JPH03214411A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents
薄膜磁気ヘッドInfo
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- JPH03214411A JPH03214411A JP818190A JP818190A JPH03214411A JP H03214411 A JPH03214411 A JP H03214411A JP 818190 A JP818190 A JP 818190A JP 818190 A JP818190 A JP 818190A JP H03214411 A JPH03214411 A JP H03214411A
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 111
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 abstract description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 100
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 241000013033 Triso Species 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は,基板上に薄膜形成法により磁気ヘッドの磁路
を横成する磁性層と、コイルを横成する導電層を形成し
て構成される薄膜磁気ヘッドに関するものである. [従来の技術] この種の薄膜磁気ヘッドの従来の代表的な構造例を第6
図,第7図に示してある. 第6図はヘッドの主要部分を拡大した斜視図、第7図は
第6図のA−A ′線に沿った断面図である. 両図に示すように基板11上に下部磁性層I2が形成さ
れ、その上に絶縁層13を介し導電層からなるコイルl
6が形成され,重にその上に絶縁層l4を介し上部磁性
層l5が形成される.上部磁性層l5はコイルl6を跨
いでコイルl6の一部と立体交差するように形成される
.そしてこの上部Mi性層I5と下部磁性層I2により
磁気ヘッドの磁路が横成される.基板11以外の構成要
素は薄膜形成技術で成膜され、フ才トリソエッチングに
よりそれぞれの形状に形成される.コイルl6は作製を
容易にするため単層のスバイラル状に形成される場合が
多い. [発明が解決しようとする課題1 ところで第〔逼図、第7図ではコイルの巻数として3タ
ーンのものを示したが、通常は数ターンから数10ター
ンのものが使用されており、コイルの巻数が増加すると
コイル形成部の占める面積が大きくなり,高密度記録用
のマルチチャンネル薄112気ヘッドではコイルの必要
な巻数を確保するのが非常に困難になる. 即ちコイルのa数を確保するためにコイルの厚さを薄く
したり幅を狭くしたりしてコイル断而梼を小さくすると
、電気抵抗が大きくなり、インピーダンスノイズが増加
し,信号とノイズの比,いわゆるS/N比が悪くなって
しまう.また一般にコイルの材料として使用されるCu
.Ajfi等は許容される電流密度に制限があり、約1
0mA/μm4以上においては溶断の危険を伴なう.
従って充分なコイル断面積を確保しつつコイルを形成し
なければならない. 一方,限られたコイルスペース内でコイルの巻数を確保
するためにコイル全体を複数層に積層して形成する方法
があるが,そうするとコイル全体の高さが高《なるため
、コイルを跨ぐ上部磁性層の段差が大きくなり,上部磁
性層の磁気特性が劣化する恐れがある. そこで本発明の課題は,この種の薄膜磁気ヘッドにおい
て上部磁性層の磁気特性の劣化を招かずに限られたコイ
ルスペース内でコイルの巻数を確保できるようにするこ
とにある. [課題を解決するための千段1 F記の課題を解決するため本発明によれば,基根上に下
部磁性層が形成され、該下部磁性層上に絶縁層を介し4
74層からなる、巻数が複数のコイルが形成され,更に
註コイル上に絶縁層を介し上部磁性層がコイルの一部と
立体交差するように形成される薄膜磁気ヘッドにおいて
、前記コイルの少なくとも前記上部磁性層と交差しない
部分の一部は絶縁層を介し複数層積層されており.その
積層数はコイルの上部磁性層と交差する部分の積層数よ
り多い構造を採用した. [作 用1 このような構成によれば、コイルの少なくとも土部磁性
層と交差しない部分の一部が複数層積層されていること
により、限られたコイルスペース内でコイルの巻数を確
保できる.またコイルの上部磁性層と交差する部分の積
層数が少なくその部分の高さが低くなるので,それを跨
ぐ上部磁性層の段差を小さくできる。
を横成する磁性層と、コイルを横成する導電層を形成し
て構成される薄膜磁気ヘッドに関するものである. [従来の技術] この種の薄膜磁気ヘッドの従来の代表的な構造例を第6
図,第7図に示してある. 第6図はヘッドの主要部分を拡大した斜視図、第7図は
第6図のA−A ′線に沿った断面図である. 両図に示すように基板11上に下部磁性層I2が形成さ
れ、その上に絶縁層13を介し導電層からなるコイルl
6が形成され,重にその上に絶縁層l4を介し上部磁性
層l5が形成される.上部磁性層l5はコイルl6を跨
いでコイルl6の一部と立体交差するように形成される
.そしてこの上部Mi性層I5と下部磁性層I2により
磁気ヘッドの磁路が横成される.基板11以外の構成要
素は薄膜形成技術で成膜され、フ才トリソエッチングに
よりそれぞれの形状に形成される.コイルl6は作製を
容易にするため単層のスバイラル状に形成される場合が
多い. [発明が解決しようとする課題1 ところで第〔逼図、第7図ではコイルの巻数として3タ
ーンのものを示したが、通常は数ターンから数10ター
ンのものが使用されており、コイルの巻数が増加すると
コイル形成部の占める面積が大きくなり,高密度記録用
のマルチチャンネル薄112気ヘッドではコイルの必要
な巻数を確保するのが非常に困難になる. 即ちコイルのa数を確保するためにコイルの厚さを薄く
したり幅を狭くしたりしてコイル断而梼を小さくすると
、電気抵抗が大きくなり、インピーダンスノイズが増加
し,信号とノイズの比,いわゆるS/N比が悪くなって
しまう.また一般にコイルの材料として使用されるCu
.Ajfi等は許容される電流密度に制限があり、約1
0mA/μm4以上においては溶断の危険を伴なう.
従って充分なコイル断面積を確保しつつコイルを形成し
なければならない. 一方,限られたコイルスペース内でコイルの巻数を確保
するためにコイル全体を複数層に積層して形成する方法
があるが,そうするとコイル全体の高さが高《なるため
、コイルを跨ぐ上部磁性層の段差が大きくなり,上部磁
性層の磁気特性が劣化する恐れがある. そこで本発明の課題は,この種の薄膜磁気ヘッドにおい
て上部磁性層の磁気特性の劣化を招かずに限られたコイ
ルスペース内でコイルの巻数を確保できるようにするこ
とにある. [課題を解決するための千段1 F記の課題を解決するため本発明によれば,基根上に下
部磁性層が形成され、該下部磁性層上に絶縁層を介し4
74層からなる、巻数が複数のコイルが形成され,更に
註コイル上に絶縁層を介し上部磁性層がコイルの一部と
立体交差するように形成される薄膜磁気ヘッドにおいて
、前記コイルの少なくとも前記上部磁性層と交差しない
部分の一部は絶縁層を介し複数層積層されており.その
積層数はコイルの上部磁性層と交差する部分の積層数よ
り多い構造を採用した. [作 用1 このような構成によれば、コイルの少なくとも土部磁性
層と交差しない部分の一部が複数層積層されていること
により、限られたコイルスペース内でコイルの巻数を確
保できる.またコイルの上部磁性層と交差する部分の積
層数が少なくその部分の高さが低くなるので,それを跨
ぐ上部磁性層の段差を小さくできる。
[実施例1
以下、図を参照して本発明の実施例の詳細を説明する.
第1実施例
第1図〜第3図は本発明の第l実施例によるマルチチャ
ンネル薄膜磁気ヘッドの構造を示しており、第1図は要
部の斜視図,第2図は第1図のB−13 ′線に沿った
断面図、第3図は第l図のA−A ′線に沿った断面図
である. 第1図〜第、3図に示すように,基板l上に下部磁性層
2が形成され、その−Fに絶縁層4a〜4cを介し4″
:4層からなるコイル5が形成され,川にその上に絶縁
層4dを介し上部磁性層7が形成される.上部磁性層7
はコイル5を跨いでコイル5の一部と立体交差するよう
に形成され、上部磁性層7の先端部は磁気ギャップ層3
を介して下部磁性層2と対向し、−L部磁性層7の後端
部は磁気コンタクトホール8を介し下部磁性層7と接合
される.そしてこの−L部磁性層7と下部磁性層2によ
り磁気ヘッドの磁路が構成される.なお磁性層2、7は
高透磁率磁性材からなり,コイル5はCu.Cr.AL
.Ti等の導電層またはこれらの積層による導電層から
なり、絶縁層4a〜4d及び磁気ギャップ層3はSi0
2等からなる. ここで本実施例の磁気ヘッドではコイル5が第6図,第
7図の従来例のコイルl6と異なっている.以下にコイ
ル5の詳細を説明する.コイル5はl巻きの形状がほぼ
矩形で,巻き数はここでは3ターンとしている.コイル
5の各部分を51〜53とa〜dを組み合わせた符号で
示してある.51〜53はコイル5の3ターンのそれぞ
れを示し.a=dはlターンの矩形の4辺のそれぞれを
示しでいる。
ンネル薄膜磁気ヘッドの構造を示しており、第1図は要
部の斜視図,第2図は第1図のB−13 ′線に沿った
断面図、第3図は第l図のA−A ′線に沿った断面図
である. 第1図〜第、3図に示すように,基板l上に下部磁性層
2が形成され、その−Fに絶縁層4a〜4cを介し4″
:4層からなるコイル5が形成され,川にその上に絶縁
層4dを介し上部磁性層7が形成される.上部磁性層7
はコイル5を跨いでコイル5の一部と立体交差するよう
に形成され、上部磁性層7の先端部は磁気ギャップ層3
を介して下部磁性層2と対向し、−L部磁性層7の後端
部は磁気コンタクトホール8を介し下部磁性層7と接合
される.そしてこの−L部磁性層7と下部磁性層2によ
り磁気ヘッドの磁路が構成される.なお磁性層2、7は
高透磁率磁性材からなり,コイル5はCu.Cr.AL
.Ti等の導電層またはこれらの積層による導電層から
なり、絶縁層4a〜4d及び磁気ギャップ層3はSi0
2等からなる. ここで本実施例の磁気ヘッドではコイル5が第6図,第
7図の従来例のコイルl6と異なっている.以下にコイ
ル5の詳細を説明する.コイル5はl巻きの形状がほぼ
矩形で,巻き数はここでは3ターンとしている.コイル
5の各部分を51〜53とa〜dを組み合わせた符号で
示してある.51〜53はコイル5の3ターンのそれぞ
れを示し.a=dはlターンの矩形の4辺のそれぞれを
示しでいる。
コイル5において上部磁性層7と立体交差する部分5l
b、52b、53bは第2図に示すように同じ絶縁層4
a .Lに仔いにf行に形成されている。即ちコイル
5の部分5lb、52b、53bは積層せずに1li層
で形成されていろ.次にコイル5の上部磁性層7と交差
しない部分で1二部磁性層7と′V行な側方の部分5
1 a、5 2 a、53a及び51c.52c、53
Cは第3図に示すように絶縁層4 a Fに絶縁層4b
.4cを介し3層に積層されて形成されている.またコ
イル5のt部磁性層7と交差しない部分で上部磁性層7
に対し垂直な部分51d.52dは交差する部分5lb
、52b.53bと同様に互いに平行に単層で形成され
ている. 次に本実施例のl4lII磁気ヘッドの製造方法を以下
に説明する. 本実施例のヘッドの製造玉程では、まず基板l上に下部
磁性層2を薄膜形成法により成膜した後,フォトリソエ
ッチングにより所定形状に形成する. 次に下部磁性層2上に絶縁層4aを成膀した後,その七
に導電層を成膜し、フォトリソエッチングによりコイル
5の1ターン目の部分51a〜51dの形状に形成する
. 次にその上に絶縁層4bを成膜し、この絶縁層4bにお
いて後でコイル5の部分52b、52dを形成する部分
,及び部分51dと部分52aを接続する不図示のコン
タクトホールを形成する部分をフ才トリソエッチングに
より除去する.次に導電層を成脱し,フォトリソエッチ
ングによりコイル5の2ターン目の部分52a〜52d
の形状に形成する. 川にその上に絶縁層4cを成膜し、絶縁層4b、4cに
おいて後でコイル5の部分53bを形成する部分,及び
部分52dと部分53aを接続する不図示のコンタクト
ホールを形成する部分を除去する。
b、52b、53bは第2図に示すように同じ絶縁層4
a .Lに仔いにf行に形成されている。即ちコイル
5の部分5lb、52b、53bは積層せずに1li層
で形成されていろ.次にコイル5の上部磁性層7と交差
しない部分で1二部磁性層7と′V行な側方の部分5
1 a、5 2 a、53a及び51c.52c、53
Cは第3図に示すように絶縁層4 a Fに絶縁層4b
.4cを介し3層に積層されて形成されている.またコ
イル5のt部磁性層7と交差しない部分で上部磁性層7
に対し垂直な部分51d.52dは交差する部分5lb
、52b.53bと同様に互いに平行に単層で形成され
ている. 次に本実施例のl4lII磁気ヘッドの製造方法を以下
に説明する. 本実施例のヘッドの製造玉程では、まず基板l上に下部
磁性層2を薄膜形成法により成膜した後,フォトリソエ
ッチングにより所定形状に形成する. 次に下部磁性層2上に絶縁層4aを成膀した後,その七
に導電層を成膜し、フォトリソエッチングによりコイル
5の1ターン目の部分51a〜51dの形状に形成する
. 次にその上に絶縁層4bを成膜し、この絶縁層4bにお
いて後でコイル5の部分52b、52dを形成する部分
,及び部分51dと部分52aを接続する不図示のコン
タクトホールを形成する部分をフ才トリソエッチングに
より除去する.次に導電層を成脱し,フォトリソエッチ
ングによりコイル5の2ターン目の部分52a〜52d
の形状に形成する. 川にその上に絶縁層4cを成膜し、絶縁層4b、4cに
おいて後でコイル5の部分53bを形成する部分,及び
部分52dと部分53aを接続する不図示のコンタクト
ホールを形成する部分を除去する。
次に導電層を成膜し、フォトリソエッチングによりコイ
ル5の3ターン目の部分53a〜53cの形状に形成す
る。
ル5の3ターン目の部分53a〜53cの形状に形成す
る。
重にその−Lに絶縁層4dを成模し、エッチバック法等
により平坦化し、絶縁層4a〜4dにおいて磁気ギャッ
プ層3と磁気コンタクトホール8を形成する部分を除去
した後、磁気ギャップ層3を形成する。
により平坦化し、絶縁層4a〜4dにおいて磁気ギャッ
プ層3と磁気コンタクトホール8を形成する部分を除去
した後、磁気ギャップ層3を形成する。
更にそのトに磁性層を成膜し、フtトリソエ・ンチング
によりト部磁性層7として所定のトラック幅,トラック
ピッチに形成する.そしてこの後は不図示の保護層の形
成、保護扱の接着,媒体摺動而の加工などを行なって薄
膜磁気ヘッドが完成する. 以Fのような本実施例の薄膜磁気へ・ンドによれば、コ
イル5の上部磁性層7と交差しない側方の部分51a、
52a.53a及び51c、52c53cが複数層積層
されているので、マルチチャンネル薄膜磁気ヘッドで最
もコイルスペースの確保しにくい上部磁性層7側方部に
おいてコイルスペースを確保でき,コイルの断而積(コ
イルの長さ方向に直交する断面の面積)を減少させるこ
となくコイルの巻数を多くできる.従って充分な出力が
得られるとともに良好なS/N比が得られる. また本実施例ではコイル5の上部磁性層7と交差する部
分5lb、52b.53bは積層されず単層であり,そ
の部分の高さが低いので、それを跨ぐ上部磁性層7の段
差が小さくなり,上部磁性層7の磁気特性の劣化を避け
ることができる.このようにして本実施例によれば優れ
た高記録密度用のマルチチャンネル薄膜磁気ヘッドを提
供できる. なお上記薄膜磁気ヘッドにおいて第2図、第3図に示し
たようにコイル5の1ターン目の部分51a〜51c.
2ターン目の部分52a〜52c.3ターン目の部分5
3a 〜53cは互いに幅も厚さも同様(ここで図示さ
れていない部分51d、52dも同様)であり,コイル
5の断面積はコイル5の全長にわたってほぼ均一とする
.コイル5の長さ方向に沿って断面積が異なると,断面
積の小さな部分で溶断が生じる恐れがあるからである. 第2実施例 次に第4図、第5図は本発明の第2実施例によるマルチ
ヂャンネル.IM3磁気ヘッドの横造を示す断面図であ
り,それぞれ第1実施例の第2図,第3図に対応してい
る。第4図,第5図において第1実施例の第1図〜第3
図中と共通もしくは対応する部分には共通の符号が付し
てあり,共通部分の説明は省略する. 前述した第1実施例ではコイル5の1ターン1−1の部
分51a〜51d、2ターン1lの部分52a〜52d
、3ターン口の部分53a〜53Cは1いに幅も厚さも
同様である。
によりト部磁性層7として所定のトラック幅,トラック
ピッチに形成する.そしてこの後は不図示の保護層の形
成、保護扱の接着,媒体摺動而の加工などを行なって薄
膜磁気ヘッドが完成する. 以Fのような本実施例の薄膜磁気へ・ンドによれば、コ
イル5の上部磁性層7と交差しない側方の部分51a、
52a.53a及び51c、52c53cが複数層積層
されているので、マルチチャンネル薄膜磁気ヘッドで最
もコイルスペースの確保しにくい上部磁性層7側方部に
おいてコイルスペースを確保でき,コイルの断而積(コ
イルの長さ方向に直交する断面の面積)を減少させるこ
となくコイルの巻数を多くできる.従って充分な出力が
得られるとともに良好なS/N比が得られる. また本実施例ではコイル5の上部磁性層7と交差する部
分5lb、52b.53bは積層されず単層であり,そ
の部分の高さが低いので、それを跨ぐ上部磁性層7の段
差が小さくなり,上部磁性層7の磁気特性の劣化を避け
ることができる.このようにして本実施例によれば優れ
た高記録密度用のマルチチャンネル薄膜磁気ヘッドを提
供できる. なお上記薄膜磁気ヘッドにおいて第2図、第3図に示し
たようにコイル5の1ターン目の部分51a〜51c.
2ターン目の部分52a〜52c.3ターン目の部分5
3a 〜53cは互いに幅も厚さも同様(ここで図示さ
れていない部分51d、52dも同様)であり,コイル
5の断面積はコイル5の全長にわたってほぼ均一とする
.コイル5の長さ方向に沿って断面積が異なると,断面
積の小さな部分で溶断が生じる恐れがあるからである. 第2実施例 次に第4図、第5図は本発明の第2実施例によるマルチ
ヂャンネル.IM3磁気ヘッドの横造を示す断面図であ
り,それぞれ第1実施例の第2図,第3図に対応してい
る。第4図,第5図において第1実施例の第1図〜第3
図中と共通もしくは対応する部分には共通の符号が付し
てあり,共通部分の説明は省略する. 前述した第1実施例ではコイル5の1ターン1−1の部
分51a〜51d、2ターン1lの部分52a〜52d
、3ターン口の部分53a〜53Cは1いに幅も厚さも
同様である。
これに対して第2実施例では第4図、第5図に示されて
いるように、コイル5の1ターン目より2ターン口,2
ターン目より3ターン目の部分の方が幅が狭く厚さが厚
くなっている.即ち積層されている部分51a〜53a
、51c〜53cについて言えば上層の部分ほど幅が小
さく厚さが厚くなっている.第2実施例のこのほかの部
分の構造は第1実施例と共通とする.なおコイル5の断
面積は、第1実施例と同様にコイル5の全長にわたって
均一とする.コイル5の幅と厚さの大小関係を前記のよ
うに逆にしたのはこのためでもある。
いるように、コイル5の1ターン目より2ターン口,2
ターン目より3ターン目の部分の方が幅が狭く厚さが厚
くなっている.即ち積層されている部分51a〜53a
、51c〜53cについて言えば上層の部分ほど幅が小
さく厚さが厚くなっている.第2実施例のこのほかの部
分の構造は第1実施例と共通とする.なおコイル5の断
面積は、第1実施例と同様にコイル5の全長にわたって
均一とする.コイル5の幅と厚さの大小関係を前記のよ
うに逆にしたのはこのためでもある。
このような第2実施例によれば,第1実施例と同様の効
果が得られる七に、製造工程においてコイル5の下層の
部分の上にE層の部分を積層して形成する場合に形成し
易くなるとともに、−L層の部分の段差のステ・ンブカ
バレージが良くなり、ステップ力バレージの不良による
コイルの断線,抵抗増加を防止できる. なお第1実施例,第2実施例において、コ,イル5のL
部磁性層7と交差する部分(5lb〜53b)は単層と
したが、コイル5の巻数が多い場合は複数層積層しても
よい.但し、その場合に交差する部分の積層数は交差し
ない部分(51a〜53a、51c〜53C)の積層数
より少なくすることは勿論である. [発明の効果1 以上の説明から明らかなように本発明によれば、基板上
に下部磁性層が形成され、該下部磁性層1に絶縁層を介
し導電層からなる,巻数が複数のコイルが形成され、重
に該コイル上に絶縁層を介し上部磁性層がコイルの一部
とq体交差するように形成される薄II磁気ヘッドにお
いて、前記コイルの少なくとも前記−E部磁性層と交差
しない部分の一部は絶縁層を介し複数層積層されており
,その積層数はコイルの上部磁性層と交差する部分の積
層数より多い構造を採用したので、マルチチャンネル化
により限られるコイルスペース内でコイルの断面積を小
さくせずにコイルの巻数を確保でき、良好なS/N比で
必要な出力が得られると共に、上部磁性層の段差を小さ
くして上部磁性層の磁気特性の劣化を避けることができ
、ヘッドの特性を向トできるという優れた効果が得られ
る。
果が得られる七に、製造工程においてコイル5の下層の
部分の上にE層の部分を積層して形成する場合に形成し
易くなるとともに、−L層の部分の段差のステ・ンブカ
バレージが良くなり、ステップ力バレージの不良による
コイルの断線,抵抗増加を防止できる. なお第1実施例,第2実施例において、コ,イル5のL
部磁性層7と交差する部分(5lb〜53b)は単層と
したが、コイル5の巻数が多い場合は複数層積層しても
よい.但し、その場合に交差する部分の積層数は交差し
ない部分(51a〜53a、51c〜53C)の積層数
より少なくすることは勿論である. [発明の効果1 以上の説明から明らかなように本発明によれば、基板上
に下部磁性層が形成され、該下部磁性層1に絶縁層を介
し導電層からなる,巻数が複数のコイルが形成され、重
に該コイル上に絶縁層を介し上部磁性層がコイルの一部
とq体交差するように形成される薄II磁気ヘッドにお
いて、前記コイルの少なくとも前記−E部磁性層と交差
しない部分の一部は絶縁層を介し複数層積層されており
,その積層数はコイルの上部磁性層と交差する部分の積
層数より多い構造を採用したので、マルチチャンネル化
により限られるコイルスペース内でコイルの断面積を小
さくせずにコイルの巻数を確保でき、良好なS/N比で
必要な出力が得られると共に、上部磁性層の段差を小さ
くして上部磁性層の磁気特性の劣化を避けることができ
、ヘッドの特性を向トできるという優れた効果が得られ
る。
第1図は本発明の第1実施例による薄膜磁気ヘッドの要
部の構造を示す斜視図、第2図は第l図のB−B’線に
沿った断面図,第3図は第1図のA−A’線に沿った断
面図,第4図及び第5図はそれぞれ第2実施例による薄
膜磁気ヘッドの要部の構造を示す断面図、第6図は従来
の薄股磁気ヘッドの要部の構造を示す斜視図,第7図は
第6図のA−A’線に沿った断面図である.l・・・基
板 2・・・下部磁性層3・・・磁気ギャップ
層 48〜4d・・・絶縁層 5・・・コイル 7・一上部磁性層8−・・磁気
コンタクトホール
部の構造を示す斜視図、第2図は第l図のB−B’線に
沿った断面図,第3図は第1図のA−A’線に沿った断
面図,第4図及び第5図はそれぞれ第2実施例による薄
膜磁気ヘッドの要部の構造を示す断面図、第6図は従来
の薄股磁気ヘッドの要部の構造を示す斜視図,第7図は
第6図のA−A’線に沿った断面図である.l・・・基
板 2・・・下部磁性層3・・・磁気ギャップ
層 48〜4d・・・絶縁層 5・・・コイル 7・一上部磁性層8−・・磁気
コンタクトホール
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)基板上に下部磁性層が形成され、該下部磁性層上に
絶縁層を介し導電層からなる、巻数が複数のコイルが形
成され、更に該コイル上に絶縁層を介し上部磁性層がコ
イルの一部と立体交差するように形成される薄膜磁気ヘ
ッドにおいて、前記コイルの少なくとも前記上部磁性層
と交差しない部分の一部は絶縁層を介し複数層積層され
ており、その積層数はコイルの上部磁性層と交差する部
分の積層数より多いことを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 2)前記コイルの長さ方向に直交する断面の面積は該コ
イルの全長にわたってほぼ均一であることを特徴とする
請求項第1項に記載の薄膜磁気ヘッド。 3)前記コイルの複数層積層された部分において上層の
部分ほど幅が小さく厚さが厚くなることを特徴とする請
求項第2項に記載の薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP818190A JPH03214411A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 薄膜磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP818190A JPH03214411A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 薄膜磁気ヘッド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03214411A true JPH03214411A (ja) | 1991-09-19 |
Family
ID=11686142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP818190A Pending JPH03214411A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 薄膜磁気ヘッド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03214411A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6988307B2 (en) * | 1999-11-23 | 2006-01-24 | Intel Corporation | Method of making an integrated inductor |
US7119650B2 (en) | 1999-11-23 | 2006-10-10 | Intel Corporation | Integrated transformer |
US7852185B2 (en) | 2003-05-05 | 2010-12-14 | Intel Corporation | On-die micro-transformer structures with magnetic materials |
US8134548B2 (en) | 2005-06-30 | 2012-03-13 | Micron Technology, Inc. | DC-DC converter switching transistor current measurement technique |
-
1990
- 1990-01-19 JP JP818190A patent/JPH03214411A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6988307B2 (en) * | 1999-11-23 | 2006-01-24 | Intel Corporation | Method of making an integrated inductor |
US7119650B2 (en) | 1999-11-23 | 2006-10-10 | Intel Corporation | Integrated transformer |
US7299537B2 (en) * | 1999-11-23 | 2007-11-27 | Intel Corporation | Method of making an integrated inductor |
US7434306B2 (en) | 1999-11-23 | 2008-10-14 | Intel Corporation | Integrated transformer |
US7852185B2 (en) | 2003-05-05 | 2010-12-14 | Intel Corporation | On-die micro-transformer structures with magnetic materials |
US8471667B2 (en) | 2003-05-05 | 2013-06-25 | Intel Corporation | On-die micro-transformer structures with magnetic materials |
US8134548B2 (en) | 2005-06-30 | 2012-03-13 | Micron Technology, Inc. | DC-DC converter switching transistor current measurement technique |
US8482552B2 (en) | 2005-06-30 | 2013-07-09 | Micron Technology, Inc. | DC-DC converter switching transistor current measurement technique |
US9124174B2 (en) | 2005-06-30 | 2015-09-01 | Micron Technology, Inc. | DC-DC converter switching transistor current measurement technique |
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