JPS62256209A - 薄膜磁気ヘツド - Google Patents
薄膜磁気ヘツドInfo
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- JPS62256209A JPS62256209A JP9850486A JP9850486A JPS62256209A JP S62256209 A JPS62256209 A JP S62256209A JP 9850486 A JP9850486 A JP 9850486A JP 9850486 A JP9850486 A JP 9850486A JP S62256209 A JPS62256209 A JP S62256209A
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Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業−にの利用分野)
本発明は、薄膜磁気ヘッドに関する。
(従来の技術)
薄膜磁気ヘッドは、配線パターンの発熱の関係」二、数
十mA程度の電流しか巻線膜に通電することができず、
従って誘起磁束が小さく、記録、再生動作を行なわせる
ためには、磁気抵抗を小さくするため、磁路長を短くす
る必要がある。これらの要望を満たす構造として、巻線
をジグザグ、スパイラルあるいはマルチターン形に形成
した多層巻線が知られている。
十mA程度の電流しか巻線膜に通電することができず、
従って誘起磁束が小さく、記録、再生動作を行なわせる
ためには、磁気抵抗を小さくするため、磁路長を短くす
る必要がある。これらの要望を満たす構造として、巻線
をジグザグ、スパイラルあるいはマルチターン形に形成
した多層巻線が知られている。
第4図は前記多層コイルの一例であるジグザグ形のもの
の磁性膜と巻線膜との関係を示し、第5図は第4図のF
−F拡大断面を示す。この薄膜磁気ヘッドは、基板l上
に複数本の巻線下膜2a〜2Cを形成し、その上に記録
媒体走行面Sから直角をなす方向に絶縁膜6を介して磁
性下膜4を形成し、磁性下膜4上に絶縁膜7を介して巻
線上膜3a〜3dを形成し、巻線」二膜3a〜3d上に
絶縁膜9を介して磁性上膜5を磁性下膜4に重ねるよう
に形成し、前記巻線下膜2a〜2Cの端部と巻線上膜3
a〜3dの隣接するものの一方の端部を相互に接続部8
により接続してなるものである。
の磁性膜と巻線膜との関係を示し、第5図は第4図のF
−F拡大断面を示す。この薄膜磁気ヘッドは、基板l上
に複数本の巻線下膜2a〜2Cを形成し、その上に記録
媒体走行面Sから直角をなす方向に絶縁膜6を介して磁
性下膜4を形成し、磁性下膜4上に絶縁膜7を介して巻
線上膜3a〜3dを形成し、巻線」二膜3a〜3d上に
絶縁膜9を介して磁性上膜5を磁性下膜4に重ねるよう
に形成し、前記巻線下膜2a〜2Cの端部と巻線上膜3
a〜3dの隣接するものの一方の端部を相互に接続部8
により接続してなるものである。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、上記従来の薄膜磁気ヘッドは、巻線下膜2a〜
2cと巻線上膜3a〜3dとの間の配設位置をWに示す
幅だけ偏位させてその間に磁性下膜4を形成しているの
で、磁性膜4.5の全体の長さ、すなわち磁路長が長く
なり、さらに、磁性下膜4は図示のように多くの段差部
4a、4b。
2cと巻線上膜3a〜3dとの間の配設位置をWに示す
幅だけ偏位させてその間に磁性下膜4を形成しているの
で、磁性膜4.5の全体の長さ、すなわち磁路長が長く
なり、さらに、磁性下膜4は図示のように多くの段差部
4a、4b。
4c、・・・を有する構造となるので、ますます磁路長
が長くなるという問題点がある。また、このような段差
部4a、4b、4c、・・・の存在によるノイズの発生
が避けられず、SN比が悪いという問題点がある。他の
スパイラル形の場合にはさらに段差が大きくなり、スパ
ッタリング等により段差部に絶縁膜を形成する場合、絶
縁膜が非常に薄くなったり、形成されなくなる場合があ
るため、製造上の歩留りが悪く、また、マルチターン型
の場合にも同様な問題点がある。
が長くなるという問題点がある。また、このような段差
部4a、4b、4c、・・・の存在によるノイズの発生
が避けられず、SN比が悪いという問題点がある。他の
スパイラル形の場合にはさらに段差が大きくなり、スパ
ッタリング等により段差部に絶縁膜を形成する場合、絶
縁膜が非常に薄くなったり、形成されなくなる場合があ
るため、製造上の歩留りが悪く、また、マルチターン型
の場合にも同様な問題点がある。
なお、このような問題点を解決するため、有機レジスト
を用いて平坦化する方法や、絶縁層形成後、エッチバッ
クによって平坦化する方法等が用いられていたが、有機
レジストによる方法は、(1)二次工程以下の工程にお
ける加熱温度に限界を生じ、(2)1部膜に対する信頼
