JPH03239351A - リードフレームの製造方法 - Google Patents
リードフレームの製造方法Info
- Publication number
- JPH03239351A JPH03239351A JP3678690A JP3678690A JPH03239351A JP H03239351 A JPH03239351 A JP H03239351A JP 3678690 A JP3678690 A JP 3678690A JP 3678690 A JP3678690 A JP 3678690A JP H03239351 A JPH03239351 A JP H03239351A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- island
- lead
- plating
- lead frame
- inner end
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 48
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 1
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ICリードフレーム等へのワイヤーボンディ
ング、はんだ付等のためにインナーリド部の内端部(以
下、ポンディング部ともいう〉のみへのめっきを施すリ
ードフレームの製造方法に関するものである。
ング、はんだ付等のためにインナーリド部の内端部(以
下、ポンディング部ともいう〉のみへのめっきを施すリ
ードフレームの製造方法に関するものである。
[従来技術]
従来、鉄・ニッケル合金、銅合金などの薄板から形成さ
れた半導体用リードフレーム1(第13図参照〉は、半
導体チップを固定するためのアイランド部1b及びイン
ナーリート部1aの内端部に噴流方式を用いて金や銀を
部分めっきしている。
れた半導体用リードフレーム1(第13図参照〉は、半
導体チップを固定するためのアイランド部1b及びイン
ナーリート部1aの内端部に噴流方式を用いて金や銀を
部分めっきしている。
めっき工程を更に詳しく説明すると、第6図又は第7図
に示すようにインナーリード部1aの内端部を除くその
残部の図中下面をマスクシール材2を介してマスク支持
台4に載置し、インナーリード部1a及びアイランド部
1bの双方の図中上面を上押えスポンジ6を介して上押
え型7により2〜5kQ/cm2の圧力で押圧してシー
ルし、めっき液をノズル9から噴射し、リードフレーム
1と陽極8との間に電流を流し、部分めっきを行ってい
る。なお、第6図はアイランド部1bとインナーリード
部1aとの間に段差がないフラット構造のリードフレー
ムのめつき工程を示し、第7図はアイランド部1bとイ
ンナーリード部1aとの間に段差がある(アイランド部
1bをインナリード部1aよりも段落ちさせた〉デイプ
レス構造のリードフレームのめつき工程を示している。
に示すようにインナーリード部1aの内端部を除くその
残部の図中下面をマスクシール材2を介してマスク支持
台4に載置し、インナーリード部1a及びアイランド部
1bの双方の図中上面を上押えスポンジ6を介して上押
え型7により2〜5kQ/cm2の圧力で押圧してシー
ルし、めっき液をノズル9から噴射し、リードフレーム
1と陽極8との間に電流を流し、部分めっきを行ってい
る。なお、第6図はアイランド部1bとインナーリード
部1aとの間に段差がないフラット構造のリードフレー
ムのめつき工程を示し、第7図はアイランド部1bとイ
ンナーリード部1aとの間に段差がある(アイランド部
1bをインナリード部1aよりも段落ちさせた〉デイプ
レス構造のリードフレームのめつき工程を示している。
第7図の部分めっき手法によるめっき状態を第9図及び
第10図に示す。
第10図に示す。
その他に、アイランド部1bへのめっきを行わず半導体
エポキシ樹脂や導電性ペーストを用いてチップをアイラ
ンド部に固定する方式が提案されており、この場合には
、インナーリード部1aの内端部だ【ブにめっきが施す
ことが要求される。このようにホンディング部にのみめ
っきするためには、第8図に示すようにシールされたフ
ラット構造のリードフレーム1のアイランド部1bの図
中下面を、更にマスクシール材3を介してマスク支持台
5でシールしてめっきが施される。
エポキシ樹脂や導電性ペーストを用いてチップをアイラ
ンド部に固定する方式が提案されており、この場合には
、インナーリード部1aの内端部だ【ブにめっきが施す
ことが要求される。このようにホンディング部にのみめ
っきするためには、第8図に示すようにシールされたフ
ラット構造のリードフレーム1のアイランド部1bの図
中下面を、更にマスクシール材3を介してマスク支持台
5でシールしてめっきが施される。
更に、デイプレス構造のリードフレームに対しそのホン
ディング部だけに部分めっきするには、フラット構造の
リードフレームを用いてそのボンディング部に上記した
第8図の方法でめっきし、しかる後、デイプレス工程を
実施してアイランド部1bとインナーリード部1aとの
間に段差を形成することが提案されている。
ディング部だけに部分めっきするには、フラット構造の
リードフレームを用いてそのボンディング部に上記した
第8図の方法でめっきし、しかる後、デイプレス工程を
実施してアイランド部1bとインナーリード部1aとの
間に段差を形成することが提案されている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、デイプレス構造のリードフレムに対しそ
のボンディング部及びアイランド部1bの両方にめっき
する上)ボした従来のめつき方法(第7図)では、シー
ル性を増すため上押え型7の押圧力をあげると、アイラ
ンド部1bに押圧力が集中し、タイバ一部1c(第13
図参照)などが変形してアイランド部1bの段落ち量が
減ってしまい、変形防止のために上押え型7の押圧力を
減らすとシール性が悪くなるといった問題を生じる。ち
なみにシール性か低下すれば、アイランド部1bの上面
にめっき液が回り込み、貴金属消費量が増大してしまう
。なお、この問題を防止するために、フラット構造のリ
ードフレームに対しめっきを行い(第6図参照)、シか
る後、デイプレス工程により段差を形成してデイプレス
構造のりドフレームとする従来方法は、工程が繁雑とな
ってしまう難点がある。
のボンディング部及びアイランド部1bの両方にめっき
する上)ボした従来のめつき方法(第7図)では、シー
ル性を増すため上押え型7の押圧力をあげると、アイラ
ンド部1bに押圧力が集中し、タイバ一部1c(第13
図参照)などが変形してアイランド部1bの段落ち量が
減ってしまい、変形防止のために上押え型7の押圧力を
減らすとシール性が悪くなるといった問題を生じる。ち
なみにシール性か低下すれば、アイランド部1bの上面
にめっき液が回り込み、貴金属消費量が増大してしまう
。なお、この問題を防止するために、フラット構造のリ
ードフレームに対しめっきを行い(第6図参照)、シか
る後、デイプレス工程により段差を形成してデイプレス
構造のりドフレームとする従来方法は、工程が繁雑とな
ってしまう難点がある。
一方、フラット構造のリードフレームに対しそのボンデ
ィング部にだけめっきする上述した従来のめつき方法(
第8図)では、ホンディング部すなわら各インナーリー
ド部1aの内端部に均一な厚さにめつきすることが容易
ではなかった。この理由を説明すると、第8図に示すア
イランド部1bとインナーリード部1aとの間の間隙は
通常、0.2〜0.5mmと極めて狭く、めっき液を噴
射してもボンディング部近辺にめっき液の滞留が生じ(
第11図参照〉、めっき金属イオンの供給が不十分とな
ったり、不均一となるためである。
ィング部にだけめっきする上述した従来のめつき方法(
第8図)では、ホンディング部すなわら各インナーリー
ド部1aの内端部に均一な厚さにめつきすることが容易
ではなかった。この理由を説明すると、第8図に示すア
イランド部1bとインナーリード部1aとの間の間隙は
通常、0.2〜0.5mmと極めて狭く、めっき液を噴
射してもボンディング部近辺にめっき液の滞留が生じ(
第11図参照〉、めっき金属イオンの供給が不十分とな
ったり、不均一となるためである。
また、新鮮なめつき液の不足により電流密度が低下しか
つばらつくために、粗雑な電着状態や不均一な膜厚とな
るからである。
つばらつくために、粗雑な電着状態や不均一な膜厚とな
るからである。
本発明は、デイプレス構造のリードフレームにおける上
述した各種問題を解決し、ボンディング部へ均一な厚さ
