JPH04348263A - 低温熱分析装置 - Google Patents
低温熱分析装置Info
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- JPH04348263A JPH04348263A JP12110391A JP12110391A JPH04348263A JP H04348263 A JPH04348263 A JP H04348263A JP 12110391 A JP12110391 A JP 12110391A JP 12110391 A JP12110391 A JP 12110391A JP H04348263 A JPH04348263 A JP H04348263A
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Links
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、試料を低温領域から昇
・降温できるようにして試料の熱的特性を測定する低温
熱分析装置に関する。
・降温できるようにして試料の熱的特性を測定する低温
熱分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】熱分析装置としては、試料と標準試料と
を同時に昇・降温させてこれらの温度差を測定すること
により、試料の転位温度や転位熱等の熱的特性を求める
示差熱分析(DTA;Differential Th
ermal Analysis )装置、示差走査熱量
計(DSC;Differential Scanni
ng Calorimetry )、あるいは、試料を
昇・降温させつつ試料に種々の機械的力を加えたときの
試料の特性変化を観察する熱機械分析装置(TMA;T
hermo Mechanical Analyzer
)、または、試料を昇・降温させたときの試料の重量変
化を観測する熱重量測定(TG;Thermograv
imetry)装置等が知られている。
を同時に昇・降温させてこれらの温度差を測定すること
により、試料の転位温度や転位熱等の熱的特性を求める
示差熱分析(DTA;Differential Th
ermal Analysis )装置、示差走査熱量
計(DSC;Differential Scanni
ng Calorimetry )、あるいは、試料を
昇・降温させつつ試料に種々の機械的力を加えたときの
試料の特性変化を観察する熱機械分析装置(TMA;T
hermo Mechanical Analyzer
)、または、試料を昇・降温させたときの試料の重量変
化を観測する熱重量測定(TG;Thermograv
imetry)装置等が知られている。
【0003】ところで、室温以下の温度領域で熱分析測
定を行うには、上記熱分析装置の試料を収容する熱分析
装置本体内に冷媒を導入して試料を冷却する装置が組み
込まれた低温熱分析装置が用いられる。
定を行うには、上記熱分析装置の試料を収容する熱分析
装置本体内に冷媒を導入して試料を冷却する装置が組み
込まれた低温熱分析装置が用いられる。
【0004】従来の低温熱分析装置としては、熱分析装
置本体を液体窒素等の冷媒に直接浸して冷却したり、あ
るいは、液体窒素を収容した容器に熱分析装置本体を接
触させて間接的に冷却したり、あるいは、熱分析装置本
体に冷媒流通路を形成してこの冷媒流通路に液体窒素を
液状の状態で、あるいは、この液体窒素が気化して低温
窒素ガスとなったものを直接流通させることにより冷却
するようにした装置が知られている。
置本体を液体窒素等の冷媒に直接浸して冷却したり、あ
るいは、液体窒素を収容した容器に熱分析装置本体を接
触させて間接的に冷却したり、あるいは、熱分析装置本
体に冷媒流通路を形成してこの冷媒流通路に液体窒素を
液状の状態で、あるいは、この液体窒素が気化して低温
窒素ガスとなったものを直接流通させることにより冷却
するようにした装置が知られている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の従来
の低温熱分析装置は、いずれも冷媒として液体窒素のよ
うな低沸点の液体を直接用いたり、あるいは、この低沸
点の液体が気化して低温ガスとなったものを直接用いて
いたので、種々の困難な問題があった。
の低温熱分析装置は、いずれも冷媒として液体窒素のよ
うな低沸点の液体を直接用いたり、あるいは、この低沸
点の液体が気化して低温ガスとなったものを直接用いて
いたので、種々の困難な問題があった。
【0006】例えば、試料を室温から極めて遅い速度で
マイナス領域の温度に降温する場合には、熱分析装置本
体をその速度に合わせてゆっくり冷却することが望まし
い。しかし、冷媒として用いることができるのは、測定
温度範囲の最低温度以下の温度を沸点とする液化ガス(
例えば沸点が−197℃の液体窒素)等に限られるから
、通常は室温より著しく低い温度を有するものである。 従来はこの低温冷媒を液状のままか気化するかは別とし
てこの低温冷媒を直接冷却用冷媒として用いていたので
、試料が過剰に冷却されがちであり、ゆっくり冷却する
ことは極めて困難であった。このため、従来は、過剰に
冷却しつつその過剰の分を加熱手段で加熱して補い、所
