JPH0325413Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0325413Y2 JPH0325413Y2 JP13461585U JP13461585U JPH0325413Y2 JP H0325413 Y2 JPH0325413 Y2 JP H0325413Y2 JP 13461585 U JP13461585 U JP 13461585U JP 13461585 U JP13461585 U JP 13461585U JP H0325413 Y2 JPH0325413 Y2 JP H0325413Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- heat sink
- resin layer
- semiconductor device
- leads
- resin
- Prior art date
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- Expired
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 25
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 16
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 16
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 8
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 8
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は半導体装置に関し、特に露出するヒー
トシンクを、放熱板にボルト止めして実装するよ
うな樹脂封止型半導体装置の改良に係わる。
トシンクを、放熱板にボルト止めして実装するよ
うな樹脂封止型半導体装置の改良に係わる。
大電力の樹脂封止型半導体装置では、放熱効率
を高めるために、ヒートシンクが設けられ、この
ヒートシンクは、通常、放熱板に固定され、この
放熱板により熱が外部に放出される。
を高めるために、ヒートシンクが設けられ、この
ヒートシンクは、通常、放熱板に固定され、この
放熱板により熱が外部に放出される。
ところで、上述した樹脂封止型半導体装置は、
従来第4図に示すような構造になつている。即
ち、図中の1はヒートシンク1であり、このヒー
トシンク1にはボルト挿入部として丸穴2が穿設
されている。前記ヒートシンク1上には、半導体
チツプ(図示せず)がマウントされている。また
前記丸穴2を除くヒートシンク1上には、樹脂層
3が前記半導体チツプを覆うように設けられてい
る。この樹脂層3の一側部からは複数のリード4
が延出され、かつ該樹脂層3内において、各リー
ド4は、前記チツプとワイヤを介して接続されて
いる。
従来第4図に示すような構造になつている。即
ち、図中の1はヒートシンク1であり、このヒー
トシンク1にはボルト挿入部として丸穴2が穿設
されている。前記ヒートシンク1上には、半導体
チツプ(図示せず)がマウントされている。また
前記丸穴2を除くヒートシンク1上には、樹脂層
3が前記半導体チツプを覆うように設けられてい
る。この樹脂層3の一側部からは複数のリード4
が延出され、かつ該樹脂層3内において、各リー
ド4は、前記チツプとワイヤを介して接続されて
いる。
上述した構造の樹脂封止型半導体装置の印刷配
線板への実装、放熱板の取付けは、通常次のよう
な工程により行なわれる。
線板への実装、放熱板の取付けは、通常次のよう
な工程により行なわれる。
まず、前記リード4を所定の治具(図示せず)
に固定された印刷配線板5のスルホール6に挿入
し、該印刷配線板5の裏面側から半田7により、
リード7をスルホール6に固定する。つづいて、
同一の治具に放熱板8を固定してヒートシンク1
の丸穴2に該放熱板8の貫通穴9を対向させる。
この後、ヒートシンク1の丸穴2と放熱板8の貫
通穴9にボルト10を挿入し、ナツト11により
ボルト締めを行なつて、ヒートシンク1に放熱板
8を取付ける(第5図図示)。
に固定された印刷配線板5のスルホール6に挿入
し、該印刷配線板5の裏面側から半田7により、
リード7をスルホール6に固定する。つづいて、
同一の治具に放熱板8を固定してヒートシンク1
の丸穴2に該放熱板8の貫通穴9を対向させる。
この後、ヒートシンク1の丸穴2と放熱板8の貫
通穴9にボルト10を挿入し、ナツト11により
ボルト締めを行なつて、ヒートシンク1に放熱板
8を取付ける(第5図図示)。
しかしながら、所定の治具上の印刷配線板5
に、樹脂封止型半導体装置のリード4を挿入して
固定した後、同装置のヒートシンク1に前記治具
に固定された放熱板8をボルト止めする際、第6
図に示すように、印刷配線板5への取付け精度、
