JPH03263392A - 超電導厚膜回路板及びその製造法 - Google Patents
超電導厚膜回路板及びその製造法Info
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- JPH03263392A JPH03263392A JP2062018A JP6201890A JPH03263392A JP H03263392 A JPH03263392 A JP H03263392A JP 2062018 A JP2062018 A JP 2062018A JP 6201890 A JP6201890 A JP 6201890A JP H03263392 A JPH03263392 A JP H03263392A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Containers, Films, And Cooling For Superconductive Devices (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超電導厚膜回路板及びその製造法に関する。
(従来の技術)
従来、超電導体として用いられているNb3Sn。
GaV3. Nb3Ge等の金属間化合物は、超電導性
を示す金属間化合物の中では臨界温度が16.8〜23
にと高く、また4、2にの温度で20〜40テスラの臨
界磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョセフソン
素子などに実用化されていた。
を示す金属間化合物の中では臨界温度が16.8〜23
にと高く、また4、2にの温度で20〜40テスラの臨
界磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョセフソン
素子などに実用化されていた。
しかしながら、前記のNb38n 、 Ga Vs等は
、いずれも超電導性を示す温度が低いという欠点かある
。例えば超電導性を示す温度(以下T0n5et とす
る)及び完全に超電導性を示し、かつ抵抗が零になる温
度(以下+pZerOとする)はいずれも30K以下で
ある。
、いずれも超電導性を示す温度が低いという欠点かある
。例えば超電導性を示す温度(以下T0n5et とす
る)及び完全に超電導性を示し、かつ抵抗が零になる温
度(以下+pZerOとする)はいずれも30K以下で
ある。
このため超電導体の実用には冷媒として極めて高価な液
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ムを用いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ムを用いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
この改良として新超電導材料研究会、第1回シンポジウ
ム・プロシーデングの第24頁〜第33頁に示されるよ
うにBa−La−Cu−0系の化合物を用いた超電導体
が開発された。この超電導体により臨界温度は30Kを
越え、さらにその後に発見されたY −Ba −Cu
−0系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は液
体窒素温度の77.3によシ高い90に台壕で改良され
た。
ム・プロシーデングの第24頁〜第33頁に示されるよ
うにBa−La−Cu−0系の化合物を用いた超電導体
が開発された。この超電導体により臨界温度は30Kを
越え、さらにその後に発見されたY −Ba −Cu
−0系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は液
体窒素温度の77.3によシ高い90に台壕で改良され
た。
Y−Ba−Cu−0系の化合物を用いた超電導体の臨界
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(8rT
iOs)単結晶基板上にスパッタリング法で形成した単
結晶薄膜は、液体窒素温度で1.8 X 101OA/
m2と高いJcを有している。
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(8rT
iOs)単結晶基板上にスパッタリング法で形成した単
結晶薄膜は、液体窒素温度で1.8 X 101OA/
m2と高いJcを有している。
一方粉末冶金協会、昭和63年度、秋季大会講演概要集
の第24頁に示されるようにY−Ba−Cu−0系の超
電導体用粉体にAgzOを添加した超電導厚膜回路板は
、液体窒素温度で1.3 X 107 A/m2のJc
を有している。
の第24頁に示されるようにY−Ba−Cu−0系の超
電導体用粉体にAgzOを添加した超電導厚膜回路板は
、液体窒素温度で1.3 X 107 A/m2のJc
を有している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら前者の場合、 1.8 X 101’
A/m”と高いJcを得ているが、単結晶の基板を用い
るため高価となジ、かつ基板の大きさが制限され、また
スルーホールを介して基板の両面に形成した回路同士を
導通させることが困難であるという欠点を有する。
A/m”と高いJcを得ているが、単結晶の基板を用い
るため高価となジ、かつ基板の大きさが制限され、また
スルーホールを介して基板の両面に形成した回路同士を
導通させることが困難であるという欠点を有する。
一方後者の場合、 1.3 X 107A/m2のJ
cを得ているが、これは日経超電導第18号の第2項(