望の降温速度を維持するようにしていたが、これによる
と、多くの液体窒素を無駄に消費すると共に、熱分析装
置本体が熱的に著しく不安定な状態におかれるので、熱
的ノイズによって測定精度を確保することが困難になる
という問題があった。また、この熱的ノイズを除去する
ために試料を大きな均熱ブロックに収納したり、また、
この均熱ブロックをさらに断熱容器に収容し、この断熱
容器の外側を冷媒に接触させるようにして、試料と冷媒
との間に熱抵抗を持たせたものもあるが、これによると
、さらに冷媒消費料が増大するとともに、冷却可能な最
低温度が限定されるという新たな問題が生ずる。 このような問題はマイナスの温度領域から室温以上に昇
温する場合にも同様に生ずる。
マイナス領域の温度に降温する場合には、熱分析装置本
体をその速度に合わせてゆっくり冷却することが望まし
い。しかし、冷媒として用いることができるのは、測定
温度範囲の最低温度以下の温度を沸点とする液化ガス(
例えば沸点が−197℃の液体窒素)等に限られるから
、通常は室温より著しく低い温度を有するものである。 従来はこの低温冷媒を液状のままか気化するかは別とし
てこの低温冷媒を直接冷却用冷媒として用いていたので
、試料が過剰に冷却されがちであり、ゆっくり冷却する
ことは極めて困難であった。このため、従来は、過剰に
冷却しつつその過剰の分を加熱手段で加熱して補い、所
望の降温速度を維持するようにしていたが、これによる
と、多くの液体窒素を無駄に消費すると共に、熱分析装
置本体が熱的に著しく不安定な状態におかれるので、熱
的ノイズによって測定精度を確保することが困難になる
という問題があった。また、この熱的ノイズを除去する
ために試料を大きな均熱ブロックに収納したり、また、
この均熱ブロックをさらに断熱容器に収容し、この断熱
容器の外側を冷媒に接触させるようにして、試料と冷媒
との間に熱抵抗を持たせたものもあるが、これによると
、さらに冷媒消費料が増大するとともに、冷却可能な最
低温度が限定されるという新たな問題が生ずる。 このような問題はマイナスの温度領域から室温以上に昇
温する場合にも同様に生ずる。
【0007】また、従来の装置は、冷却時に熱分析装置
本体の近傍に大量の低温冷媒を滞留させることになるの
で、熱分析装置本体に露が付着するおそれが高く、しか
もその防止が困難であるという問題もあった。
本体の近傍に大量の低温冷媒を滞留させることになるの
で、熱分析装置本体に露が付着するおそれが高く、しか
もその防止が困難であるという問題もあった。
【0008】本発明は、上述の背景のもとでなされたも
のであり、比較的簡単な構成により、冷却度合いが制御
でき、熱的ノイズを軽減できるとともに、冷媒の消費が
少なくかつ露を付着させるおそれ等の少ない低温熱分析
装置を提供することを目的としたものである。
のであり、比較的簡単な構成により、冷却度合いが制御
でき、熱的ノイズを軽減できるとともに、冷媒の消費が
少なくかつ露を付着させるおそれ等の少ない低温熱分析
装置を提供することを目的としたものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに本発明は、(1) 試料を収容する熱分析装置本
体内に上記試料を冷却する冷媒を導入し、上記試料を低
温領域から昇・降温できるようにして上記試料の熱的特
性を測定する低温熱分析装置において、冷媒用気体を供
給する気体供給源と、この気体供給源から供給された冷
媒用気体の流量を制御する流量制御装置と、この流量制
御装置で流量制御された冷媒用気体を冷却する冷却装置
とを備え、上記流量制御装置で流量制御されかつ冷却装
置で冷却された冷媒用気体を上記熱分析装置本体内に導
入するようにしたことを特徴とした構成とし、また、構
成1の態様として、低温熱分析装置。
めに本発明は、(1) 試料を収容する熱分析装置本
体内に上記試料を冷却する冷媒を導入し、上記試料を低
温領域から昇・降温できるようにして上記試料の熱的特
性を測定する低温熱分析装置において、冷媒用気体を供
給する気体供給源と、この気体供給源から供給された冷
媒用気体の流量を制御する流量制御装置と、この流量制
御装置で流量制御された冷媒用気体を冷却する冷却装置
とを備え、上記流量制御装置で流量制御されかつ冷却装
置で冷却された冷媒用気体を上記熱分析装置本体内に導
入するようにしたことを特徴とした構成とし、また、構
成1の態様として、低温熱分析装置。
【0010】(2)構成1の低温熱分析装置において、
上記気体供給源が冷媒用気体を液化して容器に収容した
ものであり、この気体供給源と流量調整装置との間にこ
の気体供給源で蒸発した冷却用気体を加熱して常温にし
、上記流量調整装置に供給する加熱手段が設けられ、上
記流量調整装置を通過した冷媒用気体を冷却する冷却装
置を、上記液化した冷却用気体を収容した気体供給源で
兼ねるようにし、該気体供給源によって冷却された冷媒
用気体を上記熱分析装置本体内に導入するようにしたこ
とを特徴とする構成とし、また、構成1または2のいず
れかの態様として、(3)構成1または2のいずれかの
低温熱分析装置において、前記冷媒用気体として窒素ガ
スを用いたことを特徴とする構成とし、さらに、構成1
ないし3のいずれかの態様として、(4)構成1ないし
