JP2001291250A - トラッキング制御方法およびトラッキング制御装置並びにその方法を利用する光ディスク装置 - Google Patents

トラッキング制御方法およびトラッキング制御装置並びにその方法を利用する光ディスク装置

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JP2001291250A
JP2001291250A JP2000101611A JP2000101611A JP2001291250A JP 2001291250 A JP2001291250 A JP 2001291250A JP 2000101611 A JP2000101611 A JP 2000101611A JP 2000101611 A JP2000101611 A JP 2000101611A JP 2001291250 A JP2001291250 A JP 2001291250A
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JP2000101611A
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Yoshihiro Nakao
吉宏 中尾
Haruhiko Izumi
晴彦 和泉
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 迷光により生じるオフセットを補正すること
ができ、高精度なトラッキング制御が可能なトラッキン
グ制御方法およびトラッキング制御装置並びにその方法
を利用する光ディスク装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 記録媒体1からの反射光が入射し、入射
光の光量分布に対応した光検出信号を出力する光検出手
段10と、光検出手段10から出力される光検出信号に
基づいて光スポットの位置制御信号を生成する制御信号
生成手段22〜24とを有し、位置制御信号に基づいて
光スポットの位置を調整すると共に、制御信号生成手段
22〜24は、光検出信号に基づいて光スポットが調整
されるべき位置での光検出手段10に対する入射光の光
量分布に対応した制御目標信号を生成する制御目標信号
生成手段23,24を有し、制御目標信号と光検出信号
とに基づいて光スポットの位置制御信号を生成するよう
に構成することにより上記課題を解決する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、トラッキング制御
方法およびトラッキング制御装置並びにその方法を利用
する光ディスク装置に係り、特に、迷光により生じるオ
フセットを補正するトラッキング制御方法およびトラッ
キング制御装置並びにその方法を利用する光ディスク装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク装置は光スポット位置を光デ
ィスクの動きに追従させることにより、安定して信号を
記録/再生する必要がある。このため、光ディスク装置
はフォーカシング制御,トラッキング制御など高度なサ
ーボ技術が随所に駆使されている。
【0003】図1は、トラッキング制御方法について説
明する一例の図を示す。光ディスク100は、光ディス
ク100の溝上(以下、グルーブという)101あるい
は溝間(以下、ランドという)102にマークを記録し
ている。トラッキング制御は、光ディスク100上にレ
ーザ光を光スポットとして照射し、光ディスクからの反
射光104を対物レンズ103などを介して2分割フォ
トディテクタ(以下、2分割PDという)106で検出
することにより行われる。なお、2分割PD106の代
りに4分割PDを利用する場合もある。
【0004】2分割PD106の光検出部109,11
0から出力される信号PD1,PD2は、反射光104
の強度分布105の変化に従って変化する。つまり、2
分割PD106の光検出部109の出力PD1と2分割
PD106の光検出部110の出力PD2との差を差動
増幅器107を利用して算出することにより、トラッキ
ングエラー信号TESを出力していた。
【0005】例えば、光ディスク100上に照射される
光スポットが図1に示すようにグルーブ101およびラ
ンド102の中心からずれると、トラッキングエラー信
号TESの出力レベルは、ずれ量に応じて変化する。一
方、光ディスク100上に照射される光スポットがグル
ーブ101およびランド102の中心に照射されると、
トラッキングエラー信号TESの出力レベルは0にな
る。
【0006】図1の場合、2分割PD106の光検出部
109に照射される反射光104の強度が2分割PD1
