JPH03256334A - 電界効果トランジスタ - Google Patents
電界効果トランジスタInfo
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- JPH03256334A JPH03256334A JP5443890A JP5443890A JPH03256334A JP H03256334 A JPH03256334 A JP H03256334A JP 5443890 A JP5443890 A JP 5443890A JP 5443890 A JP5443890 A JP 5443890A JP H03256334 A JPH03256334 A JP H03256334A
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- JP
- Japan
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- electrode
- electrodes
- gate electrode
- drain
- gate
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- Pending
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 abstract description 5
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 abstract description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電界効果トランジスタに関し、特にドレイン
電極とゲート電極の間隔がソース電極とゲート電極の間
隔より広い電界効果トランジスタに関するものである。
電極とゲート電極の間隔がソース電極とゲート電極の間
隔より広い電界効果トランジスタに関するものである。
電界効果トランジスタにおいては、ドレイン耐圧を向上
させるために、ドレイン電極とゲート電極の間隔を広げ
る方法が従来より知られている。
させるために、ドレイン電極とゲート電極の間隔を広げ
る方法が従来より知られている。
第5図に、この方法を用いた電界効果トランジスタの一
例を示す。この電界効果トランジスタにおいては、半導
体基板1にソース電極2、ゲート電極3、ドレイン電極
4がそれぞれ形成されている。また、基板1の表層部に
活性層5が形成されている。
例を示す。この電界効果トランジスタにおいては、半導
体基板1にソース電極2、ゲート電極3、ドレイン電極
4がそれぞれ形成されている。また、基板1の表層部に
活性層5が形成されている。
この例では、トランスコンダクタンス(g )口
を維持しながら、ドレイン耐圧を向上させるため、ドレ
イン電極4とゲート電極3の間隔が、ソース電極2とゲ
ート電極3の間隔より広い、非幻象な構造となっている
。
イン電極4とゲート電極3の間隔が、ソース電極2とゲ
ート電極3の間隔より広い、非幻象な構造となっている
。
ところで、ショットキーバリア形FETにおいでは、ソ
ース・ドレインのオーミック電極とゲート電極が異なる
金属材料より形成されている。そして電極形成過程では
それぞれ別々にパターンニングされる。これらの電極の
位置合せは、位置合せ専用のマークを利用して行われる
のが一般的であるが、ゲート長の短いマイクロ波FET
等では、オーミック電極とゲート電極との相対的な位置
関係の調整が微妙であるため、位置合せ専用のマークを
目印に荒く合わせた後、電極自身を利用して目視によっ
て微調整する場合が多い。
ース・ドレインのオーミック電極とゲート電極が異なる
金属材料より形成されている。そして電極形成過程では
それぞれ別々にパターンニングされる。これらの電極の
位置合せは、位置合せ専用のマークを利用して行われる
のが一般的であるが、ゲート長の短いマイクロ波FET
等では、オーミック電極とゲート電極との相対的な位置
関係の調整が微妙であるため、位置合せ専用のマークを
目印に荒く合わせた後、電極自身を利用して目視によっ
て微調整する場合が多い。
しかしながら、上述したドレイン耐圧の向上が図られた
電界効果トランジスタにおいては、ドレイン電極・ゲー
ト電極間とソース電極・ゲート電極間の間隔が異なって
おり、両間隔が予め定められた比率になるように目視で
正確に位置合せすることは困難であった。
電界効果トランジスタにおいては、ドレイン電極・ゲー
ト電極間とソース電極・ゲート電極間の間隔が異なって
おり、両間隔が予め定められた比率になるように目視で
正確に位置合せすることは困難であった。
本発明は、上述した電界効果トランジスタにおいて、ソ
ース電極・ドレイン電極・ゲート電極の各電極の一部に
電極間位置合せ部を設けるものである。この部分におい
ては、ソース電極◆ゲート電極間とドレイン電極・ゲー
ト電極間の間隔が均等になっている。
ース電極・ドレイン電極・ゲート電極の各電極の一部に
電極間位置合せ部を設けるものである。この部分におい
ては、ソース電極◆ゲート電極間とドレイン電極・ゲー
ト電極間の間隔が均等になっている。
電極形成過程において、電極間位置合せ部で各電極間の
間隔が均等になるように位置合せを行うと、その他の部
分でソース・ゲート電極間隔および、ドレイン・ゲート
電極間隔が正確に所望の値になる。
間隔が均等になるように位置合せを行うと、その他の部
分でソース・ゲート電極間隔および、ドレイン・ゲート
電極間隔が正確に所望の値になる。
以下、添付図面の第1図を参照してこの発明の一実施例
を説明する。
を説明する。
同図は本実施例の電界効果トランジスタの構造を示す平
面図である。同図は各電極および配線パターン等の平面
的な関係のみを示したものである。
面図である。同図は各電極および配線パターン等の平面
的な関係のみを示したものである。
GaAsからなる半絶縁性の基板1の上にソース電極2
、ゲート電極3、ドレイン電極4が形成されている。ま
た、基板1の表層部に活性層5が形成されている。
、ゲート電極3、ドレイン電極4が形成されている。ま
た、基板1の表層部に活性層5が形成されている。
ドレイン電極4とゲート電極3の間隔は、ソース電極2
とゲート電極3の間隔より広くなるように形成されてい
る。
とゲート電極3の間隔より広くなるように形成されてい
る。
ソース電極2上の斜線部は電極間位置合せ部2a、ゲー
ト電極3上の斜線部は電極間位置合せ部3a、 ドレイ
ン電極4上の斜線部は電極間位置合せ部4aである。
ト電極3上の斜線部は電極間位置合せ部3a、 ドレイ
ン電極4上の斜線部は電極間位置合せ部4aである。
電極間位置合せ部4aはゲート電極3の方向に突起して
おり、この突起部分では各電極間位置合せ部が等間隔に
なっている。
おり、この突起部分では各電極間位置合せ部が等間隔に
なっている。