3のいずれかの低温熱分析装置において、上記熱分析装
置本体は、外ケースと、この外ケース内に収容された断
熱ケースと、この断熱ケース内に収納された試料昇・降
温部とを備えたものであり、上記試料昇・降温部は、均
熱ブロックと、この均熱ブロックを加熱する加熱手段と
を備えており、上記均熱ブロック内には、試料を配置し
てその熱的特性を観測する測定室が設けられていると共
に、上記熱分析装置本体には、上記断熱ケース内に冷媒
用気体を導入して該冷媒用気体により上記試料昇・降温
部を外側から冷却する冷媒用気体導入通路が設けられて
いることを特徴とした構成、または、(5)構成1ない
し3のいずれかの低温熱分析装置において、上記熱分析
装置本体は、外ケースと、この外ケース内に収容された
断熱ケースと、この断熱ケース内に収納された試料昇・
降温部とを備えたものであり、上記試料昇・降温部は、
均熱ブロックと、この均熱ブロックを加熱する加熱手段
とを備えており、上記均熱ブロック内には、試料を配置
してその熱的特性を観測する測定室と、気体を通過させ
る気体流通路とが設けられていると共に、上記熱分析装
置本体には、上記均熱ブロックの気体流通路に冷媒用気
体を導入して該冷媒用気体により上記試料昇・降温部を
内部から冷却する冷媒用気体導入通路が設けられている
ことを特徴とした構成とした。
上記気体供給源が冷媒用気体を液化して容器に収容した
ものであり、この気体供給源と流量調整装置との間にこ
の気体供給源で蒸発した冷却用気体を加熱して常温にし
、上記流量調整装置に供給する加熱手段が設けられ、上
記流量調整装置を通過した冷媒用気体を冷却する冷却装
置を、上記液化した冷却用気体を収容した気体供給源で
兼ねるようにし、該気体供給源によって冷却された冷媒
用気体を上記熱分析装置本体内に導入するようにしたこ
とを特徴とする構成とし、また、構成1または2のいず
れかの態様として、(3)構成1または2のいずれかの
低温熱分析装置において、前記冷媒用気体として窒素ガ
スを用いたことを特徴とする構成とし、さらに、構成1
ないし3のいずれかの態様として、(4)構成1ないし
3のいずれかの低温熱分析装置において、上記熱分析装
置本体は、外ケースと、この外ケース内に収容された断
熱ケースと、この断熱ケース内に収納された試料昇・降
温部とを備えたものであり、上記試料昇・降温部は、均
熱ブロックと、この均熱ブロックを加熱する加熱手段と
を備えており、上記均熱ブロック内には、試料を配置し
てその熱的特性を観測する測定室が設けられていると共
に、上記熱分析装置本体には、上記断熱ケース内に冷媒
用気体を導入して該冷媒用気体により上記試料昇・降温
部を外側から冷却する冷媒用気体導入通路が設けられて
いることを特徴とした構成、または、(5)構成1ない
し3のいずれかの低温熱分析装置において、上記熱分析
装置本体は、外ケースと、この外ケース内に収容された
断熱ケースと、この断熱ケース内に収納された試料昇・
降温部とを備えたものであり、上記試料昇・降温部は、
均熱ブロックと、この均熱ブロックを加熱する加熱手段
とを備えており、上記均熱ブロック内には、試料を配置
してその熱的特性を観測する測定室と、気体を通過させ
る気体流通路とが設けられていると共に、上記熱分析装
置本体には、上記均熱ブロックの気体流通路に冷媒用気
体を導入して該冷媒用気体により上記試料昇・降温部を
内部から冷却する冷媒用気体導入通路が設けられている
ことを特徴とした構成とした。
【0011】
【作用】上記構成1によれば、熱分析装置本体に、流量
制御装置によって流量制御された後に冷却手段によって
冷却された冷媒用気体を導入することにより、試料を低
温領域から昇・降温して試料の熱的特性を測定すること
ができる。この場合、上記流量制御を例えば試料の温度
や昇・降温速度に対応させて行うことにより、過剰な冷
却を行うことなく低温領域からの昇・降温が可能となる
。したがって、過剰に冷却されることによって熱分析装
置本体が熱的に不安定な状態になることがなく、ノイズ
が少なく精度の高い測定が可能となる。また、これによ
り、試料の周囲に設けられる均熱ブロック等を小型に形
成できるから温度制御も容易になると共に、冷媒の消費
を著しく軽減できる。しかも、熱分析装置本体には冷却
に必要な冷却用気体が供給されるだけであり、大量の低
温冷媒を滞留させておく必要がないから、露の付着等の
おそれを著しく軽減できる。
制御装置によって流量制御された後に冷却手段によって
冷却された冷媒用気体を導入することにより、試料を低
温領域から昇・降温して試料の熱的特性を測定すること
ができる。この場合、上記流量制御を例えば試料の温度
や昇・降温速度に対応させて行うことにより、過剰な冷
却を行うことなく低温領域からの昇・降温が可能となる
。したがって、過剰に冷却されることによって熱分析装
置本体が熱的に不安定な状態になることがなく、ノイズ
が少なく精度の高い測定が可能となる。また、これによ
り、試料の周囲に設けられる均熱ブロック等を小型に形
成できるから温度制御も容易になると共に、冷媒の消費
を著しく軽減できる。しかも、熱分析装置本体には冷却
に必要な冷却用気体が供給されるだけであり、大量の低
温冷媒を滞留させておく必要がないから、露の付着等の
おそれを著しく軽減できる。