性が乏しく、(3)段差解消のために1.5〜2倍程度
の段差を誘起するという欠点がある。また、前記エッチ
バック法は、(1)技術的に難かしく、(2)工程が複
雑になるという欠点がある。
を用いて平坦化する方法や、絶縁層形成後、エッチバッ
クによって平坦化する方法等が用いられていたが、有機
レジストによる方法は、(1)二次工程以下の工程にお
ける加熱温度に限界を生じ、(2)1部膜に対する信頼
性が乏しく、(3)段差解消のために1.5〜2倍程度
の段差を誘起するという欠点がある。また、前記エッチ
バック法は、(1)技術的に難かしく、(2)工程が複
雑になるという欠点がある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、上記の点に鑑み、基板上に第1の磁性膜を形
成し、該第1の磁性膜上に該磁性膜を横切るようにほぼ
巻線幅の間隔を有して断面形状が台形をなす複数条の第
1の巻線膜を形成し、該第1の巻線膜の間にこの間を充
填するように断面形状が台形をなす第2の巻線膜を絶縁
膜を介して形成し、該第1、第2の巻線膜上に、前記f
f1lの磁性膜との間で磁路を形成する第2の磁性膜を
形成し、前記第1、第2の巻線膜は、前記第1.第2の
磁性膜の間の部分以外の部分において、該磁性膜の間の
部分にて同方向に電流が流れるように螺旋パターンをな
すように接続したことを特徴とするものであり、第1.
第2の巻線膜を組合わせた形状は、少なくとも磁性膜形
成部においては平坦化されるので、これに伴ない、第1
、第2の磁性膜を平坦に形成することができる。
成し、該第1の磁性膜上に該磁性膜を横切るようにほぼ
巻線幅の間隔を有して断面形状が台形をなす複数条の第
1の巻線膜を形成し、該第1の巻線膜の間にこの間を充
填するように断面形状が台形をなす第2の巻線膜を絶縁
膜を介して形成し、該第1、第2の巻線膜上に、前記f
f1lの磁性膜との間で磁路を形成する第2の磁性膜を
形成し、前記第1、第2の巻線膜は、前記第1.第2の
磁性膜の間の部分以外の部分において、該磁性膜の間の
部分にて同方向に電流が流れるように螺旋パターンをな
すように接続したことを特徴とするものであり、第1.
第2の巻線膜を組合わせた形状は、少なくとも磁性膜形
成部においては平坦化されるので、これに伴ない、第1
、第2の磁性膜を平坦に形成することができる。
(実施例)
第1図は本発明による薄膜磁気ヘッドの一実施例を多チ
ャンネルについて示す図、第2図はそのE−E断面図で
ある。lはNi−Zn等でなる基板、A、Bは基板lに
形成された各チャンネル対応の磁気記録、再生部である
。これらの各部A。
ャンネルについて示す図、第2図はそのE−E断面図で
ある。lはNi−Zn等でなる基板、A、Bは基板lに
形成された各チャンネル対応の磁気記録、再生部である
。これらの各部A。
Bは以下のように構成されている。IOは基板1上に形
成された例えばセンダスト、パーマロイ等の高透磁率の
磁性材料でなる第1の磁性膜、11は該第1の磁性膜I
O上に形成された例えば5i02 、AlI303 、
S i304等テナル絶縁膜、12は巻線の一部a、b
、c、dが該第1の磁性11i 10を横切るようにほ
ぼ巻線幅の間隔を有して形成された例えばCu、AfL
、Au、Ag、Niもしくはこれらの合金等の導体でな
る第1の巻線膜であり、断面形状が上辺(基板1の反対
側の辺)を短辺とした台形をなすものである0本実施例
は、該第1の巻線膜12を絶縁膜11を介して形成して
いるが、磁性膜10として電気抵抗値が大であるものを
使用する場合には、該絶縁膜11を無くすることもでき
る。
成された例えばセンダスト、パーマロイ等の高透磁率の
磁性材料でなる第1の磁性膜、11は該第1の磁性膜I
O上に形成された例えば5i02 、AlI303 、
S i304等テナル絶縁膜、12は巻線の一部a、b
、c、dが該第1の磁性11i 10を横切るようにほ
ぼ巻線幅の間隔を有して形成された例えばCu、AfL
、Au、Ag、Niもしくはこれらの合金等の導体でな
る第1の巻線膜であり、断面形状が上辺(基板1の反対
側の辺)を短辺とした台形をなすものである0本実施例
は、該第1の巻線膜12を絶縁膜11を介して形成して
いるが、磁性膜10として電気抵抗値が大であるものを
使用する場合には、該絶縁膜11を無くすることもでき
る。
15は第1の巻線膜12上に形成された前記5i02等
でなる絶縁膜、13は該絶縁膜15を介してSlの巻線
膜12の間の部分に形成された前記Cu等でなる第2の
巻線膜であり、該第2の巻線膜13(理解を容易にする
ため、第1図においては、この膜13の部分には斜線を
加えている)は、前記第1の磁性膜lOを横切る部分e
。
でなる絶縁膜、13は該絶縁膜15を介してSlの巻線
膜12の間の部分に形成された前記Cu等でなる第2の
巻線膜であり、該第2の巻線膜13(理解を容易にする
ため、第1図においては、この膜13の部分には斜線を
