JPH03228263A - 記憶情報読出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は記憶情報読出回路に関し、特に光デイスク装置
などの光記憶装置に好適な記憶情報読出回路に関する。

〔従来の技術〕

光デイスク装置などの光記憶装置における情報の読出し
は、極小のスポットに収束させたレーザ光を記憶媒体上
に照射したとき、媒体面上に形成されているピットの有
無に対応して反射光強度が変化することを光センサで検
出して行なわれる。

この光センサから得られる読出アナログ信号は、−例と
して第３図の読出アナログ信号（ａ）の波形例で示され
るように、媒体上のピット１３のエツジ位置に対応した
立上りもしくは立下りの極性変化点に情報が含まれた波
形となる（第３図最上段の数字は媒体内の情報の内容で
ある）、従って、読出回路では、第３図の如く読出アナ
ログ信号（ａ）をしきい値電圧■７と比較して、２値の
ディジタル信号である読出データ（ｉ＞を得るよう回路
が構成されてさた。

読出アナログ信号は本質的には直流成分を含んだ信号で
はあるが、直流からの広帯域増幅の困難さ、あるいは光
センサのフォーカスもしくはトラックサーボとの共用化
の理由で、低周波分がカットされている場合が一般的で
ある。このためデータパターン・媒体欠陥等に起因した
読出アナログ信号のエンベロープ変動が発生し、これに
しきい値電圧ＶＴが追従する必要からしきい値電圧７丁
として読出アナログ信号の正負ピーク値の中央値を用い
る方法等が採用されてきた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来の記憶情報読出回路では、しきい値電圧が
読出アナログ信号のエンベロープ変動を検出しこれに追
従するよう設定されるが、時間的に遅れが発生するため
低周波のエンベロープ変動には追従できても、データバ
タン・媒体欠陥による局部的なドロップアウトには十分
追従できない欠点がある。このため、読出データの検出
位置にズレが生じ、このヒツトシフトが読出エラーマー
ジンを低下させる大きな要因となっていた。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の記憶情報読出回路は、記憶情報検出手段から得
られる読出アナログ信号の立上り立下り極性変化位置を
検出することで２値のディジタル信号である読出データ
を得る記憶情報読出回路において、前記読出アナログ信
号を微分し１階微分信号を得る第一の微分手段と、前記
１階微分信号を微分し２階微分信号を得る第二の微分手
段と、前記１階微分信号を正負しきい値とレベル比較し
１階微分信号が正しきい値以上である時と負しきい値以
下である時にレベル信号を得るレベル比較手段と、前記
２階微分信号を零レベルとレベル比較し２階微分信号が
零レベルを横切った時に零クロス信号を得る零クロス比
較手段とを含み、前記レベル信号と前記零クロス信号と
の一致から前記読出データを得るよう構成したことを備
えて構成される。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、１は読出光ヘッド、２は増幅回路、３・４は微分回
路、５はレベル検出回路、６〜８は比較回路、９・１１
はＤ形フリップフロップ回路、１０はインバータ回路、
１２はＳ−Ｒ形フリップフロップ回路である。なお、レ
ベル検出回路５は比較回路７・８から構成され、正負の
しきい値電圧＋Ｖｔおよび−ＶＴが供給されている。

第２図は第１図の実施例に係る動作波形図であり、（ａ
）〜（ｉ）は第１図における各部の信号（ａ）〜（ｉ）
の動作波形例を示している。また、第２図の最上段の数
字は媒体内の情報の内容である。読出光ヘッド１により
検出された読出アナログ信号（ａ）は微弱であるため、
増幅回路２で増幅された後微分回路３に供給される。微
分回路３では読出アナログ信号（ａ）が時間微分される
ため、その出力である１階微分信号（ｂ）は読出アナロ
グ信号（ａ）の立上り立下り極性変化時点で正負のピー
クを有した波形となる。次に、この１階微分信号（ｂ）
はレベル検出回路５の中の比較回路７・８の一方の入力
端に供給されるとともに第二の微分回路４にも供給され
る。微分回路４では１階微分信号（ｂ）がさらに時間微
分されるため、その出力である２階微分信号（ｃ）は、
１階微分信号（ｂ）におりる正負ピーク点、すなわち読
出アナログ信号（ａ）の立上り立下り極性変化中央時点
で零レベルを横切る信号波形となる。比較回路６は零ク
ロス比較手段として用いられており、一方の入力の上記
２階微分信号（ｃ）が、他方の入力に零レベルが供給さ
れているので、ここで２値化されて零クロス信号（ｄ）
が得られる。

一方、レベル検出回路５を構成する比較回路７および８
には、１階微分信号（ｂ）と正負のしきい値電圧＋７丁
および−ＶＴが供給されているので、レベル信号として
の正レベル信号（ｅ）に１階微分信号（ｂ）が十ＶＴ以
上の時に“１″となリ、負レベル信号（ｆ）に１階微分
信号（ｂ）が−ＶＴ以下の時“１″となる論理信号が得
られる。正レベル信号（ｅ）と負レベル信号（ｆ）はＤ
形フリップフロップ９・１１のＤ入力およびリセット入
力に供給されている９また、Ｄ形フリップフロップ９・
１１のクロック入力には、零クロス信号（ｄ）とインバ
ータ回路１０による逆転信号が供給されており、このＤ
形フリップフロッ１９・１０において零クロス信号（ｄ
）とレベル信号としての正レベル信号＜ｅ）　・負レベ
ル信号（ｆ）との一致検出が行なわれる。

すなわち、Ｄ形フリップフロップ９では、読出アナログ
信号（ａ＞の立上り極性変化に相当した零クロス信号の
０から１への変化において、１階微分信号（ｂ）のレベ
ルが＋ＶＴ以上の時立上りデータパルス（ｇ）を発生す
るよう動作が行なわれる。Ｄ形フリップフロップ１１で
は、読比アナログ信号（ａ＞の立上り極性変化に相当し
た零クロス信号の１から０への変化において、１階微分
信号（ｂ）のレベルが−ＶＴ以下の時立下りデータパル
ス（ｈ）を発生するよう動作が行なわれる。この後、Ｓ
−Ｒ形フリップフロップ１２において、上記立上りデー
タパルス（ｇ）をセット入力に、立下りデータパルス（
ｈ）をリセット入力としたフリップフロップ動作から読
出データ（ｉ）が得られる。

以上の実施例によれば、情報の含まれたビットエツジに
相当した読出アナログ信号の立上り立下り極性変化位置
を２階微分信号の零クロス点から検出しているため、微
分回路特性によってエンベロープ変動分は除去される。

従って、データバタンあるいは媒体欠陥等に起因したエ
ンベロープ変動の影響がなくなり正確なビットエツジ検
出が達成される。

なお、一般に、微分回路を用いると微分回路の周波数特
性によって高周波ノイズが増加しＳ／Ｎ比が劣化する傾
向をもつが、光デイスク装置のようにノイズとして媒体
ノイズが支配的であり、かつ低周波のノイズスペクトル
が大である場合にはＳ／Ｎ比はかならずしも劣化するも
のではない。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、読出アナログ信号の立上
り立下り極性変化位置を検出することで読出データを得
る読出回路において、浸出アナログ信号の１階微分信号
絶対値レベルがしきい値以上である条件下で、読出アナ
ログ信号の２階微分信号零クロス点を読出データとする
ことにより、データバタンあるいは媒体欠陥等に起因し
た読出アナログ信号のエンベロープ変動による読出デー
タ検出位置ズレがなくなり、読出エラーマージンを向上
させるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すプロ・ンク図、
第２図は第１図の実施例に係る動作波形図、第３図は媒
体上のビットと読出波形の対応を示す説明図である。 １・・・読出光ヘッド、２・・・増幅回路、３・４・・
・微分回路、５・・・レベル検出回路、６〜８・・・比
較回路、９・１１・・・Ｄ形フリップフロ・１１回路、
１０・・・イ ンバータ回路、 ２・・・Ｓ Ｒ形フリップフロ ツブ、 ３・・・ビット。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　記憶情報検出手段から得られる読出アナログ信号の立
   上り立下り極性変化位置を検出することで２値のディジ
   タル信号である読出データを得る記憶情報読出回路にお
   いて、前記読出アナログ信号を微分し１階微分信号を得
   る第一の微分手段と、前記１階微分信号を微分し２階微
   分信号を得る第二の微分手段と、前記１階微分信号を正
   負しきい値とレベル比較し１階微分信号が正しきい値以
   上である時と負しきい値以下である時にレベル信号を得
   るレベル比較手段と、前記２階微分信号を零レベルとレ
   ベル比較し２階微分信号が零レベルを横切つた時に零ク
   ロス信号を得る零クロス比較手段とを含み、前記レベル
   信号と前記零クロス信号との一致から前記読出データを
   得るよう構成したことを特徴とする記憶情報読出回路。