1988年10月3日発行)に示されるように。
cを得ているが、これは日経超電導第18号の第2項(
1988年10月3日発行)に示されるように。
回路の厚さが40μmで9幅が5mmの場合であり。
厚さが10μmで9幅がIIn]Ilの場合、 Jcは
0.6×107A/m2に低下する。このため回路の幅
が0、5 mm以下のものが要求される超電導厚膜回路
板としては0.6 X 107A/m”以下のJcLか
得られないという欠点がある。
0.6×107A/m2に低下する。このため回路の幅
が0、5 mm以下のものが要求される超電導厚膜回路
板としては0.6 X 107A/m”以下のJcLか
得られないという欠点がある。
咬たY −Ba −Cu −0系の化合物を用いた超電
導体のJcは、磁場依存性が大きく1例えばジャパニー
ズ、ジャーナル、オブ、アプライド、フィジックス(J
APANE8E JOURNAL 0FAPPLI
ED PHYSIC8)VOL、27Na2の第18
5〜第187頁に示される様に10−2Tと極めて弱い
磁場にかいて、 Jcが大きく低下しやすく、デイバイ
ス用の信号線として用いることが困難であった。
導体のJcは、磁場依存性が大きく1例えばジャパニー
ズ、ジャーナル、オブ、アプライド、フィジックス(J
APANE8E JOURNAL 0FAPPLI
ED PHYSIC8)VOL、27Na2の第18
5〜第187頁に示される様に10−2Tと極めて弱い
磁場にかいて、 Jcが大きく低下しやすく、デイバイ
ス用の信号線として用いることが困難であった。
さらにセラミック基板上に銀の被膜を印刷、焼付は法に
よシ形成した後、超電導体回路を印刷。
よシ形成した後、超電導体回路を印刷。
焼付ける方法では9例えば特開平1−107594号公
報に示されるように銀の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に銀の被膜を形成すること
が困難となる。
報に示されるように銀の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に銀の被膜を形成すること
が困難となる。
本発明は上記欠点のない超電導厚膜回路板及びその製造
法を提供することを目的とするものである。
法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明者らは、超電導厚膜回路板のJcの向上について
種々検討したところ、銀がその溶融している温度以上で
該超電導体の粒成長を著しく促進させ、高Jc化できる
こと、筐た銀に白金を添加することでJcの磁場依存性
が改善されることをつきとめさらに検討を進めた。
種々検討したところ、銀がその溶融している温度以上で
該超電導体の粒成長を著しく促進させ、高Jc化できる
こと、筐た銀に白金を添加することでJcの磁場依存性
が改善されることをつきとめさらに検討を進めた。
その結果、安定化したジルコニア基板上に白金=5
及び酸化ビスマスを含む銀とランタノイド元素(ただし
Ce、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
Ce、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
Ba、 Cu並びにOを主成分とした超電導体とからな
る超電導複合体層を形成することで2例えば回路の幅が
0.5 mmの場合においてもI X 107 A/l
112以上の高いJcが安定して得られ、その磁場依存
性も大幅に改善でき、ジルコニア基板と超電導厚膜回路
との密着力が優れることを見出した。
る超電導複合体層を形成することで2例えば回路の幅が
0.5 mmの場合においてもI X 107 A/l
112以上の高いJcが安定して得られ、その磁場依存
性も大幅に改善でき、ジルコニア基板と超電導厚膜回路
との密着力が優れることを見出した。
本発明は安定化したジルコニア基板上に、ランタノイド
元素(ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又は
Y、 Ba、 Cu並びにOを主成分とする超電導体、
白金、酸化ビスマス及び銀からなる超電導複合体層を形
成してなる超電導厚膜回路板及び安定化したジルコニア
基板上に白金を0.1〜5重量優及び酸化ビスマスを0
.1〜5重量多含む銀の被膜を形成し、さらにその上面
にランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びTbを除
く)及び/又はY。
元素(ただしCe、 Pr及びTbを除く)及び/又は
Y、 Ba、 Cu並びにOを主成分とする超電導体、
白金、酸化ビスマス及び銀からなる超電導複合体層を形
成してなる超電導厚膜回路板及び安定化したジルコニア
基板上に白金を0.1〜5重量優及び酸化ビスマスを0
.1〜5重量多含む銀の被膜を形成し、さらにその上面
にランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びTbを除
く)及び/又はY。
Ba、Cu並びにOを主成分とした超電導体用ペースト
を塗布し、ついで酸素を含む雰囲気中で焼成する超電導
厚膜回路板の製造法に関する。
を塗布し、ついで酸素を含む雰囲気中で焼成する超電導
厚膜回路板の製造法に関する。
=6
本発明にかいて安定化したジルコニア基板としては、酸
化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好會しく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法9例
