JPH03249578A - ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法 - Google Patents

ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法

Info

Publication number
JPH03249578A
JPH03249578A JP2047473A JP4747390A JPH03249578A JP H03249578 A JPH03249578 A JP H03249578A JP 2047473 A JP2047473 A JP 2047473A JP 4747390 A JP4747390 A JP 4747390A JP H03249578 A JPH03249578 A JP H03249578A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic unit
logic
power
power consumption
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2047473A
Other languages
English (en)
Inventor
Akiko Sakashita
坂下 暁子
Katsunori Oshita
大下 勝徳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP2047473A priority Critical patent/JPH03249578A/ja
Publication of JPH03249578A publication Critical patent/JPH03249578A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ロジックユニット試験装置およびロジックユニットの消
費電力測定方法に関し、 ロジックユニット毎に論理動作中の消費電力を簡単に測
定できる手段の提供を目的とし、複数のロジックユニッ
トを接続部を介して装着すると共に、該接続部には外部
試験装置を接続することにより前記ロジックユニットの
電気的試験を行うことが可能な構造としたロジックユニ
ット試験装置において、前記接続部と被試験ロジックユ
ニットの間に接続されて信号層により信号を伝達し得る
構造であると共に、電源層は前記接続部より複数の入力
線を通して電源供給される電源入力系と複数の出力線を
通して前記被試験ロジックユニットに電源供給する電源
出力系とに分割され前記電源入力系と前記電源出力系と
は抵抗を介して接続し、抵抗の両端に電流測定装置を接
続し得るようにロジックユニット試験装置の接続基板を
構成する。
さらに上記接続基板を用いたロジックユニットの消費電
力測定方法が示されている。
〔産業上の利用分野〕
本発明はロジックユニット試験装置およびロジックユニ
ットの消費電力測定方法に関する。
論理動作を実行する装置は、通常複数のロジックユニ・
ノドにより構成される。そしてロジックユニット毎の論
理動作中の消費電力を測定する場合は、被ロジンクユニ
ットを装置に接続することにより装置全体の論理動作を
実行する必要がある。
特に(、−MOS (相補形金属酸化膜半導体)素子を
使用した装置は動作速度により消費電力が変動する要素
を持っているため、論理動作中の消費電力の測定を行う
ことができるロジックユニット試験装置および測定方法
の実現が望まれている。
〔従来の技術〕
複数のロジックユニットよりなる装置のロジックユニッ
トの試験装置の一例を第3図に示す。
この試験装置は、複数の試験用ロジ・ンクユニット3と
、外部試験装置5が接続部4中の図示しない配線により
接続されている。
この試験装置では、試験対象の被試験ロジックユニット
2と対応する試験用ロジックユニット3を取り外して、
代わりに被試験用ロジックユニット2を接続し、外部試
験装置5により本試験装置を起動させて、被試験ロジッ
クユニットの論理動作等の各種試験を行うことができる
〔発明が解決しようとする課題〕
ところでロジックユニット毎に論理動作中の消費電力を
測定する必要がある場合に、ロジックユニット毎の電源
供給ラインが一本化されていればそのラインに流れる電
流を測定すれば良いので特に問題はない。
しかし−船釣にロジックユニットは多層配線基板に素子
を実装した構造をとっており、また上記接続部よりコネ
クタ等を介して多数のビンより電源層に電源を供給する
場合が多い。
このため多数のピンより供給される電源より消費電流を
測定することは困難であり、がっ手間がかかることであ
って現実的ではない。
本発明はロジックユニット毎に論理動作中の消費電力を
簡単に測定できる手段の提供を目的とする。
〔課題イ解決する手段〕
上記の課題は、 複数のロジックユニットを接続部を介して装着すると共
に、該接続部には外部試験装置を接続することにより前
記ロジックユニットの電気的試験を行うことが可能な構
造としたロジックユニット試験装置において、 前記接続部と被試験ロジックユニットの間に接続されて
信号層により信号を伝達し得る構造であると共に、電源
層は前記接続部より複数の入力線を通して電源供給され
る電源入力系と複数の出力線を通して前記被試験ロジッ
クユニ・ントに電源供給する電源出力系とに分割され、
前記電源入力系と前記電源出力系とは抵抗を介して接続
し、抵抗の両端に電流測定装置を接続し得る構造とした
ロジックユニット試験装置の接続基板、 および被試験ロジックユニットを請求項1に記載の接続
基板を介して前記ロジックユニット試験装置の接続部に
接続し、前記抵抗の両端に電流測定装置を接続して、前
記ロジックユニット試験装置により論理動作を実行する
と同時に前記抵抗に流れる電流を測定して、被試験ロジ
ックユニットの消費電力を測定するロジックユニットの
消費電力測定方法により解決される。
(作用〕 上記の構成の接続基板はロジックユニット試験装置の接
続部と被試験ロジックユニットとの間に接続される。接
続部より送出される信号はこの接続基板の信号層を介し
て被試験ロジックユニットに伝達されるため、被試験ロ
ジックユニットは各種論理動作が可能である。
さらに多数の人力線を通じて供給される電源を一本化し
て上記の抵抗を介して多数の出力線に出力する構成とす
ることにより、この抵抗を流れる電流を測定して論理動
作中の被試験ロジ・ンクユニットの消費電力を測定する
ことができる。
(実施例〕 以下第1図ないし第2図を参照して本発明の一実施例を
説明する。
第1図を用いて本発明の一実施例の接続基板を説明する
接続基板1は一端に試験装置の接続部(具体的にはバッ
クボード)4と接続するバックボードコネクタ14が設
けられており、反対端にはケーブルコネクタ15が設け
られている。
このケーブルコネクタ15はケーブル22を介して被試