従って本実施例では、これらの電極間位置合せ部を目印
にして、各電極間の間隔が均等になるように位置合せを
行うことによって、その他の部分でソース・ゲート電極
間隔および、ドレイン・ゲート電極間隔が正確に所望の
間隔に形成できる。
にして、各電極間の間隔が均等になるように位置合せを
行うことによって、その他の部分でソース・ゲート電極
間隔および、ドレイン・ゲート電極間隔が正確に所望の
間隔に形成できる。
また、位置合せの手順として、ソース電極2とドレイン
電極4を先にパターンニングした後に、ゲート電極3を
パターンニングした場合も、ゲート電極3を先にパター
ンニングした後に、ソース電極2とドレイン電極4をパ
ターンニングした場合も、同様の効果が得られる。
電極4を先にパターンニングした後に、ゲート電極3を
パターンニングした場合も、ゲート電極3を先にパター
ンニングした後に、ソース電極2とドレイン電極4をパ
ターンニングした場合も、同様の効果が得られる。
なお、パターンニングする際の露光装置としては、コン
タクトアライナ型と、ステッパ型が主流であるが、どち
らのタイプの露光装置を使用しても、同様の効果が得ら
れる。
タクトアライナ型と、ステッパ型が主流であるが、どち
らのタイプの露光装置を使用しても、同様の効果が得ら
れる。
第2図は、ソース電極2上の電極間位置合せ部2aを加
工することによって、第1図の実施例と同様の効果を得
ようとするものである。
工することによって、第1図の実施例と同様の効果を得
ようとするものである。
第3図も、ゲート電極3上の電極間位置合せ部3aを加
工することによって、同様の効果を得ようとするもので
ある。
工することによって、同様の効果を得ようとするもので
ある。
第4図は、ゲート電極への給電点を複数ケ所持ったマイ
クロ波低雑音FETに本発明を適用した例を示す平面図
である。同図は各電極および配線パターン等の平面的な
関係のみを示したもので、層間絶縁膜などは省略しであ
る。
クロ波低雑音FETに本発明を適用した例を示す平面図
である。同図は各電極および配線パターン等の平面的な
関係のみを示したもので、層間絶縁膜などは省略しであ
る。
この実施例では、複数ケ所の電極間位置合せ部を目印と
してパターンニングされるため、各電極の位置合せがよ
り正確に行える。
してパターンニングされるため、各電極の位置合せがよ
り正確に行える。
なお、以上に示した各実施例では、電極間位置合せ部と
活性層5は重ならないように形成されているが、ドレイ
ン耐圧に影響を与えない範囲であれば、これらが重なっ
て形成されていても問題はない。
活性層5は重ならないように形成されているが、ドレイ
ン耐圧に影響を与えない範囲であれば、これらが重なっ
て形成されていても問題はない。
以上説明したように本発明の構成によれば、電極間位置
合せ部を目印にすることにより、電極形成過程における
各電極の位置合せか、容易かつ正確に行えるようになる
。
合せ部を目印にすることにより、電極形成過程における
各電極の位置合せか、容易かつ正確に行えるようになる
。
これにより、例えば高出力のマイクロ波用パワーアンプ
が歩留まりよく実現できる。
が歩留まりよく実現できる。
第1図はこの発明の一実施例の電界効果トランジスタを
示す平面図、第2図および第3図は変形例を示す平面図
、第4図は一実施例であるマイクロ波低雑音FETの平
面図、第5図は従来例を示す平面図である。 1・・・基板、2・・・ソース電極、3・・・ゲート電
極、4・・・ドレイン電極、5・・・活性層、2a・・
・ソース電極上の電極間位置合せ部、3a・・・ゲート
電極上の電極間位置合せ部、4a・・・ドレイン電極上
の電極間位置合せ部。 戻パ央トツ1のヌJカ4グj(1) 第2図 炙党倒 第1図 莢凭4列の褒゛弔び’J(2) 第3図 災 1( びJ 第 図 一18′; 牟〔 水 σ“J 第 図
示す平面図、第2図および第3図は変形例を示す平面図
、第4図は一実施例であるマイクロ波低雑音FETの平
面図、第5図は従来例を示す平面図である。 1・・・基板、2・・・ソース電極、3・・・ゲート電
極、4・・・ドレイン電極、5・・・活性層、2a・・
・ソース電極上の電極間位置合せ部、3a・・・ゲート
電極上の電極間位置合せ部、4a・・・ドレイン電極上
の電極間位置合せ部。 戻パ央トツ1のヌJカ4グj(1) 第2図 炙党倒 第1図 莢凭4列の褒゛弔び’J(2) 第3図 災 1( びJ 第 図 一18′; 牟〔 水 σ“J 第 図
Claims (1)
- ドレイン電極とゲート電極の間隔がソース電極とゲート
電極の間隔より広い電界効果トランジスタにおいて、ド
レイン電極・ゲート電極間とソース電極・ゲート電極間
とが均等になる電極間位置合せ部が、前記各電極の一部
によって構成されていることを特徴とする電界効果トラ
ンジスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5443890A JPH03256334A (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 電界効果トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5443890A JPH03256334A (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 電界効果トランジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03256334A true JPH03256334A (ja) | 1991-11-15 |
Family
ID=12970716
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5443890A Pending JPH03256334A (ja) | 1990-03-06 | 1990-03-06 | 電界効果トランジスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03256334A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012004208A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
-
1990
- 1990-03-06 JP JP5443890A patent/JPH03256334A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012004208A (ja) * | 2010-06-15 | 2012-01-05 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
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