JPH0331744A - 吸着量測定装置 - Google Patents
吸着量測定装置Info
- Publication number
- JPH0331744A JPH0331744A JP16804689A JP16804689A JPH0331744A JP H0331744 A JPH0331744 A JP H0331744A JP 16804689 A JP16804689 A JP 16804689A JP 16804689 A JP16804689 A JP 16804689A JP H0331744 A JPH0331744 A JP H0331744A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- degassing
- cell
- sample cell
- cooling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000007872 degassing Methods 0.000 abstract description 20
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 abstract description 7
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 235000013527 bean curd Nutrition 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000002203 pretreatment Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000010802 sludge Substances 0.000 description 1
- 238000002336 sorption--desorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は試料によるガスの吸着量を測定する装置に関し
、例えばガス吸着法を応用した粉体や多孔体の表面積中
細孔分布の測定装置等に利用することができる。
、例えばガス吸着法を応用した粉体や多孔体の表面積中
細孔分布の測定装置等に利用することができる。
(ロ) 従来4匍′
試料の表面にガス分子を物理吸着させ、その吸mtt−
計測することによって試料の表面積や細孔分布を求める
場合、一般に、吸着量の側疋の前処理として、試料表面
に付着している不純物を除去すべく、試料の脱ガス処理
を行う必要がある。
計測することによって試料の表面積や細孔分布を求める
場合、一般に、吸着量の側疋の前処理として、試料表面
に付着している不純物を除去すべく、試料の脱ガス処理
を行う必要がある。
そのため、従来のこの種の測定装置では、実際に吸着量
を測定するための測定ステージの他に、これとは別個の
配管系からなる脱ガスステージが設けらnる。
を測定するための測定ステージの他に、これとは別個の
配管系からなる脱ガスステージが設けらnる。
第3図に従来の脱ガスステージの構成例ケ示す。この例
において、試料は試料セAz30a、3υbに収容さn
た状態で脱ガスステージのセA/装着部318 、31
b K、51i−着さnる。この装着状態において試料
扛ヒータ32a 、 32bによって加熱さnるととも
に、試料七ル308 、30b内が真空ポンプ33によ
って真空排気され、試料表面の不純物が除去さnる。
において、試料は試料セAz30a、3υbに収容さn
た状態で脱ガスステージのセA/装着部318 、31
b K、51i−着さnる。この装着状態において試料
扛ヒータ32a 、 32bによって加熱さnるととも
に、試料七ル308 、30b内が真空ポンプ33によ
って真空排気され、試料表面の不純物が除去さnる。
このような前処理操作は、脱ガス制御用コンビエータ3
4からの制御信号に基プき、パルブト5 イハ35 l
e介LしGハ/’ブ36a 、 36b % 39 k
制御することによって自動的に行わ几6゜なお、第3図
において40は真空度監視用の真空計で、41はA−D
変換器、42はヒータの温濱調節器である。
4からの制御信号に基プき、パルブト5 イハ35 l
e介LしGハ/’ブ36a 、 36b % 39 k
制御することによって自動的に行わ几6゜なお、第3図
において40は真空度監視用の真空計で、41はA−D
変換器、42はヒータの温濱調節器である。
このような前処理が光子すると、試料セ/I/30a。
30b内にはヘリウムなどの不活性ガスを封入し、試料
が外気に触ルないようにして測定ステージに移送する。
が外気に触ルないようにして測定ステージに移送する。
測定ステージでは、その試料セA/を液体窒素などによ
って冷却して物理吸Nk支配的にした状態で、窒素等の
吸漸ガスヶ試料セル内に導入し、試料によるカス吸7F
f量を測定するわけである。
って冷却して物理吸Nk支配的にした状態で、窒素等の
吸漸ガスヶ試料セル内に導入し、試料によるカス吸7F
f量を測定するわけである。
(ハ)発明が解決しようとする課題
以上のように、従来のこの種V装置では、測定ステージ
とは全く別個の配管系と制御g置等によって構成さnた
脱ガスステージケ設けており、脱ガス処理光子仮に、試
料?収容した七ル倉測定ステージにまで持っていって装
置し直す必要があった。そのため、脱ガス処理あるいは
fi11定動作?そnぞn自動化しても、脱ガス処理か
ら測定の終了1での全工程を自動化することは実質的に
不可能であった。
とは全く別個の配管系と制御g置等によって構成さnた
脱ガスステージケ設けており、脱ガス処理光子仮に、試
料?収容した七ル倉測定ステージにまで持っていって装
置し直す必要があった。そのため、脱ガス処理あるいは
fi11定動作?そnぞn自動化しても、脱ガス処理か
ら測定の終了1での全工程を自動化することは実質的に
不可能であった。
そこで、かかる課題を解決するため本件出願人は、平成
元年5月22日に同一名称の出願ケしているが、本発明
はかかる出願内容に附加するものであjb。
元年5月22日に同一名称の出願ケしているが、本発明
はかかる出願内容に附加するものであjb。
に)課題r解決するための手段
本発明では、試料セ/L/を装着してその内部の真全排
気と吸着ガスの導入乙よりて試料の吸着量音測定する?