験ロジックユニット2のフロントコネクタ21に接続さ
れる。
この接続基板1は信号層と電源層(およびアース層)よ
り構成される多層配線基板である。信号層はバックボー
ドコネクタ14とケーブルコネクタ15との間で信号を
伝達し得る配線がなされている。
そして電源層は第1図に示すようにハックボードコネク
タ14より電源が供給される電源入力系と、ケーブルコ
ネクタ15に電源が供給される電源出力系とに分割され
ている。そして上記の電源入力系14とケーブルコネク
タ15は抵抗13によって接続されている。この抵抗1
3の抵抗値は1〜2Ω程度の低いものである。また抵抗
13の両端13a(入力系側)、13b(出力系側)と
ハックパネルコネクタ14とを結ぶパターン16a、1
6bが配線されている。
このパターン16a、16bはバックボード4中の図示
しない配線を介して、外部試験装置5の一つである電流
系51に接続される。
第2図は本発明が適用されるロジックユニット試験装置
の一例であり、第3図に示した試験装置に電流測定装置
を接続し得る配線をバックボードに付加したものである
。図中、第3図と同一の部分は同一の参照符号を付して
これを示す。
本試験装置ではバックボード4に複数の試験用ロジック
ユニット3がバックボード接続されると共に外部試験装
置5がケーブルで接続されている。
マタハックボード4に接続される試験用ロジックユニッ
ト3は図示しないシェルフに装着されて容易に着脱可能
となっている。
またバンクボード4には接続基板1のパターン16a、
16bより外部試験装置5中の電流測定装置51に接続
する配線がなされている。
ナオ、この試験装置では被試験ロジックユニット毎に対
応する信号層および電源層の配線がなされた接続基板を
用意する。
次に本実施例による消費電力測定方法を説明する。
まず被試験ロジックユニット2に対応する試験用ロジッ
クユニット3をバンクボード4より接続を外してシェル
フより抜き取ったあと、接続基板1をシェルフに装着し
てバックボード4に接続する。そして被試験ロジックユ
ニット2をケーブル22を介して接続基板lに接続する
そして外部試験装置5によりロジック試験装置を起動さ
せて論理動作を実行させて、被試験ロジックユニット2
の各種試験や動作分析を行う。
この論理動作実行中に電流計51は抵抗13に流れる電
流を測定する。電源層の電位は常に一定電圧(例えば+
5V)であるので、上記電流の測定値と上記一定電圧を
掛は合わせることによりロジックユニットの消費電力を
容易に求めることができる。
勿論この接続基板1は電流計51を接続しない状態であ
っても信号層により接続部4と被試験ロジックユニット
2との信号の伝達が行われるため、接続基板1を接続し
た状態で論理動作の試験を実行することができる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、種々の
変形態様が可能であってこれを排除するものではない。
例えば本発明を人工衛星等の特殊環境用装置のロジック
ユニット試験装置に適用しても良い。
この試験装置は特願昭63−299851号にて示され
ているものであって、被試験対象の特殊環境用ロジック
ユニットと論理的に等価である汎用ロジックユニットを
複数用意すると共に、特殊環境用ロジックユニットと対
応する汎用ロジックユニットとを電気的に置換する変換
手段を具備したものである。
即ち本発明において、接続基板の信号層を上記の電気的
置換を可能とする配線とすれば、試験対象である特殊環
境用ロジックユニットと試験用の汎用ロジックユニット
とを電気的に置換することが可能となり、また論理動作
中の特殊環境用ロジックユニットの消費電力の測定を容
易に実行することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、複数のロジック
ユニットを実装した装置において、ロジックユニット毎
の論理動作中の消費電力を簡単に測定することが出来る
。特に論理動作中に測定が可能であるため、動作速度お
よび動作状態に対応した木目の細かい測定データが得ら
れるため、実用上の効果が大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の接続基板を示す図、第2図
は本発明の一実施例が適用されるロジックユニット試験
装置の構成を示すブロック図、第3図はロジックユニッ
ト試験装置の一例を示す図である。 図において、 接続基板、 被試験ロジックユニット、 試験用ロジックユニット、 接続部(バックボード)、 外部試験装置、 電源入力系、 電源出力系、 抵抗、 電流測定装置。 1浮枕基板 本発明の 実於例1のf−続基板乏ホT図 第 1 図 第 2 図 第 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のロジックユニットを接続部を介して装着す
    ると共に、該接続部には外部試験装置を接続することに
    より前記ロジックユニットの電気的試験を行うことが可
    能な構造としたロジックユニット試験装置において、 前記接続部と被試験ロジックユニットの間に接続されて
    信号層により信号を伝達し得る構造であると共に、電源
    層は前記接続部より複数の入力線を通して電源供給され
    る電源入力系と複数の出力線を通して前記被試験ロジッ
    クユニットに電源供給する電源出力系とに分割され、前
    記電源入力系と前記電源出力系とは抵抗を介して接続し
    、抵抗の両端に電流測定装置を接続し得る構造としたこ
    とを特徴とするロジックユニット試験装置の接続基板。
  2. (2)被試験ロジックユニットを請求項1に記載の接続
    基板を介して前記ロジックユニット試験装置の接続部に
    接続し、前記抵抗の両端に電流測定装置を接続して、前
    記ロジックユニット試験装置により論理動作を実行する
    と同時に前記抵抗を流れる電流を測定して、被試験ロジ
    ックユニットの消費電力を測定することを特徴とするロ
    ジックユニットの消費電力測定方法。
JP2047473A 1990-02-28 1990-02-28 ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法 Pending JPH03249578A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2047473A JPH03249578A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2047473A JPH03249578A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03249578A true JPH03249578A (ja) 1991-11-07

