JPH02105046A - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
- Publication number
- JPH02105046A JPH02105046A JP63257992A JP25799288A JPH02105046A JP H02105046 A JPH02105046 A JP H02105046A JP 63257992 A JP63257992 A JP 63257992A JP 25799288 A JP25799288 A JP 25799288A JP H02105046 A JPH02105046 A JP H02105046A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- sample chamber
- heater
- program
- vaporized
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims abstract description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 23
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 17
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 12
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 6
- 238000009835 boiling Methods 0.000 abstract description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/20—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity
- G01N25/48—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating the development of heat, i.e. calorimetry, e.g. by measuring specific heat, by measuring thermal conductivity on solution, sorption, or a chemical reaction not involving combustion or catalytic oxidation
- G01N25/4806—Details not adapted to a particular type of sample
- G01N25/4826—Details not adapted to a particular type of sample concerning the heating or cooling arrangements
- G01N25/4833—Details not adapted to a particular type of sample concerning the heating or cooling arrangements specially adapted for temperature scanning
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、材料の物理的性質の温度依存性を調べるか分
析装置における加熱冷却測定に対する装置の改良に関す
るものである。
析装置における加熱冷却測定に対する装置の改良に関す
るものである。
［発明の概要１
本発明は、分析装置における試料の温度プログラムに従
う昇降温を容易に行うことを目的とするため、第１のヒ
ーターと、開口部を有する断熱容器と、気化ガス用配管
と、試料室と、第２のヒーターと、試料室温度検出器と
、温度プログラム調節器と、第１の供給電力調節器と、
第２の供給電力調節器とを備え、所望のプログラム温度
に応じて断熱容器内の液化冷媒中のヒータを働かせ、気
化した冷媒を試料室に導き試料室を冷却するとともに試
料室内のヒーターにより試料室を加熱して上記目的を達
成する。
う昇降温を容易に行うことを目的とするため、第１のヒ
ーターと、開口部を有する断熱容器と、気化ガス用配管
と、試料室と、第２のヒーターと、試料室温度検出器と
、温度プログラム調節器と、第１の供給電力調節器と、
第２の供給電力調節器とを備え、所望のプログラム温度
に応じて断熱容器内の液化冷媒中のヒータを働かせ、気
化した冷媒を試料室に導き試料室を冷却するとともに試
料室内のヒーターにより試料室を加熱して上記目的を達
成する。
〔従来の技術１
従来、この種の発明に関しては、■試料室の周囲に液化
冷媒をｉｌ 撞させ試料室を冷却するとともに試料室内
のヒーターにより試料室を加熱して試料室を温度制御す
るもの、■試料室に液化冷媒を直接導入して試料室を冷
却するとともに、試料室の周囲に設けられたヒーターに
より試料室を加熱して試料室を温度制御するもの、■試
料室に、液化冷媒で冷却された気体を導入して試料室を
冷却するとともに、試料室内に設けられたヒーターによ
り試料室を加熱して試料室を温度制御するものなどがあ
る。
冷媒をｉｌ 撞させ試料室を冷却するとともに試料室内
のヒーターにより試料室を加熱して試料室を温度制御す
るもの、■試料室に液化冷媒を直接導入して試料室を冷
却するとともに、試料室の周囲に設けられたヒーターに
より試料室を加熱して試料室を温度制御するもの、■試