加えている)は、前記第1の磁性膜lOを横切る部分e
。
flgにおいて、前記第1の巻線M12の間にこの間を
充填するように形成される。従って、第2の巻線膜13
の第1の磁性膜10を横切る部分は、第1の巻線膜12
の断面形状との関係から、断面形状が上辺を長辺とした
台形をなすものである。該第2の巻線膜13の磁性膜1
0に対応した部分ないしはその近傍部分e−g以外の部
分は、必ずしも前記第1の巻線膜12の間を第2の巻線
膜13で充填する構造とする必要がないので、断面形状
は長方形等能の形状としてもよい。
充填するように形成される。従って、第2の巻線膜13
の第1の磁性膜10を横切る部分は、第1の巻線膜12
の断面形状との関係から、断面形状が上辺を長辺とした
台形をなすものである。該第2の巻線膜13の磁性膜1
0に対応した部分ないしはその近傍部分e−g以外の部
分は、必ずしも前記第1の巻線膜12の間を第2の巻線
膜13で充填する構造とする必要がないので、断面形状
は長方形等能の形状としてもよい。
14は該第1、第2の巻線膜12.13上に絶縁膜15
.16を介して形成された前記センダスト等でなる第2
の磁性膜であり、該第2の磁性膜14はテープ走行面S
の部分においては第1の磁性膜10に対して絶縁膜15
.16を介して積層され、尾端側は第1の磁性膜10に
一体に重ねて形成している。
.16を介して形成された前記センダスト等でなる第2
の磁性膜であり、該第2の磁性膜14はテープ走行面S
の部分においては第1の磁性膜10に対して絶縁膜15
.16を介して積層され、尾端側は第1の磁性膜10に
一体に重ねて形成している。
第1、第2の巻線膜12.13は、前記第1、第2の磁
性膜10.14の間の部分以外の部分において、該磁性
膜の間の部分a−d、e−gにて同方向に電流が流れる
ようにそれぞれ螺旋状に接続される。すなわち、第1の
巻線膜12には、第2の巻線膜13が絶縁膜14を介し
て跨ぐ部分り、i、jを形成し、第1の巻線膜12と第
2の巻線膜13の各内端部は絶縁膜14なしで重層して
電気的に接続することにより、磁性膜10.14の間の
部分a”d、e−gにて同方向に電流が流れる螺旋形を
形成しているのである。12a。
性膜10.14の間の部分以外の部分において、該磁性
膜の間の部分a−d、e−gにて同方向に電流が流れる
ようにそれぞれ螺旋状に接続される。すなわち、第1の
巻線膜12には、第2の巻線膜13が絶縁膜14を介し
て跨ぐ部分り、i、jを形成し、第1の巻線膜12と第
2の巻線膜13の各内端部は絶縁膜14なしで重層して
電気的に接続することにより、磁性膜10.14の間の
部分a”d、e−gにて同方向に電流が流れる螺旋形を
形成しているのである。12a。
i3aはそれぞれ第1の巻線膜12および第2の巻線膜
13の接続部である。
13の接続部である。
このような構造は、第3図に示す工程により実現するこ
とができる。第3図は磁性膜10 、14の部分につい
て示しており、まず(A)に示すように、Nf−Znフ
ェライ!・でなる基板1上に、例えばセンダストでなる
第1の磁性膜10を例えば膜厚l〜5pmに形成し、そ
の」−に例えばS+02でなる絶縁膜11を例えば膜厚
0 、5 gmに形成したものに対し、Cuの薄膜をス
パッタリング等により500人の膜厚に形成し、次にそ
の膜上にCuを例えば2〜3#Lfflの厚さに電着し
、その電着層12Aの上に1例えば膜厚6トm、上辺旧
=4pm、下辺W2= 6 gm 、間隔W3=61L
mとなるように第1の巻線膜12に対応したレジストパ
ターンを形成し、次にイオンビームエツチングにより、
レジスト17以外の部分を除去することにより、(B)
に示すように、第1の巻線膜12のパターンを形成する
。
とができる。第3図は磁性膜10 、14の部分につい
て示しており、まず(A)に示すように、Nf−Znフ
ェライ!・でなる基板1上に、例えばセンダストでなる
第1の磁性膜10を例えば膜厚l〜5pmに形成し、そ
の」−に例えばS+02でなる絶縁膜11を例えば膜厚
0 、5 gmに形成したものに対し、Cuの薄膜をス
パッタリング等により500人の膜厚に形成し、次にそ
の膜上にCuを例えば2〜3#Lfflの厚さに電着し
、その電着層12Aの上に1例えば膜厚6トm、上辺旧
=4pm、下辺W2= 6 gm 、間隔W3=61L
mとなるように第1の巻線膜12に対応したレジストパ
ターンを形成し、次にイオンビームエツチングにより、
レジスト17以外の部分を除去することにより、(B)
に示すように、第1の巻線膜12のパターンを形成する
。
次に(C)に示すように、絶縁ff!15としての5i
02を、スパッタリング等により、第1の巻線膜12上
(ただし第1図の内端の接続部に、12aを除く)およ
び絶縁膜11上に例えば0.5p、mの膜厚に形成する
。次に(D)に示すように、第2の巻線膜13を形成す
る部分ないしはその近傍にスパッタリング等により、C
