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Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zum Aufzeichnen von Information
auf einem Aufzeichnungsträger, der zwei Servospuren hat und eine
strahlungsempfindliche Aufzeichnungsschicht umfaßt, welche Einrichtung Mittel umfaßt zum Richten eines
Schreibstrahlenbündels und zweier Satellitenbündel mit einer niedrigeren
Strahlungsintensität als das Schreibstrahlenbündel, die von einer einzigen Strahlungsquelle
erzeugt werden, auf die Aufzeichnungsschicht, Ansteuerungsmittel zum Realisieren
eines relativen Moments zwischen den Strahlenbündeln und dem Aufzeichnungsträger,
wobei ein erstes der Satellitenbündel dem Schreibstrahlenbündel in einem festen
Abstand in solcher Weise vorangeht und ein zweites der Satellitenbündel dem
Schreibstrahlenbündel in einem festen Abstand in einer solchen Weise folgt, daß jedes der
Satellitenbündel auf einen der beiden Ränder der Servospur fallt, wenn das Schreibstrahlenbündel
auf die Servospur zentriert ist, wobei die Einrichtung mit Mitteln versehen ist, um
anhand der mittels der Aufzeichnungsschicht empfangenen Strahlung der
Satellitenbündel ein Spurfolgefehlersignal abzuleiten, wobei die Einrichtung weiterhin eine
Steuerschaltung umfaßt zum Steuern der Intensität der von der Strahlungsquelle erzeugten
Strahlung entsprechend der aufzuzeichnenden Information, um ein die Information
repräsentierendes Informationsmuster aus optisch detektierbaren Marken zu bilden,
wobei das genannte Informationsmuster eine Modulation des dem Schreibstrahlenbündel
folgenden zweiten Satellitenbündels bewirkt, und Detektionsmittel zum Umsetzen des
modulierten zweiten Satellitenbündels in ein entsprechendes Lesesignal.
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Ein solche Einrichtung ist aus JP-A-63157340 bekannt. Auslesen der
Information unmittelbar nach dem Aufzeichnen hat den Vorteil, daß für den Fall, daß
die Aufzeichnungsbedingungen nicht optimal sind, dieses nahezu direkt aus der
ausgelesenen Information detektiert werden kann. Die Einrichtung nach dem Stand der Technik
hat jedoch den Nachteil, daß das zum Auslesen notwendige Verifikationsstrahlenbündel
eine zusätzliche Strahlungsquelle erfordert.
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EP-A-309232 beschreibt eine Einrichtung mit Mitteln, die detektieren, ob
die Aufzeichnungsfunktion beim Aufzeichnen positiv verlaufen ist oder nicht, indem der
Effekt genutzt wird, daß kein Polarisationseffekt auftritt, wenn das Aufzeichnungsgebiet
die Curie-Temperatur angenommen hat. Das Aufzeichnungsstrahlenbündel wird an dem
Medium reflektiert und in zwei polarisierte Strahlenbündel aufgespalten, deren
Amplituden analysiert werde, wobei Gleichheit die Aufzeichnungsfunktion angibt.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine wie eingangs definierte
Aufzeichnungseinrichtung zu verschaffen, in der die aufgezeichnete Information
unmittelbar nach dem Aufzeichnen gelesen werden kann. Dies wird erfindungsgemäß
dadurch erreicht, daß die Einrichtung eine Schaltung zum Erzeugen eines
Korrektursignals, das eine Angabe der momentanen Intensität der von der Strahlungsquelle
erzeugten Strahlung ist, und eine Korrekturschaltung, um aus dem Korrektursignal und dem
Lesesignal ein korrigiertes Lesesignal abzuleiten, das eine Angabe für das durch die
momentane Intensität der von der Strahlungsquelle erzeugten Strahlung geteilte
Lesesignal ist, umfaßt.