のめっきを施し、デイプレス深さのばらつきを防止し、
更には工程の繁雑化を防止し得るリードフレームの製造
方法を提供することを、その解決すべき課題としている
。
述した各種問題を解決し、ボンディング部へ均一な厚さ
のめっきを施し、デイプレス深さのばらつきを防止し、
更には工程の繁雑化を防止し得るリードフレームの製造
方法を提供することを、その解決すべき課題としている
。
「課題を解決するための手段]
本発明は、インナーリード部のめつきされた内端部に対
して、アイランド部が面方向に小間隔を隔てるとともに
前記面方向と直角方向に段差を有して配置されるリード
フレームの製造方法において、前記段差を形成し、しか
る後、前記内端部以外の前記インナーリード部の残部及
び前記アイランド部の両面を遮蔽しかつ挟持して、前記
インナリード部の前記内端部を選択的にめっきすること
を特徴としている。
して、アイランド部が面方向に小間隔を隔てるとともに
前記面方向と直角方向に段差を有して配置されるリード
フレームの製造方法において、前記段差を形成し、しか
る後、前記内端部以外の前記インナーリード部の残部及
び前記アイランド部の両面を遮蔽しかつ挟持して、前記
インナリード部の前記内端部を選択的にめっきすること
を特徴としている。
本発明を実施する製造装置として、インナーリド部を載
置するリード載置部と、アイランド部を載置するアイラ
ンド載置部とをもち、これら両者の載置面がリードフレ
ームのデイプレス深さ(段差寸法)に等しい支持台を用
いることが好適である。もちろん、この支持台において
、リード載置部およびアイランド部は別体でも一体でも
よい。ただ一体であれば、リード載置部およびアイラン
ド部の間の段差寸法が狂うことがなく、製造上有利であ
る。
置するリード載置部と、アイランド部を載置するアイラ
ンド載置部とをもち、これら両者の載置面がリードフレ
ームのデイプレス深さ(段差寸法)に等しい支持台を用
いることが好適である。もちろん、この支持台において
、リード載置部およびアイランド部は別体でも一体でも
よい。ただ一体であれば、リード載置部およびアイラン
ド部の間の段差寸法が狂うことがなく、製造上有利であ
る。
[実施例]
本発明の製造方法の一例を以下に説明する。
まず、通常のプレス(デイプレス)工程により、リード
フレームのインナーリード部とアイランド部との間に0
.1〜Q、5mmの段差を形成し、このデイプレス構造
のリードフレームを第1図に示すめっき装置に取付ける
。
フレームのインナーリード部とアイランド部との間に0
.1〜Q、5mmの段差を形成し、このデイプレス構造
のリードフレームを第1図に示すめっき装置に取付ける
。
このめっき装置について説明する。
開口部40をもつ支持台は、開口部40を囲むリード載
置部4と、開口部40の中央部に設けられたアイランド
載置部5とをもち、リード載置部4はアイランド載置部
5よりもリードフレーム1の上記段差分だけ段落ちして
いる。両者の載置面4a、5aは水平に延在しており、
各載置面4a、5aには、厚さ0.5〜Q、7mmのシ
リコンゴム膜からなるマスクシール材2.3を介して、
インナーリード部1a及びアイランド部1bが載置され
ている。インナーリード部1aの内端部(特に図中下面
〉はこれらマスクシール材2.3及び各載置部4.5に
より遮蔽されておらず、水平に突出している。
置部4と、開口部40の中央部に設けられたアイランド
載置部5とをもち、リード載置部4はアイランド載置部
5よりもリードフレーム1の上記段差分だけ段落ちして
いる。両者の載置面4a、5aは水平に延在しており、
各載置面4a、5aには、厚さ0.5〜Q、7mmのシ
リコンゴム膜からなるマスクシール材2.3を介して、
インナーリード部1a及びアイランド部1bが載置され
ている。インナーリード部1aの内端部(特に図中下面
〉はこれらマスクシール材2.3及び各載置部4.5に
より遮蔽されておらず、水平に突出している。
アイランド部1b及びインナーリード部1aの図中上面
は、上押えスポンジ6を介して上押え型7により2〜5
kg/Cm2程度の押圧力で押圧されてシールされてい
る。
は、上押えスポンジ6を介して上押え型7により2〜5
kg/Cm2程度の押圧力で押圧されてシールされてい
る。
上記支持台の開口部40下方には、図中上方に向けてノ
ズル9が配設されており、ノズル9の先端には陽極8が
設けられている。
ズル9が配設されており、ノズル9の先端には陽極8が
設けられている。
めっきは、めっき液をノズル9から開口部40を通して
上方に噴則し、リードフレーム1と陽極8との間に約5
0〜100Δ/d尻、5〜10秒の大電流を流して、高
速に行う。
上方に噴則し、リードフレーム1と陽極8との間に約5
0〜100Δ/d尻、5〜10秒の大電流を流して、高
速に行う。
この結果、インナーリード部1aの内端部(すなわち本
明細書でいうボンディング部〉に第2図及び第3図に示
す形状のめっき層(斜線部)が電着される。
明細書でいうボンディング部〉に第2図及び第3図に示
す形状のめっき層(斜線部)が電着される。
この実施例によれば、以下の利点か得られる。
まず、変形(デイプレス深さの減少)問題に関して、ア
イランド部1bがアイランド載置部5により支持されて
いるので、上押え型7の押圧力を増しても変形はほとん
ど生じない。また、押圧力の増加が可能となるため、各
部のシール性が改善され、めっきエリア精度が大幅に向
上する。特にめっきエリア精度に関しては、インナーリ
ード部端面部にa3いてのめつき漏れ精度か大幅に向上
する。実験結果を表1に示す。
イランド部1bがアイランド載置部5により支持されて
いるので、上押え型7の押圧力を増しても変形はほとん
ど生じない。また、押圧力の増加が可能となるため、各
部のシール性が改善され、めっきエリア精度が大幅に向
上する。特にめっきエリア精度に関しては、インナーリ
ード部端面部にa3いてのめつき漏れ精度か大幅に向上
する。実験結果を表1に示す。
従来法によればデイプレス変形量、インナーリド部端面
部への漏れめっき量が大きく、この実施例の方法(第1
図)によれば、大幅に品質が向」ニしていることがわか
る。したがって、予めデイプレスされたリードフレーム
に直接めっきできるので工程の簡素化が可能となる。
部への漏れめっき量が大きく、この実施例の方法(第1
図)によれば、大幅に品質が向」ニしていることがわか
る。したがって、予めデイプレスされたリードフレーム
に直接めっきできるので工程の簡素化が可能となる。
次に、本実施例によればめっき量が空間的にばらつきに
くく、かつめっき面が荒れない利点がある。
くく、かつめっき面が荒れない利点がある。
すなわち、第8図に示す従来法では、第11図に示すよ
うに、挟間Xにめっき液が滞留するためにこの挟間Xに
おけるめっき金属イオン濃度及び電流量が減ってめっき
が不十分かつ不均一となる。
うに、挟間Xにめっき液が滞留するためにこの挟間Xに
おけるめっき金属イオン濃度及び電流量が減ってめっき
が不十分かつ不均一となる。
これは、アイランド載置部5とリード載置部4とが袋小
路のような構造を作るためである。挟間Xにおけるめっ
き液の滞留の程度は、アイランド載置部5とリード載置
部4との間隔に依存し、この間隔はアイランド部1bの
全周にわたって必ずしも一定ではないので、その結果と
して、インナリード部1aの位置によりめっき量がばら
つく。
路のような構造を作るためである。挟間Xにおけるめっ
き液の滞留の程度は、アイランド載置部5とリード載置
部4との間隔に依存し、この間隔はアイランド部1bの
全周にわたって必ずしも一定ではないので、その結果と
して、インナリード部1aの位置によりめっき量がばら
つく。
更に、第8図に示す従来の方法で、この実施例で用いた
ような高速めつきを行うと50〜100A/dm、5〜
10秒といった高速大電流通電がなされるので、通電と
同時に挟間Xのほとんどのめつき金属イオンがめつきさ
れて、その後、めっき0 金属イオン量の供給が途絶える結果、めっき面が荒れて
粒状面となる。
ような高速めつきを行うと50〜100A/dm、5〜
10秒といった高速大電流通電がなされるので、通電と
同時に挟間Xのほとんどのめつき金属イオンがめつきさ
れて、その後、めっき0 金属イオン量の供給が途絶える結果、めっき面が荒れて
粒状面となる。
本実施例では、デイプレスされた分だレプ袋小路の構造
が緩和され、めっき液はインナーリード部1aの内端部
において流れやすい状態となり(第12図参照)、挟間
Xへのめつき金属イオンの供給及び、電流低下の防止が
可能となり、均一で良好なめつき面の形成が可能となる
。
が緩和され、めっき液はインナーリード部1aの内端部
において流れやすい状態となり(第12図参照)、挟間
Xへのめつき金属イオンの供給及び、電流低下の防止が
可能となり、均一で良好なめつき面の形成が可能となる
。
なお、第4図及び第5図に示すように、リート載置部4
及びアイランド載置部5をもつ支持台100をビーム1
01で連絡して一体構造としてもよく、また、上押え型
7にアイランド部1bの上方において凹部70を設けて
、デイプレスされたアイランド部1bへの押圧力集中を
緩和してもよい。
及びアイランド載置部5をもつ支持台100をビーム1
01で連絡して一体構造としてもよく、また、上押え型
7にアイランド部1bの上方において凹部70を設けて
、デイプレスされたアイランド部1bへの押圧力集中を
緩和してもよい。
更に、第4図では、支持台100は入子式となっていて
ガラスエポキシ樹脂製の基台200の四部に載置されて
いる。このようにすれば、リードフレームのデイプレス
深さが変更されても小型の支持台100だけを変更すれ
ばよく、簡単となる。
ガラスエポキシ樹脂製の基台200の四部に載置されて
いる。このようにすれば、リードフレームのデイプレス
深さが変更されても小型の支持台100だけを変更すれ
ばよく、簡単となる。
1
[発明の効果]
以上説明したように、本発明のリードフレームの製造方
法は、段差を形成し、しかる後、インナリード部の内端
部を遮蔽しかつ挟持して、インナーリード部の内端部を
選択的にめっきするので、プレス(含むディスブレス〉
→めっきという簡素な工程でリードフレームの変形を生
じさせることなく良好なめつきすることができ、しかも
、めっき液の消費量も増加することがない。
法は、段差を形成し、しかる後、インナリード部の内端
部を遮蔽しかつ挟持して、インナーリード部の内端部を
選択的にめっきするので、プレス(含むディスブレス〉
→めっきという簡素な工程でリードフレームの変形を生
じさせることなく良好なめつきすることができ、しかも
、めっき液の消費量も増加することがない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に用いるめっき装置の要部模
式断面図、第2図及び第3図は本実施例によるめっき状
態を示す要部模式断面図及び要部模式平面図、第4図及
び第5図はこの実施例に用いる他のめつき装置の要部模
式断面図及び模式平面図、第6図、第7図、第8図はそ
れぞれ従来の部分めっき方法を説明するための要部模式
断面図、第9図及び第10図は第7図に示す従来方法に
よるめっき状態を示す要部模式断面図及び要部模式平面
図、第11図は第8図に示す従来方法による2 めっき液滞留状況を示す要部模式断面図、第12図は第
1図に示す本実施例の方法によるめっき液の流れを示す
要部模式断面図、第13図はリードフレームの斜視図で
ある。 1・・・リードフレーム 1a・・・インナーソード部 1b・・・アイランド部 4・・・リード載置部 5・・・アイランド載置部
式断面図、第2図及び第3図は本実施例によるめっき状
態を示す要部模式断面図及び要部模式平面図、第4図及
び第5図はこの実施例に用いる他のめつき装置の要部模
式断面図及び模式平面図、第6図、第7図、第8図はそ
れぞれ従来の部分めっき方法を説明するための要部模式
断面図、第9図及び第10図は第7図に示す従来方法に
よるめっき状態を示す要部模式断面図及び要部模式平面
図、第11図は第8図に示す従来方法による2 めっき液滞留状況を示す要部模式断面図、第12図は第
1図に示す本実施例の方法によるめっき液の流れを示す
要部模式断面図、第13図はリードフレームの斜視図で
ある。 1・・・リードフレーム 1a・・・インナーソード部 1b・・・アイランド部 4・・・リード載置部 5・・・アイランド載置部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 インナーリード部のめっきされた内端部に対して、アイ
ランド部が面方向に小間隔を隔てるとともに前記面方向
と直角方向に段差を有して配置されるリードフレームの
製造方法において、 前記段差を形成し、しかる後、前記内端部以外の前記イ
ンナーリード部の残部及び前記アイランド部の両面をそ
れぞれ遮蔽しかつ挟持して、前記インナーリード部の前
記内端部を選択的にめっきすることを特徴とするリード
フレームの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3678690A JPH03239351A (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | リードフレームの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3678690A JPH03239351A (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | リードフレームの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03239351A true JPH03239351A (ja) | 1991-10-24 |
Family
ID=12479465
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3678690A Pending JPH03239351A (ja) | 1990-02-17 | 1990-02-17 | リードフレームの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03239351A (ja) |
-
1990
- 1990-02-17 JP JP3678690A patent/JPH03239351A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3425089B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP4976673B2 (ja) | 半導体装置、基板及び半導体装置の製造方法 | |
JP2006278914A (ja) | 半導体装置の製造方法、半導体装置および樹脂封止体 | |
JPH03239351A (ja) | リードフレームの製造方法 | |
JPS5858439B2 (ja) | リ−ドフレ−ムの製造方法 | |
JP2004087883A (ja) | リードフレームおよびそれを用いた半導体装置の製造方法 | |
JP2010118604A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS634945B2 (ja) | ||
JPH0864743A (ja) | リードフレームとこれを用いた半導体装置の製造方法 | |
JP2812328B1 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPH10298798A (ja) | リードフレームのメッキ装置及びその方法 | |
JP2001007269A (ja) | リードフレームの部分めっき装置および部分めっき方法 | |
US20020182370A1 (en) | Semiconductor packaging part and method producing the same | |
JP2926497B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2001274307A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2005243683A (ja) | 樹脂封止型及び樹脂封止方法 | |
JPS6333965Y2 (ja) | ||
JPS5978537A (ja) | 樹脂封止型半導体装置の製造方法 | |
JP2002124596A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JPS59143085A (ja) | リ−ドフレ−ムの部分めつき装置 | |
JPH02296355A (ja) | リードフレーム及びチップ | |
JP2005335086A (ja) | 回路基板、樹脂成形体、電子部品、及び、樹脂成形体又は電子部品の製造方法 | |
JPH01198038A (ja) | 半導体製造装置 | |
KR200294020Y1 (ko) | 리드프레임 도금용 마스크 | |
JP2004183073A (ja) | リードフレームの部分メッキ方法 |