料室に、液化冷媒で冷却された気体を導入して試料室を
冷却するとともに、試料室内に設けられたヒーターによ
り試料室を加熱して試料室を温度制御するものなどがあ
る。
〔発明が解決しようとする課題）
上記従来技術においては、ヒーターによる加熱の虚」こ
ついてはいずれの方法でも問題はないのであるが、冷却
の点で次のような問題があった。まず、上記０項の方法
では、試料室内を直接冷却するのではな（１周囲を冷却
する方法のため、試料室の断熱を完璧にしない場合、冷
却能力が低下してしまい、分析装置設計上の大きな制約
となるという欠点があった。また、上記０項の方法では
、冷却能力は充分に得られるが、ヒーターによる加熱と
のバランスが難しく、試料室の精密な温度制御ができな
いという欠点があった。さらに、上記０項の方法では、
使用する気体は液化冷媒以下の沸点を有する気体である
ことが必要条件となりコストがかさみ、さらに気体に含
まれる水分が凍結してガス流路をふさぐなどの問題を発
生する欠点があった。
ついてはいずれの方法でも問題はないのであるが、冷却
の点で次のような問題があった。まず、上記０項の方法
では、試料室内を直接冷却するのではな（１周囲を冷却
する方法のため、試料室の断熱を完璧にしない場合、冷
却能力が低下してしまい、分析装置設計上の大きな制約
となるという欠点があった。また、上記０項の方法では
、冷却能力は充分に得られるが、ヒーターによる加熱と
のバランスが難しく、試料室の精密な温度制御ができな
いという欠点があった。さらに、上記０項の方法では、
使用する気体は液化冷媒以下の沸点を有する気体である
ことが必要条件となりコストがかさみ、さらに気体に含
まれる水分が凍結してガス流路をふさぐなどの問題を発
生する欠点があった。
本発明は、このような欠点を解消した分析装置を提供す
ることを目的とする。
ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段］
本発明は上記の欠点を速やかに解消するために開発され
たもので、その主たる構成要件は、第１のヒーターと、
前記第１のヒーターを内部に配置し上部に開孔部を有す
るとともに液化冷媒を保存する断熱容器と、前記断熱容
器の開孔部に接続された気化ガス用配管と、前記気化ガ
ス用配管に接続されガス排出口を有する試料室と、前記
試料室内に設けられ試料室内を加熱する第２のヒーター
と、前記試料室内の温度を計測する温度検出器と所望の
温度プログラムを設定できるとともに温度プログラム信
号を出力できる温度プログラム設定器と、前記温度プロ
グラム設定器および前記第１のヒーターに接続され温度
プログラム信号に応じて前記第１のヒーターへの供給電
力を調節する第１の供給電力調節器と、前記温度プログ
ラム設定器、前記温度検出器および前記第２のヒーター
に接続され温度プログラム信号と温度検出器の検出信号
との差に応じて前記第２のヒーターへの供給電力を調節
する第２の供給電力調節器とから成っている。
たもので、その主たる構成要件は、第１のヒーターと、
前記第１のヒーターを内部に配置し上部に開孔部を有す
るとともに液化冷媒を保存する断熱容器と、前記断熱容
器の開孔部に接続された気化ガス用配管と、前記気化ガ
ス用配管に接続されガス排出口を有する試料室と、前記
試料室内に設けられ試料室内を加熱する第２のヒーター
と、前記試料室内の温度を計測する温度検出器と所望の
温度プログラムを設定できるとともに温度プログラム信
号を出力できる温度プログラム設定器と、前記温度プロ
グラム設定器および前記第１のヒーターに接続され温度
プログラム信号に応じて前記第１のヒーターへの供給電
力を調節する第１の供給電力調節器と、前記温度プログ
ラム設定器、前記温度検出器および前記第２のヒーター
に接続され温度プログラム信号と温度検出器の検出信号
との差に応じて前記第２のヒーターへの供給電力を調節
する第２の供給電力調節器とから成っている。
〔作用１
前記温度プログラム設定器の出力が室温よりも低い時に
は前記第１の供給電力調節器から前記第１のヒーターへ
電力が供給され、ヒーターに発生した熱エネルギーによ
り、前記断熱容器内の相当量の液化冷媒が気化し、前記
気化ガス用配管を経由して前記試料室に冷媒気化ガスと
して導入され試料室を冷却する。このとき、温度プログ
ラム設定器の出力温度信号が低ければ低い程、前記第１
のヒーターへの供給電力が大きくなり、試料室の冷却能
力が強化される。また、同時に前記温度プログラム設定
器の出力信号と前記温度検出器の出力信号との差に応じ
て前記第２の供給電力調節器から第２のヒーターへ電力
が供給され、前記両出力信号が一致するように温度制御
がなされる。こうして分析装置の試料室を温度プログラ
ムに従って容易に温度制御するという目的を達する。
は前記第１の供給電力調節器から前記第１のヒーターへ
電力が供給され、ヒーターに発生した熱エネルギーによ
り、前記断熱容器内の相当量の液化冷媒が気化し、前記
気化ガス用配管を経由して前記試料室に冷媒気化ガスと
して導入され試料室を冷却する。このとき、温度プログ
ラム設定器の出力温度信号が低ければ低い程、前記第１
のヒーターへの供給電力が大きくなり、試料室の冷却能
力が強化される。また、同時に前記温度プログラム設定
器の出力信号と前記温度検出器の出力信号との差に応じ
て前記第２の供給電力調節器から第２のヒーターへ電力
が供給され、前記両出力信号が一致するように温度制御
がなされる。こうして分析装置の試料室を温度プログラ
ムに従って容易に温度制御するという目的を達する。
［実施例］
以下本発明を一実施例に示した図面に基づき詳細に説明
