JPH0330121A - 放射線感応層を有する記録担体に情報を記録する装置 - Google Patents

放射線感応層を有する記録担体に情報を記録する装置

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JPH0330121A
JPH0330121A JP2160025A JP16002590A JPH0330121A JP H0330121 A JPH0330121 A JP H0330121A JP 2160025 A JP2160025 A JP 2160025A JP 16002590 A JP16002590 A JP 16002590A JP H0330121 A JPH0330121 A JP H0330121A
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circuit
radiation
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radiation source
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、放射線源により発生された放射線の書込みビ
ームを記録層に向ける手段と、書込みビームと記録担体
間の相対運動を得るための駆動手段と、情報を表わす光
学的に検出可能なマークの情報パターンを形成するため
に、放射線源で発生された放射線の強さを、記録すべき
情報に従って制御する制御回路と、書込みビームより強
さの小さい確認ビームを該確認ビームが書込みビームを
追跡し且つ書込みビームによって形成された情報パター
ンで変調されるように記録層に向ける手段と、変調され
た確認ビームを対応した読取り信号に変換する手段とを
有する、放射線感応記録層を有する記録担体に情報を記
録する装置に関するものである。
（従来の技術） このような装置は米国特許第４，　４４８，　２７７号
より知られている。記録直後の情報の読出しは記録条件
か最適でない場合これを殆んど情報記録直後に検出する
ことかできるという利点を有する。けれども、従来の装
置は、読出しに必要な確認ビームか余計な放射線源の使
用を必要とするという欠点を有する。
（発明か解決しようとする課題） 本発明は、余計な放射線源を使用することなしに、記録
された情報を記録直後に読出すことのできるようにした
、冒頭記載の種類の記録装置を得ることを目的としたも
のである。
（課題を解決するための手段） 本発明によれば、前記の目的は次のようにすることによ
り達成される、すなわち、書込みビームと確認ビームは
同じ放射線源より生じ、装置は更に、放射線源で発生さ
れた放射線の瞬時の強さを表わす補正信号を発生する回
路と、補正信号と読出し信号から、放射線源で発生され
た放射線の瞬時の強さで割算された読出し信号を表わす
補正された読出し信号を取出す補正回路とを有する。
本発明は次の事実の認識に基くものである、すなわち、
放射線源の強度変調により読出し信号内に生じる妨害の
影響は、読出し信号を放射線源で発生された放射線の瞬
時の強さて割算することにより除去することかでき、変
調された書込みビームを発生するのに使用するのと同じ
放射線源を確認ビームの発生に用いることかできるとい
う事実の認識に基いたものである。補正された読出し信
号は、記録が正しく行われたかどうかを確認するのに用
いることができる。
装置は、補正された読出し信号から、確認ビームで走査
された情報パターンが特定の最適条件より偏差した程度
を表わす分析信号を取出す分析回路と、分析信号に応じ
て放射線源の制御を適応させる適応回路とを有すること
が好ましい。
分析回路は、記録された情報信号を補正された読出し信
号と比較する比較回路を有することかできる。記録され
た信号か直流を有しないならば、分析回路は動作周期検
出回路または第２調波検出回路とすることができる。実
際に、直流分の無い信号の場合には、平均動作周期は５
０％で、第２調波信号成分は無い。したがって、補正さ
れた続出し信号における動作周期の偏差または第２調波
の存在は、補正された読出し信号の直流分の無い信号よ
りの偏差の程度を表わす。
分析信号は、補正された信号を第１参照信号と比較する