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Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß der Einfluß der in dem
Lesesignal durch die Intensitätsmodulation der Strahlungsquelle erzeugten Störung durch
Dividieren des Lesesignals durch die momentane Intensität der von der Strahlungsquelle
erzeugten Strahlung beseitigt werden kann, wodurch die gleiche Strahlungsquelle, wie
sie zum Erzeugen des modulierten Schreibstrahlenbündels verwendet worden ist, zum
Erzeugen des Verifikationsstrahlenbündels verwendet werden kann. Das korrigierte
Lesesignal kann verwendet werden, um zu verifizieren, ob das Aufzeichnen korrekt
verläuft.
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Die Ausführungsform nutzt in günstiger Weise die Tatsache, daß im Falle
eines Spurfolgesystems mit drei Strahlenbündeln das Satellitenbündel entsprechend dem
aufgezeichneten Informationsmuster moduliert ist.
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Es sei bemerkt, daß FR-A-2613866 eine Aufzeichnungs- und
Wiedergabeeinrichtung für optische Information beschreibt, die Mittel zum Auslesen gerade
aufgezeichneter Information durch einen auf der Mitte der Spur in Aufzeichnungsrichtung
positionierten Satellitenstrahlungsfleck umfaßt. Spurfolge wird hier durch das Push-Pull-
System erhalten.
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Die Einrichtung gemäß der erfindungsgemäßen Ausführungsform umfaßt
vorzugsweise eine Analyseschaltung, um aus dem korrigierten Lesesignal ein
Analysesignal
abzuleiten, das angibt, inwieweit eine Eigenschaft des von dem zweiten
Satellitenbündel abgetasteten Informationsmusters von einem bestimmten Bezugswert
abweicht, und eine Anpassungsschaltung zum Anpassen der Strahlungsquellensteuerung in
Abhängigkeit von dem Analysesignal.
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Die Analyseschaltung kann eine Komparatorschaltung umfassen, die das
aufzuzeichnende Informationssignal mit dem korrigierten Lesesignal vergleicht. Wenn
das aufzuzeichnende Signal gleichstromfrei ist, kann die Analyseschaltung eine
Tastverhältnis-Detektionsschaltung oder ein Detektor der zweiten Harmonischen sein. Im
Falle eines gleichstromfreien Signals ist nämlich das mittlere Tastverhältnis 50 %, und
es gibt keine Signalkomponente der zweiten Harmonischen. Abweichungen im
Tastverhältnis oder das Vorhandensein von Komponenten der zweiten Harmonischen in dem
korrigierten Lesesignal sind daher eine Angabe für das Ausmaß, in dem das korrigierte
Lesesignal von einem gleichstromfreien Signal abweicht.
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Das Analysesignal kann zuverlässig in einer erfindungsgemäßen
Ausführungsform abgeleitet werden, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die Analyseschaltung
einen ersten Komparator umfaßt zum Vergleichen des korrigierten Lesesignals mit
einem ersten Bezugssignal und eine Integrierschaltung zum Ableiten, durch Integration,
des ersten Bezugssignals aus einem Ausgangssignal des Komparators, wobei das
Ausgangssignal eine Angabe für die Differenz zwischen dem ersten Bezugssignal und dem
korrigierten Lesesignal ist, eine Schaltung zum Ableiten eines zweiten Bezugssignals mit
einem Signalpegel, der nahezu auf der Hälfte zwischen dem minimalen und dem
maximalen Signalwert des korrigierten Lesesignals liegt, sowie einen zweiten Komparator
zum Vergleichen des ersten und des zweiten Bezugssignals und zum Erzeugen eines
Signals, das eine Angabe für die Differenz zwischen den beiden Bezugssignalen ist, als
Analysesignal.
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Eine Anpassung der Strahlungsquelle kann beispielsweise durch Anpassen
des Tastverhältnisses des Steuersignals der Strahlungsquelle erfolgen. Vorzugsweise
wird jedoch die Intensität der modulierten Strahlung angepaßt, da insbesondere die
Empfindlichkeit der strahlungsempfindlichen Informationsschichten für verschiedene
Aufzeichnungsträger wesentliche Unterschiede aufweisen kann. Außerdem hat sich
gezeigt, daß in der Praxis die Korrektheit des Aufzeichnens stark von der
Schreibintensität abhängt.