u膜13Aを例えば1500人の膜厚に形成し、その上
に、第2の巻線膜13を形成する部分以外の部分にレジ
スト18を形成し、続いて (E)に示すように、Cu
膜a、b、c、dの間の部分、すなわちレジスト18の
無い部分について、電着により、Cu膜13Bを2〜3
11.IBの膜厚に形成する。次にレジスト18を除去
すると共に、Cu1Il13Aの電着膜13B形成部以
外の部分をウニ・ントエッチングあるいはイオンミリン
グにより除去する。残留した膜13A、13Bの一体化
されてなる部分がそれぞれ前記e+f+gで表示される
第2の巻線膜13となる。次に(F)に示すように、5
i02でなる絶縁膜14を第1.第2の巻線膜12.1
3上に絶縁膜15.16を介して形成する。
02を、スパッタリング等により、第1の巻線膜12上
(ただし第1図の内端の接続部に、12aを除く)およ
び絶縁膜11上に例えば0.5p、mの膜厚に形成する
。次に(D)に示すように、第2の巻線膜13を形成す
る部分ないしはその近傍にスパッタリング等により、C
u膜13Aを例えば1500人の膜厚に形成し、その上
に、第2の巻線膜13を形成する部分以外の部分にレジ
スト18を形成し、続いて (E)に示すように、Cu
膜a、b、c、dの間の部分、すなわちレジスト18の
無い部分について、電着により、Cu膜13Bを2〜3
11.IBの膜厚に形成する。次にレジスト18を除去
すると共に、Cu1Il13Aの電着膜13B形成部以
外の部分をウニ・ントエッチングあるいはイオンミリン
グにより除去する。残留した膜13A、13Bの一体化
されてなる部分がそれぞれ前記e+f+gで表示される
第2の巻線膜13となる。次に(F)に示すように、5
i02でなる絶縁膜14を第1.第2の巻線膜12.1
3上に絶縁膜15.16を介して形成する。
なおL記の例では、記録媒体走行面S側のギャップGは
絶縁膜11.15の合計膜厚で決定されるが、他のギャ
ップ形成膜を単独に形成するか、あるいは膜11.15
に他の膜を付加したもの、あるいは@11.15のいず
れかによってギャップGが決定されるように構成するこ
とも可能である。また、第1図において、第1の巻線膜
12のdに示す最内側パターンのさらに内側に第2の巻
線膜13の最内側パターンを形成する構造も実現可能で
ある。
絶縁膜11.15の合計膜厚で決定されるが、他のギャ
ップ形成膜を単独に形成するか、あるいは膜11.15
に他の膜を付加したもの、あるいは@11.15のいず
れかによってギャップGが決定されるように構成するこ
とも可能である。また、第1図において、第1の巻線膜
12のdに示す最内側パターンのさらに内側に第2の巻
線膜13の最内側パターンを形成する構造も実現可能で
ある。
(発明の効果)
以上述べたように、本発明においては、磁性膜形成部に
おいて、断面台形をなす第1の巻線膜の間に第2の巻線
膜を絶縁膜を介して充填状に形成したので、巻線の組合
わせた形状が平面状をなし、かつ合成幅も小さくなるの
で、磁性膜の長さを小さく、かつ段差の少ない形状に形
成できるため、磁路長が短かくなると共に磁気洩れが低
減されるので、記録、再生効率の高い磁気ヘッドが構成
される。また、磁性膜の段差が少なくなるので、誘起ス
トレスを小さく押さえ、磁歪の影響を少なくすることが
でき、SN比を改善することができ、膜の剥離等もなく
なり、信頼性が向上する。また、巻線膜や磁性膜等の段
差が小さいため、薄膜形成時に段差部に付着する絶縁膜
を考慮して絶縁膜の膜厚を厚くする必要がないため、絶
縁膜を例えば0.5μm程度の薄膜とすることができ、
再現性が良好であり、歩留りが向上する。
おいて、断面台形をなす第1の巻線膜の間に第2の巻線
膜を絶縁膜を介して充填状に形成したので、巻線の組合
わせた形状が平面状をなし、かつ合成幅も小さくなるの
で、磁性膜の長さを小さく、かつ段差の少ない形状に形
成できるため、磁路長が短かくなると共に磁気洩れが低
減されるので、記録、再生効率の高い磁気ヘッドが構成
される。また、磁性膜の段差が少なくなるので、誘起ス
トレスを小さく押さえ、磁歪の影響を少なくすることが
でき、SN比を改善することができ、膜の剥離等もなく
なり、信頼性が向上する。また、巻線膜や磁性膜等の段
差が小さいため、薄膜形成時に段差部に付着する絶縁膜
を考慮して絶縁膜の膜厚を厚くする必要がないため、絶
縁膜を例えば0.5μm程度の薄膜とすることができ、
再現性が良好であり、歩留りが向上する。
第1図は本発明の薄膜磁気ヘッドの一実施例を示す平面
図、第2図は第1図のE−E断面図、第3図(A)〜(
H)は該実施例の製造工程の一例を示す第2図相当断面
図、第4図は従来の薄膜磁気ヘンドの一例を示す平面図
、第5図は第4図のF−F断面図である。
図、第2図は第1図のE−E断面図、第3図(A)〜(
H)は該実施例の製造工程の一例を示す第2図相当断面
図、第4図は従来の薄膜磁気ヘンドの一例を示す平面図
、第5図は第4図のF−F断面図である。
Claims (1)
- 基板上に第1の磁性膜を形成し、該第1の磁性膜上に該
磁性膜を横切るようにほぼ巻線幅の間隔を有して断面形
状が台形をなす複数条の第1の巻線膜を形成し、該第1
の巻線膜の間にこの間を充填するように断面形状が台形
をなす第2の巻線膜を絶縁膜を介して形成し、該第1、
第2の巻線膜上に、前記第1の磁性膜との間で磁路を形
成する第2の磁性膜を形成し、前記第1、第2の巻線膜
は、前記第1、第2の磁性膜の間の部分以外の部分にお
いて、該磁性膜の間の部分にて同方向に電流が流れるよ
うに螺旋パターンを形成するように接続したことを特徴
とする薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9850486A JPS62256209A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 薄膜磁気ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9850486A JPS62256209A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 薄膜磁気ヘツド |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62256209A true JPS62256209A (ja) | 1987-11-07 |
Family
ID=14221472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9850486A Pending JPS62256209A (ja) | 1986-04-28 | 1986-04-28 | 薄膜磁気ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62256209A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4937227A (en) * | 1987-07-15 | 1990-06-26 | U.S. Philips Corp. | Thin-film magnetic head including an inductive transducing element |
US6191918B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil planar structure |
US6678942B1 (en) | 1998-03-30 | 2004-01-20 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
US6801407B2 (en) * | 2002-02-08 | 2004-10-05 | Headway Technologies, Incorporated | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
-
1986
- 1986-04-28 JP JP9850486A patent/JPS62256209A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4937227A (en) * | 1987-07-15 | 1990-06-26 | U.S. Philips Corp. | Thin-film magnetic head including an inductive transducing element |
US6678942B1 (en) | 1998-03-30 | 2004-01-20 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
US6191918B1 (en) | 1998-10-23 | 2001-02-20 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil planar structure |
US6338939B1 (en) | 1998-10-23 | 2002-01-15 | International Business Machines Corporation | Embedded dual coil fabrication process |
US6801407B2 (en) * | 2002-02-08 | 2004-10-05 | Headway Technologies, Incorporated | Thin film magnetic head and method of manufacturing the same |
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