06の光検出部110に照射される反射光104の強度
より強いので、トラッキングエラー信号TESとして正
の信号が出力される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ディ
スク装置は装置内に光学部品の反射などによる迷光が発
生する。この迷光が2分割PD106に入射すると、ト
ラッキングエラー信号TESにオフセットが発生し、ト
ラッキングエラー信号TESの出力レベルをシフトして
しまう。
【0008】例えば、図2は迷光の入射について説明す
る一例の図を示す。図2の場合、迷光が2分割PD10
6に入射していなければ、光ディスク100上に照射さ
れる光スポットがグルーブ101の中心に照射されるた
めトラッキングエラー信号TESの出力レベルが0にな
る。しかし、迷光が2分割PD106の光検出部109
に入射されると、反射光104の強度分布105は迷光
分が加算されて強度分布108のように変化する。した
がって、迷光の入射によりトラッキングエラー信号TE
Sにオフセットが発生してしまい、トラッキング精度が
低下するという問題があった。
【0009】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、迷光により生じるオフセットを補正することがで
き、高精度なトラッキング制御が可能なトラッキング制
御方法およびトラッキング制御装置並びにその方法を利
用する光ディスク装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】そこで、上記課題を解決
するため、本発明は、請求項1に記載されるように、記
録媒体上に照射する光スポットの位置を調整するトラッ
キング制御方法において、光スポットが照射される記録
媒体からの反射光が入射され、入射光の光量分布に対応
した光検出信号を出力する光検出段階と、前記出力した
光検出信号に基づいて光スポットの位置制御信号を生成
する制御信号生成段階とを有し、該位置制御信号に基づ
いて光スポットの位置を調整すると共に、該制御信号生
成段階は、前記出力した光検出信号に基づいて光スポッ
トが調整されるべき位置での前記入射光の光量分布に対
応した制御目標信号を生成する制御目標信号生成段階を
有し、該生成した制御目標信号と前記出力した光検出信
号とに基づいて前記光スポットの位置制御信号を生成す
るように構成される。
【0011】このようなトラッキング制御方法では、記
録媒体からの反射光の光量分布に従って出力される光検
出信号と、光スポットが調整されるべき位置での入射光
の光量分布に対応した制御目標信号とに基づいて位置制
御信号を生成することにより、高精度なトラッキング制
御が可能なトラッキング制御方法が実現できる。
【0012】また、上記課題を解決するため、本発明
は、請求項2に記載されるように、記録媒体上に照射す
る光スポットの位置を調整するトラッキング制御装置に
おいて、光スポットが照射される記録媒体からの反射光
が入射し、入射光の光量分布に対応した光検出信号を出
力する光検出手段と、前記光検出手段から出力される光
検出信号に基づいて光スポットの位置制御信号を生成す
る制御信号生成手段とを有し、該位置制御信号に基づい
て光スポットの位置を調整すると共に、該制御信号生成
手段は、前記光検出手段から出力される光検出信号に基
づいて光スポットが調整されるべき位置での光検出手段
に対する入射光の光量分布に対応した制御目標信号を生
成する制御目標信号生成手段を有し、該制御目標信号生
成手段にて生成された制御目標信号と前記光検出手段か
ら出力される光検出信号とに基づいて前記光スポットの
位置制御信号を生成するように構成される。
【0013】このようなトラッキング制御装置では、記
録媒体からの反射光の光量分布に従って出力される光検
出信号と、光スポットが調整されるべき位置での入射光
の光量分布に対応した制御目標信号とに基づいて位置制
御信号を生成することにより、高精度なトラッキング制
御が可能なトラッキング制御装置が実現できる。
【0014】制御目標信号を簡易な回路により出力する
という観点から、本発明は、請求項3に記載されている
ように、前記トラッキング制御装置において、前記制御
目標信号生成手段は、前記光検出信号の最大レベルおよ
び最小レベルを検出するレベル検出手段と、前記検出し
た最大レベルおよび最小レベルに基づいて光スポットが
調整されるべき位置での光検出手段に対する入射光の光
量分布に対応した制御目標信号を生成する制御目標信号
演算手段とを有するように構成することができる。
【0015】このようなトラッキング制御装置では、光
検出手段から出力される光検出信号の最大レベルおよび
最小レベルを検出することにより、光スポットが調整さ
