JPH03241777A - 光導電型紫外線センサー - Google Patents
光導電型紫外線センサーInfo
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- JPH03241777A JPH03241777A JP1295100A JP29510089A JPH03241777A JP H03241777 A JPH03241777 A JP H03241777A JP 1295100 A JP1295100 A JP 1295100A JP 29510089 A JP29510089 A JP 29510089A JP H03241777 A JPH03241777 A JP H03241777A
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Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は紫外線が照射されると抵抗値が変化する光導電
効果を利用した光導電型紫外線センサーに関する。
効果を利用した光導電型紫外線センサーに関する。
従来、紫外線センサーには、基本的に、紫外線が照射さ
れると抵抗値が変化することを利用した光導電型紫外線
センサーと、紫外線が照射されると起電力を発生するこ
とを利用した光起電力型紫外線センサーとが存在する。
れると抵抗値が変化することを利用した光導電型紫外線
センサーと、紫外線が照射されると起電力を発生するこ
とを利用した光起電力型紫外線センサーとが存在する。
しかしながら、いずれの場合にも紫外線受光素子が紫外
線のみならず可視光にも応答をもつため、紫外線センサ
ーとして使用するにあ(つ′ては紫外線のみを透過する
バンドパスフィルターなどの光学フィルター類用いるこ
とが不可欠であった。しかも、通常の光導電型素子では
、照射量に対する出力の直線性に問題があり、これらの
解決が望まれていた。
線のみならず可視光にも応答をもつため、紫外線センサ
ーとして使用するにあ(つ′ては紫外線のみを透過する
バンドパスフィルターなどの光学フィルター類用いるこ
とが不可欠であった。しかも、通常の光導電型素子では
、照射量に対する出力の直線性に問題があり、これらの
解決が望まれていた。
本発明は、フィルター類を一切用いず、かつ、照射紫外
線量に対する出力の直線性をも解決した、光導電型紫外
線センサーを提供しようとするものである。
線量に対する出力の直線性をも解決した、光導電型紫外
線センサーを提供しようとするものである。
本発明者らは、鋭意検討した結果2、紫外線感受材料と
して光学的禁止帯幅(Eopt)が紫外部にある酸化亜
鉛薄膜を用い、可視光に対して実質的に透明で光感受性
をもたない光導電型紫外線センサーとすることにより、
上記課題を解決することができることを見出し、本発明
を完成した。すなわち、本発明は、基板上に酸化亜鉛薄
膜と該薄膜層の紫外線照射による抵抗値の変化を抽出す
る電極を形成してなる光導電型紫外線センサー、である
。
して光学的禁止帯幅(Eopt)が紫外部にある酸化亜
鉛薄膜を用い、可視光に対して実質的に透明で光感受性
をもたない光導電型紫外線センサーとすることにより、
上記課題を解決することができることを見出し、本発明
を完成した。すなわち、本発明は、基板上に酸化亜鉛薄
膜と該薄膜層の紫外線照射による抵抗値の変化を抽出す
る電極を形成してなる光導電型紫外線センサー、である
。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明は、基板上に酸化亜鉛薄膜と該薄膜層の紫外線照
射による抵抗値の変化を抽出する電極を形成した光導電
型紫外線センサーに関するものである。
射による抵抗値の変化を抽出する電極を形成した光導電
型紫外線センサーに関するものである。
本発明においては、紫外線感受材料として光学的禁止帯
幅(Eopt )が紫外部にあり、好ましくは3.0−
3.2eV程度の酸化亜鉛薄膜を用いる。一般に酸化亜
鉛薄膜はその作製方法により、Eoptが2.9−3,
3eV程度の範囲になるが、Eoptが3.OeVより
あまり小さくなると可視光に対する感受性が高まり可視
光による光導電性が無視できなくなる。またEoptが
3.2eVよりあまり大きい膜においては紫外線に対す