Tl11足部(測定ステージ))て、冷却手段のほかに
加熱手段′に設けるとともに、その冷却手段と加熱手段
とをあらかじめ設定された手順のもとに選択的ンこ動作
させる制御手段を設けている。
気と吸着ガスの導入乙よりて試料の吸着量音測定する?
Tl11足部(測定ステージ))て、冷却手段のほかに
加熱手段′に設けるとともに、その冷却手段と加熱手段
とをあらかじめ設定された手順のもとに選択的ンこ動作
させる制御手段を設けている。
そして、加熱手段が試料セ/I/全熱伝導良好な材質で
包囲すると共に該材質に加熱P′!構を設けてなること
ケ特徴とする。
包囲すると共に該材質に加熱P′!構を設けてなること
ケ特徴とする。
(ホ)作用
本発明では、脱ガス時には発熱体に通電することによt
)試料セル中の試料?加熱し、同時Vこ真空引きを行い
ながら脱ガス全行う6また、吸脱着測定時には発熱体の
熱伝導?応用して液体窒素で冷却さf′Lろ試料セルの
容積を一定に保つ作用tする。
)試料セル中の試料?加熱し、同時Vこ真空引きを行い
ながら脱ガス全行う6また、吸脱着測定時には発熱体の
熱伝導?応用して液体窒素で冷却さf′Lろ試料セルの
容積を一定に保つ作用tする。
(へ)夾施伊1
示している。
10は、試料?収容した試料セルで、セ/L’装尤部4
において配管系に接続される。配管系(図示せず)には
、吸着ガスたる窒素ガス源と不活性ガスたるヘリウムガ
ス源が接続さ扛、でらに系内を真を排気するための真空
ボンデ、系内の圧カケ測定するための圧力針と真空計な
どが接続されている。
において配管系に接続される。配管系(図示せず)には
、吸着ガスたる窒素ガス源と不活性ガスたるヘリウムガ
ス源が接続さ扛、でらに系内を真を排気するための真空
ボンデ、系内の圧カケ測定するための圧力針と真空計な
どが接続されている。
試料セル[1の周囲は、熱伝導良好な金属1a。
1bで包囲さnており、金属1a、1b内には発熱体8
及び温度センサ9が坤め込まnる。発熱体8及び温度セ
ンサ9は温調器12に接続さ几ており、これにより試料
セ/しIOv/#囲を包んだ金属1a、1bは予め設定
さnたm度に加熱される。
及び温度センサ9が坤め込まnる。発熱体8及び温度セ
ンサ9は温調器12に接続さ几ており、これにより試料
セ/しIOv/#囲を包んだ金属1a、1bは予め設定
さnたm度に加熱される。
また、金属1a、1bの周囲は、断熱材1]で断熱され
ており、外部への放熱全防止している。
ており、外部への放熱全防止している。
なお、金属が1aとlbK分割さnているのは試料セル
10から金jJl容易に取外すためで、金mlaと1b
(7)接合Fi図示の如く嵌合により行う。
10から金jJl容易に取外すためで、金mlaと1b
(7)接合Fi図示の如く嵌合により行う。
2tj:、セ/I/lOY冷却するための液体窒素等の
冷ts:5を収容1〜たデ・ワー瓶で、コンビーータ(
図示せず)からの指令に基づいてエレベータ−機構6に
よって、上下動さ几る。
冷ts:5を収容1〜たデ・ワー瓶で、コンビーータ(
図示せず)からの指令に基づいてエレベータ−機構6に
よって、上下動さ几る。
また、3は断熱材で測定中に冷媒5が蒸発するのを防止
すると共に脱ガス時にはカロ熱さnた金属の熱が一ヒ部
配管系へ伝わるの全防止する。
すると共に脱ガス時にはカロ熱さnた金属の熱が一ヒ部
配管系へ伝わるの全防止する。
7は、ファンで脱ガス時のみ作動し、h部配管系への熱
伝導全防止し、脱ガス終了時VCは室温まで少しでも早
(下げる働きをする。
伝導全防止し、脱ガス終了時VCは室温まで少しでも早
(下げる働きをする。
次に本発明に係る動作?説明する。
第2図はコンビーータ(図示せず)に帯き込ま九たグロ
グラムの内容?示す7cly−チャートで、以下、この
図を参照しつつ本発明′J!施例の動作ケ述べる。
グラムの内容?示す7cly−チャートで、以下、この
図を参照しつつ本発明′J!施例の動作ケ述べる。
試料會試料セ/L’IO内に挿入し、そのままセ/L’
装虜部4に装ズオし、装置に起動指令ケ与える。
装虜部4に装ズオし、装置に起動指令ケ与える。
起動指令が与えらnると、筐す発弗奉→ツ温g1器■2
に(d@が与えらn、発熱体8に通電して金属1a、1
bk加熱する。同時に試料セA/10内の真空排気が開
始さnる。また、その内部の試料が温n器12で設定さ
九た温度で加熱さn試料の脱ガス処理が行わnる。
に(d@が与えらn、発熱体8に通電して金属1a、1
bk加熱する。同時に試料セA/10内の真空排気が開
始さnる。また、その内部の試料が温n器12で設定さ
九た温度で加熱さn試料の脱ガス処理が行わnる。
そして、あらかじめ設足さnた幻ガス光子条件が満たさ
れたか否かを判定し、そnが満たさnた場合には発熱体
8への通電ケ中止する。
れたか否かを判定し、そnが満たさnた場合には発熱体
8への通電ケ中止する。
その状態で今度はデーワー瓶2ヶ上昇させて試料セ、’
L′10を冷好中に没し、試料の冷却を開始1−5その
ま!i訃j定動作へと自動的に移行する。
L′10を冷好中に没し、試料の冷却を開始1−5その
ま!i訃j定動作へと自動的に移行する。
なお、判定動作でに、試料セル10が冷媒5により冷却
される体積を一定に保つ必要がある。
される体積を一定に保つ必要がある。
しかし、冷媒は時間r丙過と共に蒸発し、液面が低下す
るので何らかの方法で試料セ/L’IQの冷却さnる体
積を一定に制御しなければならない。
るので何らかの方法で試料セ/L’IQの冷却さnる体
積を一定に制御しなければならない。
本発明では試料セルlOの周囲を包んだ金属1a。
1bの下部全冷媒中に沈めておくことにより金属の良好
な熱伝導を応用して試料セル10が冷却される体積會一
定にする。すなわち、本発明では冷媒のレベ/L/が低
下しても金属1a・1bの一部分が液体窒素と接触して
お九ば熱伝導により冷却体積は一定になる。
な熱伝導を応用して試料セル10が冷却される体積會一
定にする。すなわち、本発明では冷媒のレベ/L/が低
下しても金属1a・1bの一部分が液体窒素と接触して
お九ば熱伝導により冷却体積は一定になる。
以上の実施例では、試料セル10の周囲を熱伝導良好な
金属で包囲し、その中に発熱体を埋め込んでいるが、試
料セ/l/10自体を熱伝導良好な材質で作り、そnに
発熱体を取付けでも良い。
金属で包囲し、その中に発熱体を埋め込んでいるが、試
料セ/l/10自体を熱伝導良好な材質で作り、そnに
発熱体を取付けでも良い。
また、発熱体をプログラム温調器で制御することにより
化学吸着量の測定も可能である。
化学吸着量の測定も可能である。
(トフ効果
本発明によnば、脱ガスから吸脱着測定の終了まで自動
化さ九た装置において、脱ガス終了時に脱ガス用ヒータ
を取り外す可動部分を無くすことができる。
化さ九た装置において、脱ガス終了時に脱ガス用ヒータ
を取り外す可動部分を無くすことができる。
また、脱ガス用加熱手段と試料セル全一定体積冷却する
機構が兼用でき、かつ冷媒の供給機構が不要になる。よ
って構造が非常に簡単になりメンテンスも容易になる。
機構が兼用でき、かつ冷媒の供給機構が不要になる。よ
って構造が非常に簡単になりメンテンスも容易になる。
射]FAは、本発明に係る装置の試料セル部を示す図、
第2図は、本発明に係る動作金示す70−チq −ト図
、第3図は従来図である。 la 、 lb・・・金属 2・・・デーワー瓶8
・・・発熱体
第2図は、本発明に係る動作金示す70−チq −ト図
、第3図は従来図である。 la 、 lb・・・金属 2・・・デーワー瓶8
・・・発熱体
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、試料を収容した容器を冷却しつつその内部に吸着ガ
スを導入し、試料によるガスの吸着量を測定する装置に
おいて、 上記容器を熱伝導良好な材質で包囲すると共に、該材質
に加熱機構を設けたことを特徴とする吸着量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16804689A JP2712585B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 吸着量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16804689A JP2712585B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 吸着量測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0331744A true JPH0331744A (ja) | 1991-02-12 |
JP2712585B2 JP2712585B2 (ja) | 1998-02-16 |
Family
ID=15860825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16804689A Expired - Fee Related JP2712585B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 吸着量測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2712585B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007017387A (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-25 | Shimadzu Corp | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