すると、図中１は第１のヒーターで、前２第１のヒータ
ー１は上部に開孔部２ａを有する断熱容器２の内部に配
置され、前記断熱容器２の内部には液体窒素３が満たさ
れている。前記断熱容器２の開孔部２ａには気化ガス用
配管４の一端が接続され、前記気化ガス用配管４の他端
は試料室５に接続され、前記試料室５にはガス排出口５
ａが設けられている。また、前記試料室５の内部には、
第２のヒーター６および温度検出器７が設けられている
０図中８は、所望の温度プログラムを設定できる温度プ
ログラム設定器で、温度プログラム設定器８からはプロ
グラム設定された温度信号が出力される。前記温度プロ
グラム設定器８および前記第１のヒーターｌには第１の
供給電力調節器９が接続され、前記第１の供給電力調節
器９は前記温度プログラム設定器８の出力に応じて、前
記第１のヒーター１に供給する電力を調節する。また、
前記温度プログラム設定器８、前記温度検出器７および
前記第２のヒーター６には第２の供給電力調節器１０が
接続され、前記温度プログラム設定器８の出力信号と前
記温度検出器７の出力信号の差（温度差信号）に応じて
、前記第２のヒーターに供給する電力を調節する。
すると、図中１は第１のヒーターで、前２第１のヒータ
ー１は上部に開孔部２ａを有する断熱容器２の内部に配
置され、前記断熱容器２の内部には液体窒素３が満たさ
れている。前記断熱容器２の開孔部２ａには気化ガス用
配管４の一端が接続され、前記気化ガス用配管４の他端
は試料室５に接続され、前記試料室５にはガス排出口５
ａが設けられている。また、前記試料室５の内部には、
第２のヒーター６および温度検出器７が設けられている
０図中８は、所望の温度プログラムを設定できる温度プ
ログラム設定器で、温度プログラム設定器８からはプロ
グラム設定された温度信号が出力される。前記温度プロ
グラム設定器８および前記第１のヒーターｌには第１の
供給電力調節器９が接続され、前記第１の供給電力調節
器９は前記温度プログラム設定器８の出力に応じて、前
記第１のヒーター１に供給する電力を調節する。また、
前記温度プログラム設定器８、前記温度検出器７および
前記第２のヒーター６には第２の供給電力調節器１０が
接続され、前記温度プログラム設定器８の出力信号と前
記温度検出器７の出力信号の差（温度差信号）に応じて
、前記第２のヒーターに供給する電力を調節する。
本発明にかかる分析装置の動作は、まず、所望の温度プ
ログラムを前記温度プログラム設定器８に設定する０次
に、前記温度プログラム設定器８を動作させると、前記
温度プログラム設定器８より、時々刻々、所望の温度信
号が出力される。このとき、温度プログラムに応じて後
述する方法で前記第１の供給電力調節器９を介して前記
第１のヒーターｌに必要な電力が供給される。前記第１
のヒーター１に供給された電力は、直ちに周囲を満たす
前記液体窒素３の気化エネルギーとなり、前記液体窒素
３を供給電力相当量だけ気化させる。気化した液体窒素
は、はぼ窒素の沸点（−１９６℃）に近い温度の冷えた
窒素ガスとして、気化による体積増加分だけ、前記断熱
容器２の開孔部２ａおよび前記気化ガス用配管４を経由
して前記試料室５に送られ、前記試料室５を冷却した後
、ガス排出口５ａを通じて外部に排出される。
ログラムを前記温度プログラム設定器８に設定する０次
に、前記温度プログラム設定器８を動作させると、前記
温度プログラム設定器８より、時々刻々、所望の温度信
号が出力される。このとき、温度プログラムに応じて後
述する方法で前記第１の供給電力調節器９を介して前記
第１のヒーターｌに必要な電力が供給される。前記第１
のヒーター１に供給された電力は、直ちに周囲を満たす
前記液体窒素３の気化エネルギーとなり、前記液体窒素
３を供給電力相当量だけ気化させる。気化した液体窒素
は、はぼ窒素の沸点（−１９６℃）に近い温度の冷えた
窒素ガスとして、気化による体積増加分だけ、前記断熱
容器２の開孔部２ａおよび前記気化ガス用配管４を経由
して前記試料室５に送られ、前記試料室５を冷却した後
、ガス排出口５ａを通じて外部に排出される。
前記第１の供給電力調節器９の働きについてさらに詳し
く説明すると、入出力の関係は以下のように設定されて
いる。すなわち、入力である温度プログラム信号に対し
、出力である供給電力は、なる形で表される。ここで、 Ｐ 、供給電力 Ｔｐニブログラム温度 α 、プログラム温度に対する供給電圧関数ｔ ・時間 Ｔｐ □ニブログラム温度変化速度 ｔ β ・定数 である。
く説明すると、入出力の関係は以下のように設定されて
いる。すなわち、入力である温度プログラム信号に対し
、出力である供給電力は、なる形で表される。ここで、 Ｐ 、供給電力 Ｔｐニブログラム温度 α 、プログラム温度に対する供給電圧関数ｔ ・時間 Ｔｐ □ニブログラム温度変化速度 ｔ β ・定数 である。
上記関数α（Ｔｐ）は、あらかじめ、実験的に次のよう
に設定される。すなわち、前記第１のヒーターｌに、例
えば１００ｗの一定電力を供給し、３０分後の前記温度
検出器７の出力温度、例＾ば一９０℃を読みとる０次に
、同様の方法で、供給電力を変化させたときの前記温度
検出器７の出力温度を読みとり、出力温度と供ｂｉ力と
の関係を第２図に示すようにグラフ化し、この関数関係
をαとする。このように間数α（Ｔ）を決定することに
より、上記０式の第１項により、温度プログラム信号Ｔ
ｐとして室温より低い一定値を設定し、本発明にかかる
分析装置を動作させると、前記第１の供給電力調節器９
および前記第１のヒーターｌの働きにより、３０分後に
は、前記試料室５の温度を温度プログラムで設定した温
度まで下げることができる。
に設定される。すなわち、前記第１のヒーターｌに、例