つまりヒートシンク1の位置精度により、ヒート
シンク1の丸穴2と放熱板8の貫通穴9の中心位
置が、ずれる場合がある。このように丸穴2、貫
通穴9がずれた状態で、ボルト10を差し込み、
ナツト11によりボルト締めを行うと、半導体装
置は、予め印刷配線板5に固定されているため、
第6図の状態では、半導体装置のヒートシンク1
を、矢印に示す上方に引張る力が加わる。その結
果、半導体装置のリード4に引張力が加わると共
に、リード4とチツプ間のワイヤや樹脂層3自体
にも引張り力が加わるため、ワイヤの破損、樹脂
層3へのクラツク発生等を招き、半導体装置の信
頼性を著しく低下させる。
に、樹脂封止型半導体装置のリード4を挿入して
固定した後、同装置のヒートシンク1に前記治具
に固定された放熱板8をボルト止めする際、第6
図に示すように、印刷配線板5への取付け精度、
つまりヒートシンク1の位置精度により、ヒート
シンク1の丸穴2と放熱板8の貫通穴9の中心位
置が、ずれる場合がある。このように丸穴2、貫
通穴9がずれた状態で、ボルト10を差し込み、
ナツト11によりボルト締めを行うと、半導体装
置は、予め印刷配線板5に固定されているため、
第6図の状態では、半導体装置のヒートシンク1
を、矢印に示す上方に引張る力が加わる。その結
果、半導体装置のリード4に引張力が加わると共
に、リード4とチツプ間のワイヤや樹脂層3自体
にも引張り力が加わるため、ワイヤの破損、樹脂
層3へのクラツク発生等を招き、半導体装置の信
頼性を著しく低下させる。
また、前記ヒートシンク1の丸穴2と放熱板8
の貫通穴9とのずれ方向が逆の場合には、ボルト
10の挿入、ナツト11によるボルト締めに際し
て、半導体装置のリード4に圧縮力が加わるた
め、上述したのと同様な問題を生じる。
の貫通穴9とのずれ方向が逆の場合には、ボルト
10の挿入、ナツト11によるボルト締めに際し
て、半導体装置のリード4に圧縮力が加わるた
め、上述したのと同様な問題を生じる。
本考案は、ヒートシンクに放熱板をネジ止めす
る際、そのヒートシンクと放熱板の相対的な位置
関係にずれを生じても、ボルト締めに際して、リ
ード等に応力が発生するのを防止した高信頼性の
半導体装置を提供しようとするものである。
る際、そのヒートシンクと放熱板の相対的な位置
関係にずれを生じても、ボルト締めに際して、リ
ード等に応力が発生するのを防止した高信頼性の
半導体装置を提供しようとするものである。
本考案は、ボルト挿入部を有するヒートシンク
と、このヒートシンク上にマウントされた半導体
チツプと、前記ボルト挿入部付近を除くヒートシ
ンク上に前記チツプを覆うように設けられた樹脂
層と、この樹脂層の一側部から外部に延出され、
該樹脂層内で前記チツプとワイヤを介して接続さ
れた複数のリードとを具備した樹脂封止型半導体
装置において、前記ヒートシンクのボルト挿入部
が長穴又は前記リードの延出方向と逆方向に切り
欠かれたスリツトからなることを特徴とするもの
である。かかる本考案によれば、ボルト挿入時
に、リード等の損傷を防止した半導体装置を得る
ことができる。
と、このヒートシンク上にマウントされた半導体
チツプと、前記ボルト挿入部付近を除くヒートシ
ンク上に前記チツプを覆うように設けられた樹脂
層と、この樹脂層の一側部から外部に延出され、
該樹脂層内で前記チツプとワイヤを介して接続さ
れた複数のリードとを具備した樹脂封止型半導体
装置において、前記ヒートシンクのボルト挿入部
が長穴又は前記リードの延出方向と逆方向に切り
欠かれたスリツトからなることを特徴とするもの
である。かかる本考案によれば、ボルト挿入時
に、リード等の損傷を防止した半導体装置を得る
ことができる。
以下、本考案を、ヒートシンクを有する樹脂封
止型半導体装置に適用した例について、第1図を
参照して説明する。なお、前述した第4図から第
6図の部材と同様なものは、同符号を付して説明
を省略する。
止型半導体装置に適用した例について、第1図を
参照して説明する。なお、前述した第4図から第
6図の部材と同様なものは、同符号を付して説明
を省略する。
本考案の半導体装置は、ヒートシンク1に、リ
ード4の延出方向と平行な方向に、楕円形の長穴
12を穿設した構造になつている。
ード4の延出方向と平行な方向に、楕円形の長穴
12を穿設した構造になつている。
このような構造によれば、今、第2図に示すよ
うに所定の治具(図示せず)上の印刷配線板5に
リード4を挿入して固定した後、ヒートシンク1
に前記治具に固定された放熱板8をボルト止めす
る際、ヒートシンク1には、リード4の延出方向
と平行な方向に延びた長穴12が穿設されている
ため、印刷配線板5への取付け精度、つまりヒー
トシンク1の位置精度が低い場合でも、該貫通穴
9とヒートシンク1の長穴12とは合致すること
になる。その結果、ヒートシンク1の長穴12と
放熱板8の貫通穴9にボルトを挿入してナツトに
よりボルト締めを行う際、半導体装置のヒートシ
ンク1、リード4等に引張力又は圧縮力が加わる