Family

ID=12776113

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2047473A Pending JPH03249578A (ja) 1990-02-28 1990-02-28 ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03249578A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0087212B1 (en) Method of and apparatus for the automatic diagnosis of the failure of electrical devices connected to common bus nodes and the like
EP0342784B1 (en) Program controlled in-circuit test of analog to digital converters
CN100492997C (zh) 组合式现场总线板的诊断系统
US10156606B2 (en) Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same
JP3555953B2 (ja) プリング抵抗を備える接続部をテストする装置
US20010028256A1 (en) Diagnostic apparatus for electronics circuit and diagnostic method using same
JPH03249578A (ja) ロジックユニット試験装置の接続基板およびロジックユニットの消費電力測定方法
JP3280126B2 (ja) プリント回路板試験装置
JP2000280999A (ja) インタフェースチェッカ
KR20010070252A (ko) 반도체 시험장치의 기준전위 설정방법 및 장치
US9852036B2 (en) Configurable input/output sub-channels for optimized diagnostics
CN214041575U (zh) 显示模组的测试装置
JP3195670B2 (ja) 測定装置におけるアンプユニットのチェック方法
JPS60231393A (ja) 印刷配線板
JPH0130429B2 (ja)
SU805264A1 (ru) Устройство дл поиска неисправного логическогоМОдул B диСКРЕТНОй СиСТЕМЕ упРАВлЕНи
JPH1183946A (ja) 被測定基板用テスト装置
JP2002090427A (ja) 半導体試験装置
DE60214746T2 (de) Testschaltung
JP2537030Y2 (ja) Lsiテスタ
JP2624129B2 (ja) 多ピン半導体集積回路の検査装置
JPH03293572A (ja) 基板部品検査回路
JPS62211575A (ja) Ic回路診断装置
JPH1194896A (ja) 半導体試験装置用布線インターフェイス検査装置
JPS60225441A (ja) Lsiのテスト方法