【0012】また、構成2によれば、冷媒用気体を液化
して容器に収容したものを気体供給源とする同時に、こ
の気体供給源で蒸発した気体を加熱手段で常温にして流
量制御手段で流量制御した気体を冷却する冷却装置とも
している。すなわち、気体供給源と冷却装置とを兼ねた
ことから装置を単純な構成とすることができる。また、
蒸発した低温気体を加熱して常温にしているから精密な
流量制御を容易にできる。さらに、常温になった冷媒用
気体を液化した気体によって再度冷却するようにしたこ
とにより液化気体に熱が与えられて蒸発が促進されるか
ら、蒸発を促進させるための装置を別個に設ける必要が
ない。しかも、この装置によれば、冷媒用気体として液
化したときの液体温度が測定領域の温度に比較して著し
く低くてもよいから、ほとんどの測定に対して構成3の
ように液化ガスを容易に入手できる窒素ガスを採用する
ことが可能となる。すなわち、従来のように、測定温度
領域に近い沸点を有する冷媒を選定する等の繁雑な作業
がほとんど必要なくなる。
して容器に収容したものを気体供給源とする同時に、こ
の気体供給源で蒸発した気体を加熱手段で常温にして流
量制御手段で流量制御した気体を冷却する冷却装置とも
している。すなわち、気体供給源と冷却装置とを兼ねた
ことから装置を単純な構成とすることができる。また、
蒸発した低温気体を加熱して常温にしているから精密な
流量制御を容易にできる。さらに、常温になった冷媒用
気体を液化した気体によって再度冷却するようにしたこ
とにより液化気体に熱が与えられて蒸発が促進されるか
ら、蒸発を促進させるための装置を別個に設ける必要が
ない。しかも、この装置によれば、冷媒用気体として液
化したときの液体温度が測定領域の温度に比較して著し
く低くてもよいから、ほとんどの測定に対して構成3の
ように液化ガスを容易に入手できる窒素ガスを採用する
ことが可能となる。すなわち、従来のように、測定温度
領域に近い沸点を有する冷媒を選定する等の繁雑な作業
がほとんど必要なくなる。
【0013】構成4によれば、断熱ケース内に冷媒用気
体を導入する気体流通路を設けるだけであるあるから簡
単な構造で試料を冷却することが可能となる。
体を導入する気体流通路を設けるだけであるあるから簡
単な構造で試料を冷却することが可能となる。
【0014】また、構成5によれば、均熱ブロックを直
接冷却するから効率的な冷却ができる。
接冷却するから効率的な冷却ができる。
【0015】
【実施例】図1は本発明の一実施例にかかる低温熱分析
装置の全体構成を示す図、図2は熱分析装置本体の要部
断面図、図3は一実施例の変形例の要部断面図である。 以下、これら図面を参照しながら本発明の一実施例を詳
述する。
装置の全体構成を示す図、図2は熱分析装置本体の要部
断面図、図3は一実施例の変形例の要部断面図である。 以下、これら図面を参照しながら本発明の一実施例を詳
述する。
【0016】図において、符号1は熱分析装置本体、符
号2は気体供給源を兼ねる冷却装置、符号3は加熱装置
、符号4は流量制御装置である。
号2は気体供給源を兼ねる冷却装置、符号3は加熱装置
、符号4は流量制御装置である。
【0017】熱分析装置本体1は、アルミニウムもしく
はステンレス等の材料で略円筒状に形成された外ケース
11内に断熱ケース12が収納保持され、この断熱ケー
ス12内に試料昇・降温部13が収納保持されたもので
ある。また、外ケース11の底部には底蓋11aが固着
され、上部開口部には蓋体11bが着自在に装着できる
ようになっている。さらに、この外ケース11の側部に
は気体排出口11cが設けられている。
はステンレス等の材料で略円筒状に形成された外ケース
11内に断熱ケース12が収納保持され、この断熱ケー
ス12内に試料昇・降温部13が収納保持されたもので
ある。また、外ケース11の底部には底蓋11aが固着
され、上部開口部には蓋体11bが着自在に装着できる
ようになっている。さらに、この外ケース11の側部に
は気体排出口11cが設けられている。
【0018】断熱ケース12は、セラミックウール等の
材料で有底円筒状に形成されたケース基部12aと、こ
のケース基部12aの上部開口部を塞ぐ着脱自在な蓋部
12bとで構成されている。このケース基部12aは図
示しないが、適宜の保持部材で外ケース11に固定され
ていると共に、蓋部12bは外ケース11の蓋体11b
に連結部材12cによって固定され、外ケース11の蓋
体11bを着脱すると、同時に断熱ケース12の蓋部1
2bも着脱されるようになっている。さらに、ケース基
部12aの側部には気体導入管14の一端部が貫通固定
されている。この気体導入管14は本発明の気体導入通
路を構成するもので、外ケース11の側部を貫通して断
熱ケース12内にその一端開口部が開放されており、冷
却装置2から供給される冷媒用気体を断熱ケース12内
に導入し、該断熱ケース12内に収納保持された試料昇
・降温部13を外部から冷却するものである。なお、蓋
部12bの上面部には気体放出口12dが設けられてい
ると共に、連結部材12cには蓋部12bと所定の間隙
をおいて該蓋部12bを囲むように形成された気体ガイ
ド板12eが取り付けられており、気体放出口12dか
ら放出された気体を下方の外ケースの気体排出口11c