ことなくヒートシンク1に放熱板8を取付けでき
る。従つて、放熱板8の取付に際して、リード4
の損傷、該ワイヤの切断、樹脂層3のクラツク発
生を防止でき、信頼性の向上を達成できる。
うに所定の治具(図示せず)上の印刷配線板5に
リード4を挿入して固定した後、ヒートシンク1
に前記治具に固定された放熱板8をボルト止めす
る際、ヒートシンク1には、リード4の延出方向
と平行な方向に延びた長穴12が穿設されている
ため、印刷配線板5への取付け精度、つまりヒー
トシンク1の位置精度が低い場合でも、該貫通穴
9とヒートシンク1の長穴12とは合致すること
になる。その結果、ヒートシンク1の長穴12と
放熱板8の貫通穴9にボルトを挿入してナツトに
よりボルト締めを行う際、半導体装置のヒートシ
ンク1、リード4等に引張力又は圧縮力が加わる
ことなくヒートシンク1に放熱板8を取付けでき
る。従つて、放熱板8の取付に際して、リード4
の損傷、該ワイヤの切断、樹脂層3のクラツク発
生を防止でき、信頼性の向上を達成できる。
なお、上記実施例では、ヒートシンク1に楕円
形の長穴12を穿設したが、第3図に示すよう
に、スリツト12を設けても同様な効果が得られ
る。
形の長穴12を穿設したが、第3図に示すよう
に、スリツト12を設けても同様な効果が得られ
る。
以上詳述した如く、本考案によれば、ヒートシ
ンク放熱板をネジ止めする際、その放熱板の相対
的な位置関係にずれを生じても、ボルト締めに際
して、リード等に応力が発生せずリードの損傷や
樹脂層のクラツク発生を防止した高信頼性の半導
体装置を提供できる。
ンク放熱板をネジ止めする際、その放熱板の相対
的な位置関係にずれを生じても、ボルト締めに際
して、リード等に応力が発生せずリードの損傷や
樹脂層のクラツク発生を防止した高信頼性の半導
体装置を提供できる。
第1図は本考案の実施例を示す樹脂封止型半導
体装置の正面図、第2図は第1図の装置の実装時
の側面図、第3図は本考案の他の実施例を示す正
面図、第4図は、従来の樹脂封止型半導体装置の
斜視図、第5図は第4図の装置の実装状態を示す
側面図、第6図は、装置の実装時における問題点
を示した側面図である。 1……ヒートシンク、3……樹脂層、4……リ
ード、5……印刷配線板、6……スルホール、7
……半田、8……放熱板、9……貫通穴、10…
…ボルト、11……長穴、12……スリツト。
体装置の正面図、第2図は第1図の装置の実装時
の側面図、第3図は本考案の他の実施例を示す正
面図、第4図は、従来の樹脂封止型半導体装置の
斜視図、第5図は第4図の装置の実装状態を示す
側面図、第6図は、装置の実装時における問題点
を示した側面図である。 1……ヒートシンク、3……樹脂層、4……リ
ード、5……印刷配線板、6……スルホール、7
……半田、8……放熱板、9……貫通穴、10…
…ボルト、11……長穴、12……スリツト。
Claims (1)
- ボルト挿入部を有するヒートシンクと、このヒ
ートシンク上にマウントされた半導体チツプと、
前記ボルト挿入部付近を除くヒートシンク上に前
記チツプを覆うように設けられた樹脂層と、この
樹脂層の一側部から外部に延出され、該樹脂層内
で前記チツプとワイヤを介して接続された複数の
リードとを具備した樹脂封止型半導体装置におい
て、前記ヒートシンクのボルト挿入部が長穴又は
前記リードの延出方向と逆方向に切り欠かれたス
リツトからなることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13461585U JPH0325413Y2 (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13461585U JPH0325413Y2 (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6242246U JPS6242246U (ja) | 1987-03-13 |
JPH0325413Y2 true JPH0325413Y2 (ja) | 1991-06-03 |
Family
ID=31036023
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13461585U Expired JPH0325413Y2 (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0325413Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-09-03 JP JP13461585U patent/JPH0325413Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6242246U (ja) | 1987-03-13 |
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