えば１００ｗの一定電力を供給し、３０分後の前記温度
検出器７の出力温度、例＾ば一９０℃を読みとる０次に
、同様の方法で、供給電力を変化させたときの前記温度
検出器７の出力温度を読みとり、出力温度と供ｂｉ力と
の関係を第２図に示すようにグラフ化し、この関数関係
をαとする。このように間数α（Ｔ）を決定することに
より、上記０式の第１項により、温度プログラム信号Ｔ
ｐとして室温より低い一定値を設定し、本発明にかかる
分析装置を動作させると、前記第１の供給電力調節器９
および前記第１のヒーターｌの働きにより、３０分後に
は、前記試料室５の温度を温度プログラムで設定した温
度まで下げることができる。
また、上記■式第２項の係数である、βとして負の値を
設定することにより、温度プログラムの昇温過程では冷
却能力を低く抑え、降温過程では冷却能力を増大するこ
とにより理想的な冷却制御を行うことができる。
設定することにより、温度プログラムの昇温過程では冷
却能力を低く抑え、降温過程では冷却能力を増大するこ
とにより理想的な冷却制御を行うことができる。
一方、前記第２の供給電力調節器１０の働きについてさ
らに詳しく説明すると、前記第２の供給電力調節器ｌＯ
は、前記温度プログラム設定器８と前記温度検出器７の
出力差である温度差信号に対し、周知のＰＩＤ （比例
・積分・微分）制御演算の結果としての電力値を前記第
２のヒーター６に供給することにより、前記試料室５を
前記プログラム温度設定器８に設定した温度プログラム
に従って精密に温度制御する。また、前記第２の供給電
力調節器ｌＯによる前記試料室５の温度制御は前記第１
の供給電力調節器９の動作の有無にかかわらず常に行わ
れるため、低温から高温までの広い範囲で、常に精密な
温度制御がなされる。
らに詳しく説明すると、前記第２の供給電力調節器ｌＯ
は、前記温度プログラム設定器８と前記温度検出器７の
出力差である温度差信号に対し、周知のＰＩＤ （比例
・積分・微分）制御演算の結果としての電力値を前記第
２のヒーター６に供給することにより、前記試料室５を
前記プログラム温度設定器８に設定した温度プログラム
に従って精密に温度制御する。また、前記第２の供給電
力調節器ｌＯによる前記試料室５の温度制御は前記第１
の供給電力調節器９の動作の有無にかかわらず常に行わ
れるため、低温から高温までの広い範囲で、常に精密な
温度制御がなされる。
［発明の効果１
以上のように本発明によれば、第１の供給電力調節器に
よる試料室の冷却制御と、第２の供給電力調節器による
試料室の精密な温度制御とがバランス良く合成されるた
め、液化冷媒温度に至る室温よりも低い温度から７００
°Ｃ程度の高温まで、分析装置における試料の温度を決
める試料室の温度を容易にしかも精密に制御できるとい
う効果を有する。また、気化させた液化冷媒を試料室に
適切な量だけ導入できるため、低コストが実現でき、冷
却能力が高いので分析装置の設計に殆んど制約を与えな
いという効果も有する。
よる試料室の冷却制御と、第２の供給電力調節器による
試料室の精密な温度制御とがバランス良く合成されるた
め、液化冷媒温度に至る室温よりも低い温度から７００
°Ｃ程度の高温まで、分析装置における試料の温度を決
める試料室の温度を容易にしかも精密に制御できるとい
う効果を有する。また、気化させた液化冷媒を試料室に
適切な量だけ導入できるため、低コストが実現でき、冷
却能力が高いので分析装置の設計に殆んど制約を与えな
いという効果も有する。
第１図は本発明の一実施例を示す説明図、第２図は関数
ａを示す説明図である。 ｌ・・・第１のヒーター ２・・・断熱容器 ２ａ・・開孔部 ３・・・液体窒素 ４・・・気化ガス用配管 ５・・・試料室 ５ａ・・ガス排出口 ６・・・第２のヒーター ７・・・温度検出器 ８・・・温度プログラム設定器 ９・・・第１の供給電力調節器 １０・・・第２の供給電力調節器 以 上
ａを示す説明図である。 ｌ・・・第１のヒーター ２・・・断熱容器 ２ａ・・開孔部 ３・・・液体窒素 ４・・・気化ガス用配管 ５・・・試料室 ５ａ・・ガス排出口 ６・・・第２のヒーター ７・・・温度検出器 ８・・・温度プログラム設定器 ９・・・第１の供給電力調節器 １０・・・第２の供給電力調節器 以 上
Claims (1)
- 第１のヒーターと、前記第１のヒーターを内部に配置し
上部に開孔部を有するとともに液化冷媒を保存する断熱
容器と、前記断熱容器の開孔部に接続された気化ガス用
配管と、前記気化ガス用配管に接続されガス排出口を有
する試料室と、前記試料室内に設けられ試料室内を加熱
する第２のヒーターと、前記試料室内の温度を計測する
温度検出部と、所望の温度プログラムを設定できるとと
もに温度プログラム信号を出力できる温度プログラム設
定器と、前記温度プログラム設定器および前記第１のヒ
ーターに接続され温度プログラム信号に応じて前記第１
のヒーターへの供給電力を調節して前記断熱容器内の冷
媒の気化量を変える第１の供給電力調節器と、前記温度
プログラム設定器、前記温度検出器および前記第２のヒ
ーターに接続され温度プログラム信号と温度検出器の検
出信号との差に応じて前記第２のヒーターへの供給電力
を調節する第２の供給電力調節器とを備え、前記第１の
ヒーターの働きで前記断熱容器内で気化した冷媒ガスを
前記気化ガス用配管を通じて前記試料室に送り込むこと
により前記試料室を冷却するとともに前記第２のヒータ
ーの働きにより前記試料室を前記温度プログラム設定器
に設定した温度プログラムに従い加熱することを特徴と