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Die Steuerung der Strahlungsquelle kann während des gesamten
Aufzeichnungsprozesses angepaßt werden. Im allgemeinen zeigt sich, daß sich die
Empfindlichkeit der strahlungsempfindlichen Aufzeichnungsschicht über die Oberfläche eines
bestimmten Aufzeichnungsträgers nur geringfügig ändert, so daß im Prinzip eine
Anpassung am Anfang des Aufzeichnungsprozesses ausreicht, wobei die Steuerung im
weiteren Verlauf des Aufzeichnungsprozesses unverändert bleibt.
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Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und
werden im folgenden näher beschrieben. Es zeigen:
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Fig. 1 schematisch eine optische Aufzeichnungseinrichtung,
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Fig. 2 einen optischen Aufzeichnungskopf im Detail,
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Fig. 3 ein Steuersignal für einen in dem Aufzeichnungskopf verwendeten
Halbleiterlaser, den entsprechenden Intensitätsverlauf der erzeugten Laserstrahlung und
das resultierende Informationsmuster,
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Fig. 4 den Intensitätsverlauf der erzeugten Strahlung, das Lesesignal, und
das korrigierte Lesesignal,
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Fig. 5 eine in einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Aufzeichnungseinrichtung verwendete Korrekturschaltung,
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Fig. 6 ein Beispiel für eine Analyseschaltung,
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Fig. 7 zur Erläuterung den Verlauf des korrigierten Lesesignals für eine
Anzahl verschiedener Einstellungen der Intensität der Strahlungsquelle,
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Fig. 8 ein Beispiel für eine Anpassungsschaltung,
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Fig. 9 einen Aufzeichnungsträger mit einer Servospur,
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Fig. 10 schematisch ein Spurfolgesystem mit drei Strahlenbündeln, und
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Fig. 11 die Auftreffstellen des Strahlenbündels des Spurfolgesystems mit
drei Strahlenbündeln auf dem Aufzeichnungsträger.
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Fig. 1 zeigt schematisch eine optische Aufzeichnungseinrichtung mit
einem Drehteller 1 und einem Antriebsmotor 2, um einen plattenförmigen
Aufzeichnungsträger 4 um eine Drehachse 3 in einer durch den Pfeil 5 angegebenen Richtung zu
drehen. Der Aufzeichnungsträger 4 hat eine strahlungsempfindliche
Aufzeichnungsschicht, die, wenn sie einer Strahlung mit ausreichend hoher Intensität ausgesetzt wird,
eine optisch detektierbare Änderung erfährt, wie beispielsweise eine Änderung des
Reflexionsvermögens. Eine solche strahlungsempfindliche Schicht kann beispielsweise
eine dünne Metallschicht sein, die durch Belichtung mit einem Laserstrahlungsbündel
verhältnismäßig hoher Intensität lokal entfernt werden kann. Die Aufzeichnungsschicht
kann alternativ aus einem anderen Material, wie einem strahlungsempfindlichen
Farbstoff oder einem "phasenändernden" Material bestehen, dessen Struktur unter Einfluß
von Strahlung von amporph nach kristallin und umgekehrt verändert werden kann. Ein
optischer Aufzeichnungskopf 6 ist gegenüber dem rotierenden Aufzeichnungsträger
angeordnet. Der optische Aufzeichnungskopf 6, der in Fig. 2 detaillierter dargestellt wird,
umfaßt eine Strahlungsquelle, beispielsweise einen Halbleiterlaser 10, deren Intensität
mit Hilfe eines Steuersignals Vs gesteuert werden kann. Der Halbleiterlaser 10 erzeugt
ein Laserstrahlenbündel 11, das mit Hilfe eines Strahlteilers 12 in zwei Teilbündel
aufgespalten wird, die jeweils eine zur Intensität Ib des Strahlenbündels 11 proportionale
Intensität haben. Eines der beiden Strahlenbündel ist ein Schreibstrahlenbündel 13 von
genügend hoher Intensität, um die optisch detektierbare Änderung in der
Aufzeichnungsschicht zu bewirken. Das andere Strahlenbündel ist ein Verifikationsstrahlenbündel 14,
dessen Intensität zu niedrig ist, um die optisch detektierbare Änderung zu bewirken. Die
Strahlenbündel 13 und 14 werden über einen halbdurchlässigen Spiegel 15 und ein
Fokussierobjektiv 16 auf den Aufzeichnungsträger 4 gerichtet.
