JPH042183A - 超電導厚膜回路板及びその製造法 - Google Patents
超電導厚膜回路板及びその製造法Info
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- JPH042183A JPH042183A JP2102495A JP10249590A JPH042183A JP H042183 A JPH042183 A JP H042183A JP 2102495 A JP2102495 A JP 2102495A JP 10249590 A JP10249590 A JP 10249590A JP H042183 A JPH042183 A JP H042183A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 32
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims abstract description 23
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 15
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims abstract description 14
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 14
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims abstract description 13
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims abstract description 13
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 claims abstract description 9
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052777 Praseodymium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 229910052771 Terbium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 6
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 29
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 28
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 7
- 229910002076 stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- -1 etc. Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 2
- 239000002075 main ingredient Substances 0.000 abstract 3
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 abstract 2
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 12
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 5
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 4
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N bismuth(III) oxide Inorganic materials O=[Bi]O[Bi]=O WMWLMWRWZQELOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 3
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 3
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 2
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 2
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 2
- GNMQOUGYKPVJRR-UHFFFAOYSA-N nickel(III) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Ni+3].[Ni+3] GNMQOUGYKPVJRR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 2
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000416 bismuth oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N dibismuth;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Bi+3].[Bi+3] TYIXMATWDRGMPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 210000005069 ears Anatomy 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 229910000657 niobium-tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- 150000003891 oxalate salts Chemical class 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 238000004663 powder metallurgy Methods 0.000 description 1
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 150000003378 silver Chemical class 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000007751 thermal spraying Methods 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
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- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は超電導厚膜回路板及びその製造法に関する。
(従来の技術)
従来、超電導体として用いられているNb3Sn。
Gap3. Nb、Ge等の金属間化合物は、超電導性
を示す金属間化合物の中では臨界温度が1a8〜23に
と高く、また4、2にの温度で20〜40テスラの臨界
磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョセフソン素
子などに実用化されていた。
を示す金属間化合物の中では臨界温度が1a8〜23に
と高く、また4、2にの温度で20〜40テスラの臨界
磁界を示すことから超電導コイルの他、ジョセフソン素
子などに実用化されていた。
しかしながら、前記のNb、 Sn、 Gap、等は、
いずれも超電導性を示す温度が低いという欠点がある。
いずれも超電導性を示す温度が低いという欠点がある。
例えば超電導性を示す温度(以下Tgnaetとする)
及び完全に超電導性を示し、かつ抵抗が零になる温度(
以下yKeroとする)Fiいずれも30に以下である
。
及び完全に超電導性を示し、かつ抵抗が零になる温度(
以下yKeroとする)Fiいずれも30に以下である
。
この次め超電導体の実用には冷媒として極めて高価な液
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ムを用いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
体ヘリウムを使用しなければならず、さらに液体ヘリウ
ムを用いることから装置が複雑化するという欠点がある
。
この改良として新超電導材料研究会、第1回シンポジウ
ム、プロシーデングの第24頁〜第33頁に示されるよ
うにBa −La −Cu−0系の化合物を用いた超電
導体が開発された。この超電導体により臨界温度は30
Kを越え、さらにその後に発見されfcY−Ba −C
u−0系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は
液体窒素温度の77.3により高い90に台まで改良さ
れた。
ム、プロシーデングの第24頁〜第33頁に示されるよ
うにBa −La −Cu−0系の化合物を用いた超電
導体が開発された。この超電導体により臨界温度は30
Kを越え、さらにその後に発見されfcY−Ba −C
u−0系の化合物を用いた超電導体によって臨界温度は
液体窒素温度の77.3により高い90に台まで改良さ
れた。
Y−Ba−Cu−0系の化合物を用いた超電導体の臨界
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(8rT
iOs)単結晶基板上にスパッタリング法で形成した単
結晶4膜は、液体窒素温度で1.8 X 10” A/
m”と高いJcを有しティる。
電流密度(以下Jcとする)は、新超電導材料研究会、
第3回シンポジウム・プロシーデングの第67頁〜第7
5頁に示されるようにチタン酸ストロンチウム(8rT
iOs)単結晶基板上にスパッタリング法で形成した単
結晶4膜は、液体窒素温度で1.8 X 10” A/
m”と高いJcを有しティる。
一方、粉末冶金協会、昭和63年度、秋季大会講演概要
集の第24頁に示されるよう[Y−Ba−Cu−0系の
超電導体用粉体にAg、0を添加した超電導厚膜回路板
は、液体窒素温度で1.3X107A/m”のJcを有
している。
集の第24頁に示されるよう[Y−Ba−Cu−0系の
超電導体用粉体にAg、0を添加した超電導厚膜回路板
は、液体窒素温度で1.3X107A/m”のJcを有
している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら前者の場合、1.8XlO’OA/m2と
高いJcを得ているが、単結晶の基板を用いるため高価
となシ、かつ基板の大きさが制限され、またスルーホー
ルを介して基板の両面に形成した回路同士を導通させる
ことが困難であるという欠点を有する。
高いJcを得ているが、単結晶の基板を用いるため高価
となシ、かつ基板の大きさが制限され、またスルーホー
ルを介して基板の両面に形成した回路同士を導通させる
ことが困難であるという欠点を有する。
一方、後者の場合、1.3X10’A/mスのJcを得
て込るが、これは日経超電導第18号の第2項(198
8年10月3日発行)に示されるように。
て込るが、これは日経超電導第18号の第2項(198
8年10月3日発行)に示されるように。
回路の厚さが40μmで2幅が51Wlの場合であり。
厚さが10 μmで2幅が1IIIII+の場合、 J
cは0.6×10’ A/ m”に低下する。このため
回路の幅が0、5 wn以下のものが要求される超電導
厚膜回路板としてFiO,6X10’A/m”以下のJ
c Lか得られないという欠点がある。
cは0.6×10’ A/ m”に低下する。このため
回路の幅が0、5 wn以下のものが要求される超電導
厚膜回路板としてFiO,6X10’A/m”以下のJ
c Lか得られないという欠点がある。
また、 Y −Ba −Cu−Q系の化合物を用い九超
電導体のJcは磁場依存性が大きく9例えば、ジャパニ
ーズ・ジャーナル・オプ・アプライド・フィジックス(
JAPANESE JOURNAL OF APPLI
EDPHYSIC8)VoL、 27. Nu 2号の
第185頁〜第187頁に示される様K 10−” T
と極めて弱い磁場においてJcが大きく低下しやすく、
デイバイス用の信用線として用いることが困難であった
。
電導体のJcは磁場依存性が大きく9例えば、ジャパニ
ーズ・ジャーナル・オプ・アプライド・フィジックス(
JAPANESE JOURNAL OF APPLI
EDPHYSIC8)VoL、 27. Nu 2号の
第185頁〜第187頁に示される様K 10−” T
と極めて弱い磁場においてJcが大きく低下しやすく、
デイバイス用の信用線として用いることが困難であった
。
さらにセラミック基板上に銀の被膜を印刷、焼付は法に
より形成した後、超電導体回路を印刷。
より形成した後、超電導体回路を印刷。
焼付ける方法では2例えば特開平1−107594号公
報に示される様に、銀の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に銀の被膜を形成すること
が困難となる。
報に示される様に、銀の粒径及び銀の焼付は条件を制御
しなければセラミック基板上に銀の被膜を形成すること
が困難となる。
本発明は上記欠点のない超電導厚膜回路板及びその製造
法を提供することを目的とするものである。
法を提供することを目的とするものである。
(課題を解決するための手段)
本発明者らは、超電導厚膜回路の高Jc化について種々
検討し友ところ、銀がその溶融している温度以上で該超
電導体の粒成長を著しく促進させ高Jc化できることを
、ま九釧にニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、
モリフテン、タングステン、オスミウム及びインジウム
のうち少なくとも1種以上の元素全0.1〜10.0重
量部添加することで、Jcの磁場依存性が改善されるこ
とをつきとめさらに検討を進めた。
検討し友ところ、銀がその溶融している温度以上で該超
電導体の粒成長を著しく促進させ高Jc化できることを
、ま九釧にニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、
モリフテン、タングステン、オスミウム及びインジウム
のうち少なくとも1種以上の元素全0.1〜10.0重
量部添加することで、Jcの磁場依存性が改善されるこ
とをつきとめさらに検討を進めた。
その結果、安定化したジルコニア基板にニッケル、ルテ
ニウム、ロジウム、クロム、モリブデン。
ニウム、ロジウム、クロム、モリブデン。
タングステン、オスミウム及びインジウムのうちの少な
くとも1種以上の元素を含む銀とランタノイド元素(た
だしCe、Pr及びTbを除く)及び/又はY、Ba、
Cu並びにOを主成分とした超電導体との複合体からな
る超電導体層を形成することで。
くとも1種以上の元素を含む銀とランタノイド元素(た
だしCe、Pr及びTbを除く)及び/又はY、Ba、
Cu並びにOを主成分とした超電導体との複合体からな
る超電導体層を形成することで。
例えば回路の幅が0.5 amの場合においてもI X
10’A/m”以上の高Jcが安定して得られ、また
その磁場依存性も大幅に改善できることを見い出した。
10’A/m”以上の高Jcが安定して得られ、また
その磁場依存性も大幅に改善できることを見い出した。
本発明は安定化したジルコニア基板上に、ニッケル、ル
テニウム、ロジウム、クロム、モリフテン、タングステ
ン、オスミウム及びインジウムのうち少なくとも1種以
上の元素を0.1〜1060重量S含有した銀とランタ
ノイド元素(ただしCe。
テニウム、ロジウム、クロム、モリフテン、タングステ
ン、オスミウム及びインジウムのうち少なくとも1種以
上の元素を0.1〜1060重量S含有した銀とランタ
ノイド元素(ただしCe。
Pr及びTbを除く)及び/又FiY、Ba、Cu並び
基板上にニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、モ
リブデン、タングステン、オスミウム及びインジウムの
うち少なくとも1種以上の元素を0、1〜10.8重量
部含有した銀の被膜を形成した後、その上面にランタノ
イド元素(ただしCe。
基板上にニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、モ
リブデン、タングステン、オスミウム及びインジウムの
うち少なくとも1種以上の元素を0、1〜10.8重量
部含有した銀の被膜を形成した後、その上面にランタノ
イド元素(ただしCe。
Pr及びTbを除く)及び/又はY、 Ba、 Cu並
びにの製造法に関する。
びにの製造法に関する。
本発明において安定化したジルコニア基板としては、酸
化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好ましく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法1例
えば酸化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム
等を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳しく
は酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化セリ
ウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と酸化
ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム等で安
定化したジルコニア基板を用いることが好ましく、この
ような安定化したジルコニア基板は従来公知の方法1例
えば酸化イツトリウム、酸化セリウム、酸化カルシウム
等を酸化ジルコニウムの安定化剤として使用し、詳しく
は酸化イツトリウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化セリ
ウム粉と酸化ジルコニウム粉、酸化カルシウム粉と酸化
ジルコニウム粉等を所定量配合して混合し。
1000〜1500℃の温度で熱処理して仮焼物とし、
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
ついで仮焼物にアルミニウム化合物を所定量添加し、混
合、粉砕、成形後1500〜1700℃の温度で焼成し
て得られる。
本発明において、ニッケル、ルテニウム、ロジウム、ク
ロム、モリブデン、タングステン、オスミウム及びイン
ジウムとしては、金属粉末の他に硝酸塩、シュー酸塩等
が用いられる。
ロム、モリブデン、タングステン、オスミウム及びイン
ジウムとしては、金属粉末の他に硝酸塩、シュー酸塩等
が用いられる。
本発明では、安定化したジルコニア基板上に形成する被
膜は、ニッケル、ルテニウム、ロジウム。
膜は、ニッケル、ルテニウム、ロジウム。
クロム、モリブデン、タングステン、オスミウム及びイ
ンジウムのうち少なくとも1糧以上の元素を含む銀の被
膜とされ、これ以外の被膜では本発明の目的を達成する
ことができない。
ンジウムのうち少なくとも1糧以上の元素を含む銀の被
膜とされ、これ以外の被膜では本発明の目的を達成する
ことができない。
また、ニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、モリ
ブデン、タングステン、オスミウム及びインジウムのう
ち少なくとも1種以上の元素を含まない場合1 x 1
0’A/m”以上のJcを有し、かつ外部磁場によるJ
cの低下が少ない厚膜が得られにくい。
ブデン、タングステン、オスミウム及びインジウムのう
ち少なくとも1種以上の元素を含まない場合1 x 1
0’A/m”以上のJcを有し、かつ外部磁場によるJ
cの低下が少ない厚膜が得られにくい。
ニッケル、ルテニウム、ロジウム、クロム、モリブデン
、タングステン、オスミウム及びインジウムのうち1つ
以上の元素を含有した銀の被膜の形成法はペーストによ
る厚膜印刷法、溶射法等があり、特に制限はない。
、タングステン、オスミウム及びインジウムのうち1つ
以上の元素を含有した銀の被膜の形成法はペーストによ
る厚膜印刷法、溶射法等があり、特に制限はない。
超電導体ペーストは9例えばランタノイド元素(ただし
Ce、 Pr及びTbt−除く)及び/又はY。
Ce、 Pr及びTbt−除く)及び/又はY。
Ba並びにCuの塩又は酸化物に有機結合剤、有機溶剤
等を添加し、均一に混合して得られる。
等を添加し、均一に混合して得られる。
焼成条件は、酸素を含む雰囲気中でかつ銀の溶融温度以
上の温度で焼成することが必要とされ。
上の温度で焼成することが必要とされ。
酸素を含まない雰囲気中で焼成すると酸素を含む雰囲気
で再焼成しなければならず、銀の溶融温度未満の温度で
焼成するとI X 107 A/m”以上のJcが得ら
れない。
で再焼成しなければならず、銀の溶融温度未満の温度で
焼成するとI X 107 A/m”以上のJcが得ら
れない。
また焼成温度は超電導体用材料の配合割合などにより適
宜選定されるが、980℃以上、1100℃未滴の温度
で′焼成することが好ましい。
宜選定されるが、980℃以上、1100℃未滴の温度
で′焼成することが好ましい。
超電導体用材料の配合割合については特に制限はないが
、 Ce、 Pr及びTbを除くランタノイド元素及び
/又はY:Ba:Cuが原子比f 1 :2:3とした
超電導体用材料を用いればtp’F−eroが高いので
好ましい。
、 Ce、 Pr及びTbを除くランタノイド元素及び
/又はY:Ba:Cuが原子比f 1 :2:3とした
超電導体用材料を用いればtp’F−eroが高いので
好ましい。
なお本発明において、銀に必要に応じ酸化ビスマスを添
加すればジルコニア基板と銀の密着力が向上するので好
ましい。
加すればジルコニア基板と銀の密着力が向上するので好
ましい。
(実施例)
以下本発明の詳細な説明する。
実施例1.比軟例1
出発原料としてYsOs(信越化学展、純度99.9%
)、BaC05(和光純薬製、試薬特級)及びCu0
(高純度化学制、純度99.9%)を、Y、Ba及びC
uの原子比が1:2:3となる様に秤量した後。
)、BaC05(和光純薬製、試薬特級)及びCu0
(高純度化学制、純度99.9%)を、Y、Ba及びC
uの原子比が1:2:3となる様に秤量した後。
合成樹脂製のボールミルで24時時間式混合し。
次いで100℃で12時間乾燥し、混合粉末を得た。こ
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光純薬裂、試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後100M P mの圧力で直径3
0−(φ)×厚さ2襲の成形体を得た。この後成形体を
酸素雰囲気中で、950℃で10時間焼結し1次いで焼
結体をメノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボールミルで
24時時間式粉砕し、平均粒径zOμmの超電導体粉末
を得た。
の混合粉末100重量部に対し、有機結合剤としてポリ
ビニルアルコール(和光純薬裂、試薬)を3重量部添加
し、均一に混合した後100M P mの圧力で直径3
0−(φ)×厚さ2襲の成形体を得た。この後成形体を
酸素雰囲気中で、950℃で10時間焼結し1次いで焼
結体をメノウ乳鉢で粗砕後、ジルコニア製ボールミルで
24時時間式粉砕し、平均粒径zOμmの超電導体粉末
を得た。
零牢母ネ
次に超電導体用粉末100重量部に対し、有機結合剤と
してエチルセルロース(和光M薬製、4sCP)t5重
量部及び有機溶剤としてテルピネオール(和光紬薬製、
試薬1級)を20重量部添加し。
してエチルセルロース(和光M薬製、4sCP)t5重
量部及び有機溶剤としてテルピネオール(和光紬薬製、
試薬1級)を20重量部添加し。
均一に混合して超電導体用ペーストを得た。
上記とけ別に銀粉体(日中マッセイ製、商品名AY−6
080,平均粒径0.8μm)100重量部に対しニッ
ケル粉末(高純度化学、純度3N)。
080,平均粒径0.8μm)100重量部に対しニッ
ケル粉末(高純度化学、純度3N)。
ツ
三酸化ビスマス(高純度化学製、平均粒径1〜2μm)
を第1表に示す割合で混合し、さらにこの混合物に有機
結合剤としてエチルセルロース(和光紬薬製、45Cp
)を5重量部及び有機溶剤としてテルピネオール(和光
紬薬製。試薬1級)を20重量部添加し均一に混合して
、ニッケル及び三酸化ビスマスを含む銀ペースト(以下
I銀ペーストとする)を得た。
を第1表に示す割合で混合し、さらにこの混合物に有機
結合剤としてエチルセルロース(和光紬薬製、45Cp
)を5重量部及び有機溶剤としてテルピネオール(和光
紬薬製。試薬1級)を20重量部添加し均一に混合して
、ニッケル及び三酸化ビスマスを含む銀ペースト(以下
I銀ペーストとする)を得た。
*印d本発明に含まれないものを示す。以下同じ。
一方、酸化セリクムで安定化し几ジルコニア基板(日立
化成セラミックス製、商標名)・ロツクス。
化成セラミックス製、商標名)・ロツクス。
商品名482)上に、上記の銀ペースト’tスクリーン
印刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で
10分間焼成して、ニッケル及び三酸化ビスマスを含む
銀の被膜を得た。
印刷し、100℃で30分乾燥後、大気中で900℃で
10分間焼成して、ニッケル及び三酸化ビスマスを含む
銀の被膜を得た。
次にこの銀の被膜の上面に上記で得た超電導体用ペース
トを銀の被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、酸素
雰囲気中で1020℃で5時間の条件で焼成し9回路の
幅が0.5 mmの超電導厚膜回路板を得た。なお焼成
において1020℃までは200℃/時間の速度で昇温
し、冷却H3O0℃までは100℃/時間の速度で冷却
し、その後。
トを銀の被膜と同一パターンにスクリーン印刷し、酸素
雰囲気中で1020℃で5時間の条件で焼成し9回路の
幅が0.5 mmの超電導厚膜回路板を得た。なお焼成
において1020℃までは200℃/時間の速度で昇温
し、冷却H3O0℃までは100℃/時間の速度で冷却
し、その後。
常温までは炉冷した。
得られた超電導厚膜回路板について四端子法で抵抗の温
度変化を測定し gZero及び磁場中でのJcを測定
した。
度変化を測定し gZero及び磁場中でのJcを測定
した。
なお、Jcは電圧降下が1μV/amになったときの電
流値及び超電導厚膜回路の断面積から算出した。これら
の測定値及び計算値を第2表に示す。
流値及び超電導厚膜回路の断面積から算出した。これら
の測定値及び計算値を第2表に示す。
また、 N[Ll、 1lk13. Nct7及び定9
の銀ペースト’1用いた超電導厚膜回路板については磁
場中でのJcを求めた。この計算値を第3表に示す。
の銀ペースト’1用いた超電導厚膜回路板については磁
場中でのJcを求めた。この計算値を第3表に示す。
第2表及び第3表において、Jcは液体9素温度(77
,3K)でのJcである。
,3K)でのJcである。
以下余白
第2表及び第3表より1本発明になる超電導厚膜回路板
(D 耳ero h 89.9 K以上テ、 Jcu
1.35X 10’A/m”以上と共に良好な値を示
し、500XIO−’Ttでの磁場中におけるJcの低
下も少ないことが示される。
(D 耳ero h 89.9 K以上テ、 Jcu
1.35X 10’A/m”以上と共に良好な値を示
し、500XIO−’Ttでの磁場中におけるJcの低
下も少ないことが示される。
これに対しニッケルを含まない階1.Na7及び嵐9の
銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のT:ero F
i90.3 K以上、Jcは1.10 X 10’A/
m”以上と良好な値を示したが、500X10−’Tま
での磁場中におけるJcは大きく低下した。
銀ペーストを用いた超電導厚膜回路板のT:ero F
i90.3 K以上、Jcは1.10 X 10’A/