れるべき位置での入射光の光量分布に対応した制御目標
信号が生成される。
【0016】異なる反射率の部分を有する記録媒体にも
制御目標信号を対応させるという観点から、本発明は、
請求項4に記載されているように、前記制御目標信号
は、前記記録媒体上に照射する光スポットの位置の光の
反射率に従って異なるレベルとするように構成すること
ができる。
【0017】このようなトラッキング制御装置では、光
スポットを照射する記録媒体上の位置の光の反射率に応
じて異なる制御目標信号が出力される。したがって、例
えば溝上に記録された情報に光スポットを照射する場合
の制御目標信号と、溝間に記録された情報に光スポット
を照射する場合の制御目標信号とが異なるレベルとな
る。
【0018】光検出信号は、前記光スポットが照射され
る記録媒体からの反射光以外の迷光に影響を受けている
可能性が高いという観点から、本発明は、請求項5に記
載されるように、前記制御目標信号は、前記光スポット
が照射される記録媒体からの反射光以外の迷光に応じて
変化するように構成することができる。
【0019】このような、トラッキング制御装置では、
装置内の光学部品の反射などによる迷光が発生して光検
出手段に入射したとしても、その迷光が光検出信号に与
える影響を制御目標信号として検出する。
【0020】さらに、上記課題を解決するため、本発明
は、請求項6に記載されるように、光ディスク上に光ス
ポットを照射してデータの記録再生を行なう光ディスク
装置において、光スポットが照射される記録媒体からの
反射光が入射し、入射光の光量分布に対応した光検出信
号を出力する光検出手段と、前記光検出手段から出力さ
れる光検出信号に基づいて光スポットの位置制御信号を
生成する制御信号生成手段とを有し、該位置制御信号に
基づいて光スポットの位置を調整すると共に、該制御信
号生成手段は、前記光検出手段から出力される光検出信
号に基づいて光スポットが調整されるべき位置での光検
出手段に対する入射光の光量分布に対応した制御目標信
号を生成する制御目標信号生成手段を有し、該制御目標
信号生成手段にて生成された制御目標信号と前記光検出
手段から出力される光検出信号とに基づいて前記光スポ
ットの位置制御信号を生成するように構成される。
【0021】このような光ディスク装置では、記録媒体
からの反射光の光量分布に従って出力される光検出信号
と、光スポットが調整されるべき位置での入射光の光量
分布に対応した制御目標信号とに基づいて位置制御信号
を生成することにより、高精度なトラッキング制御が可
能な光ディスク装置が実現できる。
【0022】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面に基づいて説明する。
【0023】図3は、本発明の実施の一形態に係る光デ
ィスク装置の一実施例のブロック図を示す。図3の光デ
ィスク装置は、対物レンズ2,アクチュエータ3,ビー
ムスプリッタ4,コリメートレンズ7,レーザダイオー
ド8,トラックエラー信号用集光レンズ(以下、TES
用集光レンズという)9,TES用フォトディテクタ
(以下、TES用PDという)10,アクチュエータ駆
動回路20,サーボ回路21,正規化トラックエラー信
号演算回路(以下、AGCTES演算回路という)2
2,ピークレベル/ボトムレベル検出部23,および制
御目標演算部24を含む構成である。
【0024】レーザダイオード8は、レーザ光を発光す
る光源である。レーザダイオード8から発光されたレー
ザ光は、コリメートレンズ7,ビームスプリッタ4,対
物レンズ2を介して光ディスクなどの記録媒体1に照射
される。コリメートレンズ7はレーザダイオード8から
供給されるレーザ光を平行光に変換する。ビームスプリ
ッタ4はコリメートレンズ7を介して供給されるレーザ
光を透過し、記録媒体1から対物レンズ2を介して供給
される反射光を反射してTES用集光レンズ9に供給す
る。
【0025】対物レンズ2は、供給されるレーザ光を記
録媒体1の面上で焦点を結ぶように集光し、光スポット
を生成する。アクチュエータ3は、フォーカシング又は
トラッキング方向に対物レンズ3を制御して記録媒体1
の回転,外部振動などが原因で発生する変動に追従す
る。
【0026】記録媒体1に光スポットが照射されると、
記録媒体1からの反射光は対物レンズ2を介し、ビーム
スプリッタ4に反射され、TES用集光レンズ9に供給
される。TES用集光レンズ9は供給される反射光を集
光し、その集光した反射光をTES用PD10の光検出
部に照射する。TES用PD10は例えば2又は4分割
のフォトディテクタであり、供給された反射光を電気信
号に変換する。そして、TES用PD10は変換した電
気信号をAGCTES演算回路22およびピークレベル
/ボトムレベル検出部23に供給する。
【0027】AGCTES演算回路22は、例えば図4
に示すような構成により実現することができる。図4
は、AGCTES演算回路22の一例の構成図を示す。
なお、図4は説明に不要な部分を一部省略している。記
録媒体1からの反射光は対物レンズ2などを介し、TE
S用PD10に受光される。
【0028】TES用PD10は光検出部30,31を
有し、その光検出部30,31に供給される反射光の強
度分布29に従って電気信号PD1,PD2を出力す
る。光検出部30から出力される信号PD1は、AGC
TES演算回路22の差動増幅器25および加算増幅器
26に供給される。また、光検出部31から出力される
電気信号PD2は、AGCTES演算回路22の差動増
幅器25および加算増幅器26に供給される。
【0029】AGCTES演算回路22は、差動増幅器
25,加算増幅器26,および除算器27を含むように
構成される。差動増幅器25は光検出部30から供給さ
れる電気信号PD1と光検出部31から供給される電気
信号PD2とを利用して以下に示す式(1)のようにト
ラッキングエラー信号TESを生成する。なお、後述す
る数式においては、トラッキングエラー信号TES,電
気信号PD1,および電気信号PD2を夫々TES,P
D1,PD2と記載する。
【0030】TES=PD1−PD2・・・・・(1) 加算増幅器26は光検出器30から供給される電気信号
PD1と光検出部31から供給される電気信号PD2と
を利用して以下に示す式(2)のように反射全光量信号
SUMを生成する。なお、後述する数式においては、反
射全光量信号SUMをSUMと記載する。
【0031】SUM=PD1+PD2・・・・・(2) そして、除算器27は差動増幅器25から供給されるト
ラッキングエラー信号TESと加算増幅器26から供給
される反射全光量信号SUMとを利用して以下に示す式
(3)のように正規化トラックエラー信号AGCTES
を生成する。なお、後述する数式においては、正規化ト
ラックエラー信号AGCTESをAGCTESと記載す
る。
【0032】 AGCTES=TES/SUM・・・・・(3) このように算出される正規化トラックエラー信号AGC
TESは、トラッキングエラー信号TESを反射全光量
信号SUMで除算することにより、レーザダイオード8
の発光量および記録媒体1の反射率に依存しないものと
なる。ところで、光検出部30から供給される電気信号
PD1と光検出部31から供給される電気信号PD2と
は、光スポットが照射される位置により反射光の強度分
布29が変化するため、その強度分布の変化に従って変
化する。
【0033】図5は、光スポットの照射位置と出力信号
PD1,PD2との関係を説明する一例の図を示す。図
5に示すように、グルーブ32の中心位相をπ/2,ラ
ンド33の中心位相を3π/2とすると、光検出部30
から供給される電気信号PD1と光検出部31から供給
される電気信号PD2とは以下に示す式(4),(5)
で表わされる。なお、A(P)は変調成分であり、DC
1(P)およびDC2(P)は直流成分である。また、
αはグルーブ32およびランド33の形状に依存する固
定値である。変調成分A(P),直流成分DC1
(P),および直流成分DC2(P)は光検出部30,
31に供給される反射光の光量Pに比例する。
【0034】 PD1=−A(P)×sin(θ−α)+DC1(P)・・・・・(4) PD2=−A(P)×sin(θ+α)+DC2(P)・・・・・(5) 式(4),(5)を上記式(1)〜式(3)に代入する
と、以下に示す式(6)〜式(8)で表わされる。
【0035】
【数1】 迷光がない場合は、DC1(P)およびDC2(P)が
等しく、グルーブ32の中心位相π/2およびランド3
3の中心位相3π/2で正規化トラックエラー信号AG
CTESが0となる。一方、迷光がある場合は、図5に
示すようにDC1(P)とDC2(P)とが異なり、グ
ルーブ32の中心位相π/2およびランド33の中心位
相3π/2で正規化トラックエラー信号AGCTESが
0とならない。これは迷光がある場合、グルーブ32の
中心位相π/2およびランド33の中心位相3π/2で
上記の式(8)の分子に直流成分が残るためである。
【0036】したがって、AGCTES演算回路22か
ら出力される正規化トラックエラー信号AGCTES
は、迷光によるオフセットが含まれる場合がある。そし
て、AGCTES演算回路22は算出した正規化トラッ
クエラー信号AGCTESを後述する減算器34に供給
する。
【0037】一方、ピークレベル/ボトムレベル検出部
23は、光検出部30から供給される電気信号PD1の
ピークレベルPD1PおよびボトムレベルPD1Bと、