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Um aufgezeichnet zu werden, wird das Informationssignal Vi in ein
Steuersignal Vs umgewandelt, um entsprechend der aufzuzeichnenden Information die
Intensität I der von dem Halbleiterlaser 10 erzeugten Strahlung zu steuern. Das Steuersignal
Vs wird in Fig. 3 gezeigt. Der zugehörige Verlauf I des Schreibstrahlenbündels 13 wird
in Fig. 3 auch gezeigt. Die Intensität I des Schreibstrahlenbündels 13 variiert zwischen
einem Wert Is, der ausreicht, um optisch detektierbare Änderungen zu bewirken, und
einem Wert Il, der keine detektierbaren Änderungen bewirkt. Beim Abtasten der
Aufzeichnungsschicht mit dem Schreibstrahlenbündel 13, dessen Intensität auf diese Art
moduliert worden ist, wird in der Aufzeichnungsschicht ein Informationsmuster optisch
detektierbarer Marken 8 gebildet. Das Verifikationsstrahlenbündel 14 ist so gerichtet,
daß es, in der durch den Pfeil 5 angegebenen Bewegungsrichtung gesehen, in kurzem
Abstand hinter dem Schreibstrahlenbündel 13 auf den Aufzeichnungsträger 4 fällt, so
daß die Auftreffstelle des Verifikationsstrahlenbündels 14 nahezu der gleichen Bahn
folgt, wie sie die Auftreffstelle des Schreibstrahlenbündels 13 auf dem
Aufzeichnungsträger 4 beschreibt. Bei Reflexion des Verifikationsstrahlenbündels 14 unterliegt dieses
Strahlenbündel, das bereits entsprechend dem Steuersignal Vs moduliert ist, einer
zusätzlichen Modulation, die von dem von dem Verifikationsstrahlenbündel abgetasteten
Informationsmuster aus optisch detektierbaren Marken 8 abhängt. Das so modulierte
Verifikationsstrahlenbündel 14 wird über das Fokussierobjektiv 16 und den Spiegel 15
zu dem strahlungsempfindlichem Detektor 17 geleitet. Der strahlungsempfindliche
Detektor 17 erzeugt dann ein Lesesignal Vl, das im wesentlichen der Intensität der von
dem Detektor 17 empfangenen Strahlungsmenge proportional ist.
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Fig. 4 zeigt ein Beispiel für das Lesesignal Vl als Funktion der Zeit. Der
zeitliche Verlauf des Signals Vl hängt von der Intensitätsmodulation der
Strahlungsquelle 10 und dem von dem Verifikationsstrahlenbündel 14 abgetasteten Informationsmuster
aus optisch detektierbaren Marken 8 ab. Fig. 4 gibt auch die Intensität Ib der
Strahlungsquelle als Funktion der Zeit wieder. Der Einfluß der Intensitätveränderung kann
aus dem Lesesignal Vl durch Dividieren des Signals Vl durch den momentanen Wert
der Intensität der Strahlungsquelle beseitigt werden. Nach Beseitigung des Einflusses der
Intensitätsmodulation der Strahlungsquelle wird ein korrigiertes Lesesignal Vl' erhalten,
dessen zeitlicher Verlauf ausschließlich von dem abgetasteten Informationsmuster
bestimmt wird. Fig. 4 zeigt auch das korrigierte Lesesignal Vl'.