る感受性の低下を引き起こしセンサー感度の低下を招く
ことになる。従って、本発明においては、Eoptが3
.0−3,2eV程度の薄膜を用いる。かかる酸化亜鉛
薄膜は紫外線に対し光導電性を示し、かつ可視光に対し
て実質的に透明で光導電性を示さないことから、紫外線
のみを透過させるフィルター類を一切用いずに紫外線セ
ンサーを構成することができる。
幅(Eopt )が紫外部にあり、好ましくは3.0−
3.2eV程度の酸化亜鉛薄膜を用いる。一般に酸化亜
鉛薄膜はその作製方法により、Eoptが2.9−3,
3eV程度の範囲になるが、Eoptが3.OeVより
あまり小さくなると可視光に対する感受性が高まり可視
光による光導電性が無視できなくなる。またEoptが
3.2eVよりあまり大きい膜においては紫外線に対す
る感受性の低下を引き起こしセンサー感度の低下を招く
ことになる。従って、本発明においては、Eoptが3
.0−3,2eV程度の薄膜を用いる。かかる酸化亜鉛
薄膜は紫外線に対し光導電性を示し、かつ可視光に対し
て実質的に透明で光導電性を示さないことから、紫外線
のみを透過させるフィルター類を一切用いずに紫外線セ
ンサーを構成することができる。
この様な酸化亜鉛薄膜は、酸化亜鉛を原料としたスパッ
タリング法、真空蒸着法やイオンブレーティング法、あ
るいは金属亜鉛を原料とした反応性スパッタリング法や
反応性イオンブレーティング法などの物理的成膜技術、
あるいはCVD法やゾルゲル法などの化学的成膜技術を
適用し作製することができる。Eoptが3.0−3.
2eVの酸化亜鉛薄膜を形成するためには、薄膜形成時
の雰囲気酸素濃度の制御が重要である。まず、雰囲気酸
素濃度を充分に大にして薄膜を形成すると、はぼ3.3
eVOものが得られる。そこで、徐々に雰囲気酸素濃度
を減少させていくとEoptがこれに対応して徐々に減
少しEoptが3.0−3゜2eVの範囲のものが得ら
れるので、簡単な試行法により、容易に本発明の対象と
する範囲のEoptのものが製造されるのである。
タリング法、真空蒸着法やイオンブレーティング法、あ
るいは金属亜鉛を原料とした反応性スパッタリング法や
反応性イオンブレーティング法などの物理的成膜技術、
あるいはCVD法やゾルゲル法などの化学的成膜技術を
適用し作製することができる。Eoptが3.0−3.
2eVの酸化亜鉛薄膜を形成するためには、薄膜形成時
の雰囲気酸素濃度の制御が重要である。まず、雰囲気酸
素濃度を充分に大にして薄膜を形成すると、はぼ3.3
eVOものが得られる。そこで、徐々に雰囲気酸素濃度
を減少させていくとEoptがこれに対応して徐々に減
少しEoptが3.0−3゜2eVの範囲のものが得ら
れるので、簡単な試行法により、容易に本発明の対象と
する範囲のEoptのものが製造されるのである。
=3
本発明においては、基板としては絶縁性の基板、例えば
石英、ガラス、アル逅すなどの無機材料からなる基板、
あるいはポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレート
、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレートなどに
代表されるプラスチックス基板を用′いることが好まし
い。
石英、ガラス、アル逅すなどの無機材料からなる基板、
あるいはポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレート
、ポリカーボネート、ポリメチルメタクリレートなどに
代表されるプラスチックス基板を用′いることが好まし
い。
酸化亜鉛薄膜の紫外線照射による抵抗値の変化を抽出す
る電極としては、金、白金、銀、銅、クロム、ニッケル
、アル果ニウムなどの金属材料あるいは酸化インジウム
、酸化錫などの金属酸化物を用いる。これらを、抵抗加
熱あるいは電子ビーム蒸着法またはスパッタリング法や
イオンブレーティング法などの物理的酸膜技術、あるい
はCVD法やゾルゲル法などの化学的成膜技術を用い、
マスク法またはエツチング法によりコプレーナ型の電極
パターンを形成する。
る電極としては、金、白金、銀、銅、クロム、ニッケル
、アル果ニウムなどの金属材料あるいは酸化インジウム
、酸化錫などの金属酸化物を用いる。これらを、抵抗加
熱あるいは電子ビーム蒸着法またはスパッタリング法や
イオンブレーティング法などの物理的酸膜技術、あるい
はCVD法やゾルゲル法などの化学的成膜技術を用い、
マスク法またはエツチング法によりコプレーナ型の電極
パターンを形成する。
本発明においては、例えば、絶縁性基板上に酸化亜鉛薄
膜の抵抗値変化を抽出する電極をマスク法によりくし型
のパターンに形成し、この電極の端部をマスクした状態
で酸化亜鉛薄膜を形成し、一 該電極端部にリード体を取り付けるという構造をとるこ
とが好ましい。この時、紫外線を酸化亜鉛薄膜側から入
射せしめると、酸化亜鉛薄膜の抵抗値変化がくし型電極
により抽出されリード体から外部に導出される。
膜の抵抗値変化を抽出する電極をマスク法によりくし型
のパターンに形成し、この電極の端部をマスクした状態
で酸化亜鉛薄膜を形成し、一 該電極端部にリード体を取り付けるという構造をとるこ
とが好ましい。この時、紫外線を酸化亜鉛薄膜側から入
射せしめると、酸化亜鉛薄膜の抵抗値変化がくし型電極
により抽出されリード体から外部に導出される。
なお、上記構造以外にも、基板上に酸化亜鉛薄膜をあら
かじめ形成したのち、マスク法やエツチング法などによ
り所定の電極パターンを形成した構造においても同様の
効果が得られ、保護層を設けることにより電極損傷のな
い紫外線センサーを得ることができる。
かじめ形成したのち、マスク法やエツチング法などによ
り所定の電極パターンを形成した構造においても同様の
効果が得られ、保護層を設けることにより電極損傷のな
い紫外線センサーを得ることができる。
第1図は、本発明の実施の態様を示すものである。1は
絶縁性の基板で、例えば石英、ガラス、アル逅すなどの
無機材料からなる基板、あるいはポリ塩化ビニル、ポリ
エチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメチ
ルメタクリレートなどに代表されるプラスチックス基板
、2は該基板の一生面に被着された電極で、金、白金、
銀、銅、クロム、ニッケル、アルミニウムなどの金属材
料あるいは酸化インジウム、酸化錫などの金属酸化物か
らなっている。3は電極2の端部を露出せしめた状態で
被着された紫外線感受体である酸化亜鉛薄膜であり、4
は上記電極2に結合された酸化亜鉛薄膜3の抵抗値変化
を外部に導出するために該露出した端部に取り付けられ
たリード体である。なお、酸化亜鉛被膜の厚みは、10
0人〜10000人程度であり、電極の厚みは、300
〜10000人である。
絶縁性の基板で、例えば石英、ガラス、アル逅すなどの
無機材料からなる基板、あるいはポリ塩化ビニル、ポリ
エチレンテレフタレート、ポリカーボネート、ポリメチ
ルメタクリレートなどに代表されるプラスチックス基板
、2は該基板の一生面に被着された電極で、金、白金、
銀、銅、クロム、ニッケル、アルミニウムなどの金属材
料あるいは酸化インジウム、酸化錫などの金属酸化物か
らなっている。3は電極2の端部を露出せしめた状態で
被着された紫外線感受体である酸化亜鉛薄膜であり、4
は上記電極2に結合された酸化亜鉛薄膜3の抵抗値変化
を外部に導出するために該露出した端部に取り付けられ
たリード体である。なお、酸化亜鉛被膜の厚みは、10
0人〜10000人程度であり、電極の厚みは、300
〜10000人である。
〔実施例1〕
ガラス基板上に、電極間距離200μm、長さ10cm
のくし型電極として、クロムを電子ビム蒸着法により厚
さ1000人形威し形成その上に抵抗変化を取り出す電
極端部をマスクし、酸化亜鉛(安定剤として5%の酸化
アル旦ニウムを含む)をターゲット材料としスパッタリ
ング法により酸化亜鉛膜を1000人積層1た。なお、
スパッタリングはアルゴン5SCCM、酸素5SCCM
のガス組成にて出力100Wの高周波スパッタリング装
置にて行った。この時の光学的禁止帯幅(Eopt )
は3.OeVであり、成膜速度は25久/minであっ
た。
のくし型電極として、クロムを電子ビム蒸着法により厚
さ1000人形威し形成その上に抵抗変化を取り出す電
極端部をマスクし、酸化亜鉛(安定剤として5%の酸化
アル旦ニウムを含む)をターゲット材料としスパッタリ
ング法により酸化亜鉛膜を1000人積層1た。なお、
スパッタリングはアルゴン5SCCM、酸素5SCCM
のガス組成にて出力100Wの高周波スパッタリング装
置にて行った。この時の光学的禁止帯幅(Eopt )
は3.OeVであり、成膜速度は25久/minであっ
た。
〔実施例2〕
厚さ125μmのポリエチレンテレフタレート上に電極
間距離200μm、長さ10cmのくし型電極を、アル
ミニウムを抵抗加熱蒸着法により厚さ1500人形威し
形成その上に抵抗変化を取り出す電極部分をマスクし、
金属亜鉛を原料として酸素プラズマを用いた反応性高周
波イオンブレーティング法により、厚さ1000人の酸
化亜鉛薄膜を形成した。この時の光学的禁止帯幅(Eo
pt)は3,2eVであり、成膜速度は19人/min
であった。
間距離200μm、長さ10cmのくし型電極を、アル
ミニウムを抵抗加熱蒸着法により厚さ1500人形威し
形成その上に抵抗変化を取り出す電極部分をマスクし、
金属亜鉛を原料として酸素プラズマを用いた反応性高周
波イオンブレーティング法により、厚さ1000人の酸
化亜鉛薄膜を形成した。この時の光学的禁止帯幅(Eo
pt)は3,2eVであり、成膜速度は19人/min
であった。
実施例1および2の紫外線センサーの紫外線導電率と暗
導電率を測定した。いずれも暗導電率に対して50μW
/cm”の紫外線照射時の導電率は2桁以上増大した。
導電率を測定した。いずれも暗導電率に対して50μW
/cm”の紫外線照射時の導電率は2桁以上増大した。
またバイアス電圧に対する光電流の増加は直線的となる
とともに紫外線のない可視光のみの照射時あるいは賄時
には光電流は7 十分小さくなっている。紫外線照射量に対する光電流の
測定結果を第2図に示す。図に示す様に紫外線照射量に
対し光電流は直線的に変化しており、本発明が可視光除
去のためのフィルターを設けることなく、紫外線のみに
応答する紫外線センサーとして十分実用できるものであ
ることが確認された。
とともに紫外線のない可視光のみの照射時あるいは賄時
には光電流は7 十分小さくなっている。紫外線照射量に対する光電流の
測定結果を第2図に示す。図に示す様に紫外線照射量に
対し光電流は直線的に変化しており、本発明が可視光除
去のためのフィルターを設けることなく、紫外線のみに
応答する紫外線センサーとして十分実用できるものであ
ることが確認された。
第1図は本発明の実施の態様を示す説明図である。図に
おいて、1は基板、2はパターニングされた電極、3は
紫外線を感受する酸化亜鉛薄膜、4は上記電極2に結合
された上記酸化亜鉛薄膜3の抵抗値変化を外部に導出す
るリード体である。 第2図は実施例1および2の紫外線センサーの紫外線照
射量に対する光電流の測定結果を示すグラフである。 =8
おいて、1は基板、2はパターニングされた電極、3は
紫外線を感受する酸化亜鉛薄膜、4は上記電極2に結合
された上記酸化亜鉛薄膜3の抵抗値変化を外部に導出す
るリード体である。 第2図は実施例1および2の紫外線センサーの紫外線照
射量に対する光電流の測定結果を示すグラフである。 =8
Claims (1)
- (1)基板上に酸化亜鉛薄膜と該薄膜層の紫外線照射に
よる抵抗値の変化を抽出する電極を形成してなる光導電
型紫外線センサー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1295100A JPH03241777A (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | 光導電型紫外線センサー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1295100A JPH03241777A (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | 光導電型紫外線センサー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03241777A true JPH03241777A (ja) | 1991-10-28 |
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- 1989-11-15 JP JP1295100A patent/JPH03241777A/ja active Pending
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