第１比較器と、この比較器よりの、第１参照信号と補正
された読出し信号の差を表わす出力信号から、積分によ
って第１参照信号を取出す積分回路と、補正された読出
し信号の最小と最大信号値の略々中間に位置する信号レ
ベルを有する第２参照信号を取出す回路と、第１参照信
号と第２参照信号とを比較し、分析信号として、これ等
２つの参照信号の差を表わす信号を発生する第２比較器
とを有するようにした本発明の一実施態様において確実
に取出すことかできる。
放射線源の適応は、例えば、放射線の制御信号の動作周
期を適応させることにより行うことかできる。けれども
、特に放射線感応記録層の感度は異なる記録体に対して
著しい相違を示すことがあるので、変調された放射線の
強さの方が好ましい。
更に、実際に記録の正確さは書込みの光の強さに大きく
依存することが見出された。
放射線源制御は記録プロセスを通じて適応させることが
できる。一般的にいって放射線感応記録層の感度は１つ
の特定の記録担体の表面にわたって極く僅かしか変らな
いことがわかったので、原理的には記録プロセスの開始
時の適応で十分で、制御は記録プロセスの残りに対して
変えられない。
本発明の別の実施態様では、記録層への書込みビームの
ランデングスポットの中心とサーボトラックの中心間の
ずれを表わすトラッキングエラー信号を取出すために、
装置は、放射線源により発生された２つのサテライトビ
ームを記録層に向ける手段を有し、この場合、書込みビ
ームがサーボトラックに中心をおく場合に両サテライト
ビームの夫々がサーボトラックの２つの縁の１つに入射
するように、一方のサテライトビームは或る一定の距離
で書込みビームに先行しまた他方のサテライトビームは
或る一定の距離で書込みビームに追随し、また装置は、
トレーリングサテライトビームを確認ビームとして用い
る。
この実施態様は、３−ビームトラッキングシステムの場
合に、トレーリングサテライトビームか、記録された情
報パターンに従って変調されるということから有利であ
る。
（実施例） 以下に本発明の実施例およびその利点を図面を参照して
説明する。
第１図は、ターンテーブル１と、ディスク状記録担体５
を回転軸のまわりに矢印５の方向に回転、する駆動モー
タ２とを有する記録装置を略図で示す。記録担体４は、
十分に大きな強さの放射線を受けると例えば反射率の変
化のような光学的に検出可能な変化を受ける放射線感応
記録層を有する。
このような放射線感応層は、例えば、比較的大きな強さ
のレーザビームを受けると局部的に除去され得る薄い金
属層より成ることができる。代りに、この記録層は、放
射線感応染料或いは放射線の影響の下でその構造が非晶
質から結晶にまたはその逆に変化することのできる相変
更材料より成ることができる。光学記録ヘッド６が回転
記録担体に対向して配設される。第２図に詳しく示した
光学記録ヘッド６は、その強さを制御信号■．によって
制御することのできる放射線源例えば半導体レーサ１０
を有する。この半導体レーサ１０はレーザビーム１１を
発生し、このレーザビームは、ビームスプリッタ−１２
によって、夫々ビーム１１の強さＩ，に比例した強さを
有する２つのサブヒームに分けられる。２つのビームの
一方は、記録層に光学的に検出可能な変化を生じるのに
十分に大きな強さの書込みピームｌ３てある。他方のビ
ームは、その強さが小さいために光学的に検出可能な変
化を生じることのない確認ビームｊ４である。これ等の
ビームｌ３と１４は、半透鏡ｌ５と合焦対物レンズ１６
を経て記録担体４に向けられる。
記録のために、情報信号ＶＩは、半導体レーザｌＯで発
生された放射線の強さＩを記録されるべき情報に従って
制御する制御信号Ｖ．に変換される。
この制御信号Ｖ．を第３図に示す。書込みビーム１３の
関連した変化も第３図に示してある。書込みビームｌ３
の強さ１′は、光学的に検出可能な変化を生じるのに適
した値ｒ．と、検出可能な変化を何等生じない値Ｉ１の
間で変化する。その強さかこのように変調された書込み
ビーム１３で記録層か走査されると、光学的に検出可能
なマーク８の情報パターンが記録層内に形成される。確
認ビームｌ４は次のように向けられる、すなわち、矢印
５で示した運動方向に見て、該確認ビームか書込みビー
