JPH0325919A - 現像装置 - Google Patents

現像装置

Info

Publication number
JPH0325919A
JPH0325919A JP16153989A JP16153989A JPH0325919A JP H0325919 A JPH0325919 A JP H0325919A JP 16153989 A JP16153989 A JP 16153989A JP 16153989 A JP16153989 A JP 16153989A JP H0325919 A JPH0325919 A JP H0325919A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor substrate
chemicals
nozzles
supporters
dropping
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16153989A
Other languages
English (en)
Inventor
Suehiro Tomiyasu
冨安 末広
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP16153989A priority Critical patent/JPH0325919A/ja
Publication of JPH0325919A publication Critical patent/JPH0325919A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は現像装置に関し、特にノズルを支持する支持体
の構造に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体基板表面に所定の感光性樹脂パターンを形
成する場合、塗布工程、露光工程の後に、投影露光によ
って露光された部分の感光性樹脂を分離して所定の感光
性樹脂パターンを形戒する現像工程がある。
この工程で用いられる現像装置の、半導体基板表面に各
種溶剤を滴下あるいは噴霧するノズル7は、第3図に示
すように、半導体基板1上の空間あるいは側面空間に設
置され、固定または移動する1本の支持体10を通して
、半導体基板】の表面へと薬液6を滴下あるいは噴霧す
る′Wi造となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の現像装置では、ノズルを持つ支持体が1
本である為、噴霧圧,滴下圧の変動により半導体基板表
面の薬液量が不足したり、又、半導体基板の大型化によ
り半導体基板表面の周辺部へ十分に薬液が廻り込まない
ことが生じ、部分的に感光性樹脂膜現像残りを誘発させ
ていた。更に、1本のノズルで噴霧あるいは滴下する場
合には、滴下位置が1個所である為、基体が回転する間
に生ずる現像処理時間の差が、感光性樹脂の半導体基板
表面での面内寸法ばらつきを生じさせる要因となってい
た。
本発明の目的は、半導体基板表面への薬液の拡がり状態
を改良した現像装置を提供することである。
上述した従来の半導体製造装置がノズルを持つ可動な支
持体は1本であるのに対し本発明は複数の可動な支持体
を持つという相違点を有する。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の現像装置は、半導体基板を真空吸着し回転させ
る基体と、この基体上に設けられ水平方向に移動する複
数の支持体と、この支持体に固定され半導体基板上に薬
液を滴下または噴霧するノズルとを含んで構或される。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a),(b)は本発明の第1の実施例の上面図
及びA−A線断面図である。
第1図(a).(b)において、現像装置は、半導体基
板1を真空吸着して、これをパルスモーター2にて回転
させる基体3と、排液口4を有する下養5と、薬液6を
滴下あるいは噴出するノズル7を持ち、水平方向に可動
の2本の支持体10A,IOBと、窓9を側面に有する
上蓋8とから主に横或されている。薬液6を滴下あるい
は噴霧するノズル7は半導体基体1の上方に支持体10
A,IOBによって平行移動可能となっている。
このように構成された第1の実施例により半導体基板1
へ薬液6を塗布する際には、ノズル7を支持体10A,
IOBを平行移動させて半導体基板1の真上に配置する
。そしてノズル先端から薬液6を噴射しながらノズル7
が半導体基板の上方周辺部から中心部に向って移動する
ように支持体10A,IOBを移動させ、回転する半導
体基板1の表面に滴下する.滴下終了後ノズル7は、支
持体10A,IOBを平行移動させることによって、装
置の外に搬出される。
第2図(a).(b)は本発明の第2の実施例の上面図
及びB−B線断面図である。この第2の実施例では、薬
液を滴下または噴霧するノズルを持つ支持体が4本であ
る為、第1の実施例に比べさらに均一に薬液を半導体基
板1上に滴下または噴霧できる利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、薬液を滴下あるいは噴霧
するノズルを固定した支持体を複数本に増やすことによ
り、半導体基板上に薬液が均一にのりやすくなり、部分
的なパターン形成不良を防ぐことができる。更に、数本
のノズルから同時に半導体基板上の数ケ所へ滴下あるい
は噴霧することができる為、半導体基板表面全体で現像
処理時間の均一化が図られ、寸法のばらつきを押えるこ
とが可能となる。これらの効果は、半導体装置の歩留向
上に大きく貢献することができる。
体、4・・・排液口、5・・・下蓋、6・・・薬液、7
・・・ノズル、8・・・上蓋、9・・・窓、10,IO
A〜IOD・・・支持体.

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板を真空吸着し回転させる基体と、この基体上
    に設けられ水平方向に移動する複数の支持体と、この支
    持体に固定され半導体基板上に薬液を滴下または噴霧す
    るノズルとを含むことを特徴とする現像装置。
JP16153989A 1989-06-23 1989-06-23 現像装置 Pending JPH0325919A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16153989A JPH0325919A (ja) 1989-06-23 1989-06-23 現像装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16153989A JPH0325919A (ja) 1989-06-23 1989-06-23 現像装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0325919A true JPH0325919A (ja) 1991-02-04

Family

ID=15737023

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16153989A Pending JPH0325919A (ja) 1989-06-23 1989-06-23 現像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0325919A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102323715A (zh) * 2011-09-16 2012-01-18 西安中为光电科技有限公司 一种防止雾化的光罩板及其制造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59215725A (ja) * 1983-05-23 1984-12-05 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPS62137826A (ja) * 1985-12-11 1987-06-20 Toshiba Corp 半導体ウエハへの処理液塗布装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59215725A (ja) * 1983-05-23 1984-12-05 Toshiba Corp 半導体製造装置
JPS62137826A (ja) * 1985-12-11 1987-06-20 Toshiba Corp 半導体ウエハへの処理液塗布装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102323715A (zh) * 2011-09-16 2012-01-18 西安中为光电科技有限公司 一种防止雾化的光罩板及其制造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100430461B1 (ko) 액막형성장치및액막형성방법
JP2016115693A (ja) 塗布処理方法、コンピュータ記憶媒体及び塗布処理装置
KR20190099124A (ko) 액 처리 장치
JPH0325919A (ja) 現像装置
JPS5941300B2 (ja) 現像処理装置
JP2681133B2 (ja) 処理方法
JPS593430A (ja) ホトレジスト膜形成方法
JP4005257B2 (ja) ノズル及びスピンチャックを備える半導体素子製造装置
JPS5952563A (ja) コ−テイング装置
JPS6281715A (ja) 半導体製造装置
JPS6161416A (ja) 半導体製造装置
JPS63169727A (ja) 塗布装置
JPS62185322A (ja) フオトレジスト塗布装置
JPS6085524A (ja) レジスト塗布方法
JPH05259052A (ja) 半導体基板のスピンコーティング方法および装置
JPS6053307B2 (ja) 感光性樹脂の現像方法
JPS59115763A (ja) 超音波フオグ処理装置
JPH02133916A (ja) レジスト塗布装置
JPH07282476A (ja) 現像液塗布方法及び装置
KR100272521B1 (ko) 반도체 소자의 포토레지스트 도포 방법
KR101043650B1 (ko) 코팅장비의 코터 척
JPS62286225A (ja) 半導体製造装置
JPS59105865A (ja) スプレ−処理装置
JPH01218664A (ja) 回転塗布装置
JPH05228413A (ja) 塗布装置