に導くようになっている。
材料で有底円筒状に形成されたケース基部12aと、こ
のケース基部12aの上部開口部を塞ぐ着脱自在な蓋部
12bとで構成されている。このケース基部12aは図
示しないが、適宜の保持部材で外ケース11に固定され
ていると共に、蓋部12bは外ケース11の蓋体11b
に連結部材12cによって固定され、外ケース11の蓋
体11bを着脱すると、同時に断熱ケース12の蓋部1
2bも着脱されるようになっている。さらに、ケース基
部12aの側部には気体導入管14の一端部が貫通固定
されている。この気体導入管14は本発明の気体導入通
路を構成するもので、外ケース11の側部を貫通して断
熱ケース12内にその一端開口部が開放されており、冷
却装置2から供給される冷媒用気体を断熱ケース12内
に導入し、該断熱ケース12内に収納保持された試料昇
・降温部13を外部から冷却するものである。なお、蓋
部12bの上面部には気体放出口12dが設けられてい
ると共に、連結部材12cには蓋部12bと所定の間隙
をおいて該蓋部12bを囲むように形成された気体ガイ
ド板12eが取り付けられており、気体放出口12dか
ら放出された気体を下方の外ケースの気体排出口11c
に導くようになっている。
【0019】図2は熱分析装置本体1の要部断面である
が、図2に示されるように、試料昇・降温部13は、均
熱ブロック13aと、この均熱ブロック13aの側面外
周に巻かれた加熱手段としてのヒータ13bと、このヒ
ータ13bを覆うようにして固着された円筒状の放熱フ
ィン13cとを備えている。
が、図2に示されるように、試料昇・降温部13は、均
熱ブロック13aと、この均熱ブロック13aの側面外
周に巻かれた加熱手段としてのヒータ13bと、このヒ
ータ13bを覆うようにして固着された円筒状の放熱フ
ィン13cとを備えている。
【0020】均熱ブロック13aは、銀等の熱良導体で
構成され、その上部には測定室13dが形成されている
。この測定室13d内には円板状の熱良導体で構成され
た感熱板13eが保持されている。この感熱板13eは
、該感熱板13eの円の中心に対して左右に対称的な部
位が円形状に突出されて試料載置部及び標準試料載置部
とされ、それぞれの表面部に試料13f及び標準試料1
3gが載置されると共に裏面に各々熱電対13h及び1
3iの接点部がスポット溶接されている。これら熱電対
13h及び13iによって試料13fと標準試料13g
との温度差が検出され、その検出出力は図示されていな
いDTA回路に送出されてDTA分析が行われるように
なっている。なお、この測定室13dの上部開口部には
蓋13jが着脱自在に取り付けられ、また、この測定室
13d内には雰囲気ガス導入管13kの一端が開口され
ており、測定室13d内を所定のガス雰囲気にできるよ
うになっている。さらに、均熱ブロック13aの下部に
は温度制御用の熱電対13mが埋め込まれており、その
出力が図示されていないプログラム温度制御装置に接続
され、この出力によってヒータ13bに流す電流が加減
されて試料昇・降温部13の温度制御が行われるように
なっている。
構成され、その上部には測定室13dが形成されている
。この測定室13d内には円板状の熱良導体で構成され
た感熱板13eが保持されている。この感熱板13eは
、該感熱板13eの円の中心に対して左右に対称的な部
位が円形状に突出されて試料載置部及び標準試料載置部
とされ、それぞれの表面部に試料13f及び標準試料1
3gが載置されると共に裏面に各々熱電対13h及び1
3iの接点部がスポット溶接されている。これら熱電対
13h及び13iによって試料13fと標準試料13g
との温度差が検出され、その検出出力は図示されていな
いDTA回路に送出されてDTA分析が行われるように
なっている。なお、この測定室13dの上部開口部には
蓋13jが着脱自在に取り付けられ、また、この測定室
13d内には雰囲気ガス導入管13kの一端が開口され
ており、測定室13d内を所定のガス雰囲気にできるよ
うになっている。さらに、均熱ブロック13aの下部に
は温度制御用の熱電対13mが埋め込まれており、その
出力が図示されていないプログラム温度制御装置に接続
され、この出力によってヒータ13bに流す電流が加減
されて試料昇・降温部13の温度制御が行われるように
なっている。
【0021】図3は熱分析装置本体1の変形例の要部断
面図であり、図3に示されるように、この変形例は、図
2に示される試料昇・降温部13における放熱フィン1
3cを取り去り、そのかわに均熱ブロック13aに気体
流通路13pを設け、この気体流通路13pに冷媒用気
体導入管14を直接接続し、該気体流通路13pに冷却
用気体を流通させることにより均熱ブロック13aの内
部から試料昇・降温部13を効率的に冷却するようにし
たもので、その外の構成は上記一実施例と同一である。
面図であり、図3に示されるように、この変形例は、図
2に示される試料昇・降温部13における放熱フィン1
3cを取り去り、そのかわに均熱ブロック13aに気体
流通路13pを設け、この気体流通路13pに冷媒用気
体導入管14を直接接続し、該気体流通路13pに冷却
用気体を流通させることにより均熱ブロック13aの内
部から試料昇・降温部13を効率的に冷却するようにし
たもので、その外の構成は上記一実施例と同一である。
【0022】さて、図1において、冷却装置2は、気密
構造に形成された圧力容器であり、内部に冷媒用気体た
る窒素ガスを液化した液体窒素2aが収容される。この
冷却装置2内で蒸発気化した窒素ガスはパイプ5aを通
じて加熱装置3に導かれ、該加熱装置3によって常温に
加熱された後、パイプ5bを通じてマスフローコントロ
ーラ4に導かれる。
構造に形成された圧力容器であり、内部に冷媒用気体た
る窒素ガスを液化した液体窒素2aが収容される。この
冷却装置2内で蒸発気化した窒素ガスはパイプ5aを通
じて加熱装置3に導かれ、該加熱装置3によって常温に
加熱された後、パイプ5bを通じてマスフローコントロ
ーラ4に導かれる。
【0023】マスフローコントローラ4は本発明の流量
制御装置を構成するもので、パイプ5bで導かれた窒素
ガスを所定の指令信号に対応した質量流量に調整してパ
イプ5cに供給する。このマスフローコントローラ4は
制御回路4aから送出される指令信号によって流量設定
がなされる。この制御回路4aはマイクロプロセッサ等
を内蔵したものであり、図示しないが、試料昇・降温部
13の温度制御を行うプログラム温度制御装置のプログ
ラム温度または制御用熱電対13mの検出温度と連動し
て試料昇・降温部13の冷却に必要な流量となるように
マスフローコントローラ4の流量を適切な流量に設定す
る。なお、この適切な流量は、昇・降温速度やプログラ
ム温度等の条件毎に実験によって求めて記憶させておい
てもよいし、また、冷却装置2で冷却された後の冷媒用
気体の温度を測定するようにし、この温度と、プログラ
ム温度制御装置の昇・降温速度やプログラム温度等の条
件を入力して各時点で昇・降温部13から奪うべき熱量
をマイクロプロセッサで計算して求めるようにしてもよ
い。
制御装置を構成するもので、パイプ5bで導かれた窒素
ガスを所定の指令信号に対応した質量流量に調整してパ
イプ5cに供給する。このマスフローコントローラ4は
制御回路4aから送出される指令信号によって流量設定
がなされる。この制御回路4aはマイクロプロセッサ等
を内蔵したものであり、図示しないが、試料昇・降温部
13の温度制御を行うプログラム温度制御装置のプログ
ラム温度または制御用熱電対13mの検出温度と連動し
て試料昇・降温部13の冷却に必要な流量となるように
マスフローコントローラ4の流量を適切な流量に設定す
る。なお、この適切な流量は、昇・降温速度やプログラ
ム温度等の条件毎に実験によって求めて記憶させておい
てもよいし、また、冷却装置2で冷却された後の冷媒用
気体の温度を測定するようにし、この温度と、プログラ
ム温度制御装置の昇・降温速度やプログラム温度等の条
件を入力して各時点で昇・降温部13から奪うべき熱量
をマイクロプロセッサで計算して求めるようにしてもよ
い。
【0024】マスフローコントローラ4で流量制御され
た冷媒用気体はパイプ5cを通じて冷却装置2内の液体
窒素2aに侵漬されたスパイラルパイプ5dに送られ、
冷却された後、パイプ5eによって熱分析装置本体1の
冷媒用気体導入管14に送られ、しかる後に冷媒用気体
導入管14を通じて断熱ケース12内に供給されるよう
になっている。
た冷媒用気体はパイプ5cを通じて冷却装置2内の液体
窒素2aに侵漬されたスパイラルパイプ5dに送られ、
冷却された後、パイプ5eによって熱分析装置本体1の
冷媒用気体導入管14に送られ、しかる後に冷媒用気体
導入管14を通じて断熱ケース12内に供給されるよう
になっている。
【0025】上述の一実施例によれば、試料昇・降温部
13は、マスフローコントローラ3で流量制御された後
に冷却装置2により冷却された冷媒用気体によって冷却
されるから、試料を低温領域から昇・降温して試料の熱
的特性を測定することができる。この場合、上記マスフ
ローコントローラ3での流量制御は昇・降温速度やプロ
グラム温度に対応して適切な流量に制御されるから、過
剰な冷却を行うことなく低温領域からの昇・降温が可能
となる。したがって、過剰に冷却されることによって熱
分析装置本体が熱的に不安定な状態になることがなく、
ノイズが少なく精度の高い測定が可能となる。しかも、
熱分析装置本体1には冷却に必要な冷却用気体が供給さ
れるだけであり、大量の冷媒を無駄に消費することがな
いとともに、大量の低温冷媒を滞留させておく等の必要
がないから、露の付着のおそれ等も著しく軽減できる。 しかも、液体窒素は比較的容易に入手可能であり、廉価
でもあるから測定コストを著しく軽減できる。また、冷
媒用の気体供給源を冷却装置2で兼ねていることから装
置を単純な構成とすることができる。さらに、蒸発した
低温気体を加熱装置3で加熱して常温にしているから流
量制御が容易である。加えて、常温になった冷媒用気体
を液体窒素2aによって再度冷却するようにしているか
ら、これによって液体窒素2aに熱が与えられ、蒸発が
促進されるから特に蒸発を促進させるための装置を設け
る必要もない。
13は、マスフローコントローラ3で流量制御された後
に冷却装置2により冷却された冷媒用気体によって冷却
されるから、試料を低温領域から昇・降温して試料の熱
的特性を測定することができる。この場合、上記マスフ
ローコントローラ3での流量制御は昇・降温速度やプロ