えば酸化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム
等を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳しく
は酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化セリ
ウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と酸化
ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好會しく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法9例
えば酸化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム
等を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳しく
は酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化セリ
ウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と酸化
ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
1000〜1500℃の温度で熱処理して仮焼物とし、
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
本発明では、安定化したジルコニア基板上に形成する被
膜は白金、酸化ビスマス及び銀を含む被膜とされ、これ
以外の金属では本発明の目的を達成することができない
。該被膜の形成は白金、酸化ビスマス及び銀を含むペー
ストによる厚膜印刷法、めっき法、蒸着法、溶射法等に
より行われ。
膜は白金、酸化ビスマス及び銀を含む被膜とされ、これ
以外の金属では本発明の目的を達成することができない
。該被膜の形成は白金、酸化ビスマス及び銀を含むペー
ストによる厚膜印刷法、めっき法、蒸着法、溶射法等に
より行われ。
特に制限はない。
白金、酸化ビスマス及び銀を含む被膜の厚さについては
特に制限はない75に5μm以上であることが好”i
シ< * 1011rn以上であればさらに好筐しい
。
特に制限はない75に5μm以上であることが好”i
シ< * 1011rn以上であればさらに好筐しい
。
本発明において白金としては、白金粉末の他。
酸化白金などが用いられ、焼成後白金単体になる物質で
あれば特に制限はない。
あれば特に制限はない。
また酸化ビスマスとしては、−酸化ビスマス。
三酸化ビスマス、12!iI酸化ビスマス等ビスマスの
酸化物が用いられるが、このうち三酸化ビスマスを用い
ることが好渣しい。
酸化物が用いられるが、このうち三酸化ビスマスを用い
ることが好渣しい。
さらに銀としては、銀粉末の他、酸化銀、塩化銀、硝酸
銀等が用いられ焼成後鍋単体になる物質であれば特に制
限はない。
銀等が用いられ焼成後鍋単体になる物質であれば特に制
限はない。
超電導体用ペーストは9例えばランタノイド元素(ただ
しCe、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
しCe、 Pr及びTbを除く)及び/又はY。
Ba並びにCuの塩又は酸化物に有機結合剤、有機溶剤
等を添加し、均一に混合して得られる。なお超電導体用
ペーストとしては、超電導性を示す粉体を用いてペース
ト化したものを用いてもよく。
等を添加し、均一に混合して得られる。なお超電導体用
ペーストとしては、超電導性を示す粉体を用いてペース
ト化したものを用いてもよく。
焼成後に超電導性を示す粉体を用いてペースト化したも
のを用いてもよい。
のを用いてもよい。
超電導体用ペーストの配合割合については特に制限はな
いが、ランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びTb
を除く)及び/又はY:Ba:Cu並びにOを原子比で
1:2:3ニア−δ(ただしδは酸素欠損量)の割合と
した超電導体用ペーストを用いればTZeroが高いの
で好捷しい。
いが、ランタノイド元素(ただしCe、 Pr及びTb
を除く)及び/又はY:Ba:Cu並びにOを原子比で
1:2:3ニア−δ(ただしδは酸素欠損量)の割合と
した超電導体用ペーストを用いればTZeroが高いの
で好捷しい。
焼成条件は、酸素を含む雰囲気中で焼成することが必要
とされ、酸素を含筐ない雰囲気中で焼成すると酸素を含
む雰囲気中で再焼成しなければならず、また回路の幅が
0.5 mmの場合においても1X10’A/m2以上
のJcが得られない。
とされ、酸素を含筐ない雰囲気中で焼成すると酸素を含
む雰囲気中で再焼成しなければならず、また回路の幅が
0.5 mmの場合においても1X10’A/m2以上
のJcが得られない。
なお本発明にかいて焼成とは昇温から降温寸でを示し、
昇温における雰囲気は、酸素を含む雰囲気が好渣しいが
、必ずしもその必要¥i&い。しかし降温の場合は、酸
素を含む雰囲気が必要である。
昇温における雰囲気は、酸素を含む雰囲気が好渣しいが
、必ずしもその必要¥i&い。しかし降温の場合は、酸
素を含む雰囲気が必要である。
また焼成温度は、超電導体粉末の種類、配合割合などに
より適宜選定されるが、少なくとも9809− ℃以上、1100℃未満の温度で焼成することが好まし
い。
より適宜選定されるが、少なくとも9809− ℃以上、1100℃未満の温度で焼成することが好まし