m”以上と良好な値を示したが、500X10−’Tま
での磁場中におけるJcは大きく低下した。
またニッケルを10.1重量部含む嵐6の銀ペーストを
用いた超電導厚膜回路板のTぎ0は90.3にと良好な
値を示したが、 Jcは0.76 X 107A/m
2と低い値であった。
用いた超電導厚膜回路板のTぎ0は90.3にと良好な
値を示したが、 Jcは0.76 X 107A/m
2と低い値であった。
実施例2
銀粉末100重量部に対し、実施例1で用いたニッケル
粉末の代わりにルテニウム粉末、ロジウム粉末、クロム
粉末、モリブデン粉末、タンクステン粉、オスミウム粉
及びインジウム粉末(いずれも高純度化学展、純度3N
)を1重量部の割合で混合した以外は実施例1と同様の
方法で、かつ実施例1と同様の有機結合剤及び有機溶剤
を添加してルテニウム、ロジウム、クロム、モリブデン
。
粉末の代わりにルテニウム粉末、ロジウム粉末、クロム
粉末、モリブデン粉末、タンクステン粉、オスミウム粉
及びインジウム粉末(いずれも高純度化学展、純度3N
)を1重量部の割合で混合した以外は実施例1と同様の
方法で、かつ実施例1と同様の有機結合剤及び有機溶剤
を添加してルテニウム、ロジウム、クロム、モリブデン
。
タングステン、オスミウム及びインジウムのうち1攬の
元素を含むそれぞれの銀ペーストを得た。
元素を含むそれぞれの銀ペーストを得た。
第4表に銀ペースト中の含有元素を示した。
第4表
第
表
次に魔11〜Nl117の銀ペーストを用い、以下実施
例1と同様の方法で超電導厚膜回路板を作成し、実施例
1と同様の方法でT:eroJc及び磁場中でのJcを
測定した。これらの測定値及び計算値を第5表に示す。
例1と同様の方法で超電導厚膜回路板を作成し、実施例
1と同様の方法でT:eroJc及び磁場中でのJcを
測定した。これらの測定値及び計算値を第5表に示す。
また磁場中でのJcを求めた。
この計算値を第6表に示す。
第5表及び第6表によシ、ルテニウム、ロジウム、クロ
ム、モI)7’fン、タングステン、オスミラム及びイ
ンジウムのうち1種の元素を1重量部含有した本発明に
なる超電導厚膜配線板の耳er。
ム、モI)7’fン、タングステン、オスミラム及びイ
ンジウムのうち1種の元素を1重量部含有した本発明に
なる超電導厚膜配線板の耳er。
H89,8に以上で、 JcFil、 30 X I
O’A7’m”と良好な値を示し、500X10−’T
までの磁場中におけるJcの低下は少ないことが示され
る。
O’A7’m”と良好な値を示し、500X10−’T
までの磁場中におけるJcの低下は少ないことが示され
る。
(発明の効果)
本発明によって得られる超電導厚膜回路板は。
T:erOが77に以上であるため、液体窒素中で使用
可能であシ、また回路の幅が0.5 mの場合でも1
x 10’A/m”以上の高いJcを有し、外部磁場に
よるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回路
板の製造過程において、ジルコニア基板と鋏被膜の安定
した密着が得られるため工業的に極めて好適な超電導厚
膜回路板である。
可能であシ、また回路の幅が0.5 mの場合でも1
x 10’A/m”以上の高いJcを有し、外部磁場に
よるJcの低下が少ないばかりでなく、超電導厚膜回路
板の製造過程において、ジルコニア基板と鋏被膜の安定
した密着が得られるため工業的に極めて好適な超電導厚
膜回路板である。
Claims (2)
- 1.安定化したジルコニア基板上に,ニツケル,ルテニ
ウム,ロジウム,クロム,モリブデン,タングステン,
オスミウム及びインジウムのうちの少なくとも1種以上
の元素を0.1〜10.0重量部含有した銀とランタノ
イド元素(ただしCe,Pr及びTbを除く)及び/又
はY,Ba,Cu並びにOを主成分とした超電導体との
混合層が形成された超電導厚膜回路板。 - 2.安定化したジルコニア基板上に,ニツケル,ルテニ
ウム,ロジウム,クロム,モリブデン,タングステン,
オスミウム及びインジウムのうち少なくとも1種以上の
元素を0.1〜10.0重量部含有した銀の被膜を形成
した後,その上面にランタノイド元素(ただしCe,P
r及びTbを除く)及び/又はY,Ba,Cu並びにO
を主成分とした超電導体ペーストを塗布し,ついで酸素
を含む雰囲気中で焼成することを特徴とする超電導厚膜
回路板の製造法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2102495A JPH042183A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2102495A JPH042183A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH042183A true JPH042183A (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=14328998
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2102495A Pending JPH042183A (ja) | 1990-04-18 | 1990-04-18 | 超電導厚膜回路板及びその製造法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH042183A (ja) |
-
1990
- 1990-04-18 JP JP2102495A patent/JPH042183A/ja active Pending
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