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Fig. 5 zeigt eine Korrekturschaltung zum Ableiten des korrigierten Signals
Vl'. Mit Hilfe beispielsweise einer strahlungsempfindlichen Diode 50 erzeugt diese
Schaltung ein Signal Vm, das proportional zur Intensität der von dem Halbleiterlaser 10
erzeugten Strahlung ist. Das Lesesignal Vl und das Signal Vm werden der
Teilerschaltung 51 von üblicher Art zugeführt, die das korrigierte Lesesignal Vl' durch Dividieren
des Lesesignals Vl durch das Signal Vm ableitet.
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Das korrigierte Lesesignal Vl', das für das aufgezeichnete
Informationsmuster repräsentativ ist, wird einer Analyseschaltung zugeführt, die ein Analysesignal
Va ableitet, das das Ausmaß angibt, in dem das von dem Verifikationsstrahlenbündel 14
abgetastete Informationsmuster von einem bestimmten Optimum abweicht. Das
Analysesignal Va wird der Laser-Steuerschaltung 7 zugeführt, die unter dem Einfluß des
Analysesignals die Steuerung des Halbleiterlasers 40 anpaßt, um so die von dem
Analysesignal Va repräsentierte Abweichung zu minimieren. Die Analysierschaltung 52 kann
beispielsweise einen Komparator umfassen, dem das korrigierte Lesesignal Vl' und ein
Informationssignal Vi zugeführt werden, nachdem das letztgenannte Signal um eine
bestimmte,
dem Abstand zwischen dem Schreibstrahlenbündel 13 und dem
Verifikationsstrahlenbündel 14 entsprechende Zeit verzögert worden ist. Solch eine Analyseschaltung
wird in US 4.448.277 ausführlich beschrieben, die durch Nennung hierin aufgenommen
ist. Wenn das aufzuzeichnende Informationssignal ein gleichstromfreies Signal ist,
beispielsweise ein CD-Signal oder ein VLP-Signal, sollte das beim Auslesen des
Informationsmusters erhaltene Signal auch ein gleichstromfreies Signal sein. Das Ausmaß, in
dem ein Signal von einem gleichstromfreien Signal abweicht, kann durch das
Tastverhältnis oder die Signalkomponente der zweiten Harmonischen in dem korrigierten
Lesesignal Vl' repräsentiert werden. Ein gleichstromfreies Signal hat nämlich ein mittleres
Tastverhältnis von 50% und keine Signalkomponente der zweiten Harmonischen. Eine
Abweichung des mittleren Tastverhältnisses von 50% oder das Vorhandensein von
Signalkomponenten der zweiten Harmonischen kann daher zum Anpassen der
Halbleiterlasersteuerung in der Weise verwendet werden, daß die Komponente der zweiten
Harmonischen verkleinert wird oder das Tastverhältnis näher beim 50%-Wert liegt.
Analyseschaltungen, die Tastverhältnis-Detektoren oder Detektoren der zweiten
Harmonischen verwenden, werden in US 4.225.873 ausführlich beschrieben, die durch
Nennung hierin aufgenommen ist.
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Fig. 6 zeigt ein anderes Beispiel für die Analyseschaltung 52, mit einem
Komparator 60, dem das korrigierte Lesesignal Vl' und das Bezugssignal Vref am
nichtinvertierenden Eingang bzw. am invertierenden Eingang zugeführt werden. Das
Ausgangssignal des Komparators 60 wird einer Integrierschaltung 61 zugeführt. Zudem
wird das korrigierte Lesesignal Vl' einem Detektor 62 für positive Spitzenwerte und
einem Detektor 63 für negative Spitzenwerte zugeführt, die den maximalen bzw.