光検出部31から供給される電気信号PD2のピークレ
ベルPD2PおよびボトムレベルPD2Bとを検出す
る。そして、ピークレベル/ボトムレベル検出部23
は、検出したピークレベルPD1P,PD2P、および
ボトムレベルPD1B,PD2Bを制御目標演算部24
に供給する。
【0038】演算目標演算部24は、供給されたピーク
レベルPD1P,PD2P、およびボトムレベルPD1
B,PD2Bを利用して以下に示す式(9)〜式(1
1)のように、電気信号PD1の直流成分DC1,電気
信号PD2の直流成分DC2,変調成分Aを算出する。
なお、後述する数式においては、ピークレベルPD1P
をPD1P,ピークレベルPD2PをPD2P、ボトム
レベルPD1BをPD1B,ボトムレベルPD2BをP
D2B,直流成分DC1をDC1,直流成分DC2をD
C2,変調成分AをAと記載する。
【0039】 DC1=(PD1P+PD1B)/2・・・・・(9) DC2=(PD2P+PD2B)/2・・・・・(10) A=(PD1P−PD1B)/2・・・・・(11) なお、変調成分Aは式(11)と同様にピークレベルP
D2PおよびボトムレベルPD2Bを利用して算出する
ことができる。そして、上記式(8)に式(9)〜式
(11)を代入すると共に、グルーブ32の中心位相π
/2またはランド33の中心位相3π/2を代入する
と、以下に示す式(12),(13)が算出される。
【0040】
【数2】 式(12)にて算出される制御目標信号Gは、グルーブ
32の制御目標信号を表わすものである。また、式(1
3)にて算出される制御目標信号Lは、ランド33の制
御目標信号を表わすものである。制御目標信号Gおよび
制御目標信号LはピークレベルPD1P,PD2P、お
よびボトムレベルPD1B,PD2Bから直流成分DC
1,DC2,および変調成分Aを算出することで、グル
ーブ32の中心位相π/2またはランド33の中心位相
3π/2で生じる正規化トラックエラー信号AGCTE
S中の迷光によるオフセット量である。制御目標演算部
24は、算出されたグルーブ32の制御目標信号Gまた
はランド33の制御目標信号Lを減算器34に供給す
る。なお、制御目標演算部24は、トラッキング制御中
に制御目標信号G,制御目標信号Lの再計算を行わず信
号レベルを固定している。
【0041】具体的には、ランド33に光スポットが照
射されるようにオントラックして信号を記録/再生する
場合、制御目標演算部24は制御目標信号Lを減算器3
4に供給する。グルーブ32に光スポットが照射される
ようにオントラックして信号を記録/再生する場合、制
御目標演算部24は制御目標信号Gを減算器34に供給
する。なお、グルーブ32およびランド33に光スポッ
トが照射されるようにオントラックする場合、制御目標
演算部24は制御目標信号Gと制御目標信号Lとを適宜
切替えて減算器34に供給する。
【0042】減算器34は制御目標演算部24から制御
目標信号Gまたは制御目標信号Lが供給されると共に、
AGCTES演算回路22から正規化トラックエラー信
号AGCTESが供給される。制御目標信号Gまたは制
御目標信号Lは迷光によるオフセットであるため、減算
器34からサーボ回路21に出力される信号は迷光によ
るオフセットを補正された正規化トラックエラー信号と
なる。
【0043】サーボ回路21は、減算器34から供給さ
れるオフセットを補正された正規化トラックエラー信号
に従って、アクチュエータ駆動回路20を制御する制御
信号を出力する。アクチュエータ駆動回路20は、サー
ボ回路21から供給される制御信号に従って、フォーカ
シング又はトラッキング方向に対物レンズ3を制御して
記録媒体1の回転,外部振動などが原因で発生する変動
に追従する。以上のように、上記実施例によれば迷光に
より生じるオフセットを自動的に補正することができ、
高精度なトラッキング制御が可能となる。
【0044】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば、記録媒体
からの反射光の光量分布に従って出力される光検出信号
と、光スポットが調整されるべき位置での入射光の光量
分布に対応した制御目標信号とに基づいて位置制御信号
を生成することにより、高精度なトラッキング制御が可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】トラッキング制御方法について説明する一例の
図である。
【図2】迷光の入射について説明する一例の図である。
【図3】本発明の実施の一形態に係る光ディスク装置の
一実施例のブロック図である。
【図4】AGCTES演算回路の一例の構成図である。
【図5】光スポットの照射位置と出力信号PD1,PD
2との関係を説明する一例の図である。
【符号の説明】