い。
焼成時間については焼成温度によう適宜選定されるが0
,05時間以上の時間で焼成することが好捷しい。
,05時間以上の時間で焼成することが好捷しい。
本発明における超電導複合体層とはランタノイド元素(
ただしCe、Pr及びT’bを除く)及び/又はY、
Ba、 Cu並びにOを主成分とした超電導体に白金、
酸化ビスマス及び銀のうちの1つ以上の成分が固溶して
いる層及び/又は上記超電導体中に白金、酸化ビスマス
及び銀のうちの1つ以上の成分が混在1−でいる層を示
す。
ただしCe、Pr及びT’bを除く)及び/又はY、
Ba、 Cu並びにOを主成分とした超電導体に白金、
酸化ビスマス及び銀のうちの1つ以上の成分が固溶して
いる層及び/又は上記超電導体中に白金、酸化ビスマス
及び銀のうちの1つ以上の成分が混在1−でいる層を示
す。
(実施例)
以下本発明の詳細な説明する。
実施例1.比較例1
出発原料としてY2O3(信越化学製、純度99゜95
6 ) 、 BaC03(和光純薬製、試薬特級)及び
Cu0(高純度化学製、純度99.9%)を、Y、Ba
及びCuの原子比が1:2:3となるように秤量した後
。
6 ) 、 BaC03(和光純薬製、試薬特級)及び
Cu0(高純度化学製、純度99.9%)を、Y、Ba
及びCuの原子比が1:2:3となるように秤量した後
。
合成樹脂製のボールミルで24時時間式混合し。
10−
次いで100℃で12時間乾燥し、混合粉末を得た。こ
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光紳薬製、試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後98MPaの圧力で直径30mm
(φ)×厚さ21TIIl]の成形体を得た。この後成
形体を酸素雰囲気中で、950℃で10時間焼結し1次
いで焼結体をメノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボール
ミルで24時時間式粉砕し、平均粒径20μmの超電導
体粉末を得た。
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光紳薬製、試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後98MPaの圧力で直径30mm
(φ)×厚さ21TIIl]の成形体を得た。この後成
形体を酸素雰囲気中で、950℃で10時間焼結し1次
いで焼結体をメノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボール
ミルで24時時間式粉砕し、平均粒径20μmの超電導
体粉末を得た。
次に超電導体粉末100重量部に対し、有機結合剤とし
てエチルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量
部及び有機酵剤としてテルピネオール(和光紬薬製、試
薬1級)を20重量部添加し。
てエチルセルロース(和光紬薬製、45cp)を5重量
部及び有機酵剤としてテルピネオール(和光紬薬製、試
薬1級)を20重量部添加し。
均一に混合して超電導体用ペーストを得た。
上記とは別に銀粉末(日中マツセイ製、商品名AY−6
080,平均粒径0.8μm)、白金粉末(徳力化学製
、商品名TP−1.平均粒径1μm)及び三酸化ビスマ
ス粉末(高純度化学制、純度99.996.平均粒径1
〜2μm)を第1表に示す割合で混合し、この混合物1
00重量部に対し有機結合剤としてエチルセルロース(
和光紬薬製。
080,平均粒径0.8μm)、白金粉末(徳力化学製
、商品名TP−1.平均粒径1μm)及び三酸化ビスマ
ス粉末(高純度化学制、純度99.996.平均粒径1
〜2μm)を第1表に示す割合で混合し、この混合物1
00重量部に対し有機結合剤としてエチルセルロース(
和光紬薬製。
45 Cp)を5重量部及び有機溶剤としてテルピネオ
ール(和光紬薬製2試薬1級)を20重量部添加し均一
に混合して、白金及び二酸化ビスマスを含む銀ペースト
(以下、銀ペーストとする)を得た。
ール(和光紬薬製2試薬1級)を20重量部添加し均一
に混合して、白金及び二酸化ビスマスを含む銀ペースト
(以下、銀ペーストとする)を得た。
第1表
*印は本発明に合資れないものを、示す。以下同じ。
一方、酸化セリウムで安定化したジルコニア基板(日立
化成セラミック製、商標名・・ロツクス。
化成セラミック製、商標名・・ロツクス。
商品名482)上に、上記の銀ペーストをスクリーン印
刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で1
0分間焼成して、白金及び二酸化ビスマスを含む銀の被
膜(以下、銀被膜とする)を形成した厚膜回路板を得た
。
刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で1
0分間焼成して、白金及び二酸化ビスマスを含む銀の被
膜(以下、銀被膜とする)を形成した厚膜回路板を得た
。
次にこの銀被膜の上面に上記で得た超電導体用ペースト
を銀被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、酸素雰囲
気中で1020°Cで5時間の条件で焼威し1回路の幅
が0.5 mmの超電導厚膜回路板を得た。な卦焼成に
釦いて10200C4では200びN(L9の銀ペース
トを用いた超電導厚膜回路板については磁場中でのJc
を求めた。この計算値を第3表に示す。
を銀被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、酸素雰囲