minimalen Signalpegel in dem korrigierten Lesesignal Vl detektieren und diesen einer
Addierschaltung 64 mit einem Verstärkungsfaktor von 1/2 zuführen, so daß der
Signalpegel am Ausgang der Addierschaltung 54 auf der Hälfte zwischen dem minimalen und
dem maximalen Signalpegel des korrigierten Lesesignals Vl' liegt. Das Signal am
Ausgang der Addierschaltung 64 wird dem invertierenden Eingang eines
Differenzverstärkers 65 als Bezugssignal Vref2 zugeführt, und das Bezugssignal Vref wird vom
Ausgang der integrierten Schaltung 61 aus dem nichtinvertierenden Eingang des
Differenzverstärkers 65 zugeführt. Ein Ausgangssignal des Differenzverstärkers 65, das eine
Angabe für die Differenz zwischen den beiden Eingangssignalen des
Differenzverstärkers
ist, wirkt als Analysesignal Va. Die Analysierschaltung von Fig. 6 arbeitet
folgendermaßen. Infolge der Rückkopplung von der Integrierschaltung 61 zum invertierenden
Eingang des Komparators 60 wird das Bezugssignal Vref am Ausgang der integrierten
Schaltung auf einen Pegel gesetzt, für den das Ausgangssignal Vo des Komparators 60
im Mittel gleich null ist. Wenn das korrigierte Lesesignal Vl' gleichstromfrei ist,
bedeutet das, daß der Signalpegel des Bezugssignals auf der Hälfte zwischen dem maximalen
und dem minimalen Signalpegel des korrigierten Lesesignals liegt. Wenn das korrigierte
Lesesignal Vl' nicht gleichstromfrei ist, liegt der Signalpegel des Bezugssignals Vref
nicht mehr auf der Hälfte zwischen dem Maximum und dem Minimum des korrigierten
Lesesignals. Das Ausmaß, in dem das Bezugssignal Vref von dem von dem
Bezugssignal Vref2 angegebenen Signalpegel abweicht, repräsentiert somit das Ausmaß, in
dem das korrigierte Lesesignal von einem gleichstromfreien Signal abweicht. Zur
Erläuterung gibt Fig. 7a das Informationssignal Vi wieder, das zugehörige
Informationsmuster aus optisch detektierbaren Marken 8, und das korrigierte Lesesignal Vl' für den
Fall, daß sowohl das Informationssignal als auch das korrigierte Lesesignal Vl'
gleichstromfrei sind.
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Fig. 7b und 7c zeigen das Informationssignal Vi, das zugehörige
Informationsmuster und das korrigierte Lesesignal Vl' für den Fall, daß der Halbleiterlaser 10
nicht optimal gesteuert wird, was zu nicht-gleichstromfreien Signalen Vl' führt.
Beispielsweise sind die optisch detektierbaren Marken 8 in Fig. 7b zu kurz, so daß der
Signalpegel des von der Integrierschaltung 61 erzeugten Bezugssignals Vref
verhältnismäßig niedrig ist, während in Fig. 7c die Marken zu lang sind, so daß der Signalpegel
des Bezugssignals Vref verhältnismäßig hoch sein wird. Das Analysesignal Va, das die
Differenz zwischen dem Bezugssignal Vref2 und dem Bezugssignal Vref angibt, kann
zur Anpassung der Steuerung des Halbleiterlasers 10 verwendet werden. Dies ist
beispielsweise durch Anpassen des Tastverhältnisses der Intensitätsmodulation möglich. In
dem in Fig. 7b erläuterten Fall, in dem das Analysesignal angibt, daß die
aufgezeichneten optisch detektierbaren Marken zu kurz sind, kann dies erfolgen, indem das
Tastverhältnis der Intensitätsmodulation größer gemacht wird als das Tastverhältnis des
Informationssignals Vi, während in dem in Fig. 7c erläuterten Fall das Tastverhältnis
der Intensitätsmodulation kleiner sein sollte als das Tastverhältnis des
Informationssignals. Eine Schaltung für das Anpassen des Tastverhältnisses der Intensitätsmodulation
wird unter anderem in der genannten Patentschrift US 4.488.277 ausführlich
beschrieben. Vorzugsweise wird jedoch die Intensität der Strahlung angepaßt anstelle des
Tastverhältnisses der Intensitätsmodulation, weil die Intensität des Strahlenbündels beim
Aufzeichnen von Information ein wesentlich kritischerer Parameter ist. Außerdem
ändert sich die optimale Schreibintensität für verschiedene Aufzeichnungsträger erheblich.
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Fig. 8 zeigt ein Beispiel für die Steuerschaltung 7, mit der die Intensität
der vom Halbleiterlaser 10 erzeugten Strahlung unter dem Einfluß des Analysesignals
Va automatisch optimiert wird. Die Steuerschaltung 7 umfaßt eine Integrierschaltung
82, der das Analysesignal Va zugeführt wird. Ein Ausgangssignal der Integrierschaltung
82 wird einem der beiden Eingänge einer Addierschaltung 83 zugeführt, während dem
anderen Eingang der Addierschaltung ein Signal So zugeführt wird. Das Signal So hat
einen Signalpegel, der dem Nenn-Schreibintensitätspegel Ist des Schreibstrahlenbündels
13 entspricht. Ein Ausgangssignal der Addierschaltung, das eine Angabe für die Summe
der dem Eingang zugeführten Signale ist, wird einem der beiden Signaleingänge eines
elektronisch steuerbaren Schalters 84 zugeführt. Ein dem Lese-Intensitätspegel Il des
Schreibstrahlenbündels 13 entsprechendes Signal Lo wird dem anderen Signaleingang
des Schalters 84 zugeführt. Das Informationssignal Vi wird einem Steuereingang des
Schalters 84 zugeführt. Der Schalter 84 ist von einer üblichen Art, die in Abhängigkeit
vom Logiksignalpegel des Steuersignals Vi eines der Signale an seinen Signaleingängen
an einen Signalausgang weiterleitet. Der Signalausgang des Schalters 84, der daher
immer den gewünschten Intensitätspegel des Schreibstrahlenbündel 13 angibt, wird einer
Steuerschaltung zugeführt, die die Intensität des Halbleiterlasers 10 auf einen vom
Ausgangssignal des Schalters angegebenen Pegel einstellt. Diese Steuerschaltung umfaßt
eine strahlungsempfindliche Diode zum Messen der Intensität der erzeugten Strahlung,
und eine Komparatorschaltung 81, die die von der strahlungsempfindlichen Diode 50
gemessene Intensität mit der von dem Ausgangssignal des Schalters 84 angegebenen
gewünschten Intensität vergleicht. Abhängig von dem Ergebnis des Vergleichs steuert
die Komparatorschaltung 81 eine steuerbare Stromquelle 80 zum Erzeugen eines
Steuerstroms für den Halbleiterlaser 10, so daß die von der Diode 50 detektierte
Strahlungsintensität gleich dem gewünschten Wert ist, wie er von dem Ausgangssignal des
Schalters 84 angegeben wird. Die Steuerschaltung von Fig. 8 arbeitet folgendermaßen. Wenn
das Analysesignal Va angibt, daß die aufgezeichneten Marken 8 zu kurz oder zu lang
sind, wird der Spannungspegel am Ausgang der Integrierschaltung 82 erhöht oder
erniedrigt. Hierdurch wird die Schreibintensität Ist des Schreibstrahlenbündels 13 und
damit die Länge der aufgezeichneten Marken 8 angepaßt. Somit wird die
Schreibintensität des Schreibstrahlenbündels 13 kontinuierlich angepaßt, bis das Analysesignal Va null
geworden ist und daher die Intensität des Schreibstrahlenbündels optimal ist.
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Informationssignale werden häufig auf Aufzeichnungsträgern
aufgezeichnet, die eine zum Aufzeichnen des Informationsmusters bestimmte Servospur haben.
Fig. 9 zeigt einen solchen Aufzeichnungsträger, wobei Fig. 9a eine Draufsicht und Fig.
9b eine Schnittansicht eines Teils des Aufzeichnungsträgers ist, entlang der Linie b-b.
Die Servospur hat das Bezugszeichen 90. Die Servospur 90 kann beispielsweise eine
Rille oder eine Rippe umfassen, die in oder auf einem transparenten Substrat 91 gebildet
ist, das mit einer strahlungsempfindlichen Aufzeichnungsschicht 92 bedeckt ist, die
ihrerseits mit einer Schutzschicht 93 überzogen ist. Die Servospur 90 ermöglicht ein
genaues Auftreffen des Schreibstrahlenbündels 13 auf die Servospur; mit anderen
Worten, sie ermöglicht es, mit Hilfe eines Spurfolgesystems, das die am
Aufzeichnungsträger reflektierte Strahlung nutzt, die Position des Schreibstrahlenbündels in radialer
Richtung zu steuern. Ein häufig verwendetes Spurfolgesystem ist das Spurfolgesystem
mit drei Strahlenbündeln, das beispielsweise in GB 1.434.834 (PHN 6296) und EP-A-
0.210.603 ausführlich beschrieben wird.
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Fig. 10 zeigt schematisch ein Beispiel für ein solches Spurfolgesystem mit
drei Strahlenbündeln, in dem das Strahlenbündel 11 auf ein Gitter 100 gerichtet wird,
wodurch das Strahlenbündel 11 in ein Strahlenbündel 100b nullter Ordnung von hoher
Intensität und zwei Strahlenbündel 101a und 101c erster Ordnung mit niedriger
Intensität aufgespalten wird. Die Strahlenbündel 101 werden über ein aus einem Objektiv 102,
einem halbdurchlässigen Spiegel 103, einem um eine Achse 104 schwenkbaren Spiegel
105 und einem Fokussierobjektiv 106 bestehendes optisches System zur
Aufzeichnungsschicht 92 gelenkt. Die Strahlenbündel 101a und 101c bilden ein vorauseilendes bzw.
ein nacheilendes Satellitenbündel, die auf die Aufzeichnungsschicht 92 vor und hinter
dem Strahlenbündel 101b auftreffen, in der durch den Pfeil 5 angegebenen
Bewegungsrichtung gesehen. Die Auftreffstellen der jeweiligen Strahlenbündel 101a, 101b und
101c auf die Aufzeichnungsschicht 92 haben in Fig. 1 die Bezugszeichen 110a, 110b
bzw. 110c. Die Strahlenbündel sind so gerichtet, daß, falls das Strahlenbündel 101b auf
die Servospur 90 zentriert ist, die Auftreffstellen 110a und 110c der Satellitenbündels
101a und 101b jeweils nahezu auf die Ränder der Servospur 90 fallen. Die an der
Aufzeichnungsschicht 92 reflektierten Strahlenbündel werden dann über das
Fokussierobjektiv 106 sowie die Spiegel 105 und 103 auf ein strahlungsempfindliches Detektionssystem
107 gerichtet, das eine Vielzahl strahlungsempfindlicher Dioden umfaßt. Die von den
strahlungsempfindliche Dioden erzeugten Signalströme werden verwendet, um in
üblicher Weise das Spurfolgefehlersignal abzuleiten, aus dem ein Steuersignal zum
Schwenken des Spiegels 105 mit Hilfe eines Stellgliedes abgeleitet wird, um so das
Spurfolgefehlersignal zu minimieren.
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Die Erfindung ist sehr geeignet, um zusammen mit einem Spurfolgesystem
mit drei Strahlenbündeln verwendet zu werden. In diesem Fall kann das Strahlenbündel
101b als Schreibstrahlenbündel verwendet werden, dessen Intensität durch Modulieren
der Intensität des Halbleiterlasers moduliert werden kann. Das nacheilende
Satellitenbündel 101c kann als Verifikationsstrahlenbündel verwendet werden. Wenn die
Servospuren 90 so dicht nebeneinander liegen, daß die Auftreffstelle 101c des nacheilenden
Satellitenbündels 101c teilweise die benachbarte Spur überlappt, ist es vorzuziehen, die
Strahlenbündel 101 so zu richten, daß die Auftreffstelle 110c des nacheilenden
Strahlenbündels 101c an die Servospur grenzt, in der noch keine optisch detektierbare Marken 8
aufgezeichnet worden sind. Hiermit soll Nebensprechen von der benachbarten Spur im
Lesesignal Vl verhindert werden.