ムｌ３の直ぐ後ろに入射し、このため確誌ビームｉ４の
ランデングスポットか書込みビームのランデングスポッ
トによって記録担体４上に描かれたと同じ通路を事実上
たどるように向けられる。確認ピーム１４の反射に際し
て、制御信号Ｖ５に従って既に変調されたこのビームは
、確認ビームで走査された光学的に検出可能なマーク８
の１＃　ｌｆｆｌパターンに応じて付加的な変調を受け
る。かくして変調された確認ビームＩ４は、合焦対物レ
ンズ１６と半透鏡ｌ５によって、放射線感応検出器ｌ７
に通される。この検出器ｌ７は、該検出器■７か受けた
放射線量の強さに事実上比例する読出し信号ＶＩを次い
で発生する。
第４図は時間の関数としての読出し信号Ｖｌの１例を示
す。この信号ｖ１の時間による変化は、放射線源１０の
強さ変調と確認ビーム１４で走査された光学的に検出可
能なマーク８の情報パターンとに依存する。第４図は更
に時間の関係としての放射線源の強さＩ，も示す。強さ
の変化の影響は、読出し信号Ｖ１を放射線源の強さの瞬
時値で割算することによって読出し信号Ｖ，より除くこ
とができる。放射線源の強さ変調影響を除いた後に、そ
の時間の関数としての変化か走査された情報パターンに
より専ら示される補正された読出し信号ＶＩ′か得られ
る。第４図は更にまたこの補正された読出し信号ｖ１′
　も示す。
第５図は、補正された信号Ｖｌ’を取出す補正回路を示
す。例えば放射線感応ダイオード５０により、この回路
は、半導体レーザ１０で発生された放射線の強さに比例
した信号Ｖ。を発生する。読出し信号Ｖ１とこの信号Ｖ
．．は通常のタイプの割算回路５１に加えられ、この割
算回路は、読出し信号Ｖｌを信号Ｖ，で割算することに
よって補正された読出し信号Ｖ，′を取出す。
記録された情報パターンを表わす補正された読出し信号
は分析回路に加えられ、この分析回路は、確認ビームｌ
４で走査された情報パターンか特定の最適条件より偏差
する程度を示す分析信号Ｖ．を取出す。この分析信号Ｖ
．はレーザ制御回路７に加えられ、このレーザ制御回路
は、分析信号Ｖ．の影響の下で、該分析信号Ｖ．により
表われる偏差を最小にするように半導体レーザ４０の制
御を適応させる。前記の分析回路５２は、例えば、情報
信号Ｖ，が書込みビームｌ３と確認ビーム１４間の距離
に相当する特定の時間遅延された後に補正された読出し
信号Ｖ　，　／と情報信号Ｖ＋か加えられる比較器を有
することかできる。このような分析回路は中でも米国特
許第４，　４４８，　２７７号に詳しく説明されていて
参考になる。記録されるべき情報信号か直流分の無い（
ｄｃ　ｆｒｅｅ）信号例えばＣＤ信号域はＶＬＰ信号な
らば、｛ｍｌ報パターンの読出しによって得られる信号
も直流分の無い信号でなければならない。
信号が直流分のない信号から偏差する程度は、補正され
た読出し信号Ｖ，′における動作周期または第２調波成
分で表されることかできる。実際に、直流分の無い信号
は５０９６の平均動作周期を有し、第２調波信号成分を
有しない。したかって５０％からの平均動作周期の偏差
または第２調波信号成分の存在を、第２調波成分か減少
されるか或は動作周期を５０％値により近づけるように
半導体レーザ制御を適応するのに用いることができる。
動作周期検出器または第２調波を用いた分析回路は米国
特許第４，　２２５，　８７３号に詳しく説明されてい
て参考になる。
第６図は分析回路５２の別の実施例を示したもので、こ
の分析回路は、補正された読出し信号Ｖ１′と参照信号
Ｖ　ｒ　ｅ　ｆが夫々非反転入力と反転入力に加えられ
る比較器６０を有する。この比較器６０の出力信号は積
分回路６ｌに加えられる。その上、補正された読出し信
号Ｖ　，／は正ピーク検出器６２と負ピーク検出器６３
に加えられ、これ等の検出器は夫々補正された読出し信
号ＶＩ′の最大信号レベルと最小信号レベルを検出し、
これを、１／２のゲインファクタを有する加算器回路６
４に加え、このため該加算器回路６４の出力の信号レベ
ルは補正された読出し信号Ｖ　．　ｌの最小と最大信号
レベルの中間に位置する。加算器回路６４の出力の信号
は参照信号Ｖ　ｒ　ｅ　Ｔ　２として差動増幅器６５の
反転入力に加えられ、参照信号Ｖ，．，は積分回路６ｌ
の出力から差動増幅器６５の非反転入力に加えられる。
差動増幅器６５の２つの入力信号の差を示す該増幅器６
５の出力は、分析信号Ｖ．とじて機能する。第６図に示
した分析回路は次のように働く。積分回路６ｌから比較
器６０の反転入力へのフィードバックの結果、積分回路
の出力の参照信号Ｖ　ｒ　＊　Ｉは、比較器６０の出力
信号Ｖ０が平均零になるレベルに設定される。
若し補正された読出し信号Ｖｌ’か直流成分無しであれ
ば、このことは、参照信号の信号レベルか補正された読
出し信号の最大と最小信号レベルの中間に位置すること
を意味する。若し補正された読出し信号が直流成分無し
でなければ、参照信号Ｖ　ｒ　ｅ　Ｉの信号レベルは最
早や補正された読出し信号の最大と最小の中間に位置し
ない。参照信号Ｖ　ｒ　ａ　ｌが、参照信号Ｖ　ｒ　＠
　ｌ　２で示される信号レベルより偏差する程度はこの
場合補正された読出し信号が直流分無しの信号より偏差
する程度を表わす。
第７ａ図は、情報信号Ｖ１、光学的に検出可能なマーク
８の関係した情報パターン、および、情報信号と補正さ
れた読出し信号ＶＩ′の両方か直流分無しの場合の補正
された読出し信号Ｖ　．　／を示す。
第７ｂ図と７ｃ図は、情報信号Ｖ，と、半導体レーザｌ
Ｏか最適に制御されずその結果直流分無しでない信号Ｖ
　，　ｌが生じる場合の関係の情報パターンおよび補正
された読出し信号Ｖ１′を示す。例えば、第７ｂ図の光
学的に検出可能なマーク８は短すぎ、このため、積分回
路６１で発生された参照信号Ｖ、１の信号レベルは比較
的低く、一方第７ｃ図ではマークは長すぎ、このため、
参照信号Ｖ、．１の信号レベルは比較的高い。参照信号
Ｖ　ｙ　ａ　Ｉ　２と参照信号Ｖ　ｒ　＊　Ｉの差を示
す分析信号Ｖ．は、半導体レーザ１０の制御を適応させ
るのに用いることができる。これは、例えば、強さ変調
の動作周期を適応させることによって可能である。分析
信号か、記録された光学的に検出可能なマークか短かす
ぎることを示した第７ｂ図の場合には、強さ変調の動作
周期を情報信号■１の動作周期よりも大きくすることに
よってこれを行うことができ、一方第７Ｃ図に示した状
態においては、強さ変調の動作周期は情報信号の動作周
期よりも小さくあるべきてある。
強さ変調の動作周期を適応させる回路は、中でも、前記
の米国特許第４，　４８８．　２７７号に詳しく説明さ
れている。けれども、放射線ビームの強さの方か情報記
録において遥かに臨界的なパラメータなので、強さ変調
の動作周期の代りに放射線の強さを適応させる方が好ま
しい。更に、最適な書込み強さは、異なる記録担体に対
して著しく変る。
第８図は、半導体レーザｌＯにより発生された放射線の
強さを分析信号Ｖ．の影響下で自動的に最適化する制御
回路７の一実施例を示す。この制御回路７は、分析信号
Ｖ．が加えられる積分回路８２を有する。この積分回路
８２の出力信号は加算器回路８３の２つの入力の一方に
加えられ、その他方の入力には信号Ｓ０が加えられる。
この信号Ｓ０は、書込みビームｌ３の公称書込みレベル
Ｉ．に対応する信号レベルを有する。人力に加えられた
信号の和を表わす加算器回路の出力信号は、電子的に制
御可能なスイッチ８４の２つの信号入力の一方に加えら
れる。書込みビームｌ３の読出し強さレベル■に対応す
る信号Ｌ０かスイッチ８４の他方の信号入力に加えられ
る。情報信号■１はスイッチ８４の制御人力に加えられ
る。このスイッチ８４は通常のタイプのもので、制御信
号Ｖ，の論理信号レベルに応じてその信号入力の信号の
一方を信号出力に伝達する。したがって書込みビームｌ
３の所望の強さレベルを常に示すスイッチ８４の信号出
力は、半導体レーザｌＯの強さを該スイッチの出力信号
で示されたレベルに設定する制御回路に加えられる。こ
の制御回路は、発生された放射線の強さを測定するため
の放射線感応ダイオード５０と、このダイオード５０で
測定された強さをスイッチ８４の出力信号により示され
た所望の強さと比較する比較器回路８ｌとを有する。比
較の結果に応じて、比較器回路８ｌは、半導体レーザｌ
Ｏに対する制御電流を発生する制御可能な電流源８０を
、ダイオード５０で検出された放射線の強さかスイッチ
８４の出力信号で示された所望値と等しいように制御す
る。第８図に示した制御回路は次のように働く。若し分
析信号Ｖ．か、記録されたマーク８か短かすぎるか或は
長すぎることを示すと、積分回路８２の出力の電圧レベ
ルは増加されるか或は減少される。この結果、書込みビ
ーム１３の書込み強さ、したかって記録されたマーク８
の長さか適応される。このように、書込みビームｌ３の
書込み強さは、分析信号Ｖ．か零になりしたがって書込
みビームの強さが最適となる迄絶えず適応される。
情報信号は、情報パターンの記録のために意図されたサ
ーボトラックを有する記録担体に屡々記録される。第９
図はこのような記録担体を示したもので、第９ａ図は平
面図、第９ｂ図は第９ａ図の線ｂ一ｂにおける支持担体
の一部の拡大断面図である。
サーボトラックは符号９０を有する。このサーボトラッ
クは、例えば、放射線感応記録層９２で被覆された透明
′基板９ｌ内または上に形成された溝または突条を有し
、記録層９２が今度は保護層９３て被覆されることかで
きる。サーボトラック９０は、書込みビームｌ３を正確
に該サーボトラックに向けさせることができる。換言す
れば、サーボトラックは、径方向の書込みビームの位置
を、記録担体より反射された放射線を用いてトラッキン
グシスムにより制御可能にする。屡々用いられるトラッ
キングシステムは３−ビームトラッキングシステムで、
このシステムは例えば英国特許第１，　４３４．　８３
４号および欧州特許公開公報第０．　２１０，　６０３
号に説明されている。
第ｌＯ図はこのような３−ビームトラッキングシスムの
一例を略図で示したもので、放射線ビーム１１は、該放
射線ビームを強い零次（ｚｅｒｏ　ｏｒｄｅｒ）ビーム
１００ｂと２つの弱いｌ次（ｆ　ｉｒｓｔ−ｏｒｄｅｒ
）ビームとに分けるように、格子１００に向けられる。
ビーム１０１は、対物レンズｌ０２、半透鏡１０３、軸
１０４を中心として回動可能な鏡ｌ０５、および合焦対
物レンズ１０６を有する光学システムを経て記録層９２
に向けられる。ビーム１０１ａとｌｏｌｅは夫々リーデ
ィングサテライトビーム（ｌｅａｄｉｎｇ　ｓａｔｅｌ
ｌｉｔｅ　ｂｅａｍ）とトレーリングサテライトビーム
（ｔｒａｉｌｉｎｇｓａｔｅｌｌｉｔｅ　ｂｅａｍ）を
形成し、これ等のビームは、矢印５で示した運動方向に
見て、ビーム１０ｌｂの前と後ろにおいて記録層９２に
入射する。記録層９２への各ビームｉｏｔａ，　ＩＱｌ
ｂおよび１０１ｃのランデングスポットは第１１図に夫
々ｌｌｏａ，　ｉｉｏｂおよびｌｌｏｃて示してある。
これ等のビームは、ビーム１０ｌｂかサーボトラック９
０に中心を置く場合にはサテライトビーム１０１ａとｌ
ｏ１ｂのランデングスポット１１０ａと１１００は夫々
実質的にサーボトラック９０の縁に入射するように向け
られる。記録層９２より反射されたビームは、次いて、
合焦対物レンズｌ０６、鏡１０５および半透鏡１０３を
経て、複数の放射線感応ダイオードを有する放射線感応
検出システム１０７に向けられる。放射線感応ダイオー
ドで発生された信号電流は通常のやり方でトラッキング
エラー信号を取出すのに用いられ、この信号から、トラ
ッキングエラー信号を最小にするようにアクチュエー夕
によって鏡１０５を回す制御信号が取出される。
本発明は、３−ビームトラッキングシステムと一緒に使
用するのに非常に適している。その場合ビームｌｏ１ｂ
を書込みビームとして使用し、半導体レーザの強さを変
調することによりその強さを変調することかできる。ト
レーリングサテライトビームｌｏｌｃは確認ビームとし
て使用することかできる。サーボトラック９０の間隔か
非常に接近しているためトレーリングサテライトビーム
ｌｏ１ｃのランデングスポットｌ　ｌＯｃが隣接トラッ
クと部分的にオーハーラップする場合には次のようにビ
ーム１０１を向けるのが好ましい、すなわち、トレーリ
ングビーム１０１ｃのランデングスポットｌ１０ｃか、
光学的に検出可能なマーク８が未た記録されていないサ
ーボトラックに隣接するようにする。これにより、隣接
トラックよりの書込み信号Ｖｌのクロストークが防がれ
る。
【図面の簡単な説明】
第１図は光学記録装置の略斜視図、 第２図は光学記録ヘッドの詳細を示す線図、第３図は記
録ヘッドに用いられる半導体レーザに対する制御信号、
発生されたレーザ放射線の対応した強さの変化および合
成情報パターンを示す線図、 第４図は発生された放射線、読出し信号および補正され
た読出し信号を示す線図、 第５図は本発明の記録装置の一実施例に用いられる補正
回路の回路図、 第６図は分析回路の一実施例の回路図、第７ａ図乃至第
７Ｃ図は放射線源の異なる強さ設定に対する補正された
読出し信号の変化を夫々示す線図、 第８図は適応回路の一実施例の回路図、第９ａ図はサー
ボトラックを有する記録担体の平面図、 第９ｂ図は第１図のｂ−ｂにおける一部の拡大断面図、 第ｌＯ図は３−ビームトラッキングシステムの略線図、 第１ｌ図は３−ビームトラッキングシステムの記録担体
上のランデングスポットを示す線図てある。 ２・・・駆動モータ ４・・・記録担体 ６・・・記録ヘッド ７・・・制御回路 １０・・・放射線源 ５２・・・分析回路 ６ｌ・・・積分回路 ９０・・・サーボトラック ９２・・・放射線感応記録層 Ｕつ αフ Ｕ二 し二 ト ＣＩ）

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、放射線源により発生された放射線の書込みビームを
    記録層に向ける手段と、書込みビームと記録担体間の相
    対運動を得るための駆動手段と、情報を表わす光学的に
    検出可能なマークの情報パターンを形成するために、放
    射線源で発生された放射線の強さを、記録すべき情報に
    従って制御する制御回路と、書込みビームより強さの小
    さい確認ビームを該確認ビームが書込みビームを追跡し
    且つ書込みビームによって形成された情報パターンで変
    調されるように記録層に向ける手段と、変調された確認
    ビームを対応した読取り信号に変換する手段とを有する
    、放射線感応記録層を有する記録担体に情報を記録する
    装置において、書込みビームと確認ビームは同じ放射線
    源より生じ、装置は更に、放射線源で発生された放射線
    の瞬時の強さを表わす補正信号を発生する回路と、補正
    信号と読出し信号から、放射線源で発生された放射線の
    瞬時の強さで割算された読出し信号を表わす補正された
    読出し信号を取出す補正回路とを有することを特徴とす
    る記録装置。 ２、補正された読出し信号から、確認ビームで走査され
    た情報パターンか特定の最適条件より偏差した程度を表
    わす分析信号を取出す分析回路と、分析信号に応じて放
    射線源の制御を適応させる適応回路とを有することを特
    徴とする請求項１記載の記録装置。 ３、補正された信号を第１参照信号と比較する第１比較
    器と、この比較器よりの、第１参照信号と補正された読
    出し信号の差を表わす出力信号から、積分によって第１
    参照信号を取出す積分回路と、補正された読出し信号の
    最小と最大信号値の略々中間に位置する信号レベルを有
    する第２参照信号を取出す回路と、第１参照信号と第２
    参照信号とを比較し、分析信号として、これ等２つの参
    照信号の差を表わす信号を発生する第２比較器とを有す
    ることを特徴とする請求項２記載の記録装置。 ４、適応回路は、放射線源で発生された変調された放射
    線の強さに適応する手段を有することを特徴とする請求
    項２または３記載の記録装置。 ５、記録層への書込みビームのランデングスポットの中
    心とサーボトラックの中心間の偏差を表わすトラッキン
    グエラー信号を取出すために、装置は、放射線源により
    発生された２つのサテライトビームを記録層に向ける手
    段を有し、この場合、書込みビームがサーボトラックに
    中心をおく場合に両サテライトビームの夫々かサーボト
    ラックの２つの縁の１つに入射するように、一方のサテ
    ライトビームは或る一定の距離で書込みビームに先行し
    また他方のサテライトビームは或る一定の距離で書込み
    ビームに追随し、また装置は、トレーリングサテライト
    ビームを確認ビームとして用いることを特徴とする、記
    録担体上のプレフォームされたトラックに情報を記録す
    るための請求項１乃至４の何れか１項記載の記録装置。
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