グラム温度に対応して適切な流量に制御されるから、過
剰な冷却を行うことなく低温領域からの昇・降温が可能
となる。したがって、過剰に冷却されることによって熱
分析装置本体が熱的に不安定な状態になることがなく、
ノイズが少なく精度の高い測定が可能となる。しかも、
熱分析装置本体1には冷却に必要な冷却用気体が供給さ
れるだけであり、大量の冷媒を無駄に消費することがな
いとともに、大量の低温冷媒を滞留させておく等の必要
がないから、露の付着のおそれ等も著しく軽減できる。 しかも、液体窒素は比較的容易に入手可能であり、廉価
でもあるから測定コストを著しく軽減できる。また、冷
媒用の気体供給源を冷却装置2で兼ねていることから装
置を単純な構成とすることができる。さらに、蒸発した
低温気体を加熱装置3で加熱して常温にしているから流
量制御が容易である。加えて、常温になった冷媒用気体
を液体窒素2aによって再度冷却するようにしているか
ら、これによって液体窒素2aに熱が与えられ、蒸発が
促進されるから特に蒸発を促進させるための装置を設け
る必要もない。
【0026】なお、上述の一実施例では、冷媒用気体供
給源を冷却装置で兼ねるようにしたが、これは図1にお
けるパイプ5a,5b及び加熱装置を取り去り、代わり
に乾燥窒素ボンベ6からの乾燥窒素ガスをマスフローコ
ントローラに供給するようにして、冷却装置2で蒸発さ
れた気体を用いることなく、冷却装置とは別個に設けら
れた気体供給源としての乾燥窒素ボンベ6から供給され
るガスを冷媒用気体として用いてもよい。この場合には
、冷却装置として冷媒用気体を液化したものを収容した
容器を用いる必要はなく、他の冷媒を収容した容器、あ
るいは、冷凍機等を用いてもよい。
給源を冷却装置で兼ねるようにしたが、これは図1にお
けるパイプ5a,5b及び加熱装置を取り去り、代わり
に乾燥窒素ボンベ6からの乾燥窒素ガスをマスフローコ
ントローラに供給するようにして、冷却装置2で蒸発さ
れた気体を用いることなく、冷却装置とは別個に設けら
れた気体供給源としての乾燥窒素ボンベ6から供給され
るガスを冷媒用気体として用いてもよい。この場合には
、冷却装置として冷媒用気体を液化したものを収容した
容器を用いる必要はなく、他の冷媒を収容した容器、あ
るいは、冷凍機等を用いてもよい。
【0027】また、上記実施例では、本発明をDTA装
置に適用した例を掲げたが、本発明はDSC、TMA、
TGその他の熱分析装置にも適用できることは勿論であ
る。
置に適用した例を掲げたが、本発明はDSC、TMA、
TGその他の熱分析装置にも適用できることは勿論であ
る。
【0028】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明は、試料
を収容する熱分析装置本体内に上記試料を冷却する冷媒
を導入し、上記試料を低温領域から昇・降温できるよう
にして上記試料の熱的特性を測定する低温熱分析装置に
おいて、気体供給源から供給された冷媒用気体の流量を
流量制御装置で制御した後に冷却装置で冷却して熱分析
装置本体内に導入するようにしたことにより、比較的簡
単な構成により、冷却度合いを制御でき、熱的ノイズを
軽減できるとともに、冷媒の消費が少なくかつ露を付着
させるおそれ等の少ない低温熱分析装置を得ているもの
である。
を収容する熱分析装置本体内に上記試料を冷却する冷媒
を導入し、上記試料を低温領域から昇・降温できるよう
にして上記試料の熱的特性を測定する低温熱分析装置に
おいて、気体供給源から供給された冷媒用気体の流量を
流量制御装置で制御した後に冷却装置で冷却して熱分析
装置本体内に導入するようにしたことにより、比較的簡
単な構成により、冷却度合いを制御でき、熱的ノイズを
軽減できるとともに、冷媒の消費が少なくかつ露を付着
させるおそれ等の少ない低温熱分析装置を得ているもの
である。
【図1】本発明の一実施例にかかる低温熱分析装置の全
体構成を示す図である。
体構成を示す図である。
【図2】熱分析装置本体の要部断面図である
【図3】一
実施例の変形例の要部断面図である。
実施例の変形例の要部断面図である。
1……熱分析装置本体、2…冷却装置、3…加熱装置、
4…流量制御装置を構成するマスフローコントローラ、
11…外ケース、12…断熱ケース、13…試料昇・降
温部、13a…均熱ブロック、14…冷媒用基体流通路
を構成する気体導入管、13p…気体流通路。
4…流量制御装置を構成するマスフローコントローラ、
11…外ケース、12…断熱ケース、13…試料昇・降
温部、13a…均熱ブロック、14…冷媒用基体流通路
を構成する気体導入管、13p…気体流通路。
Claims (5)
- 【請求項1】 試料を収容する熱分析装置本体内に上
記試料を冷却する冷媒を導入し、上記試料を低温領域か
ら昇・降温できるようにして上記試料の熱的特性を測定
する低温熱分析装置において、冷媒用気体を供給する気
体供給源と、この気体供給源から供給された冷媒用気体
の流量を制御する流量制御装置と、この流量制御装置で
流量制御された冷媒用気体を冷却する冷却装置とを備え
、上記流量制御装置で流量制御されかつ冷却装置で冷却
された冷媒用気体を上記熱分析装置本体内に導入するよ