JP2018004637A (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | カンタクローム・コーポレーション | 容量収着分析器のための極低温制御器 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5792244B2 (ja) * | 2012-09-12 | 2015-10-07 | マイクロトラック・ベル株式会社 | 吸着特性測定装置及び吸着特性測定方法 |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP16804689A patent/JP2712585B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007017387A (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-25 | Shimadzu Corp | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
JP4591245B2 (ja) * | 2005-07-11 | 2010-12-01 | 株式会社島津製作所 | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
JP2018004637A (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | カンタクローム・コーポレーション | 容量収着分析器のための極低温制御器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2712585B2 (ja) | 1998-02-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4848093A (en) | Apparatus and method for regulating temperature in a cryogenic test chamber | |
US4086061A (en) | Temperature control system for chemical reaction cell | |
JP3422262B2 (ja) | 試料冷却装置 | |
US5539855A (en) | Apparatus for measuring the temperature of a substrate | |
JPH0331744A (ja) | 吸着量測定装置 | |
JPH02105046A (ja) | 分析装置 | |
GB2226161A (en) | Programmable waterbath apparatus for control of rapid temperature cycling | |
JPH1163717A (ja) | 吸収冷温水機 | |
JPH10104182A (ja) | 分析装置 | |
US10481222B2 (en) | Fluid path insert for a cryogenic cooling system | |
JP4089132B2 (ja) | 熱伝導度検出器 | |
JPH0758255B2 (ja) | 吸着量測定装置 | |
JP2003287484A (ja) | 吸着特性測定装置及び測定方法 | |
JPH0476438A (ja) | X線回折装置の試料低温装置 | |
JP2586733B2 (ja) | 熱分析装置 | |
JPH09250974A (ja) | 生物組織の処理装置 | |
CN112148043B (zh) | 一种恒温金属浴的控制装置及方法 | |
CN213172563U (zh) | 一种用于半导体镀膜设备温控盘的退火设备 | |
JPH10293167A (ja) | 電子スピン共鳴装置用デュワー | |
JP2002372483A (ja) | 脱離ガス分析装置及びその分析方法 | |
JPH09196871A (ja) | 試料温度制御方法 | |
JP3102084B2 (ja) | 熱分析装置用試料冷却装置 | |
JPH04348263A (ja) | 低温熱分析装置 | |
JPH04172A (ja) | 低温での温度制御方法およびその方法に使用する装置 | |
JP3949201B2 (ja) | 極低温装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |