JPH03232800A - 炭化珪素ウィスカーの製造方法 - Google Patents

炭化珪素ウィスカーの製造方法

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JPH03232800A
JPH03232800A JP2597090A JP2597090A JPH03232800A JP H03232800 A JPH03232800 A JP H03232800A JP 2597090 A JP2597090 A JP 2597090A JP 2597090 A JP2597090 A JP 2597090A JP H03232800 A JPH03232800 A JP H03232800A
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silicon carbide
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silicon
whiskers
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Eizo Maeda
榮造 前田
Toshihiko Funabashi
敏彦 船橋
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Kawasaki Steel Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は炭化珪素ウィスカーの製造方法に関し、より詳
しくはウィスカー強化セラミックスに適した直径の太い
炭化珪素ウィスカーの経済的かつ工業的な製造方法に関
する。
〈従来の技術〉 炭化珪素ウィスカーの製造方法は、気体原料法と固体原
料法とに大別でき、また固体原料法は輸送法とバルク法
に分けられる。
気体原料法は、炭素源に炭化水素ガスを、珪素源に5i
C1aなどの珪素含有ガスを原料として使用する方法で
あり、具体的には、加熱された基板上に上述のガスを導
入し、基板上に炭化珪素ウィスカーを成長させる方法で
ある。得られるウィスカーのアスペクト比は大きいとい
う長所があるが、多量に収穫しようとすると大面積の基
板が必要であり、また導入ガスの利用率も低いという欠
点があり、大規模生産には向かない。
固体原料法のうち輸送法は、炭素源として炭素粉などの
固体を、珪素源とじてンリカ粉などの固体を使用する方
法で、その原料を加熱し、発生したガスを固体原料充填
層の表面もしくは固体原Itが置かれている場所から離
れた場所に移動させ、そこでウィスカーを生成させる方
法である。この方法では得られたウィスカーのアスペク
ト比が大きいという長所があるが、多量に収穫しようと
すると大面積を必要とするという欠点があり、この方法
も大規模生産には向かない。
また、固体原料法のうちバルク法は、炭素源として炭素
粉などの固体を、珪素原料としてノリ力わ)などの固体
を使用する方法で、この原料中にあらかしめウィスカー
が成長するに十分な空隙を導入し、不活性雰囲気中で加
熱処理することによりバルクに導入した空隙にウィスカ
ーを成長さ一ヒる方法である。この方法では固体粉末充
填層中にウィスカーが成長するため、大量生産が容易で
あるという長所があるが、空隙の大きさを制御し難いた
めにアスペクト比にばらつきが大きく、かつ平均アスペ
クト比が小さいという欠点を有していた。
また、空隙が十分にないと炭化珪素の粉末が生成し易い
ため、炭化珪素15j末の混在が避は難く、次工程でウ
ィスカーと粉末との分離が必要となるなどの欠点があっ
た。しかしこのような欠点があるものの現在工業化され
ている方法はいずれもこの方法である。
一方、Becher等が(Fracture  Mec
hanics  orCeramics、 vol、 
7.61−73. Plenum Press  (1
986)、〕で、あるいは安田等が〔「セラミックス系
複合材料の製造に関する諸展開、 、34−37.日本
金属学会シンポジウム(1988) )で報告している
ごとく、炭化珪素ウィスカー強化セラミ、クスにおいて
はウィスカーの直径が大きくなるほどセラミックスの靭
性が向上する。しかし、前述の固体原料バルク法で製造
される炭化珪素ウィスカーの直径は0.3〜0.8μm
と細く、十分な高靭化をはかるごとができなかった。
従来、直径が1μmより大きい炭化珪素ウィスカーの製
造にはGac等が(J、 Mater、Sci、20,
116068  (1985) )で、あるいはG、八
、 Bootsma等がCJ、 Cryr+t、 Gr
owLt+、 Il、 297−309 (1971)
 )で報告しているごとく、輸送法が用いられてきたが
、これらの方法は前述のごとく実験室的に製造可能でも
工業的には有利な方法ではなかった。
〈発明が解決しようとする課題〉 先に発明者達は固体原料法−バルク法で炭化珪素ウィス
カーを製造する経済的かつ工業的な方法を開発し、特願
昭63−196195号として出願したが、本発明はそ
の改良になり、直径が1μm以上の炭化珪素ウィスカー
の製造方法を従案することを目的とするものである。
〈課題を解決するための手段〉 本発明は、珪素含有粉末と炭素質粉末との混合物を、水
素を含む気流中で加熱反応させ炭化珪素ウィスカーを製
造する方法において、予め珪素含有粉末の造粒化ならび
に炭素質粉末の造粒化をはかり、これらを混ぜることに
よりかさ密度0.1g/cl以下の混合物とすることを
特徴とする炭化珪素ウィスカーの製造方法であり、また
珪素含有粉末、炭素質粉末及び触媒粉との混合物を、水
素を含む気流中で加熱反応させ炭化珪素ウィスカーを製
造する方法において、予め珪素含有粉末の造粒化ならび
に炭素質粉末と触媒粉との混合物の造粒化をはかり、こ
れらを混ぜることによりかさ密度0.1g/cnJ以下
の混合物とすることを特徴とする炭化珪素ウィスカーの
製造方法である。
〈作用〉 発明者等はウィスカー強化セラミンクスに適した直径の
太い炭化珪素ウィスカーの成長について鋭意研究した結
果以下の知見を得て本発明に到った。すなわち、■バル
ク法においても気相を介した物質移動により炭化珪素ウ
ィスカーは成長する■炭化珪素ウィスカーが成長するに
は空間が必要である。■成長するウィスカーの直径と触
媒径には一定の関係がある。などである。
従って固体原料バルク法で直径の太いウィスカーを合成
するためには■原料の嵩密度と共に■ウィスカーの成長
する空間の確保が重要である。
本発明ではウィスカーの成長する空間を確保するために
、珪素含有物質の造粒化及び炭素質粉末の造粒化又は炭
素質粉末と触媒粉の混合物の造粒化を予めはかった上で
混合物とするものである。
また混合物のかさ密度は0.1g/cm3以下に限定さ
れる。  0.1g/c艷超ではウィスカーの成長が十
分ではなく、炭化珪素粉末の生成量が多くなる。
好ましくは0.07g/c艷以下である。
シリカとカーボンの混合物のかさ密度をO,1g/cI
Il以下にするには次の方法などが適用される。
すなわち、造粒体のかさ密度が概略0.1g/ctA以
下のカーボンないしはシリカを混合すればかさ密度0.
1g/c−以下の混合物を得ることができる。
また、かさ密度が0.1g/cm3以上のカーボンある
いはシリカでももう一方の原料のかさ密度がたいへん小
さければこの方法でもかさ密度0.1g/cJの混合物
を得ることは可能である。
本発明においては、シリカ及びカーボン原料又はカーボ
ン原料に触媒を加えたものが共に造粒されていることが
炭化珪素ウィスカーの回収率向上に寄与している。この
際の造粒は、シリカ及びカーボンを別々に造粒すること
が重要である。また、触媒を添加する場合は炭化珪素ウ
ィスカー成長触媒をカーボン原料に加えることが必要で
ある。珪素含有物質に直接触媒を添加すると触媒の働き
が劣化するからである。すなわちシリカは処理温度に近
い1000°C付近から焼結をおこしシリカ自体の表面
積が減少し、触媒は焼結したシリカ粒内に封じ込められ
るのに対し、カーボンの場合、焼結をおこさないため触
媒の働きが劣化しないからである。
造粒が有効な理由は必ずしも明らかではないが、次のよ
うに考えられる。すなわち、前述のようにウィスカーは
気相を介しての物質移動によって起こり、また、ウィス
カーの成長する空間が必要なため、原料充填層中でのシ
リカとカーボンが離れて存在している方がウィスカーが
成長し易いものと考えられる。一方、シリカの粉末の生
成も気相を介した反応で起こる可能性があり、シリカと
カーボンの存在位置が近いと粉末が多く生成するものと
考えられる。
造粒においては、パンペレタイザー、静電的造粒法のよ
うな−g的な造粒方法が利用でき、また、とくには造粒
工程を経なくても結果的に造粒されたとしても構わない
、また、すでに造粒された原料を使用することもできる
。造粒粒子の大きさとしては10〜2000μmが好ま
しく、さらに好ましくは100〜1000μsである。
造粒されたシリカと、造粒されたカーボンとウィスカー
成長触媒の混合物との混合においては、造粒された原料
を壊さないような混合法を採用することが重要である。
混合機としては、V型混合機、ロッキングミキサーの様
なものが使用できるが、造粒された粒子が壊されないよ
うな混合法であれば他の方法でも構わない。
上記珪素含有粉末と炭素質粉末の混合比は炭化珪素ウィ
スカーの生成反応 SiOx + 3 C→SiC(W ) + 2 Co
  −・・−−−−−−−−(1)で示される当量によ
って決定される。(1)式の当量よりカーボンが少なけ
れば未反応のシリカが残留し、また、当量よりカーボン
が多ければ未反応の炭素が残留する。混合比は当量付近
が好ましい。
シリカが残留する時は、例えば弗酸での処理によりそれ
を除去することができ、また、炭素が残留する時は、例
えば空気中700℃に加熱することで酸化脱炭すること
ができる。それらは工程に応じて使い分けることが可能
である。
本発明においては、炭化珪素ウィスカーを成長させる触
媒粉の添加は、原料中の不純物として添加されるので、
かならずしも必要でないが、添加する場合には、Fe、
Ni、Co及びCrの1種又は2種以上を含む金属粉又
は合金粉が利用でき、その平均粒径は1.5〜20μm
が好ましい。1.5μ−以下では0.5μ−以下のウィ
スカーしか生成しない、20μ鋼より大きいとウィスカ
ーの成長が困難となる。
好ましくは3〜10μ−である0本発明は、径lμ鋼未
満のウィスカーの合成に対しても適用は可能である。
上記混合物を水素含有気流中で加熱処理することにより
、炭化珪素ウィスカーを効率的に得ることが可能となる
。水素ガスの濃度は、15%以上が好ましく、より好ま
しくは50%以上である。残りはAr、IIeなどの不
活性ガスである。水素ガス濃度が15%未満であると反
応は十分に進まず、劣悪なウィスカーが生成したり、あ
るいは粉末状の炭化珪素が生成づる。水素含有雰囲気と
することだけでは不十分であり、反応によって生成する
COを系外に除去するために水素含有気流中で加熱する
ことが必要である。
加熱温度は、+300−1700°Cがよい。1300
°Cよりも低い温度ではウィスカーの生成がほとんど見
られない。l700°C以上の温度でもウィスカーの生
成はみられるが、蒸発による系外へのロスが多くなり余
り有益でない。より好ましい反応温度は1400〜16
00°Cである。
加熱処理体から炭化珪素ウィスカーを回収するにあたっ
ては、前述のように原料のSiO□/C比に応して公知
の方法を取ることができる。例えば、珪素含有粉末が過
剰の場合、弗酸処理して残留するSiO2分を熔解除去
して炭化「素ウィスカーを得ることができる。また、炭
素過剰の場合、酸化雰囲気中700’C付近の温度で残
留した過剰の炭素質$5)末を酸化脱炭する方法、もし
くは水・灯油混合液中に混合分散させ、水側に移行した
ウィスカを濾過回収する方法などを取ることができる。
本発明による炭化珪素ウィスカーの製造方法に用いる珪
素含有物質としてはシリカが好ましく、シリカの純度は
99.7%以上が望ましい。シリカの純度が99.7%
より悪いとシリカ中に含まれる不純物を触媒としてウィ
スカーが成長するため、直径の微細なウィスカーが生成
する。
シリカとしては、シリカフラワー、ホワイトヵボン、無
水珪酸、シリカゲル、シリカゾルなどが使用できる。
また炭素質粉末としてはH,N、O,S以外の不純物が
200ppm以下の純度の高いカーボン粉が望ましい。
上記不純物が200ppmより多いと、カーボンに含ま
れる不純物を触媒として直径の微細なウィスカーが成長
する。カーボン源としては、カボンブランク、アセチレ
ンブラック、有機物の不完全燃焼すす、有機物の不完全
燃焼残炭物などの粉末が使用できる。
以下実施例により本発明をさらに訂しく説明する。
〈実施例〉 実施例1 ソリ力源として100重量部の平均粒径20nmのシリ
カのエアロゾルを静電的造粒法により平均粒径0.45
mmに造粒した。また、平均粒径15nmのカーボンブ
ラック60部をパンペレタイザーにより平均粒径0.3
胴に造粒した。これらの造粒物を■型ブレンダーで造粒
粒子が破壊しないように混合した。
この混合物のかさ密度は0.042g/caであった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、水素ガス1010
0N/分の気流中1550°C,2時間焼成した。
生成物は緑灰色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650 ’C
で焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪
素ウィスカーを得た。得られた炭化珪素ウィスカーの平
均直径は0.311m、長さIOから101007l径
が揃って、折れ曲がりの少ない炭化硅素ウィスカーであ
った。また、ウィスカーの回収率は原料中のノリニlン
を基f11として89%と高かった。
実施例2 平均粒径2pmのシリカゲル100重量部をパンペレタ
イザーにより平均粒径0.8mmに造粒し、また、実施
例1と同しカーボンブラックを0.7mmに造粒した。
これらの造粒物を■型ブレンダーで造粒粒子が破壊しな
いように混合した。この混合物のかさ密度は0.052
g/cJであった。
この混合物100 gを黒鉛るつぼに入れ、水素ガスI
ONリットル/分の気流中1580°C,2時間焼成し
た。
生成物は緑灰色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650’Cで
焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪素
ウィスカーを得た。得られた炭化珪素ウィスカーの平均
直径は0.4μm、長さ10から120μm、径が揃っ
て、折れ曲がりの少ない炭化珪素ウィスカーであった。
また、ウィスカーの回収率は原料中のシリコンを基皐と
して86%と高かった。
実施例3 平均粒径20nmのシリカのエアロゾル100重量部を
静電的造粒法により平均粒径0 、6 mn+に造粒し
、また、実施例1と同しカーボン60重量部と平均粒径
0.5μMの鉄系の触媒2重量部をあらかしめミキサー
で均一に混合してから混合粉をパンペレタイザーにより
0.7mmに造粒した。これらの造粒物を■型ブレンダ
ーで造粒粒子が破壊しないように混合した。この混合物
のかさ密度は0.057 g /ctAであった。
この混合物100gを黒鉛るつぼに入れ、水素ガスIO
Nリットル/分の気流中1580°C,2時間焼成した
生成物は緑灰色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650°Cで
焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪素
ウィスカーを得た。得られた炭化珪素ウィスカーの平均
直径は0.3μm、長さ20から180μm、径が揃っ
て、折れ曲がりの少ない炭化珪素ウィスカーであった。
また、ウィスカーの回収率は原料中のシリコンを基準と
して94%と高かった。
比較例1 実施例1と同一の原料を同じ量秤取り、ミキサーを用い
て均一に混合した。この混合粉のがさ密度は、0.04
8g/c+Iであった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、実施例1と同様に
水素ガス10100N/分の気流中1550°C,2時
間焼成した。
生成物は灰白色であり、X線回折分析ではSiCのピー
クのみが認められた。得られた生成物を空気中650°
Cで焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭したとこ
ろ、得られた生成物は、炭化珪素粉末であり、ウィスカ
ーは全く得られなかった。
比較例2 実施例3と同一の原料を同じ盟秤取り、ミキサーを用い
て均一に混合した。この混合粉のかさ密度は、0.06
1 g /c艷であった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、実施例1と同様に
水素ガス10100N/分の気流中1550’C12時
間焼成した。
生成物は灰白色であり、X線回折分析ではSiCのピー
クのみが認められた。得られた生成物を空気中650℃
で焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭したところ
、得られた生成物は、炭化珪素粉末であり、ウィスカー
は全く得られなかった。
実施例4 珪素含有粉末として100重量部の純度99.8%平均
粒径15nmのシリカのエアロゾルを用い静電的造粒法
により平均粒径0.5閣に造粒した。また、炭素質粉末
として金属不純物50ppa+、、、1以下、平均粒径
15nmのカーボンブランクを60重量部と、触媒とし
て粒径2.5〜7μmの鉄粉を2重量部とをミキサーに
より均一に混合した後、パンペレタイザーにより平均造
粒径0.3mmに造粒した。これらの造粒物をV型ブレ
ンダーで造粒粒子が破埠しないように混合した。この混
合物のかさ密度は0.045 g /cmであった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、水素ガス+0ON
cJ7分の気流中で1550’c、 2時間焼成した。
生成物は緑黒色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650°Cで
焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪素
ウィスカーを得た。得られた炭化珪素ウィスカーの平均
直径は1,8μm、長さは20〜200μm、アスペク
ト比は20〜100であり、径が太く揃って、細いウィ
スカーの混入しない、折れ曲がりの少ない炭化珪素ウィ
スカーであった。
また、ウィスカーの回収率は原料中のシリコンを基準と
して94%と高かった。
実施例5 珪素含有粉末として純度99.7%、平均粒径1.5μ
mのシリカゲル100重量部をパンペレタイザーにより
平均粒径0.8mに造粒し、また、実施例4と同じ炭素
含有粉末と触媒の同一量の混合物をパンペレタイザーに
より平均粒径0.7mmに造粒した。
これらの造粒物をV型プレンダーで造粒粒子が破壊しな
いように混合した。この混合物のかさ密度は0.056
g/cm3であった。
この混合物100 gを黒鉛るつぼに入れ、水素ガスl
0NIJノトル/分の気流中で1580°C12時間焼
成した。
生成物は緑黒色で、XS#1回折分析ではSiCのピー
クのみが認められた。得られた生成物を空気中650°
Cで焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化
珪素ウィスカーを得た。得られた炭化珪素ウィスカーの
平均直径は1.7μm1長さは20〜180μm、アス
ペクト比は20〜100であり、径が太く揃って、細い
ウィスカーの混入しない、折れ曲がりの少ない炭化珪素
ウィスカーであった。
また、ウィスカーの回収率は原料中のシリコンを基準と
して95%と高かった。
比較例3 実施例4と同一の原料を同じ量秤取り、ミキサーを用い
て均一に混合した。この混合粉のかさ密度は、0.04
8g/c艷であった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、実施例4と同様に
水素ガス100NcJ/分の気流中で1550°C12
時間焼成した。
生成物は灰白色であり、X線回折分析ではSiCのピー
クのみが認められた。得られた生成物を空気中650°
Cで焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭したとこ
ろ、得られた生成物は、炭化珪素粉末であり、ウィスカ
ーは全く得られなかった。
比較例4 実施例4のシリカ100重量部と鉄粉2重量部をミキサ
ーで混合した後、静電的造粒法により平均粒径0.45
mmに造粒した。また、カーボンブラック60重量部を
パンペレタイザーにより平均粒径0.3mmに造粒した
。これらの造粒物を■型ブレンダで造粒粒子が破壊しな
いように混合した。この混合物のかさ密度は0.049
g/cm3であった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、実施例1と同様に
水素ガス100Ncnl/分の気流中で1550°C1
2時間焼成した。
生成物は緑灰色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650°Cで
焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪素
ウィスカーを得た。しかし、得られた炭化珪素ウィスカ
ーの平均直径は1.2μm、長さは5〜5Ql1mであ
り、径のばらつきが大きく、折れ曲がりの多い炭化珪素
ウィスカーであった。
また、ウィスカーの回収率は原料中のシリコンを基準と
して66%と実施例に比べて非常に低かった。
比較例5 珪素含有粉末として純度99.7%、平均粒径1.6μ
mのシリカゲル100重量部をパンペレタイザーにより
平均粒径0.7WIIMに造粒し、また、炭素質粉末と
して金属不純物soppm以下、平均粒径15nmのカ
ーボンブランク60重量部と実施例4と同じ触媒として
の鉄粉の同一量の混合物を平均粒径0.7柵にパンペレ
タイザーにより造粒した。これらの造粒物を■型ブレン
ダーで造粒粒子が破壊しないように混合した。この混合
物のかさ密度は0.145 g/cJであった。
この混合物3gを黒鉛るつぼに入れ、実施例1と同様に
水素ガス100Ncd/分の気流中で1550’C。
2時間焼成した。
生成物は緑灰色で、X線回折分析ではSiCのピークの
みが認められた。得られた生成物を空気中650’Cで
焼成し、若干残留したカーボンを酸化脱炭し、炭化珪素
ウィスカーを得た。しかし、得られた炭化珪素ウィスカ
ーの平均直径は1.0μ鋼、長さ3から15μmであり
、径のばらつきが大きく、折れ曲がりも多く、また、長
さの短い劣悪な炭化珪素ウィスカーであった。また、ウ
ィスカーの回収率は原料中のシリコンを基準として42
%と実施例に比べて格段に低かった。
〈発明の効果〉 本発明により、直径の大きい炭化珪素ウィスカーを工業
的な規模で製造することが可能となった。
また、直径の太い炭化珪素ウィスカーはウィスカー強化
セラミックスに用いることで効果的に靭性を向上させる
ことが可能であるため、セラミックス複合材料のこれか
らの発展に大きく寄与することができ、本発明の経済的
および工業的価値は大きい。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、珪素含有粉末と炭素質粉末との混合物を、水素を含
    む気流中で加熱反応させ炭化珪素ウィスカーを製造する
    方法において、予め珪素含有粉末の造粒化ならびに炭素
    質粉末の造粒化をはかり、これらを混ぜることによりか
    さ密度0.1g/cm^3以下の混合物とすることを特
    徴とする炭化珪素ウィスカーの製造方法。 2、珪素含有粉末、炭素質粉末及び触媒粉との混合物を
    、水素を含む気流中で加熱反応させ炭化珪素ウィスカー
    を製造する方法において、予め珪素含有粉末の造粒化な
    らびに炭素質粉末と触媒粉との混合物の造粒化をはかり
    、これらを混ぜることによりかさ密度0.1g/cm^
    3以下の混合物とすることを特徴とする炭化珪素ウィス
    カーの製造方法。
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JPH0431399A (ja) * 1990-05-28 1992-02-03 Tokai Carbon Co Ltd SiCウイスカーの製造方法
WO2003010114A1 (fr) * 2001-07-25 2003-02-06 Zhongshan University Procede de preparation d'une materiau de carbure de silicium nanometrique
CN100378256C (zh) * 2006-09-13 2008-04-02 浙江理工大学 一种合成六棱柱状碳化硅纳米棒的方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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