する分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257992A JPH07122619B2 (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 分析装置 |
| US07/420,311 US5013159A (en) | 1988-10-13 | 1989-10-12 | Thermal analysis apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257992A JPH07122619B2 (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02105046A true JPH02105046A (ja) | 1990-04-17 |
| JPH07122619B2 JPH07122619B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=17314036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63257992A Expired - Lifetime JPH07122619B2 (ja) | 1988-10-13 | 1988-10-13 | 分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5013159A (ja) |
| JP (1) | JPH07122619B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007212381A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Jeol Ltd | 温度調節装置 |
| CN100394168C (zh) * | 2004-08-27 | 2008-06-11 | 南京大学 | 液氮气化扫描量热法及液氮气化扫描量热仪 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5771996A (en) * | 1996-04-03 | 1998-06-30 | Dico, Inc. | Lockout device for trailer brake actuator |
| US5842788A (en) * | 1996-11-01 | 1998-12-01 | Ta Instruments, Inc. | Differential scanning calorimeter |
| JP3377162B2 (ja) * | 1997-01-17 | 2003-02-17 | 株式会社リコー | 熱分析装置およびその計測方法 |
| JP3877954B2 (ja) * | 2000-11-09 | 2007-02-07 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 自動湿度ステップ制御熱分析装置 |
| JP4868305B2 (ja) | 2006-01-27 | 2012-02-01 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 示差走査熱量計 |
| US20080273572A1 (en) * | 2006-06-02 | 2008-11-06 | James Madison University | Thermal detector for chemical or biological agents |
| JP4831544B2 (ja) | 2006-08-29 | 2011-12-07 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 熱分析装置 |
| US8418480B2 (en) * | 2008-12-18 | 2013-04-16 | Waters Technologies Corporation | Cooling system using positive displacement cryogenic liquid pump |
| JP5283535B2 (ja) | 2009-02-20 | 2013-09-04 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 示差走査熱量計 |
| CN102141529B (zh) * | 2010-12-30 | 2013-04-17 | 西安交通大学 | 一种固定结合面真空接触热导测量装置 |
| CN103884519A (zh) * | 2012-12-20 | 2014-06-25 | 核工业西南物理研究院 | 一种超低温真空传热效率测试系统 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3195620A (en) * | 1963-06-14 | 1965-07-20 | Hollins College Corp | Process and apparatus for maintaining constant low temperatures |
| US3305000A (en) * | 1965-02-08 | 1967-02-21 | Barber Colman Co | Temperature control system for chromatographs |
| DE2557870A1 (de) * | 1975-12-22 | 1977-06-23 | Linde Ag | Verfahren und vorrichtung zum tiefgefrieren von biologischen substanzen |
| US4117713A (en) * | 1977-01-28 | 1978-10-03 | Westinghouse Electric Corp. | Particulography as an on-line technique for detection and location of faults within a gas-cooled dynamoelectric machine caused by overheating |
| FR2460460A1 (fr) * | 1979-06-28 | 1981-01-23 | Rivoire Jacques | Dispositif cryogenique stable et precis |
-
1988
- 1988-10-13 JP JP63257992A patent/JPH07122619B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-10-12 US US07/420,311 patent/US5013159A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100394168C (zh) * | 2004-08-27 | 2008-06-11 | 南京大学 | 液氮气化扫描量热法及液氮气化扫描量热仪 |
| JP2007212381A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Jeol Ltd | 温度調節装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5013159A (en) | 1991-05-07 |
| JPH07122619B2 (ja) | 1995-12-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH02105046A (ja) | 分析装置 | |
| US4848093A (en) | Apparatus and method for regulating temperature in a cryogenic test chamber | |
| US9752814B2 (en) | Cooling apparatus used for cryonic preservation, and corresponding operating method | |
| US4948389A (en) | Gas chromatograph having cyro blast coolings | |
| US4314459A (en) | Stable and precise cryogenic device | |
| US11885564B2 (en) | Apparatus and method for developing freeze drying protocols using small batches of product | |
| US7984638B2 (en) | Gas chromatograph oven | |
| US4295339A (en) | Cryostat system utilizing a liquefied gas | |
| US5433105A (en) | Method and device for analyzing moisture content in oil | |
| US5332883A (en) | Temperature control system for lamp annealer | |
| US5271230A (en) | Liquid gas temperature control apparatus for and methods of depressing temperature to and maintaining it at a chosen depressed value | |
| US3427815A (en) | Cryogenic temperaure control | |
| JPH11118778A (ja) | 熱分析装置 | |
| JP2019020361A (ja) | 冷媒導入装置及びガスクロマトグラフ | |
| JP3629325B2 (ja) | 試料温度制御方法 | |
| JPS6021729Y2 (ja) | 低温度恒温装置 | |
| JP2003240743A (ja) | 吸着材の吸着エネルギー測定装置 | |
| JPH08304372A (ja) | ガスクロマトグラフ装置 | |
| JP3595913B2 (ja) | 被冷却体の温度制御方法及び装置 | |
| JP7076742B2 (ja) | 昇温脱離分析法における液体窒素を用いた冷却機構付低温式昇温炉 | |
| JPH1073546A (ja) | 試料温度制御方法 | |
| JP2619044B2 (ja) | 温度制御装置 | |
| JP2001337058A (ja) | 熱伝導度検出器 | |
| JPH04348263A (ja) | 低温熱分析装置 | |
| JPH01199218A (ja) | 分析装置用試料温度制御装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081225 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |