよりも大きいように形成されて成る工Irを特徴と
するセル状電力用半導体装置に関する。 本発明の装置の好ましい構成は以下の通りである。即ち
、 一第1及び第2パターンは、第1及び第2シートの内の
一方の第1領域と他方のシートの第2領域とは′281
境界領域の両側に位置しているが、導電性接続が作られ
る各突出領域で相互に対向する様になって重なり合って
はいす、又、第3及び第4パターンは第3及び第4シー
トの内の一方の第1領域と他方のシートの第2領域とが
第1境界領域の両側に位置し、導電性接続が作られる各
突出領域で1・[I Uに対向する様になって重なり会
ってはいないように形成されている。 一セルの回路網と第1及び第2シートの等電領域の回路
網は少なくとも第1及び第2境昇頭域にそれぞれ平行な
1方向で周期的であり、第1及び第3パターンはそれぞ
れの回路網のピッチに雰しいピッチを有する規則正しい
パターンであり、又、第2及び第4パターンは第1及び
第3パターンに等しいが各境界領域の方向に関して対称
的である。 −セルの回路網はチェッカー立回路網である。 −第1及び第2シートの導電領域の回路網はセルのチェ
ッカー盤のそれに平行な方向のチェッカー立回路網であ
る、 一第1及び第2シートの導電領域の回路網はチェッカー
盤のセルの回路網の方向の一方に平行な方向の交互に平
行なバンドの回路網である。 −接続領域は直線状又は円形の境界領域で分離されてい
る、 一第2境界領域のパターンは第1境界領域のそれよりも
大きな振幅とピッチとを有し、大きな厚みの第3及び第
4導電シートにする1バを可能にする様に決定されてい
る。 実際には、本発明は、先行技術と同一のセル間隔ピッチ
を有しながら、上述の問題を起こさずに数平方cmまで
の表面積を有し得る電力形半導体装置を提供するもので
ある。 本発明のその他の特徴、目的、及び長所は、例示として
のその好ましい実施例に関する以下の詳細な説明、及び
添付図面を参照する’jJl lこよって更に良い迎角
tが得られるであろう。 [実施例] 第1a図から第1c図まで及び第2a図から第2C図ま
では本発明による電力用半導体装置の相違する2つの実
施例の装置の厚み内での3 t−,1のレベルにおける
模式的な水平断面図であり、第3図は第1a図、第2b
図、及び第1c図に示す!、lに構成された装置の線■
−■に沿って行った模式断面図であり、さらに、第4a
図及び第4b図は本発明による装置の実施例の2種の相
違する縮尺によって示した一部除夫斜視図である。 可能な限り、類似の参照番号はフランス特許第2545
654号のそれを使用するが、この特許は本明抑書中で
参考文献として結合されているので、本特許の原理を基
礎としている本発明の装置の製造に関してのこれ以上の
細部に関してはこれを参照されたい。 図示の装置は前述の特許中におけると同様、規則正しい
回路網に配列された複数個のn−型領域11が拡散され
ているp−型半導体風110をYTするバイポーラnp
n電力用半導体装置である。拡散領域11はチェッカー
盤パターンで基板の露出領域12と交互に並んでいる。 パターンのピッチは、例えば、数十ミクロンとすること
ができる。 第1相互接続レベルは半導体基板の上に設けられる。こ
れは第1絶縁層20、下部導電シート30、第2絶縁ン
ート40、及び上部導電シート50とからなり、その全
般的な機能はフランス特許第2545654号に従って
いる。 本発明の第1の重要な構成においては、第1#目互接続
レベルの目的は2つの導電性接続領域を作る二11では
なく、基板lOの(1^]々のセルのピ・ソチよりも#
11当に大きなピッチの第2回路網を形成する串で、交
互にその下に隣接するp−型及びn−型セルに4通する
導電領域によって形成されている。 これらの領域は第1b図で50b及び50cの番号を有
し、それぞれトラ・ンジスタのベースとエミッタに対応
している。第2回路網のピッチは数分のl開乃至数mm
の程度である。第2回路網はバンドの回路網(第1b図
)であってもよく、チェッカー立回路網(第2b図)で
あってもよい。 本発明の第2の重要なH1成によれば、半導体は同一の
導電型の導電領域(それぞれ領域50bと領域50e)
の全ての接続領域を定める2つの外部導電領域90bと
90eにそれぞれ接続する目的で第2柑亙接続レベルを
nする。第1の実施例(第1c図)においては、領域9
0b及び90eはチップの面積の約半分をそれぞれ占拠
し、これらは相互間が直径による境界領域で絶縁されて
いる。チップは数平方Cmの程度の面積を有し得る。 第2丈施例(第2c図)においては、これは装置の迅連
な組立てを可能にするものであるが、領域90bと90
cとは同心円的に位置している。ベース領域9 fl 
bは相当に大きな電流が流れるエミッタ領域圓Cに比較
して非常に小さい面積を有する。 第1C図及び第2c図に示す実施例は第1b図及び第2
b図のいずれかに示す回路網でそれぞれ得る!−1tか
出来る。 勿論、その他の任意の実施例を呈示するTieも、前記
特3′トで説明した(lに可能である。基板のp−型及
びn−型領域、第1レベルの導電領域、及び第2レベル
の導電接続領域、の各寸法、形状は相互に比較的独立し
て設計する車が出来る。 第3図は模式断面図によって各導電シート30゜50.
70、及び90(7)、及び又T51 L/ベベル絶縁
層20゜40、及び第2レベルの絶縁層60.80の相
互接続と配列の原理構成を示す。2つの導電領域90b
 、 90eは、一方では接続端子に、他方では各導電
領域50b 、 5.Ocに、従って址阪の全ての各p
−型及びn−型セルに接続されている。シート70.9
0の厚みはシート30.50のそれよりは非常に厚く、
一方絶縁層GO180の厚みは、以下に示すように、絶
縁層20.40のそれとほぼ同一程度である。 第4a図はフランス特許第2545654号に記載の構
造を一部切欠して詳細に斜視図で再呈示したものである
が、その中で使用したものと同一の2照番号を使用して
おり、前記特許の説明部分をG効に参照する事ができる
。明瞭化の為に第4a図は直線状の境界領域ZFによっ
て隔てられた一つの導電領域50bと一つの導電領域5
0eとのみを図示しているが、実際には半導体は複数個
のこの種の導電領域を有するものである。第1及び第2
導電シート30と50とは、平行バンド又はチェッカー
立回路網のいずれかで形成する複数個の境界領域ZFに
よって領域に再分割されている。第4a図はチェッカー
立回路網を示す。導電領域50b150eとの間の転移
53に対応する波模様か第4図に見られるが、これらは
境界領域ZFの幅の半分に等しい振幅とセルの回路網の
網目に対応するピッチとをGする。第4a図の従来列と
第4b図の実施例との間の縮尺の比(典型的にはtoo
にも達し11する比で)は、実際にはこれらの波模様は
、拡散基板10、第1柑互接続レベル100 、及び絶
縁層60、第3導電シート70、絶縁層80、及び第4
導電シート90から成る第2相互接続レベル200とを
示す第4b図では肉眼視不能である!1Nを意味する。 第4b図において、第4a図に示すものと類似の部材は
類似の参照番号を付しているが、4oのみ追加されてい
る。若干の同じ参照文字が第4b図においてもダッシュ
(prlse)を付して記載されている。従って、フラ
ンス特許第2545654号に記載されている事柄も、
本発明の電力用半導体の外部レベル200の製造及び利
用法において、参照番号に関しても参考になるという利
点がある。 導電pf1域50b 、 50cの上に被着された絶縁
層6゜は、下の領域50b 、 50cのそれぞれと並
んで位置する一連の開孔61と装置を2つの領域ZB’
とZE’ とに分割する軸gg’の両側で定められる境
界領域ZF’内に前記領域と整列して位置する開孔(図
示せず)とからなっている。 境界領域ZF’ は導電領域50b又は50eの幅を有
する直線状のバンドである。 下部の、即ち第3導電シート70が装置全体に被着され
、従ってその時間孔61を介してすべての導電頭載を接
続する。 そのとき、ピン71は閉域ZE’の中の各領域50cと
一致するよう・にして、又領域ZB’の中で各領域50
bと一致するように取り出され、かつ第3導電シート7
0とは絶縁されている。各ピン71の仕上げ形成はシー
ト70の厚み全体に亘って孔開けされた円形の溝72の
形成によって得られる。この要領で、領域ZE’の中に
導電領域50bがシート70を介してすべて相互接続さ
れ、又すべでの導電領域50eは絶縁される。反対の現
象が領域ZB’内で得られている。 この工程の同−段階中に、シート70内にシートを境y
7 M域ZF’内で相互に絶縁されている半シートに分
割し領域ZE’ とZB’ とをそれぞれ覆う連続溝7
3が形成される。 溝は好ましくは図示のように周期的正弦波形状を有する
が、その振幅とその周期は領域5(lb 、 50eの
回路網のメツシュの長さに等しい。第4a図に示す満3
3の場合と同様に、満73は、領域ZE’の半分の層と
領域ZB’の半分の層のそれぞれに属する交互の突出領
域74.74′ をこれが定めていると言う条件を満足
する限り、その他の適当なパターンに応じて変えること
ができる。 絶縁層80を次に装置全体に施すが、次に各ピン71の
頂部8(をエツチング除去する。この同じ段階において
追加的開孔82.82′を境界頭載ZF’ に沿って前
に作った)Iカの両側にエツチング開孔する。 開孔82は閉域ZE’の突出領域74に対応し、一方間
孔82′は領域ZB’の突出領域74′に対応する。 次に第4導電シート90を装置全体に被着して、前もっ
て作った全ての装置のピン71と追加的開孔82.82
′ との間を確実に電気的に接続をする。 装置の製造における最終段階は領域ZF’ に沿ってシ
ート90の厚み全部に亘る第2溝93を作る事から戊る
。シート90は従って相互間が電気的に絶縁された2個
の半シートに分割される。 1M93は、満73のパターンに関連して設けられるよ
うになっていて、境界領域の両側にそれぞれ位置する上
下導電性の半分の層の対が追加される開孔82.82′
 と一致して少なくとも1つの対面領域を何するtlに
埋合せ状に屈曲して形成される。更に詳細には、突出領
域74.94が開孔82に治って対向し、又、突出領域
74’ 、94’が開孔82′に沿って対向するように
形成される。 この様にして、領域ZE’の半分の層90eが開孔82
′ を介してシート70のZB’上の半分の層70cと
接触状態にある。しかし、これらの半分の層はそれぞれ
下に隣接するn−型導電領域50eに電気的に接続され
ている。これは導電領域90eへの前記領域50c全部
の、従って基板10のn−型領域(l全部の接続をする
一z3rとなり、装置のエミッタ接続順を与える。 同様な理由によって、開孔82を介して半分の層7Db
と重置的に接続されている導電面90bは導電領域50
b全部に、従って基板10の露出p−型領領域12全部
に接続され、装置のベース接続面を作ると言う艷11を
示すことができる。 実際には第2レベル200の導電シート70.90は第
1レベルの導電シート30.50と同一の何科、例えば
アルミニウム、で作り得るが、本流密度が前者のシート
では非常に大きいので、後者のシートに比較して厚みは
大きい。境昇領域ZF’ のパターンは境界領域ZFの
パターンのそれに比較して相当に大きい振幅とピッチと
を有する。従って領域ZF’ を形成する第11密度は
領域ZFの製造に要求されるそれよりも荒いが、これは
、第2レベルのシート70.90に要求される大きな厚
みは容易に得られるので、非常に有利である。 絶縁J■60.80は絶縁層20.50と類似の要領で
形成し得、かつ同一の厚みを有する、と言うのは、これ
らに印加される電位差は同一(図示のnpnバイポーラ
トランジスタの場合べ〜ス/エミッタ電化)だからであ
る、と言う串も言及しておきたい特徴である。 ある場合、装置の第2相互接続レベルを適当に変化させ
てワイアリング又は装置を持っているウェーハ内の適当
な導電路を介して相互に接続された(’i干数の領域9
0eと肴千数の領域90bとを作り出す小も可能である
。 最後に、本発明はバイポーラトランジスタのみならず、
その他の電力用装置、例えば通常の高速サイリスク、或
いは更に特殊にはゲートターンオフサイリスタ、同様に
又、絶縁グリッドバイポーラトランジスタ(IGBT)
又はMO8電力用トランジスタにも応用される。
【図面の簡単な説明】
第1a図から第1c図まで及び第2a図から第2clf
flまでは本発明による電力用半導体装置の相違する2
実施例の、装置の厚み内での3種のレベルにおける略示
的な水平断面図、第3図は第1a図、第2b図、及び第
1c図に示す)1に構成された装置の線■−■に沿って
行った断面の模式図、第4a12j及び第4b図は本発
明による装置の実施例の2′giの相違する縮尺での一
部除大斜視図である。 10;u板、11:拡故領域、12:露出領域、3o:
第1導電シート、31:第2導電ピン、33:第1パタ
ーン、50:第2導電シート、53:第2パターン、7
0;第3導電シート、71:第4導電ピン、73;第3
パターン、90;第4導電シート、90b 、 90e
半導体装置の接続領域、93:第4パターン、ZF:第
1境界領域、ZF’  :第2境界領域。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板(10)の表面に複数個の拡散領域(11)
    と基板の露出領域(12)とを相互関係がn−型とp−
    型とが交互にセルの回路網を形成する様にp−型又はn
    −型の基板上に拡散された複数個のそれぞれn−型又は
    p−型の領域(11)と、各型の全てのセルを相互に、
    さらに装置の接続領域(90e、90b)に接続する部
    材とを有するセル構造の電力用半導体装置において、前
    記装置が、 基板の表面上に位置し、これから絶縁され、第1の所定
    のパターン(33)で回路網に位置し相互に絶縁された
    第1及び第2交互領域(30e、30b)に第1境界領
    域(ZF)内で分割され、その第1領域でその下にある
    n−型の各セルに、さらにその第2領域でその下にある
    p−型の各セルに、第1導電ピンを介して接続されてい
    る第1導電シート(30)と、 第1シートの上に位置し、これから絶縁され、同様に第
    2の所定のパターン(53)で回路網に位置し相互に絶
    縁された第1及び第2交互領域(50b、50e)に第
    1境界領域(ZF)で分割され、それぞれ第1導電シー
    トの第1及び第2領域(30e、30b)に重なり合い
    、その第1領域でその下にあるp−型の各セルに、その
    第2領域でその下にあるn−型各セルに、各セル上に一
    致するよう形成され前記第1導電シート(30)をこれ
    とは絶縁されたままでその電気的連続性を損う事なしに
    貫通する第2導電ピン(31)を介して接続されて成る
    第2導電シート(50)と、 第1及び第2導電シートは前記第1境界領域(ZF)内
    で第1シート(30)の各第1及び第2領域(30e、
    30b)が、前記境界領域内において、第2シート(5
    0)の隣接第2及び第1領域(50e、50b)のそれ
    ぞれに接続される様に相互に接続され、第2シートの上
    に位置し、これから絶縁され、第3の所定のパターン(
    73)で、第2境界領域(ZF′)内で相互に絶縁され
    た第1及び第2領域(70e、70b)に分割され、そ
    の第1領域(70e)内で第2シート(50)の各第2
    下部隣接領域(50e)に、又、その第2領域(70b
    )で第2シート(50)の各第1下部隣接領域(50b
    )にそれぞれ接続された第3導電シート(70)と、 第3シート(70)の上に位置し、これから絶縁され、
    第4の所定のパターン(93)で相互に絶縁され、第3
    導電シートの各第1及び第2領域(70e、70b)に
    重なり合う第1及び第2領域(90b、90e)に分割
    され、その第1領域(90b)で第2シート(50)の
    各第1下部隣接領域(50b)に、又、その第2領域(
    90e)内で第2シート(50)の各第2下部接続領域
    (50e)に、各セルと一致するように、第2シート(
    70)を貫通してこれとは絶縁状態でかつその電気的連
    続性を損う事なしに延在する第4導電ピン(71)を介
    して接続されている第4導電シート(90)とを有し、 第3及び第4シート(70、90)は前記第2境界領域
    (ZF′)において、第3シート(70)の第1及び第
    2領域(70e、70b)が、前記境界領域内部におい
    て第4シートの第2及び第1領域(90e、90b)に
    それぞれ接続される様に相互に接続され、前記第2及び
    第1領域(90e、90b)はそれぞれ装置の接続領域
    を形成しており、 第3及び第4シート(70、90)の厚みは第1及び第
    2シート(30、50)の厚みよりも大きく、又、第3
    及び第4ピンは第1及び第2ピンよりも大きいように形
    成されてなる事を特徴とするセル状電力用半導体装置
  2. (2)第1及び第2パターン(33、53)は、第1及
    び第2シートの内の一方の第1領域(30e、50b)
    と他方のシートの第2領域(50e、30b)とは第1
    境界領域(ZF)の両側に位置しているが、導電性接続
    が作られる各突出領域(34′、54′;34、54)
    で相互に対向する様になって重なり合ってはいず、又、
    第3及び第4パターン(73、93)は、第3及び第4
    シート(70、90)の内の一方の第1領域(70e、
    70b)と他方のシートの第2領域(90e、70b)
    とが第1境界領域の両側に位置しているが、導電性接続
    が作られる各突出領域(74、94;74′、94′)
    で相互に対向する様になって重なり合ってはいないよう
    に形成されている事を特徴とする請求項1に記載の装置
  3. (3)セル(11、12)の回路網と第1及び第2シー
    ト(30、50)の導電領域の回路網は少なくとも第1
    及び第2境界領域(ZF、ZF′)にそれぞれ平行な1
    方向で周期的であり、第1及び第3パターン(33、7
    3)はそれぞの回路網のピッチに等しいピッチを有する
    規則正しいパターンであり、又、第2及び第4パターン
    (53、93)は第1及び第3パターンに等しいが各境
    界領域(ZF、ZF′)の方向(f′f、g′g)に関
    して対称的である事を特徴とする請求項2に記載の装置
  4. (4)セル(11、12)の回路網はチェッカー盤回路
    網である事を特徴とする請求項3に記載の装置。
  5. (5)第1及び第2シートの導電領域(30e、30b
    ;50b、50e)の回路網はセルのチェッカー盤のそ
    れに平行な方向のチェッカー盤回路網である事を特徴と
    する請求項4に記載の装置。
  6. (6)第1及び第2シートの導電領域(30e、30b
    ;50b、50e)の回路網はチェッカー盤のセルの回
    路網の方向の一方に平行な方向の交互に平行なバンドの
    回路網である事を特徴とする請求項4に記載の装置。
  7. (7)接続領域(90e、90b)は直線状の境界領域
    (ZF′)で分離されている事を特徴とする請求項5及
    び6のいずれかに記載の装置。
  8. (8)接続領域(90e、90b)はほぼ円形の境界領
    域(ZF′)で分離されている事を特徴とする請求項5
    及び6のいずれかに記載の装置。
  9. (9)第2境界領域(ZF′)のパターンは第1境界領
    域(ZF)のそれよりも大きな振幅とピッチとを有し、
    大きな厚みの第3及び第4導電シート(70、90)に
    する様に決定されている事を特徴とする請求項1から8
    のいずれか1項に記載の装置。
JP2019366A 1989-02-03 1990-01-31 セル構造電力用半導体装置 Pending JPH0334348A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2687843A1 (fr) * 1992-02-24 1993-08-27 Motorola Semiconducteurs Transistor bipolaire lateral pnp et procede de fabrication.
JPH05304221A (ja) * 1992-02-28 1993-11-16 Fuji Electric Co Ltd 大電流集積回路
US5665991A (en) * 1992-03-13 1997-09-09 Texas Instruments Incorporated Device having current ballasting and busing over active area using a multi-level conductor process
KR0136684B1 (en) * 1993-06-01 1998-04-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and manufacture thereof
US5482897A (en) * 1994-07-19 1996-01-09 Lsi Logic Corporation Integrated circuit with on-chip ground plane
US5581126A (en) * 1995-09-14 1996-12-03 Advanced Micro Devices, Inc. Interlaced layout configuration for differential pairs of interconnect lines
DE19613409B4 (de) * 1996-04-03 2005-11-17 Texas Instruments Deutschland Gmbh Leistungsbauelementanordnung
US6462977B2 (en) 2000-08-17 2002-10-08 David Earl Butz Data storage device having virtual columns and addressing layers
US7283381B2 (en) 2000-08-17 2007-10-16 David Earl Butz System and methods for addressing a matrix incorporating virtual columns and addressing layers
WO2007135940A1 (ja) 2006-05-18 2007-11-29 Panasonic Corporation 半導体素子およびその製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2545654B1 (fr) * 1983-05-03 1985-09-13 Fairchild Camera Instr Co Composant semi-conducteur de puissance, et procede pour la fabrication

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