気中で1020°Cで5時間の条件で焼威し1回路の幅
が0.5 mmの超電導厚膜回路板を得た。な卦焼成に
釦いて10200C4では200びN(L9の銀ペース
トを用いた超電導厚膜回路板については磁場中でのJc
を求めた。この計算値を第3表に示す。
第2表及び第3表にかいてJcは液体窒素温度(77,
3K)でのJcである。
3K)でのJcである。
第2表
た超電導厚膜回路板について四端子法で抵抗の温度変化
を測定し rl+%ero及びJcを求めた。
を測定し rl+%ero及びJcを求めた。
なお、 Jcは電流−電圧曲線から電圧降下が1μV
/ cmになったときの電流値及び超電導厚膜回路板の
断面積から算出した。これらの測定値及び計算値を第2
表に示す。渣たNα1.N(13,Nα7及3− 4− 第3表 第2表及び第3表に示されるように9本発明になる超電
導厚膜回路板のTZeroは90.2に以上で。
/ cmになったときの電流値及び超電導厚膜回路板の
断面積から算出した。これらの測定値及び計算値を第2
表に示す。渣たNα1.N(13,Nα7及3− 4− 第3表 第2表及び第3表に示されるように9本発明になる超電
導厚膜回路板のTZeroは90.2に以上で。
Jcは1.20 X 10’A/m2以上と共に良好な
値を示し、渣た500X10−’Ttでの磁場中にかけ
るJcの低下も少ないことがわかる。
値を示し、渣た500X10−’Ttでの磁場中にかけ
るJcの低下も少ないことがわかる。
これに対し白金を含普ないN11l、Nα7及びN(1
9の銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のTiZer
Oは90.3に以上、 Jcは1.10 X 107
A/m2以上と良好な値を示したが、500X10−’
T’)での磁場中におけるJcは太きく低下した。
9の銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のTiZer
Oは90.3に以上、 Jcは1.10 X 107
A/m2以上と良好な値を示したが、500X10−’
T’)での磁場中におけるJcは太きく低下した。
一方白金を10重量優含むNα6の銀ペーストを用いた
超電導厚膜回路板のTZeroは90.3にと良好な値
を示したが、 Jcは0.81 X 107A/m2と
低い値であった。
超電導厚膜回路板のTZeroは90.3にと良好な値
を示したが、 Jcは0.81 X 107A/m2と
低い値であった。
甘た三酸化ビスマスを含筐ないNα7及びk12の銀ペ
ーストを用いた超電導厚膜回路板は、超電導体用ペース
トを印刷時、銀被膜の剥離が多発した。
ーストを用いた超電導厚膜回路板は、超電導体用ペース
トを印刷時、銀被膜の剥離が多発した。
(発明の効果)
本発明によって得られる超電導厚膜回路板は。
TZeroが77に以上であるため、液体窒素中で使用
可能であり、また回路の幅が0.5 mmの場合でもI
X 10’A/m2以上の高いJcを有し、外部磁場
によるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回
路板の製造過程において、ジルコニア基板と銀被膜の安
定した密着が得られるため、工業的に極めて好適な超電
導厚膜回路板である。
可能であり、また回路の幅が0.5 mmの場合でもI
X 10’A/m2以上の高いJcを有し、外部磁場
によるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回
路板の製造過程において、ジルコニア基板と銀被膜の安
定した密着が得られるため、工業的に極めて好適な超電
導厚膜回路板である。
Claims (2)
- 1.安定化したジルコニア基板上に,ランタノイド元素
(ただしCe,Pr及びTbを除く)及び/又はY,B
a,Cu並びにOを主成分とする超電導体,白金,酸化
ビスマス及び銀からなる超電導複合体層を形成してなる
超電導厚膜回路板。 - 2.安定化したジルコニア基板上に,白金を0.1〜5
重量%及び酸化ビスマスを0.1〜5重量%含む銀の被
膜を形成し,さらにその上面にランタノイド元素(ただ
しCe,Pr及びTbを除く)及び/又はY,Ba,C
u並びにOを主成分とした超電導体用ペーストを塗布し
,ついで酸素を含む雰囲気中で焼成することを特徴とす
る超電導厚膜回路板の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2062018A JPH03263392A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2062018A JPH03263392A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03263392A true JPH03263392A (ja) | 1991-11-22 |
Family
ID=13188010
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2062018A Pending JPH03263392A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03263392A (ja) |
-
1990
- 1990-03-13 JP JP2062018A patent/JPH03263392A/ja active Pending
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