うにしたことを特徴とする低温熱分析装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の低温熱分析装置にお
いて、上記気体供給源が冷媒用気体を液化して容器に収
容したものであり、この気体供給源と流量調整装置との
間にこの気体供給源で蒸発した冷却用気体を加熱して常
温にし、上記流量調整装置に供給する加熱手段が設けら
れ、上記流量調整装置を通過した冷媒用気体を冷却する
冷却装置を、上記液化した冷却用気体を収容した気体供
給源で兼ねるようにし、該気体供給源によって冷却され
た冷媒用気体を上記熱分析装置本体内に導入するように
したことを特徴とする低温熱分析装置。 - 【請求項3】 請求項1または2のいずれかに記載の
低温熱分析装置において、前記冷媒用気体として窒素ガ
スを用いたことを特徴とする低温熱分析装置。 - 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の
低温熱分析装置において、上記熱分析装置本体は、外ケ
ースと、この外ケース内に収容された断熱ケースと、こ
の断熱ケース内に収納された試料昇・降温部とを備えた
ものであり、上記試料昇・降温部は、均熱ブロックと、
この均熱ブロックを加熱する加熱手段とを備えており、
上記均熱ブロック内には、試料を配置してその熱的特性
を観測する測定室が設けられていると共に、上記熱分析
装置本体には、上記断熱ケース内に冷媒用気体を導入し
て該冷媒用気体により上記試料昇・降温部を外側から冷
却する冷媒用気体導入通路が設けられていることを特徴
とした低温熱分析装置。 - 【請求項5】 請求項1ないし3のいずれかに記載の
低温熱分析装置において、上記熱分析装置本体は、外ケ
ースと、この外ケース内に収容された断熱ケースと、こ
の断熱ケース内に収納された試料昇・降温部とを備えた
ものであり、上記試料昇・降温部は、均熱ブロックと、
この均熱ブロックを加熱する加熱手段とを備えており、
上記均熱ブロック内には、試料を配置してその熱的特性
を観測する測定室と、気体を通過させる気体流通路とが
設けられていると共に、上記熱分析装置本体には、上記
均熱ブロックの気体流通路に冷媒用気体を導入して該冷
媒用気体により上記試料昇・降温部を内部から冷却する
冷媒用気体導入通路が設けられていることを特徴とした
低温熱分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12110391A JPH04348263A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 低温熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12110391A JPH04348263A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 低温熱分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04348263A true JPH04348263A (ja) | 1992-12-03 |
Family
ID=14802958
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12110391A Pending JPH04348263A (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 低温熱分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04348263A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6742926B1 (en) * | 2000-07-10 | 2004-06-01 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Methods of testing thermal insulation and associated test apparatus |
JP2010271233A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Espec Corp | 環境試験装置 |
-
1991
- 1991-05-27 JP JP12110391A patent/JPH04348263A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6742926B1 (en) * | 2000-07-10 | 2004-06-01 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Methods of testing thermal insulation and associated test apparatus |
JP2010271233A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Espec Corp | 環境試験装置 |
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