JPH03232521A - 電解質溶液のイオン成分除去方法 - Google Patents
電解質溶液のイオン成分除去方法Info
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- JPH03232521A JPH03232521A JP2848390A JP2848390A JPH03232521A JP H03232521 A JPH03232521 A JP H03232521A JP 2848390 A JP2848390 A JP 2848390A JP 2848390 A JP2848390 A JP 2848390A JP H03232521 A JPH03232521 A JP H03232521A
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Landscapes
- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、電解質溶液が浸蝕性で、かつ高温でも透析す
ることができ、かつ再処理しても寿命の長い電解質溶液
のイオン成分除去方法に関する。
ることができ、かつ再処理しても寿命の長い電解質溶液
のイオン成分除去方法に関する。
(従来の技術)
原子カプラントで発生する種々の放射性廃液は、放射能
を帯びたクラッド(原子カプラントに設置される機器を
構成する鉄の酸化物、Fe Oα−Fe203等(粒径
はサブミク3 4ゝ ロンないし数μm)を主に含む)の他に、ca2+Mg
2+、C1などのイオン成分を含む。すなわち、このよ
うな放射性廃液は一種の電解質溶液である。そして、こ
の放射性廃液を再使用する場合は、これらクラッドやイ
オン成分を第3図に示す放射性廃棄物処理システムで除
去する。
を帯びたクラッド(原子カプラントに設置される機器を
構成する鉄の酸化物、Fe Oα−Fe203等(粒径
はサブミク3 4ゝ ロンないし数μm)を主に含む)の他に、ca2+Mg
2+、C1などのイオン成分を含む。すなわち、このよ
うな放射性廃液は一種の電解質溶液である。そして、こ
の放射性廃液を再使用する場合は、これらクラッドやイ
オン成分を第3図に示す放射性廃棄物処理システムで除
去する。
すなわち、原子カプラント1の原子力発電所2は、原子
炉系3とタービン系4から構成され、原子炉系3の原子
炉格納容器5に収められた原子炉圧力容器6からは、冷
却材が加熱されて生じた蒸気7が排出される。蒸気7は
タービン系4にあるタービン8に導かれ、タービン8で
仕事をして隣接する発電機9を稼働させる。蒸気7は、
その後冷却水10を通した主復水器11で復水され、低
圧復水ポンプ12で送り出されて復水濾過装置13、次
いで復水脱塩装置14を通過し、濾過・脱塩される。濾
過・脱塩を終えて清浄になった復水は、高圧復水ポンプ
15、その後給水ポンプ16を経て原子炉圧力容器6へ
還流される。
炉系3とタービン系4から構成され、原子炉系3の原子
炉格納容器5に収められた原子炉圧力容器6からは、冷
却材が加熱されて生じた蒸気7が排出される。蒸気7は
タービン系4にあるタービン8に導かれ、タービン8で
仕事をして隣接する発電機9を稼働させる。蒸気7は、
その後冷却水10を通した主復水器11で復水され、低
圧復水ポンプ12で送り出されて復水濾過装置13、次
いで復水脱塩装置14を通過し、濾過・脱塩される。濾
過・脱塩を終えて清浄になった復水は、高圧復水ポンプ
15、その後給水ポンプ16を経て原子炉圧力容器6へ
還流される。
また、原子炉格納容器5内には再循環ポンプ17が設置
され、原子炉圧力容器6内に流入した冷却材を一旦取り
出して再度原子炉圧力容器6内へ強制的に再循環させる
が、この再循環ポンプ17で取り出された冷却材は、一
部原子炉冷却材浄化装置18を経由して、濾過・脱塩さ
れる。
され、原子炉圧力容器6内に流入した冷却材を一旦取り
出して再度原子炉圧力容器6内へ強制的に再循環させる
が、この再循環ポンプ17で取り出された冷却材は、一
部原子炉冷却材浄化装置18を経由して、濾過・脱塩さ
れる。
さらに、原子炉系2には、使用済み燃料を一時貯蔵して
おく燃料プール19が設けられるが、この燃料プール1
9の貯水は燃料プール浄化装置20に送られて浄化され
、その後再び燃料プール19に還流される。
おく燃料プール19が設けられるが、この燃料プール1
9の貯水は燃料プール浄化装置20に送られて浄化され
、その後再び燃料プール19に還流される。
このような原子炉系2においては、主に復水脱塩装置1
4から化学廃液21が取り出される。また、設置された
種々の機器からは機器ドレン22、これらの機器を納め
る原子力発電所1建屋の床からは床ドレン23が回収さ
れる。さらに、復水濾過袋r113、復水脱塩袋!1l
14、原子炉冷却材浄化装置18および燃料プール浄化
装置20からは、それぞれ濾過・脱塩等の浄化に用いら
れた使用済の樹脂類24が回収される。そして、これら
の化学廃液21、機器ドレン22、床ドレン23および
樹脂類24は原子炉圧力容器5で使用される冷却材また
は燃料集合体に接して放射能を帯びているため、放射性
廃液として放射性廃棄物処理施設25に送られ、廃棄ま
たは再使用のための処理が行われる。
4から化学廃液21が取り出される。また、設置された
種々の機器からは機器ドレン22、これらの機器を納め
る原子力発電所1建屋の床からは床ドレン23が回収さ
れる。さらに、復水濾過袋r113、復水脱塩袋!1l
14、原子炉冷却材浄化装置18および燃料プール浄化
装置20からは、それぞれ濾過・脱塩等の浄化に用いら
れた使用済の樹脂類24が回収される。そして、これら
の化学廃液21、機器ドレン22、床ドレン23および
樹脂類24は原子炉圧力容器5で使用される冷却材また
は燃料集合体に接して放射能を帯びているため、放射性
廃液として放射性廃棄物処理施設25に送られ、廃棄ま
たは再使用のための処理が行われる。
放射性廃棄物処理施設25は、低電導度廃液系26、高
電導度廃液系27、廃スラツジ系28、減容固化系29
およびその他の系統30からなる。
電導度廃液系27、廃スラツジ系28、減容固化系29
およびその他の系統30からなる。
低電導度廃液系26は、放射能濃度は比較的高いが、電
導度が低い廃液を浄化する系統である。これに対して、
高電導度廃液系27は、放射能濃度は比較的低いが、電
導度が高い廃液を浄化する系統である。また廃スラツジ
系28は、使用済樹脂類24を液体骨と固体分に分離す
る系統である。
導度が低い廃液を浄化する系統である。これに対して、
高電導度廃液系27は、放射能濃度は比較的低いが、電
導度が高い廃液を浄化する系統である。また廃スラツジ
系28は、使用済樹脂類24を液体骨と固体分に分離す
る系統である。
なお、樹脂類24は、廃スラツジ系28において、沈降
分離槽31によって沈降成分32と上澄液33に分離さ
れ、上澄液33は機器ドレン22とまとめて取り扱われ
る。この場合、上澄液33には、主にN a 2 S
O4が含まれる。
分離槽31によって沈降成分32と上澄液33に分離さ
れ、上澄液33は機器ドレン22とまとめて取り扱われ
る。この場合、上澄液33には、主にN a 2 S
O4が含まれる。
ここで、機器ドレン22は放射能濃度は比較的高いが、
電導度が低い廃液である。そこで、この機器ドレン22
は低電導度廃液系26において、収集タンク34、濾過
器35、タンク36、脱塩器37およびサンプルタンク
38の順に通過して浄化される。機器ドレン22は、脱
塩器37を通す前に中空糸膜フィルタやクラッドセパレ
ータを配した濾過器35でクラッドを濾過・分離され、
脱塩器37における脱塩効率の低下を防ぐ。
電導度が低い廃液である。そこで、この機器ドレン22
は低電導度廃液系26において、収集タンク34、濾過
器35、タンク36、脱塩器37およびサンプルタンク
38の順に通過して浄化される。機器ドレン22は、脱
塩器37を通す前に中空糸膜フィルタやクラッドセパレ
ータを配した濾過器35でクラッドを濾過・分離され、
脱塩器37における脱塩効率の低下を防ぐ。
他方、化学廃液21と床ドレン23は、放射能濃度は比
較的高いが、電導度が低い廃液である。
較的高いが、電導度が低い廃液である。
そこで、これら化学廃液21と床ドレン23は、高電導
度廃液系27において、まず収集タンク39および蒸発
濃縮器40を経て、主にクラッドを含む残留分と蒸留分
に分離される。残留分は、次いで濃縮廃液貯蔵タンク4
1に送られるが、蒸留分はその後、復水器42、タンク
43、脱塩器44およびサンプルタンク45の順に通過
する。したがって、蒸留分にイオン成分が含まれていて
も、それは脱塩器44において除去される。
度廃液系27において、まず収集タンク39および蒸発
濃縮器40を経て、主にクラッドを含む残留分と蒸留分
に分離される。残留分は、次いで濃縮廃液貯蔵タンク4
1に送られるが、蒸留分はその後、復水器42、タンク
43、脱塩器44およびサンプルタンク45の順に通過
する。したがって、蒸留分にイオン成分が含まれていて
も、それは脱塩器44において除去される。
そして、低電導度廃液系26のサンプルタンク38と高
電導度廃液系27のサンプルタンク45に集められた復
水は、復水貯蔵タンク46を経て主復水器11に戻され
再使用される。
電導度廃液系27のサンプルタンク45に集められた復
水は、復水貯蔵タンク46を経て主復水器11に戻され
再使用される。
一方、高電導度廃液系27の濃縮廃液貯蔵タンク41に
集められた濃縮廃液は、廃スラツジ系28の沈降分離槽
29に堆積した沈降成分32とともに、減容固化系29
へ送られ、減容・固化された後、その他の系統3oから
の廃棄物とともにドラム缶貯蔵庫47に貯蔵される。
集められた濃縮廃液は、廃スラツジ系28の沈降分離槽
29に堆積した沈降成分32とともに、減容固化系29
へ送られ、減容・固化された後、その他の系統3oから
の廃棄物とともにドラム缶貯蔵庫47に貯蔵される。
ところで、上述の低電導度廃液系26と高電導度廃液系
27において、廃液のイオン成分は脱塩器37と44で
除去するが、これらの脱塩器37゜44には、イオン交
換樹脂、イオン交換膜、逆浸透膜、限外濾過膜等さまざ
まな有機高分子でできたイオン分離手段が用いられる。
27において、廃液のイオン成分は脱塩器37と44で
除去するが、これらの脱塩器37゜44には、イオン交
換樹脂、イオン交換膜、逆浸透膜、限外濾過膜等さまざ
まな有機高分子でできたイオン分離手段が用いられる。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、脱塩器への導入前に廃液が加熱しであると、
上述の有機高分子を用いるイオン分離手段は、例えば1
50℃以上で分離効率が著しく低下する。このため、濃
縮のため加熱した廃液は、脱塩器への導入前にイオン分
離に適する温度に冷却しなければならない。したがって
、脱塩に係る時間が長引き、かつ−旦加熱した廃液を冷
却するというエネルギー効率の悪い処理プロセスとなっ
ていた。
上述の有機高分子を用いるイオン分離手段は、例えば1
50℃以上で分離効率が著しく低下する。このため、濃
縮のため加熱した廃液は、脱塩器への導入前にイオン分
離に適する温度に冷却しなければならない。したがって
、脱塩に係る時間が長引き、かつ−旦加熱した廃液を冷
却するというエネルギー効率の悪い処理プロセスとなっ
ていた。
また、この有機高分子によるイオン分離手段は、バクテ
リアなどの微生物や薬品類に対する耐性も劣るため、こ
れらに晒される環境下では用いることができない。さら
にこれらのイオン分離手段は、洗浄処理をすれば再使用
が可能となるものの、耐用期間が短い。耐用期間が過ぎ
たイオン分離手段は廃棄されるが、このような放射性物
質に汚染される廃棄物は極力少ないことが望ましい。し
たがって、放射性廃棄物の減容という観点からも耐用年
限の長いイオン分離手段が求められている。
リアなどの微生物や薬品類に対する耐性も劣るため、こ
れらに晒される環境下では用いることができない。さら
にこれらのイオン分離手段は、洗浄処理をすれば再使用
が可能となるものの、耐用期間が短い。耐用期間が過ぎ
たイオン分離手段は廃棄されるが、このような放射性物
質に汚染される廃棄物は極力少ないことが望ましい。し
たがって、放射性廃棄物の減容という観点からも耐用年
限の長いイオン分離手段が求められている。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、電解質溶液
が浸蝕性で、かつ高温でも透析することができ、かつ再
処理しても寿命の長い電解質溶液のイオン成分除去方法
を提供することを目的とする。
が浸蝕性で、かつ高温でも透析することができ、かつ再
処理しても寿命の長い電解質溶液のイオン成分除去方法
を提供することを目的とする。
r発明の構成〕
(課題を解決するための手段)
本発明は上記課題を解決するために、導電性セラミック
スで多孔質のフィルタを製造し、この導電性セラミック
ス製のフィルタで電解質溶液を電気透析する電解質溶液
のイオン成分除去方法を提供する。
スで多孔質のフィルタを製造し、この導電性セラミック
ス製のフィルタで電解質溶液を電気透析する電解質溶液
のイオン成分除去方法を提供する。
(作用)
本発明による電解質溶液のイオン成分除去方法において
は、電解質溶液を導電性セラミックスフィルタで電気透
析する。すなわち、フィルタの素材となるセラミックス
は、これまでフィールタの材料となっていた有機高分子
に比べ、耐熱性、耐薬品性、耐バクテリア性に優れ、洗
浄・再使用する場合でも耐用年限が長いという特長を有
する。
は、電解質溶液を導電性セラミックスフィルタで電気透
析する。すなわち、フィルタの素材となるセラミックス
は、これまでフィールタの材料となっていた有機高分子
に比べ、耐熱性、耐薬品性、耐バクテリア性に優れ、洗
浄・再使用する場合でも耐用年限が長いという特長を有
する。
このため、−旦加熱した廃液でも冷却せずに透析・脱塩
することができ、脱塩に係る手間・時間が省かれる。そ
して本実施例の方法は電気透析であるため、通常の透析
よりも格段に速くイオンの分離ができる。また浸蝕性の
環境下でも透析・脱塩を行うことができ、使用範囲が拡
がる。さらに、耐用年限が長いため、使用できなくなっ
て廃棄物として処理される場合も、その量を極めて少量
にとどめることができる。
することができ、脱塩に係る手間・時間が省かれる。そ
して本実施例の方法は電気透析であるため、通常の透析
よりも格段に速くイオンの分離ができる。また浸蝕性の
環境下でも透析・脱塩を行うことができ、使用範囲が拡
がる。さらに、耐用年限が長いため、使用できなくなっ
て廃棄物として処理される場合も、その量を極めて少量
にとどめることができる。
(実施例)
以下第1図および第2図を参照して本発明の詳細な説明
する。
する。
第1図は本発明の方法の実施に用いる装置を模式的に示
した図である。すなわち、容器51は、導電性のセラミ
ックスでできた2枚のフィルタ52a、52bで仕切ら
れる。そして両フィルタ52a、52bで仕切られた箇
所にイオン成分を含む電解質溶液50を導入する。一方
、フィルタ52a、52bの外側には、電解質溶液50
の溶媒と同種類の液体49を充填する。フィルタ52a
。
した図である。すなわち、容器51は、導電性のセラミ
ックスでできた2枚のフィルタ52a、52bで仕切ら
れる。そして両フィルタ52a、52bで仕切られた箇
所にイオン成分を含む電解質溶液50を導入する。一方
、フィルタ52a、52bの外側には、電解質溶液50
の溶媒と同種類の液体49を充填する。フィルタ52a
。
52bは、素材がセラミックスであるため、多孔質であ
る。また、フィルタ52a、52bは、それぞれ直流電
源53のe極とe極に接続される。
る。また、フィルタ52a、52bは、それぞれ直流電
源53のe極とe極に接続される。
したがって、フィルタ52aはeに、またフィルタ52
bはeに帯電する。そして、容器51において、フィル
タ52aの外側には■電極54aが、またフィルタ52
bの外側にはe電極54bがそれぞれ電解質50に浸漬
される。この装置構成は、フィルタ52a、52bが導
電性のセラミックス製である点を除いて、電気透析の通
常の装置構成である。
bはeに帯電する。そして、容器51において、フィル
タ52aの外側には■電極54aが、またフィルタ52
bの外側にはe電極54bがそれぞれ電解質50に浸漬
される。この装置構成は、フィルタ52a、52bが導
電性のセラミックス製である点を除いて、電気透析の通
常の装置構成である。
すなわち、フィルタ52a、52bで仕切られた内部に
おいてのイオンとeイオンに電解した電解質50は、ク
ーロン力によってのイオンはフィルタ52bに、またe
イオンはフィルタ52aに引き寄せられる。そして、■
イオンとθイオンは、それぞれフィルタ52bと52a
の孔を通過してフィルタ52b、52aの外側に抜は出
し、イオン成分の分離が達成される。
おいてのイオンとeイオンに電解した電解質50は、ク
ーロン力によってのイオンはフィルタ52bに、またe
イオンはフィルタ52aに引き寄せられる。そして、■
イオンとθイオンは、それぞれフィルタ52bと52a
の孔を通過してフィルタ52b、52aの外側に抜は出
し、イオン成分の分離が達成される。
この後、■とeのイオン成分は、クーロン力によって、
それぞれe電極54bとの電極54aに引き寄せられる
。したがって、この装置によれば、イオン成分を■イオ
ンとeイオンに分けて処理することもできる。
それぞれe電極54bとの電極54aに引き寄せられる
。したがって、この装置によれば、イオン成分を■イオ
ンとeイオンに分けて処理することもできる。
ここで、フィルタ52に素材に用いられるセラミックス
は、導電性であれば特に制限はなく、例えばアルミナ、
Z r B 2、S I C1S t a N 4など
を用いることができる。そして、孔の径は40〜200
0人がよい。このような孔径をもつセラミックス製フィ
ルタは公知の技術で製造することができ、例えばアルミ
ナ膜については、AICHESymp、 Ser、 3
4 (261)、 19−27.1988;膜(Mem
brane) 10297、1985+Chem、
Eng、 、 jan、 20.18.1986:化学
工学。
は、導電性であれば特に制限はなく、例えばアルミナ、
Z r B 2、S I C1S t a N 4など
を用いることができる。そして、孔の径は40〜200
0人がよい。このような孔径をもつセラミックス製フィ
ルタは公知の技術で製造することができ、例えばアルミ
ナ膜については、AICHESymp、 Ser、 3
4 (261)、 19−27.1988;膜(Mem
brane) 10297、1985+Chem、
Eng、 、 jan、 20.18.1986:化学
工学。
48、682.1984;7. Che+n、 EB、
Japan、 17.514.1984等に記載され
た方法で製造することができる。
Japan、 17.514.1984等に記載され
た方法で製造することができる。
またZ r B 2を素材とする場合は、Z r B
2単独で用いると5iC1Si3N4等と比べ焼結温度
が高く製造に手間を要する上、大気中で酸化して分解し
やすくなるため、10〜20重量%のSiCを加えた複
合焼結体とするのが好ましい。さらに、Z r B 2
の耐熱衝撃性を改善する場合は、六方晶BN(hBN)
と複合焼結体を形成するとよい。ただしこの場合は強度
、硬度が若干失われる。逆に硬度や耐磨耗性を向上する
場合には、B4Cと複合焼結体を形成すればよい。こう
すると、Z r B 2単独の場合のビッカース硬度1
300〜1600kg/順2はほぼ倍増する。
2単独で用いると5iC1Si3N4等と比べ焼結温度
が高く製造に手間を要する上、大気中で酸化して分解し
やすくなるため、10〜20重量%のSiCを加えた複
合焼結体とするのが好ましい。さらに、Z r B 2
の耐熱衝撃性を改善する場合は、六方晶BN(hBN)
と複合焼結体を形成するとよい。ただしこの場合は強度
、硬度が若干失われる。逆に硬度や耐磨耗性を向上する
場合には、B4Cと複合焼結体を形成すればよい。こう
すると、Z r B 2単独の場合のビッカース硬度1
300〜1600kg/順2はほぼ倍増する。
第2図は、前述のZ r B 2単独で製造したフィル
タと、ZrB2とB4Cとの複合焼結体について温度と
比抵抗の関係を示したグラフ図である。
タと、ZrB2とB4Cとの複合焼結体について温度と
比抵抗の関係を示したグラフ図である。
両フィルタは、1800〜2200℃・350kg/a
n2の温度・圧力条件下で製造した。各フィルタにおけ
る膜電位は、印加電圧、膜圧およびZrB2の含有割合
を変えることによって変化させることができる。この実
施例によれば、1500℃までの温度範囲内で、比抵抗
的4.0xlO’以下の実用に耐えるレベルの電気透析
用フィルタを得ることができた。そこでZrB2−B4
Cの複合焼結体のフィルタ(平均孔径1000人)を用
い、第1図に示した装置構成で300℃の放射性廃液を
処理したところ、このZrB2−B4Cフィルタで仕切
られた箇所にある放射性廃液からは+2+2 、 Na 、Mg 、SO4なとのイオンが速やかに除
去されたことが確認された。これらのフィルタはセラミ
ックス製として、耐薬品性・耐バクテリア性に優れ、再
使用を繰り返しても寿命が長かったことはいうまでもな
い。
n2の温度・圧力条件下で製造した。各フィルタにおけ
る膜電位は、印加電圧、膜圧およびZrB2の含有割合
を変えることによって変化させることができる。この実
施例によれば、1500℃までの温度範囲内で、比抵抗
的4.0xlO’以下の実用に耐えるレベルの電気透析
用フィルタを得ることができた。そこでZrB2−B4
Cの複合焼結体のフィルタ(平均孔径1000人)を用
い、第1図に示した装置構成で300℃の放射性廃液を
処理したところ、このZrB2−B4Cフィルタで仕切
られた箇所にある放射性廃液からは+2+2 、 Na 、Mg 、SO4なとのイオンが速やかに除
去されたことが確認された。これらのフィルタはセラミ
ックス製として、耐薬品性・耐バクテリア性に優れ、再
使用を繰り返しても寿命が長かったことはいうまでもな
い。
以上説明したように、本発明によれば、電解質溶液のイ
オン成分除去において電気透析を利用し、かつその際使
用するフィルタを導電性セラミックス製のものにする。
オン成分除去において電気透析を利用し、かつその際使
用するフィルタを導電性セラミックス製のものにする。
したがって、本発明の方法は、高温の廃液にも適用する
ことができ、廃液の冷却に係る手間・時間が省かれる。
ことができ、廃液の冷却に係る手間・時間が省かれる。
また浸蝕性の環境下でも透析・脱塩を行うことができる
。さらに本発明の方法は、使用後いずれ廃棄物として処
理されるフィルタも、耐用年限が長いためその量を極め
て少量にとどめることができ、環境汚染のおそれもほと
んどない。
。さらに本発明の方法は、使用後いずれ廃棄物として処
理されるフィルタも、耐用年限が長いためその量を極め
て少量にとどめることができ、環境汚染のおそれもほと
んどない。
第1図は本発明の方法を実施する電気透析装置の一例を
示す模式図、第2図は本発明の方法で使用する導電性セ
ラミックスフィルタの温度と比抵抗の関係を示すグラフ
図、第3図は原子カプラントにおける放射性廃棄物処理
システムの模式図である。 31・・・沈降分離槽、37.44・・・脱塩器、40
・・・蒸発濃縮器。
示す模式図、第2図は本発明の方法で使用する導電性セ
ラミックスフィルタの温度と比抵抗の関係を示すグラフ
図、第3図は原子カプラントにおける放射性廃棄物処理
システムの模式図である。 31・・・沈降分離槽、37.44・・・脱塩器、40
・・・蒸発濃縮器。
Claims (1)
- 導電性セラミックスで多孔質のフィルタを製造し、この
導電性セラミックス製のフィルタで電解質溶液を電気透
析する電解質溶液のイオン成分除去方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2848390A JP2947849B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 電解質溶液のイオン成分除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2848390A JP2947849B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 電解質溶液のイオン成分除去方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03232521A true JPH03232521A (ja) | 1991-10-16 |
JP2947849B2 JP2947849B2 (ja) | 1999-09-13 |
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ID=12249910
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2848390A Expired - Fee Related JP2947849B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 電解質溶液のイオン成分除去方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2947849B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007051977A (ja) * | 2005-08-19 | 2007-03-01 | Toshiba Corp | 炉水浄化装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4874831B2 (ja) * | 2007-02-07 | 2012-02-15 | 株式会社東芝 | 円筒型脱塩器 |
-
1990
- 1990-02-09 JP JP2848390A patent/JP2947849B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2007051977A (ja) * | 2005-08-19 | 2007-03-01 | Toshiba Corp | 炉水浄化装置 |
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JP2947849B2 (ja) | 1999-09-13 |
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