1 記録媒体 2 対物レンズ 3 アクチュエータ 4 ビームスプリッタ 7 コリメートレンズ 8 レーザダイオード 9 トラックエラー信号用集光レンズ 10 トラックエラー信号用フォトディテクタ 20 アクチュエータ駆動回路 21 サーボ回路 22 正規化トラックエラー信号演算回路 23 ピークレベル/ボトムレベル検出部 24 制御目標演算部 25 差動増幅器 26 加算増幅器 27 除算器 28,32 グルーブ 29 反射光の強度分布 30,31 光検出部 33 ランド 34 減算器

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 記録媒体上に照射する光スポットの位置
    を調整するトラッキング制御方法において、 光スポットが照射される記録媒体からの反射光が入射さ
    れ、入射光の光量分布に対応した光検出信号を出力する
    光検出段階と、 前記出力した光検出信号に基づいて光スポットの位置制
    御信号を生成する制御信号生成段階とを有し、該位置制
    御信号に基づいて光スポットの位置を調整すると共に、 該制御信号生成段階は、前記出力した光検出信号に基づ
    いて光スポットが調整されるべき位置での前記入射光の
    光量分布に対応した制御目標信号を生成する制御目標信
    号生成段階を有し、 該生成した制御目標信号と前記出力した光検出信号とに
    基づいて前記光スポットの位置制御信号を生成するよう
    にしたトラッキング制御方法。
  2. 【請求項2】 記録媒体上に照射する光スポットの位置
    を調整するトラッキング制御装置において、 光スポットが照射される記録媒体からの反射光が入射
    し、入射光の光量分布に対応した光検出信号を出力する
    光検出手段と、 前記光検出手段から出力される光検出信号に基づいて光
    スポットの位置制御信号を生成する制御信号生成手段と
    を有し、該位置制御信号に基づいて光スポットの位置を
    調整すると共に、 該制御信号生成手段は、前記光検出手段から出力される
    光検出信号に基づいて光スポットが調整されるべき位置
    での光検出手段に対する入射光の光量分布に対応した制
    御目標信号を生成する制御目標信号生成手段を有し、 該制御目標信号生成手段にて生成された制御目標信号と
    前記光検出手段から出力される光検出信号とに基づいて
    前記光スポットの位置制御信号を生成するようにしたト
    ラッキング制御装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のトラッキング制御装置に
    おいて、 前記制御目標信号生成手段は、前記光検出信号の最大レ
    ベルおよび最小レベルを検出するレベル検出手段と、 前記検出した最大レベルおよび最小レベルに基づいて光
    スポットが調整されるべき位置での光検出手段に対する
    入射光の光量分布に対応した制御目標信号を生成する制
    御目標信号演算手段とを有するトラッキング制御装置。
  4. 【請求項4】 請求項2記載のトラッキング制御装置に
    おいて、 前記制御目標信号は、前記記録媒体上に照射する光スポ
    ットの位置の光の反射率に従って異なるレベルとするこ
    とを特徴とするトラッキング制御装置。
  5. 【請求項5】 請求項2記載のトラッキング制御装置に
    おいて、 前記制御目標信号は、前記光スポットが照射される記録
    媒体からの反射光以外の迷光に応じて変化することを特
    徴とするトラッキング制御装置。
  6. 【請求項6】 光ディスク上に光スポットを照射してデ
    ータの記録再生を行なう光ディスク装置において、 光スポットが照射される記録媒体からの反射光が入射
    し、入射光の光量分布に対応した光検出信号を出力する
    光検出手段と、 前記光検出手段から出力される光検出信号に基づいて光
    スポットの位置制御信号を生成する制御信号生成手段と
    を有し、該位置制御信号に基づいて光スポットの位置を
    調整すると共に、 該制御信号生成手段は、前記光検出手段から出力される
    光検出信号に基づいて光スポットが調整されるべき位置
    での光検出手段に対する入射光の光量分布に対応した制
    御目標信号を生成する制御目標信号生成手段を有し、 該制御目標信号生成手段にて生成された制御目標信号と
    前記光検出手段から出力される光検出信号とに基づいて
    前記光スポットの位置制御信号を生成するようにした光
    ディスク装置。
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